「reference pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

When the actual tip position is deviated from the reference teaching position due to the replacement of the welding torch 2 or the deformation caused by collision, the robot 1 is operated in accordance with the operation pattern determined in advance and is stopped when a welding wire 11 comes into contact with a recessed part 8a.例文帳に追加

溶接トーチ２の交換あるいは衝突による変形によって実際の先端位置が基準教示位置からずれた場合に、ロボット１をあらかじめ決められた動作パターンで動作し、溶接ワイヤ１１と凹部８ａが接触すればロボット１を停止する。 - 特許庁

The measurement system is provided with a target mounted to any one of the substrate support and the reference frame, a radiation source mounted to the other one and a sensor configured to detect a pattern of radiation propagating from the target, indicating the position or movement of the substrate support.例文帳に追加

この測定システムは、基板支持体および基準フレームのうち一方に設けられたターゲットと、他方に設けられた放射源と、ターゲットから伝播した、基板支持体の位置または移動を示す放射のパターンを検出するように構成されたセンサと、を備える。 - 特許庁

According to plural feature data obtained from image data by the specific areas that the image processing units 22 take in, the data transfer units 21 and 20 in the higher layer specify reference data representing features of the pattern of the top surface of the object 30 of image processing.例文帳に追加

上記画像処理ユニット２２が取り込んだ所定領域毎の画像データから得られた複数の特徴データに基づいて、上位層のデータ転送ユニット２１,２０により画像処理対象物３０表面のパターンの特徴を表す基準データを特定する。 - 特許庁

Information light carrying and supporting the two-dimensional pattern information corresponding to data and reference light for recording modulated by phase modulation patterns are arranged on the hologram optical information recording medium in such a manner that the optical axes are aligned to the same line and the generated interference patterns are recorded.例文帳に追加

ホログラム光情報記録媒体に、データに対応する２次元パターン情報を担持した情報光と位相変調パターンで変調された記録用参照光を光軸が同一線上となるように配置し、発生する干渉パターンを記録される。 - 特許庁

When the vertical contour does not exist, a y_r collation searching unit 13 performs vector search for a place matching in pattern on a reference image by using a block composed of intermediate pixels generated from pixels of the image to be enhanced in resolution in the input SBS image.例文帳に追加

垂直輪郭が存在しないときは、ｙ_ｒ照合探索部１３は、入力ＳＢＳ画像の被高解像度化画像の画素から生成した中間画素から構成したブロックを用いて、参照画像上でパターンの一致する場所をベクトル探索する。 - 特許庁

The performance-determining means 132 determines the performance mode corresponding to the game state after the limited period of time even while the limit reference is being referred to in the variation-pattern determining means 115 after the restoration of the power supply when the power supply is stopped during the limited period of time.例文帳に追加

演出決定手段１３２は、限定期間に給電が停止した場合、給電の復旧後には、変動パターン決定手段１１５において限定基準を参照中であっても、限定期間後の遊技状態に対応する演出態様を決定する。 - 特許庁

By means of employing this pattern sequence, the power source voltage and the reference potential exerts a shield effect, consequently the optical pickup device outputting the light detecting waveform can be inexpensively provided, the light detecting waveform being hardly affected by the external noise and faithfully responding to the recording light emitting waveform.例文帳に追加

このパターン配列にすることにより、電源電圧と基準電位がシールド効果を発揮し、外来雑音の影響を受け難く、記録発光波形に忠実に応答した光検出波形を出力する光ピックアップ装置を安価に提供することができる。 - 特許庁

The inhaler detects positive pressure B caused by exhalation by pressure sensing means from a user's exhaling action before the user begins inhaling, namely from the stage of exhalation, and prepares the user's exhalation profile by comparing the pressure with a reference pattern stored in a storage means.例文帳に追加

利用者が吸気を開始する以前の息を吐き出す動作、すなわち呼気の段階から、呼気によって発生する正圧Ｂを圧力検知手段によって検出し、記憶手段に記憶させた標準パターンと照合して利用者の呼気プロファイルを作成する。 - 特許庁

