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Cu-Inの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2149



例文

This construction material design support system is provided with a surface pattern data file for storing an initial display unit DU being initial display region data in a surface pattern repetition unit CU, and configured to display a region expressing the characteristics of the surface pattern in the surface pattern repetition unit CU as the initial display unit DU at first at the time of selecting and displaying each surface pattern.例文帳に追加

表面柄繰返しユニットCUの中の初期表示領域データである初期表示ユニットDUを記憶する表面柄パターンデータファイルを備え、各表面柄パターンを選択して表示する際に、表面柄繰返しユニットCUの中のその表面柄の特徴をよく表す領域を初期表示ユニットDUとして最初に表示する建築材設計支援システム。 - 特許庁

The aluminum alloy casting brazing wire is composed of an Al-Si-based alloy sheet of 5 to 15mass% in Si content, a hollow sheath constructed of a clad material composed of a Cu sheet in which mass of Cu with respect to the mass of the entire sheath corresponds to 22 to 37mass%, and a fluoride-based non-corrosive flux powder containing cesium fluoride filled into the sheath.例文帳に追加

Si含有量が5〜15質量%のAl−Si系合金板と、鞘全体の質量に対するCuの質量が22〜37質量%に相当するCu板からなるクラッド材で構築された中空の鞘と、当該鞘内に充填されたフッ化セシウムを含むフッ化物系非腐食性フラックス粉末とから構成されたアルミニウム合金ろう付けワイヤー。 - 特許庁

In a semiconductor device having a damascene structure, a TaN film 7 and a Ti film 8 composed of Ti exhibiting good wettability to Cu are formed respectively, as a barrier layer, on the inside walls of a wiring groove G2 and a via hole V2 formed in a second interlayer insulating film 6, so that a Cu seed film 9a can be formed uniformly on the Ti film 8.例文帳に追加

ダマシン配線を有する半導体装置において、第2層間絶縁膜6に形成した配線溝G2およびビアホールV2のそれぞれの内壁にバリア膜としてTaN膜7およびCuと濡れ性の良いTiからなるTi膜8とを順に形成することにより、Ti膜8上に均一にCuシード膜9aを形成することを可能とする。 - 特許庁

The plasma silicon nitride film used for a Cu diffusion protection film left as a part of the interlayer films 1, 4 between the upper and lower interconnections 2, 5 when the plasma silicon nitride film is deposited on the Cu film which is formed as the interconnection part 2 of the semiconductor device prevent an increase in interconnection capacitance caused by high permittivity of the plasma silicon nitride film to realize decrease in the wiring capacitance.例文帳に追加

これにより、半導体装置の配線部2として形成されるCu膜の上にプラズマシリコン窒化膜を堆積する場合、Cuの拡散防止膜として用いられるプラズマシリコン窒化膜が上下配線2,5間の層間膜1,4の一部に残ることで、プラズマシリコン窒化膜の高誘電率に起因する配線容量の増加を防止し、配線容量の低減を達成することができる。 - 特許庁

例文

To provide a casting drum composed of a Cu-alloy made sleeve and an SUS-made core light in weight, free from the sliding of a fitting part in thermal loading, and long in durable life, in a twin drum type continuous casting drum used for twin drum type continuous casting equipment.例文帳に追加

双ドラム式連続鋳造設備に用いる双ドラム式連続鋳造用ドラムにおいて、軽量で、熱負荷時に嵌合部の滑りのない、そして耐用寿命の長い、Cu合金製スリーブとSUS製コアとで構成される鋳造用ドラムを提供することを課題とする。 - 特許庁


例文

Alternatively, the composite material further comprises a third phase, in a space between the first phase and the second phase, contacted with both the phases, and containing an intermetallic compound formed of Pt and Cu, and the maximal value of the reflectivity of natural light in the surface lies in the range of 560 to 640 nm in wavelength.例文帳に追加

更に第1相と第2相との間において、両相に接し、PtとCuにより形成された金属間化合物を含む第3相を有している、表面における自然光の反射率の極大値が波長560nm以上640nm以下の範囲にある複合材。 - 特許庁

