「testing set」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of automatically and quickly giving the amplitude of a servo motor rotary shaft angle to be set in conducting a test with a constant range of fluctuations in force that is applied to a work.例文帳に追加

ワークに加える力の変動幅を一定に揃えて試験を行う際に設定されるべきサーボモータの回転軸の角度の振幅を自動的且つ速やかに得ることのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical receiver and an optical testing device provided with the optical receiver, can set phases of two branches to target phases in a short period of time, in the optical receiver having two branches.例文帳に追加

２つのブランチを有する光受信装置における各々のブランチの位相を短時間で目標の位相に設定することができる光受信装置及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

A relative timing error mixed by a signal route of a testing system 218 including the drivers 202, 204, 206, 208 and the comparators 210, 212, 214, 216 is determined by solving a set of expressions, based on a relation of a timing delay and the drivers/comparators (110).例文帳に追加

タイミング遅延とドライバ／比較器の関係に基づいて式の組を解く（110）ことにより、ドライバ（202, 204, 206, 208）及び比較器（210, 212, 214, 216）を含む試験システム（218）の信号経路によって混入する相対的なタイミング誤差を判定する。 - 特許庁

To obtain a wear-testing machine in a simple configuration that can arbitrarily set the relationship between the revolution and rotation on its own axis for a test piece that is supplied for a wear test by agitation and can be adapted to various kinds of test environments.例文帳に追加

攪拌による摩耗試験に供される試験片に対して公転と自転との関係を任意に設定することができ、種々の試験環境に適応可能な簡易な構成の摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.例文帳に追加

記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁

In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

In the semiconductor device, among a plurality of electrode pads disposed on a surface of the semiconductor chip, a plurality of testing pads are set-disposed in a predetermined region on the surface of the semiconductor chip to reduce an inspection region.例文帳に追加

半導体装置において、半導体チップの表面に配置されている複数の電極パッドのうち、複数のテスト用パッドを上記半導体チップの表面の所定領域に集合して配置し、検査領域を小さくする。 - 特許庁

To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加

液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加

周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

(2) Cities establishing health centers and special wards shall set up the necessary facilities for inspections where the business affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out. 例文帳に追加

２　保健所を設置する市及び特別区は、前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The other end 20b of the humidification piping 20 is opened between a dehumidification device 4 and an air heater 3 in an air conditioning chamber 1b of the environmental testing device 1, and the opening is set smaller than the surface area of the water stored within the humidifier 11.例文帳に追加

加湿配管２０の他端２０ｂは、環境試験装置１の空調室１ｂにおいて、除湿装置４と空気ヒータ３との間に開口し、当該開口は加湿器１１内に貯留される水の表面積よりも小さい。 - 特許庁

In the accelerated weathering resistant testing method for a coating film using a remote plasma apparatus, the inside of the apparatus is set to a reduced pressure state, and e.g. oxygen gas is introduced to the inside of the apparatus.例文帳に追加

リモートプラズマ装置を用いることを特徴とする塗膜の促進耐候性試験方法であって、上記リモートプラズマ装置内を減圧状態にすることができるとともに、例えば、酸素ガスを装置内に導入することができる。 - 特許庁

In a Web load testing method, a load simulator 22a interrupts access to a Web server device 10 by a virtual Web client 201 until all the response messages of a sequence set as synchronous points is acquired by all virtual Web clients 201, 202 and 203.例文帳に追加

負荷シミュレータ２２ａは、同期ポイントとして設定された順番のレスポンスメッセージを全ての仮想ウェブクライアント２０１，２０２，２０３，…が取得するまで、仮想ウェブクライアント２０１によるウェブサーバ装置１０へのアクセスを、中断させる。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁

The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.例文帳に追加

マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁

The antenna for observing the electromagnetic noise is formed by connecting a core wire 6 of an SMA connector with, for example, a wiring lead to a read head via a pad 9a of a terminal 9 for testing set on the edge of a wiring pattern 3 of the head-gimbal assembly (HGA).例文帳に追加

ヘッド・ ジンバル・アセンブリ（ＨＧＡ）の配線パターン３の端部に設けられたテスト用端子部９のパッド９ａにＳＭＡコネクタの芯線６を、例えばリードヘッドへ接続される配線に接続し、電磁ノイズ観測用のアンテナとする。 - 特許庁

(2) A project aimed to set up an R&D site (a site needed to carry out R&D, such as industrialization through applied development, trials and product testing from advanced in dustrial technology in line with technological innovation. 例文帳に追加

（２）研究開発拠点（技術革新の進展に即応した高度な産業技術の研究から応用開発、試作、製品試験等による産業化等の研究開発を行うために必要な施設をいう。）を整備する事業 - 経済産業省

A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加

RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも１つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁

To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加

擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁

A value obtained by adding an offset amount to a maximum value of the response waveform is set as a drive limit value before starting testing.例文帳に追加

加振機の特性を目標波形と応答波形より計算した伝達関数を計測し、加振する目標波形から予想される応答波形を計算し、その応答波形の最大値にオフセット量を加えた値を駆動限界値として試験開始前に事前に設定する。 - 特許庁

To achieve a nondestructive testing apparatus which enables a user to, even if the user does not select an item corresponding to a desired function in each of hierarchies on a menu screen, comprehend the relationship to items in higher-level hierarchies and set contents in lower-level hierarchies.例文帳に追加

ユーザがメニュー画面において、所望の機能に対応する項目を各階層で選択しなくても、上位の階層の項目との関連及び下位の階層の設定内容を把握することのできる非破壊検査装置を実現する。 - 特許庁

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether the data ROMs 124-1 to 3 are placed at the correct positions using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３が正しい位置に搭載されているか否かをチェックする。 - 特許庁

In this testing device, a center hole jack 16 is set on the lower side of a hollow pipe material 10, and a tensile force is applied to the hollow pipe material 10 to measure the drawing adhesion resistance between the pipe material 10 and a hardened hardenable material 12 hardened and adhered thereto.例文帳に追加

試験装置は、中空管体１０の下端側に、センターホールジャッキ１６を設置して、中空管体１０に引張り力を加えて、中空管材１０と、硬化付着された硬化性物質１２との間の引抜き付着抵抗を測定する。 - 特許庁

In this embodiment, a balance merit grade of G 100 or less based on JIS B0905, is set to a rotary body, for example, an input shaft, a disc and a power roller for constituting the toroidal continuously variable transmission, by using, for example, a balance testing machine 200.例文帳に追加

本発明の実施形態では、例えば釣合い試験機２００を用いて、トロイダル型無段変速機を構成する回転体、例えば入力軸、ディスク、パワーローラに対してＪＩＳ Ｂ０９０５に基づくＧ１００以下の釣合い良さ等級を設定している。 - 特許庁

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

This semiconductor testing device constituted so as to select a function block constituting the semiconductor testing device from among a plurality of kinds and connect it, is provided with an attribute discrimination means for discriminating the attribute of the connected function block, and a connection propriety determination means for determining connection propriety by collating output information from the attribute discrimination means with connectable attribute information which is set beforehand.例文帳に追加

半導体試験装置を構成する機能ブロックを、複数種類の中から選択して接続するように構成された半導体試験装置において、接続される機能ブロックの属性を識別する属性識別手段と、この属性識別手段の出力情報と予め設定された接続可能な属性情報とを照合し、接続の可否を判断する接続可否判断手段、を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

(3) When submitting an application set forth in the preceding paragraph, a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents shall, pursuant to provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, be attached thereto; provided, however, that this shall not apply to the case where the applicant who intends to obtain an approval set forth in paragraph 1 with regard to a type of specified measuring instrument which has passed the test set forth in Article 78, paragraph 1 has attached a document certifying that the specified measuring instrument has passed said test. 例文帳に追加

３　前項の申請書には、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を添えなければならない。ただし、第七十八条第一項の試験に合格した特定計量器の型式について第一項の承認を受けようとする場合において、当該試験に合格したことを証する書面を添えたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the light quantity of light received by a light-receiving part 23 becomes smaller than a threshold light quantity set in advance in this case, so that a testing result that there is the game nail 14 which is too long due to defective nailedting into the surface 10A, on the game board 10.例文帳に追加

そのため、この場合には、受光部２３が受光する光の光量が予め設定した閾値光量よりも少なくなることから、遊技盤１０上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘１４があるという検査結果を導くことができる。 - 特許庁

In the filter holder 6, the inner diameter of a gas flow passage is gradually increased from the upstream side to the downstream and is throttled to a small diameter near the downstream for generating turbulence in the high-temperature gas flow, and at least a filter 81 for testing is set to the region where the turbulence cannot be extinguished.例文帳に追加

フィルタホルダ６では、上流から下流にかけてガス流通路の内径を順次大きくし下流近傍で小径に絞って高温ガス流に乱流を起こし、その乱流の消滅しない領域に少なくとも前記試験用フィルタ８１をセットする。 - 特許庁

Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.例文帳に追加

さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.例文帳に追加

入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for testing cores for which requires fewer development man-hours the rise of cost is suppressed, and which easily copes with version-up of the core by the updating an instruction set held by an instruction memory inside a core without adding the correction to the inside of a core.例文帳に追加

開発工数が少なくて済み、コストを抑えることができるとともに、コア内部に修正を加える必要がなく、コア内部の命令メモリが保持する命令セットを更新してコアのバージョンアップを行う際の対処が容易であるコアテスト回路を提供する。 - 特許庁