A first polygon motor adjustment value Mpp is provided to a polygon motor and a first drum motor adjustment value Mpd is provided to a photoreceptive drum motor so as to obtain the image formed by a printer part of 100% magnifying force based on a data provided by a reference pattern generating part 7.例文帳に追加

基準パターン生成部７から提供されるデータに基づいて、プリンタ部により形成された画像が倍率１００％となるように、ポリゴンモータに第１のポリゴンモータ調整値Ｍｐｐ及び感光ドラムモータに第１のドラムモータ調整値Ｍｐｄを提供する。 - 特許庁

By using the digitized image of an uncorrected formed image generated by the picture reproducing system of a test image as the learning pattern of a neural network, digital image data including the test image are defined as learning reference data in a direct learning process.例文帳に追加

ニューラルネットワークを使用し、テスト画像の画像再生システムにより発生された未修正結像のディジタル化画像をニューラルネットワークの学習パターンとして用い、テスト画像の格納されているディジタル画像データを直接学習プロセスでの学習基準データとして定める。 - 特許庁

A specific region such as a face is detected from a basis image BO or a reference image RO acquired by a first photographing means 2 or a second photographing means 3, and pattern light according to the specific region is emitted from a projector 4 to the specific part of the object.例文帳に追加

第１の撮影手段２または第２の撮影手段３が取得した基準画像Ｂ０または参照画像Ｒ０から顔等の特定領域を検出し、特定領域に応じたパターン光をプロジェクタ４から被写体の特定部分に照射する。 - 特許庁

A speed angle detecting section 40 comprises a section 41 for detecting pattern switching every 60 degrees of electrical angle based on the Hall IC signal of each phase, and a 360-degree counter 43 for defining an electrical angle of 360 degrees and counting the number of times of reference clock for 360 degrees.例文帳に追加

速度角度検出部４０は各相のホールＩＣ信号に基づいて電気角６０度毎のパターン切換を検出するパターン検出部４１と、電気角３６０度を規定して３６０度分の基準クロック回数を積算する３６０度カウンタ４３を備える。 - 特許庁

Thereby, image recognition allowing one-to-many correspondence between the detection image and the reference pattern can be used.例文帳に追加

複数の被検査物に記された情報を画像認識する認識手段と、複数の認識情報を比較する手段と、比較結果を出力する手段とを備えることにより、検出画像と基準パターンとが１対多の対応を可能とする画像認識を用いることが可能となる。 - 特許庁

When a prescribed pattern is overlapped with the divided region formed on an exposed wafer so as to expose them, an interpolation function 413 at dislocation, where the position coordinate of the reference position of the divided region is set to be the variable in dislocation accompanying distortions in the wafer, is decided.例文帳に追加

露光済みのウエハ上に形成された区画領域に、所定のパターンを重ね合わせ露光を行う場合に、ウエハに歪等に伴う位置ずれに関し、区画領域の基準位置の位置座標を変数とする位置ずれに関する補間関数４１３を決定する。 - 特許庁

The image of the moving object is picked up (S1) by an image pickup device 100, a luminescent point for constituting a pattern is detected from the picked-up image, the image of a specified area is segment with the detected luminescent point as a reference point and a feature amount inside the specified area is extracted (S3).例文帳に追加

映像撮像装置１００で移動物体を撮像し（Ｓ１）、撮像された画像からパターンを構成する輝点を検出し、検出された輝点を基準点として特定領域の画像の切り出し、特定領域内の特徴量を抽出する（Ｓ３）。 - 特許庁

The image forming apparatus creates a LUT_2 for correcting a laser output signal value after the correction using a LUT_1 for a γ correction, depending on the density change amount from the reference density value of the density value measured from a test pattern image formed on a photosensitive drum.例文帳に追加