In the surface acoustic wave element 12, segregation of Cu, etc., occurs in the thin film electrode 18, and inventors newly finds out that such segregation is effective to prevent a crack occurring in the piezoelectric substrate 28 at the time of ultrasonic joining of flip chip mounting in an experiment.例文帳に追加

この表面弾性波素子12においては、薄膜電極18にCu等の偏析が生じており、このような偏析は、フリップチップ実装の超音波接合の際に圧電性基板28に亀裂が入る事態を抑止することに有効であることが、発明者らの実験により新たに見出された。 - 特許庁

Otherwise, in pores in a porous sintered body of Fe-alloy having such texture in which a granular Fe-alloy phase containing martensite is enclosed with a Cu-alloy phase, lubricant mixture comprising lubricating oil dispersed as liquid in wax, or lubricating oil gel that is thermo-reversible is filled.例文帳に追加

また、マルテンサイトを含有する粒状Fe合金相がCu合金相によって取り囲まれるような組織を有するFe合金系多孔質焼結体の気孔内に、ワックス中に潤滑油が液的に分散してなる潤滑剤混合物もしくは熱可逆的な潤滑油ゲルを充填する。 - 特許庁

The semiconductor device includes: an interlayer insulating film 103 formed on a semiconductor substrate 101; a contact hole 104 formed in the interlayer insulating film 103; a Cu film 107 filling the contact hole 104; and a metal-containing substrate film 13 formed on a sidewall inside the contact hole 104 and serving as a substrate of the Cu film 107.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、半導体基板101に形成された層間絶縁膜103と、層間絶縁膜103に形成されたコンタクト孔104と、コンタクト孔104を埋め込むCu膜107と、コンタクト孔104の内部の側壁に形成され、Cu膜107の下地となる金属含有下地膜13と、を備える。 - 特許庁

例文

In this method the wiring having excellent electrical characteristics is formed by forming wiring composed of an electroplated copper film and an electroplated nickel film on Cr/Cu, on which signal passing wiring joined to solder is formed by sputtering by using Cr/Cu/Cr wiring formed at a portion for grounding by sputtering.例文帳に追加

本発明は、グランドの役割を果たす部分にスパッタ成膜したCr/Cu/Crから成る配線を用い、信号が通りかつ、はんだと接合する配線をスパッタ成膜したCr/Cuの上に、電気銅めっき膜、電気ニッケルめっき膜から成る配線を形成することで、電気特性に優れた配線を形成することが可能となる。 - 特許庁

例文

The method for manufacturing the reflow Sn or Sn alloy plated sheet superior in migration resistance is characterized by forming an Ag plated layer on a copper or copper alloy sheet, forming a Cu or Ni plated layer on the Ag plated layer, forming a Sn or Sn alloy plated layer on the Cu or Ni plated layer, and then performing reflow treatment.例文帳に追加

銅または銅合金薄板の上にAgメッキ層を形成し、このAgメッキ層の上にCuまたはNiメッキ層を形成し、CuまたはNiメッキ層の上にSnまたはSn合金メッキ層を形成したのちリフロー処理することを特徴とする耐マイグレーション性に優れたリフローSnまたはSn合金メッキ薄板の製造方法。 - 特許庁

The conjugated valve seat excellent in thermal conductivity and wear resistance is constituted by firmly joining, through a joining layer of 50 to 1000 μm thickness, a compound layer of intermetallic compound, carbide, boride, silicide, nitride, etc., to the part including the valve seal surface of a valve seat body composed of Al or Al alloy or a valve seat body composed of Cu or Cu alloy.例文帳に追加

AlもしくはAl合金からなるバルブシート本体またはCuもしくはCu合金からなるバルブシート本体のバルブシール面を含む部位に、金属間化合物、炭化物、硼化物、珪化物、窒化物などの化合物層を厚さ:50〜1000μmの接合層を介して強固に接合してなる熱伝導性および耐摩耗性に優れた複合バルブシート。 - 特許庁