本発明の画像形成装置は、γ補正用のＬＵＴ＿１を用いた補正後のレーザ出力信号値を補正するためのＬＵＴ＿２を、感光ドラムに形成したテストパターン画像から測定した濃度値の、基準濃度値からの濃度変化量に応じて作成する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.例文帳に追加

半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁

When the total area of flesh-colored areas 20 extracted from image data is larger than a reference value, it is classified which area combination pattern multiple flesh-colored areas 20 selected in the decreasing order of the area values from the image data.例文帳に追加

画像データから抽出された肌色領域２０の合計面積が基準以上である時、前記画像データにおける複数の肌色領域２０の各面積の大きい順に選んだ複数の肌色領域２０が、どの面積組み合わせパターンに属するか分類する。 - 特許庁

An MPU 411 allows a reference table 423, which is related to a series of transmission timings for transmitting the changeover command of a rendition screen to a special picture pattern display part 43 during the big hit game, to be stored in the ROM 413 of a lot processing part 41.例文帳に追加

抽選処理部４１のＲＯＭ４１３には、ＭＰＵ４１１が、大当たり遊技中に特別図柄表示部４３に対して演出画面の切替指令を送信する一連の送信タイミングを対応付けた参照テーブル４２３が記憶されている。 - 特許庁

Plural imaging apparatuses 21-27 are installed on the runway 1 in its lengthwise direction with a certain interval, the images of the surface of the runway 1 photographed by the imaging apparatuses 21-27 are compared with a reference image pattern in a normal time, and the obstacle 3 is extracted and displayed.例文帳に追加

複数台の撮像機器２１〜２７を滑走路１に長手方向に沿い間隔をなして設置し、これら撮像機器２１〜２７で撮像された滑走路１面の映像を正常時の基準映像パターンと比較し、障害物３の抽出して表示する。 - 特許庁

As for the vertical direction, a transition of matching with the reference pattern is similarly acquired with movement of the search window, and the width (W21, W22) of matching areas is compared with the vertical width of the search window at the height to determine whether there is a pedestrian.例文帳に追加

また、上下方向についても同様であり、探索窓を移動させながら基準バターンとの一致度の推移を取得し、一致度の高い領域の幅（Ｗ２１，Ｗ２２）とその高さにおける探索窓の縦方向の幅とを比較して、歩行者の有無を判定する。 - 特許庁

In detection, the actual measurement values X1, Y1 are detected by the pattern matching between the reference image and a detection target image obtained by imaging the detection target disposed in the attitude which includes the displacement in the rotational direction, and the detected actual measurement values X1, Y1 are corrected by the calibration amounts ΔX1, ΔY1.例文帳に追加

検出時には、回転方向の位置ずれを含んだ姿勢で配置されている検出対象を撮像した検出対象画像と、基準画像とのパターンマッチングにより実測値を検出し、この実測値を校正量ΔＸ１，ΔＹ１で補正する。 - 特許庁

An outline motion vector searching section 103 uses a small area set in an encoding object frame and a small area set in the reference frame to perform block matching and to decide a searching pattern of a motion vector of entire frames.例文帳に追加

そして、概要動きベクトル探索部１０３では、符号化対象フレーム内に設定される小領域と参照フレーム内に設定される小領域とを用いて所定範囲内でブロックマッチングが行われ、フレーム全体の動きベクトルの探索パターンが決定する。 - 特許庁

In addition, an inspection image read-out section 62 reads out the image of the printed matter as inspection image information, and a registration error information generating section 63 detects the registration error between the reference image information and the inspection information by recognizing the registration checking pattern information printed by yellow.例文帳に追加

また、検査画像読取部６２で印刷物の画像を検査画像情報として読み取り、位置ズレ情報生成部６３において、イエローで印刷された位置照合パターンを認識して参照画像情報と検査画像情報の位置ズレ量を検出する。 - 特許庁

The image sensor unit 71 emits a light onto the upper side of the 2nd reference white board 68 to detect a reflected light pattern with a luminous quantity distribution corresponding to the mount position of the image sensor unit 71 from the first index faces S1.S1 and the second index faces S2.S2.例文帳に追加

イメージセンサユニット７１は第２基準白板６８の上面に光照射を行って、第１指標面Ｓ１・Ｓ１および第２指標面Ｓ２・Ｓ２からの、イメージセンサユニット７１の取り付け位置に応じた光量分布の反射光パターンを検出する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can prevent degradation in the accuracy of density error detection, even when there is abnormality in misregistration detection information, by regulating the sizes, intervals, numbers, etc., of reference pattern images for density error detection based on the misregistration detection information.例文帳に追加

位置ずれ検出情報に基づき濃度誤差検出用基準パターン像のサイズ、間隔、数などを調整することにより、位置ずれ検出情報に異常があった場合でも、濃度誤差検出精度の低下を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A power reception control circuit 52 uses a driving clock DRCK of a primary coil in a normal power transmission period as a reference of timing to control a load demodulation section 46, thereby causing the power transmitting device to transmit regular authentication data including a 010 pattern.例文帳に追加

受電制御回路５２は、通常送電期間中において、１次コイルの駆動クロックＤＲＣＫをタイミングの基準として用いて、負荷変調部４６を制御することによって、０１０のパターンを含む定期認証データを送電装置に送信させる。 - 特許庁

The exposure device EX comprises an exposure unit which exposes a substrate P to be exposed with a circuit pattern, and an alignment system 4 provided to penetrate the substrate P and to detect the position of the substrate P by passing light through an alignment mark AM becoming a position reference of exposure.例文帳に追加

本発明の露光装置ＥＸは、露光対象の基板Ｐに回路パターンを露光する露光部と、基板Ｐを貫通して設けられ、露光の位置基準となるアライメントマークＡＭに光を通して基板Ｐの位置を検出するアライメント系４を備える。 - 特許庁

In a stress echo workflow, patterns of View images as references among MPR images are stored in a storage device 61, a View which is considered to be the closest to the patterns of View images is extracted as the reference View image by pattern matching, and further, other necessary View images are automatically determined based on positional information of the reference View image.例文帳に追加

トレスエコーワークフローの中にＭＰＲ画像の中で基準となるＶｉｅｗの画像パターンを記憶装置６１に記憶しておき、かかるＶｉｅｗの画像パターンに対しパターンマッチングにより、最も近いと思われるＶｉｅｗを基準となるＶｉｅｗの画像として抽出し、さらに、基準となるＶｉｅｗの画像位置情報を基に、他に必要なＶｉｅｗの画像を自動的に決定する。 - 特許庁

A contour data interpolating part 51 sets reference contour data for endocardium and epicardium of the reference image data (a first image data) selected from a plurality of sheets of time-series image data, and a tracking part 52 sets contour data to the endocardium and epicardium of a second image data by pattern matching between the first image data and a plurality of image data (the second image data) in the other time phase.例文帳に追加

輪郭データ補間部５１は、時系列的な複数枚の画像データの中から選択した基準画像データ（第１の画像データ）の心内膜及び心外膜に対し基準輪郭データを設定し、トラッキング処理部５２は、第１の画像データと他の時相における複数の画像データ（第２の画像データ）とのパターンマッチングにより第２の画像データの心内膜及び心外膜に対し輪郭データを設定する。 - 特許庁

The hologram recording medium 100 has at least a recording layer 101 in which data is recorded as phase information of light, the irregular pattern 101 is provided at an opposite side to the incident direction of signal light 103, reference light 104, or servo light 105 as viewed from the recording layer 101.例文帳に追加

ホログラム記録媒体１００は光の位相情報としてデータが記録される記録層１０１を少なくとも有し、凹凸パターン１０１は、記録層１０１から見て信号光１０３、参照光１０４あるいはサーボ光１０５の入射方向とは反対側に設けられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer for which erroneous fault dotting is not performed by having a characteristic checking device and a marking device recognize the same element as a reference element regardless of the arrangement of an element pattern inside the wafer and even in the case that an element size is reduced, and its manufacturing method.例文帳に追加