To provide a laminated dielectric element that uses an inexpensive base metal material such as Cu as an electrode, can sufficiently join an electrode material such as the Cu to a ceramic material, and can fully show characteristics in a dielectric ceramic layer, to provide a method for manufacturing the laminated dielectric element, and to provide a paste material for electrodes.例文帳に追加

Cu等の低価格の卑金属材料を電極として使用して,Cu等の電極材料とセラミック材料とを十分に接合させることができると共に誘電セラミック層の特性を十分に発揮させることができる積層型誘電素子及びその製造方法,並びに電極用ペースト材料を提供すること。 - 特許庁

A vacuum vessel 11, a plasma beam generator 13, a main hearth 30 as an anode with evaporating material Cu stored and arranged in the vessel 11 and an auxiliary anode 31 composed of an annular permanent magnet 35 and a coil 36 around the main heath are provided, and a Cu film is formed on a substrate 41 arranged oppositely to the main hearth.例文帳に追加

真空容器11と、プラズマビーム発生器13と、真空容器内に配置され、蒸発物質Cuを収容している陽極としての主ハース30と、該主ハースの周囲に環状の永久磁石35とコイル36とから成る補助陽極31とを備え、前記主ハースに対向して配置した基板41にCu膜を成膜する。 - 特許庁

This golf club head is constituted by using a Cu-Zn-Sn-base vibration damping alloy which is a Cu-Zn-Sn-base having a β phase permitting martensite transformation and having vibration damping characteristics by accompanying the transformation twinning of this β phase and has an Sn content of 0.5 to 20 wt.% in at least a portion of a head of the golf club head.例文帳に追加

ゴルフクラブの少なくともヘッドの一部に、マルテンサイト変態が可能なβ相を有し、このβ相の変態双晶に伴い制振特性を有するCu−Zn−Sn系合金であって、Sn含有量が0.5〜20wt%であるCu−Zn−Sn系制振合金を用いたことを特徴とするゴルフクラブとした。 - 特許庁

This method for separating Ag comprises selectively removing Ag by electrolysis from the chloride bath containing monovalent ions of Cu and having such a concentration as to dissolve Ag, then changing the electrolytic solution into a sulfate bath containing a small amount of Cl, reversely electrolyzing it to dissolve Ag again by setting Cu electrodeposits containing Ag obtained on a cathode by Ag-removing electrolysis as an anode, and collecting Ag in a form of AgCl.例文帳に追加

Cuの一価イオンを含むAgが溶解する濃度の塩化物浴から、電解でAgを選択的に除き、その後Clを少量含む硫酸浴に電解液を入れ替え、Ag除去電解で得られたAgを含む陰極Cu電析物を陽極として逆電解することにより再溶解し、AgをAgClとして回収する。 - 特許庁

The semiconductor device having a multilayer trench-wiring structure using Cu as the main material thereof is characterized in that there are used respectively an insulation film having a low dielectric constant, as the interlayer film of its Cu-wiring portion, and an insulation film having a high dielectric constant, as the interlayer film of its portion having such a metallic pole as a plug whereby its wirings are joined to each other.例文帳に追加

Cuを主な材料とする、多層の溝配線構造を有する半導体装置において、比誘電率の低い絶縁膜を、Cu配線部分の層間膜として、また、比誘電率の高い絶縁膜を、配線間を接合するプラグなどの金属柱が存在する部分の層間膜として、それぞれ、構成したことを特徴とする。 - 特許庁

The selective absorbent of isoprene is composed of a porous complex obtained by reacting a Co and/or Cu compound with a pyridine or a pyrazine derivative in a solvent and evaporating and removing the solvent from the resultant precipitation and containing the Co and/or Cu complex using pyridine or the pyrazine derivative as a ligand as a basic unit.例文帳に追加

Coおよび/またはCu化合物とピリジンまたはピラジン誘導体とを溶剤中で反応させ、生成する沈澱から溶剤を揮発除去することによって得ることのできる、ピリジンまたはピラジン誘導体を配位子とするCoおよび/またはCu錯体を基本構成単位とする多孔質錯体からなるイソプレンの選択的吸着剤を開示する。 - 特許庁