ウエハ内の素子パターンの配置によらず、又、素子サイズが縮小化された場合でも特性チェック装置とマーキング装置とが同一の素子を基準素子と認識することにより、誤った不良打点を行うことのない半導体ウエハとその製造方法を提供する。 - 特許庁

Based on an image (inspection image data 102) obtained by imaging a substrate under inspection, the generating part 201 performs outline smoothing process for a pad pattern to be inspected and generates inspection mask data 103 by finding a logical sum of reference mask data 101 generated by the generating part 200.例文帳に追加

検査マスク生成部２０１が検査対象基板を撮像した画像（検査画像データ１０２）に基づいて、検査すべきパッドパターンに対して輪郭平滑化処理を行い、基準マスク生成部２００により生成された基準マスクデータ１０１との論理和をとって、検査マスクデータ１０３を生成する。 - 特許庁

A pattern inspection system 1A generates a difference image U between an image to be inspected S and a reference image R and converts the pixel value of each pixel in the difference image U into an error probability value Er using a standard deviation σ concerning to the pixel value of the difference image U.例文帳に追加

パターン検査装置１Ａは、被検査画像Ｓと参照画像Ｒとの間の差分画像Ｕを生成し、当該差分画像Ｕの画素値に関する標準偏差σを用いて当該差分画像Ｕにおける各画素の画素値をエラー確率値Ｅｒに変換する。 - 特許庁

A moving vector detecting part 24 detects moving vectors in the respective areas of the image on the basis of these frame image data and car speed data and a moving vector processing part 25 evaluates the pattern of the moving vector on a reference horizontal line and finds a distance and road width up to the wall surface of a road end.例文帳に追加

移動ベクトル検出部２４では、これらのフレーム画像データと車速データに基づき画像の各領域の移動ベクトルを検出し、移動ベクトル処理部２５では、基準水平ライン上の移動ベクトルのパターンを評価して、道路端の壁面までの距離と道幅を求める。 - 特許庁

The authentication server 20 retrieves attribute information of the employee based on the code and transmits it to the first terminal 11, and the OA server 30 retrieves the attribute information of the employee based on the code and transmits it to the first terminal with a document reference/update authority range pattern table.例文帳に追加

認証サーバ２０は社員コードに基づいて社員の属性情報を検索して第１の端末１１に送信し、ＯＡサーバ３０は社員コードに基づいて社員の属性情報を検索して文書参照・更新権限範囲パターン表とともに第１の端末１１に送信する。 - 特許庁

Before inspecting an inspection object 1, the light quantity of a test pattern 1a is measured with an accumulation type line sensor 7, whether the measurement results are within a predetermined reference value range is judged, calibration is conducted according to the judgment, and then the inspection object 1 is inspected.例文帳に追加

検査対象１を検査する前には、テストパターン１ａの光量を蓄積型ラインセンサ７で測定し、測定結果が予め定められている基準値範囲内に入っているかを判断し、それに応じてキャリブレーショウンを行い、その後に検査対象１を検査する。 - 特許庁

A selection means 5 narrows the number of candidate phonemic sequences by comparing the fundamental frequency of the waveform data of each candidate phonemic sequence with the value of the fundamental frequency pattern, discriminating whether the difference between the two is in a prescribed range, and discriminating further whether each candidate phonemic sequence satisfies a prescribed reference.例文帳に追加

選択手段５は、各候補音素列の波形データの基本周波数と、基本周波数パターンの値とを比較し、両者の差分が所定範囲内にあるか否かを判別し、更に、各候補音素列が所定の基準を満足するか否かを判別することにより、候補音素列の数を絞る。 - 特許庁