Thus, the boundary face of Cu and a barrier metal is not exposed, and the grain growth of Cu is not carried out in the introduction stage of Si so that the deposition of Si can be prevented even when Si is added with high concentration, and that the migration of the whole wiring or via can be suppressed since Si is uniformly introduced to the wiring or via.例文帳に追加

これにより、Siの導入段階ではCuとバリアメタルとの界面が露出しておらずCuのグレイン成長も行われていないため、Siを高濃度に添加してもSiの析出を防止することができ、配線やビア中に均一にSiが導入されているため配線やビア全体のマイグレーションを抑制することができる。 - 特許庁

The generator is constituted to dissolve trace copper into the water and to generate the water having sterilizability from the other side of a container section by applying pressure to the water desired to be treated from the one side of the container section to push in the water to the particles of the Cu formed to minute polyhedrons composed, as material, of the Cu packed at high density into a container.例文帳に追加

容器部内に高い密度で充填されたCuを素材とする微小な多面体に構成されたCuの粒子に対して、容器部の一方側から処理を所望する水を圧力をかけて押込むことで微量の銅を水の中に溶け込ませ、容器部の他方側から殺菌性のある水が発生するよう構成されている。 - 特許庁

The surface treatment method is characterized in that a wire type Al vapor deposition material containing Cu and/or Mg is vaporized while continuously supplied to a heated melting and vaporizing section so as to vapor deposit an Al coating film containing Cu and/or Mg by 0.1 wt.% to 20 wt.% on the surface of the object to be treated.例文帳に追加

本発明の表面処理方法は、Cuおよび/またはMgを含むワイヤー状Al蒸着材料を、加熱した溶融蒸発部に連続供給しながら蒸発させることで、Cuおよび/またはMgを0.1wt%〜20wt%含むAl被膜を被処理物の表面に蒸着形成することを特徴とする。 - 特許庁

The Cu-Fe-based copper alloy comprises 10.0-50.0 mass% Fe, 0.001-5.0 mass% total of one or two of Ni and C_O, and ≥10 ppm C; where an Fe-based secondary phase crystallizes and precipitates in the Cu mother phase, the electroconductivity is20% IACS, and the magnetic permeability is ≥3.0.例文帳に追加

Feを10.0mass%以上50.0mass%以下、Ni,Coを1種又は2種の合計で0.001mass%以上5.0mass%以下、及びCを10ppm以上含み、Cu母相内にFe系第二相が晶出及び析出し、導電率が20%IACS以上、透磁率が3.0以上であるCu−Fe系銅合金。 - 特許庁

In the circuit board, at least a metal circuit layer principally comprising Cu out of the metal circuit layer and a heat dissipation layer is bonded onto a ceramic substrate through a solder material comprising 6.0-60% of Sn, 2.0-9.5% of at least one kind of Ti, Nb, Hf and Zr, and the remainder of Cu and not containing Ag.例文帳に追加

本回路基板はセラミック基板上にCuを主成分とした金属回路層及び放熱層のうちの少なくとも金属回路層がろう材によって各々接合されており、上記ろう材は、6.0〜60%のSn、2.0〜9.5%のTi、Nb、Hf及びZrのうちの少なくとも1種、及び残部Cuとからなり、Agを含有しない。 - 特許庁

A method for forming a Cu wiring film on a TiN film for diffusion barrier, after the TiN is formed, includes an annealing step of heating a base film to a temperature of 200-500°C in a vacuum state without exposing the base film to the atmosphere after a step of forming the base film between the steps of forming the TiN film and the Cu wiring film.例文帳に追加

このCu配線膜形成方法は、拡散バリア用TiN膜を成膜し、TiN膜の上にCu配線膜を成膜する方法であり、TiN膜の成膜工程とCu配線膜の成膜工程の間に下地膜の成膜工程後大気にさらすことなく真空一貫の状態で200〜500℃の温度で加熱するアニール工程を設ける。 - 特許庁

The composite material 10 for brazing is for brazing materials-to-be-brazed with each other and is structured with a brazing layer 15 which is composed of superposing, in three layers or more, a combination of a Ti or Ti alloy layer 12, a Cu or Cu alloy layer 13 or an Ni or Ni alloy layer 78, and an Al or Al alloy layer 14.例文帳に追加

本発明に係るろう付け用複合材10は、被ろう付け材同士をろう付けするものであって、Ti又はTi合金層12、Cu又はCu合金層13或いはNi又はNi合金層78、及びAl又はAl合金層14を組み合わせたものを3層以上に重ねてなるろう付け層15で構成したものである。 - 特許庁

In the CoPt or FePt alloy magnetic material obtained by a plating method, at least or one more elements of Cu, Ni and B is contained in the alloy magnetic material at 1 at%-40 at% altogether.例文帳に追加

めっき法により得られたCoPtまたはFePt合金磁性体において、該合金磁性体にCu、Ni、Bの少なくとも一つ以上の元素が合わせて1at%以上〜40at%以下で含まれている磁性体。 - 特許庁

A metal film 7 bonded to the pad electrode 2 is formed over the substrate 1 in the shape of a re-wiring pattern, and a plated power supply layer metal film 8 and a Cu plated layer 11 are formed in sequence on the metal film 7 to form a wiring layer.例文帳に追加

基板1上にパッド電極接着メタル膜7が再配線パターン状に形成され、このメタル膜7上にメッキ給電層メタル膜8及びCuメッキ層11が順次形成されて配線層が形成されている。 - 特許庁

The high temperature age strength is improved by adding much Cu in the core, and besides, intergranular corrosion due to generation of Al-Mn group compound is suppressed to prevent deterioration in the corrosion resistance by limiting Mn.例文帳に追加

心材にCuを多く添加することにより高温経時強度を向上させ、一方、Mnを制限することによりAl−Mn系化合物の生成による粒界腐食を抑制して耐食性の低下を防止することができる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device for forming an electrically conductive layer whose main component being Cu in a recess in an improved state of the embedding characteristics according to reflow processing even if the reflow processing at a high temperature400°C is not carried out.例文帳に追加

400℃以上の高温でのリフロー処理を行わなくても、リフロー処理による埋め込み特性が改善された状態で、凹部内にCuを主成分とする導電層を形成する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a cell corresponding to two neighboring partition walls 30, a pair of display electrodes 22, 23 (scan electrode 22, sustaining electrode 23), made of metal materials (Ag or Cr/Cu/Cr, etc.), are provided split in three thin line parts 22a-22c, 23a-23c respectively.例文帳に追加

2つの隣接する隔壁30に対応したセル内において、金属材料(AgまたはCr/Cu/Crなど)からなる一対の表示電極22、23(スキャン電極22、サステイン電極23)をそれぞれ3本の細いライン部22a〜22c、23a〜23cに分割して配設する。 - 特許庁

A CU 500 directs a TXU 504 and an RXU 505 to define a plurality of kinds of transaction, classify bits for use in the ports according to the kinds of transaction, changes the destinations of the ports, and varies bit width for use in each of the kinds of transaction.例文帳に追加

CU500は、複数のトランザクション種を定義し、トランザクション種によって前記ポートにおいて使用するビットを分別すると共にポートの宛先を変更し、トランザクション種毎に使用するビット幅を変更するように、TXU504、RXU505に指示を行う。 - 特許庁

Since the Al-Cu alloy is used for the wiring 18, even if it is used in a high-temperature condition, the highly reliable wiring 18 capable of preventing failure due to diffusion of the wiring material in the interlayer insulating film 12 can be formed.例文帳に追加

配線18にAl−Cu合金を用いるため、高温環境下で使用しても配線材料が層間絶縁膜12中に拡散して不具合を生じることがない信頼性の高い配線18を形成することができる。 - 特許庁

To provide a high-strength Cu-Ga-based sputtering target material for use in manufacturing a light-absorbing thin layer of a solar cell, which can be highly densified by preventing the powder from being melted in a molding process at high temperature, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