To solve the problem wherein the deterioration of image quality could not be avoided, when the density in the main scanning direction becomes uneven in image quality control that image forming is performed by forming a toner image of a reference pattern, detecting the density of the toner image and feeding back the result of detection to the image forming conditions.例文帳に追加

基準パターンのトナー像を形成し、その濃度を検知して、検知結果を画像形成条件にフィードバックして画像形成を行う画質制御においては、主走査方向の濃度の不均一がある場合に画質の低下が避けられないという問題を解決する。 - 特許庁

By photographing the object irradiated with the pattern light, correspondences between images on the specific regions in a basis image B1 and a reference image R1 acquired with the first and second photographing means 2, 3 are established, and the three dimensional shape of the specific part is measured.例文帳に追加

パターン光が照射された被写体を撮影することにより第１および第２の撮影手段２，３が取得した基準画像Ｂ１および参照画像Ｒ１における特定領域上の画素の対応付けを行って、特定部分の３次元形状を計測する。 - 特許庁

The inclination of an LR camera is aligned with that of a reference line of a master plate, a focus of the LR camera is changed from a pattern formation plane of the master plate to a nozzle formation plane of the head, so that the inclinations of the heads are aligned to that of the LR camera to align the inclinations of a plurality of the heads.例文帳に追加

ＬＲカメラの傾きとマスタープレートの基準線の傾きとを一致させ、ＬＲカメラの焦点をマスタープレートのパターン形成面からヘッドのノズル形成面に切り替え、ヘッドの傾きをＬＲカメラの傾きと一致させて、複数のヘッドの傾きを一致させる。 - 特許庁

In a pattern sequence of input/output signals of an optical pickup, a differential output signal of a light quantity detecting element outputting an electrical signal according to a light beam receiving quantity emitted from a light source, is arranged adjacently to a power source voltage and a reference potential.例文帳に追加

光ピックアップ装置の入出力信号のパターン配列において、光源から出射される光ビーム受光量に応じた電気信号を差動信号で出力する光量検出素子の差動出力信号が、電源電圧と基準電位に隣接配置されたパターン配列とする。 - 特許庁

When the pattern of a reticle R is exposed to light via a projection optical system PL, the position of the reference marks 34A and 34B is detected by TTL-system reticle alignment microscopes 5A and 5B, and a wafer stage 23A is driven based on the detection result and the relative position being obtained before.例文帳に追加

レチクルＲ１のパターンを投影光学系ＰＬを介して露光する際には、ＴＴＬ方式のレチクルアライメント顕微鏡５Ａ，５Ｂによって基準マーク３４Ａ，３４Ｂの位置を検出し、この検出結果と先に求めた相対位置とに基づいてウエハステージ２３Ａを駆動する。 - 特許庁

In the drive circuit area 3, a group of digital/analog conversion circuits provided in correspondence with each dot and driving the active elements by converting the drive data corresponding to the dots into analog values respectively, and a wiring pattern for providing a gradation reference voltage to the digital/analog conversion circuit according to each corresponding color.例文帳に追加

駆動回路領域３には、各ドットに対応して設けられ、それぞれドットに対応する駆動データをアナログ値に変換して能動素子を駆動する一群のデジタル／アナログ変換回路と、対応する色別に、デジタル／アナログ変換回路に階調基準電圧を与える配線パターンとを設ける。 - 特許庁

The page description language interpreting section 44 calculates the width of each of the bars forming the bar code by multiplying the calculated reference value M times of each of modules of the respective bars forming the bar code pattern corresponding to each number forming the data in the bar code printing command to calculate the width of each of the bars forming the bar code.例文帳に追加

M=(600×(ｍ＋1)／120−1)×dpi／600×bp／100 そして、ページ記述言語解釈部４４は、算出した基準値Ｍをバーコード描画コマンド中のデータを構成する各数字に相当するバーコードパターンを構成する各バーのモジュール数倍することにより、バーコードを構成する各バーの幅を算出する。 - 特許庁