高温成形時の溶融を抑制することで高密度化を達成できる、太陽電池の光吸収薄膜層を製造するための高強度Cu−Ga系スパッタリングターゲット材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The sputtering target is composed of at least either of high- purity Ta and high-purity TaN and contains high-purity Ta and N in amounts of ≤2 atomic %, and Cu content in the target-constituting material is regulated to50 ppm.例文帳に追加

高純度Ta、窒素を2at%以下の範囲で含有する高純度Ta、および高純度TaNから選ばれる少なくとも1種からなるスパッタリングターゲットであって、このターゲット構成材料中のCu含有量を50ppm以下とする。 - 特許庁

In the Cu-Zn based alloy tin-plated strip using a copper based alloy comprising, by mass, 15 to 40% Zn as a base metal, the concentration of C in the boundary face between a plated layer and the base metal is controlled to ≤0.10%.例文帳に追加

15〜40質量%のZnを含有する銅基合金を母材とするCu−Zn系合金すずめっき条において、めっき層と母材との境界面におけるC濃度を0.10質量%以下に調整する。 - 特許庁

To provide a multilayer interconnection structure excellent in a Cu diffusion, a heat resistance, an electrical performance, especially, a dielectric constant, and an adhesion; and to provide a semiconductor device having the structure and excellent in the electrical performance.例文帳に追加

Cu拡散性が良好で、耐熱性、電気特性、特に誘電率、接着性等に優れた多層配線構造、およびこれを具備した、電気特性に優れる半導体装置を提供する事を目的としてなされたものである。 - 特許庁

Pair of Ta_2N layer 11 and Ta layer area alternately and continuously formed in two pairs or more on the surface of Cu wiring 5a of the pad of a semiconductor device 1 and a barrier metal film 13 of pad in the composite lamination structure is also provided.例文帳に追加

半導体装置1のパッド部Cu配線5aの表面上にTa_2N層11およびTa層12のペアを連続して交互に2ペア以上積層し、複合積層構造のパッド部バリアメタル膜13を設ける。 - 特許庁

To provide an oxide magnetic material having high Q value, excellent temperature characteristics (small in the change of magnetic permeability with the change of temperature) and high anti-stress characteristics in the Ni-Zn-Cu-based ferrite material (oxide magnetic material).例文帳に追加

Ni−Zn−Cu系フェライト材料(酸化物磁性材料)において、高いQ値、良好な温度特性(温度変化に対する透磁率変化が小さい)、高い抗応力特性を兼ね備えた酸化物磁性材料を提供する。 - 特許庁

The method for producing the sputtering target includes a step of pressure-sintering a mixed powder of an alloy powder which includes one or more of Ga, In, and Se, and Cu, and a pure Se powder, in a vacuum or an inert gas atmosphere.例文帳に追加

このスパッタリングターゲットの製造方法は、Ga,In,Seのうち1種または2種以上とCuとからなる合金粉と、純Se粉との混合粉末を、真空または不活性ガス雰囲気中で加圧焼結する工程を有している。 - 特許庁

The copper alloy for an electronic device comprises Mg in a range of 2.6-9.8 atom%, Al in a range of 0.1-20 atom% and the balance substantially being Cu and unavoidable impurities.例文帳に追加

Mgを、2.6原子%以上9.8原子%以下の範囲で含み、かつ、Alを、0.1原子%以上20原子%以下の範囲で含み、残部が実質的にCu及び不可避不純物とされていることを特徴とする。 - 特許庁

In the nonaqueous electrolyte secondary battery formed by laminating or winding a negative electrode and a positive electrode through a separator, a woven fabric composed of carbon fibers 31, 33 and Cu fibers 32, 34 is used in a negative current collector.例文帳に追加

負極および正極をセパレータを介して積層または巻回し外装体に収納した非水電解液二次電池において、負極集電体に炭素繊維31、33とCu繊維32、34からなる織布を用いる。 - 特許庁

The positive electrode oxide film 14 is formed by applying positive electrode oxidation treatment to the aluminum base material 13 in an electrolyte solution containing a metal ion of either Mn, Sn, Fe, Ni, Cr, Co, Cu, Pb, or Ag in sulfate.例文帳に追加

陽極酸化被膜14は、硫酸塩中にMn、Sn、Fe、Ni、Cr、Co、Cu、Pb、Agのうちいずれかの金属イオンを含む電解液中でアルミニウム基材13を陽極酸化処理することにより形成される。 - 特許庁

In a stack circuit board, inner conductor patterns 2 and via hole conductors 3, which are formed of the any material of Au, Ag and Cu or the alloy of it, are arranged in a stack body 1 obtained by stacking plural glass ceramic layers 1a-1e.例文帳に追加

複数のガラスセラミック層1a〜1eが積層されて成る積層体1 の内部に、Au、Ag、Cuのいずれかの材料またはその合金からなる内部導体パターン2 及びビアホール導体3 を配置して成る積層回路基板である。 - 特許庁

In an Al-Mg-Si alloy or an Al-Mg-Si-Cu alloy, intergranular precipitates are present at the intervals of110 nm, and, furthermore, the dimensions of the precipitates in the intergranular direction are controlled to70 nm.例文帳に追加

Al−Mg−Si系合金あるいはAl−Mg−Si−Cu系合金において、粒界析出物が110nm以上の間隔で存在するとともに、析出物の粒界方向における寸法を70nm以上とする。 - 特許庁

The contents of Cr, Fe, Mn, Ti, Si, Cu, N, Al, C, Mg, Mo, B, Zr, Nb+Ta in the Ni-based alloy weld metal are appropriately defined to restrict the amounts of Co, P and S in unavoidable impurities.例文帳に追加

Ni基合金溶接金属中のCr、Fe、Mn、Ti、Si、Cu、N、Al、C、Mg、Mo、B、Zr、Nb+Taの含有量を適正に規定し、不可避的不純物中のCo、P及びS量を規制する。 - 特許庁

In the apparatus, at least one IDT mainly composed of Cu is formed on a LiTaO_3 substrate of a 23°-46° rotation Y board, and the SiO_2 film is formed on the LiTaO_3 substrate in a manner to cover the IDT.例文帳に追加

23°〜46°回転Y板のLiTaO_3基板上に、Cuを主体とする少なくとも1つのIDTが形成されており、該IDTを覆うように、LiTaO_3基板上にSiO_2膜が形成されている、弾性表面波装置。 - 特許庁

After motion of the Cu foil 50 in the width direction is restrained by the air chuck 11, the stopper bolt 122 is loosened in such a state, and a clearance between the clamping 12 and the flange 13 is removed to provide a clearance d2 between the end face 50a and the flange 13.例文帳に追加

Cu箔50は、エアチャック11で幅方向への動きが規制されて後、この状態でストッパボルト122を緩め、クランピング12とフランジ13との隙間がなくして、端面50aとフランジ13との間に隙間d2を設ける。 - 特許庁

The toner contains metal particles containing Au, Ag, Cu or Pt or their alloy of ≥1 to300 nm in volume mean particle diameter or10 to200 nm in mean maximum length, and a binder resin.例文帳に追加

体積平均粒子径が1nm以上300nm以下又は平均最大長が10nm以上200nm以下のAu、Ag、Cu若しくはPt又はこれらの合金を含む金属粒子と、結着樹脂と、を含有するトナー。 - 特許庁

This particulate metal oxide contains a component originated in Cu, Ag and Mn in a particle comprising an oxide using at least one kind selected from a group comprising Zn, Ti and Ce as a metal element.例文帳に追加

本発明にかかる微粒子状金属酸化物は、Zn、TiおよびCeからなる群より選ばれる少なくとも1種を金属元素とする酸化物からなる粒子内にCu、Ag、Mnに由来する成分が含有されてなる。 - 特許庁

例文

At least solder particles including Sn/Zn, metal grains 7 made of Cu and the lead free solder paste mixed in flux are used in a solder joining of a copper bump 5 of a electronic parts with a copper terminal 2.例文帳に追加

電子部品の銅バンプ5を銅端子2に半田により接合する半田接合において、少なくともSn/Znを含む半田粒子とCuをベースとする金属粒子7とフラックスに混合した鉛フリー半田ペーストを用いる。 - 特許庁




  
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