「surface processing」に関連した英語例文の一覧と使い方(97ページ目) - Weblio英語例文検索

In the toroidal continuously variable transmission, texture processing is applied to either or both region(s) of outer diameter 115 and inner diameter 116, except for a near region where a surface pressure is maximum in the contact surface 112 of the side of the power roller 11 in the high load operation.例文帳に追加

このトロイダル型無段変速機は、高負荷運転時のパワーローラ１１側の接触面１１２のうち、面圧最大部位の近傍範囲を除いて、この範囲の外径側および内径側の一方または両方の範囲１１５，１１６にテクスチャ加工が施されている。 - 特許庁

Conductive films 10, 13 are formed on a lower surface of the outer frame of the intermediate crystal plate, metal thin films 16, 18 are formed on an upper surface of the lower crystal substrate and airtightly joined together by diffused junction after being mutually sanctified and activated by plasm processing.例文帳に追加

中間水晶板の外枠下面には導電膜１０，１３が形成され、下側水晶基板の上面には金属薄膜１６，１８が形成され、互いにプラズマ処理により清浄化・活性化した後、拡散接合により気密に接合される。 - 特許庁

To provide a heat treatment apparatus and method for semiconductor wafers capable of increasing a time for processing substrates at a desired treat ment temperature, by accurately estimating the temperature of a holding plate surface and thus quickly heating the holding plate surface to the desired treat ment temperature.例文帳に追加

正確に保持板表面の温度を推定し、基板の熱履歴とは無関係に、保持板表面が短時間で所望の処理温度に達し、基板を所望の処理温度で処理する時間を長くできる半導体ウエハの熱処理装置及び方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for producing an optical anisotropic film that imparts sufficient alignment control force to a substrate surface by rubbing processing and that has a lyotropic liquid crystalline compound which is satisfactorily aligned, according to the alignment control force of the substrate surface.例文帳に追加

本発明は、ラビング処理によって基材表面に十分な配向規制力を付与でき、前記基材表面の配向規制力に従って良好に配向したリオトロピック液晶性化合物を有する光学異方膜の製造方法を提供する。 - 特許庁

The invention relates to the machine for processing the unprocessed material, comprising: at least one actuator which acts, mechanically upon the unprocessed material; and at least a portion of the surface of which is movable relative to a corresponding surface of an adjacent component of the machine.例文帳に追加

本発明は、未処理材料を処理するための機械であって、未処理材料に機械的に作用する少なくとも１つのアクチュエータと、当該機械の隣接構成要素における対応面に関して移動可能な面の少なくとも一部分と、を備える。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a resin product easy to form a film member having predetermined surface roughness to the surface of a resin body having every shape like a reflecting cup body in a close contact state without applying special processing to a mold itself.例文帳に追加

金型自体に特別な加工を施すことなく、所定の面粗度を有したフィルム部材を反射カップ体のような様々な形状の樹脂体の表面に密着させて形成することが容易な樹脂製品の製造方法を提供することである。 - 特許庁

When processing is carried out by the method, the N2 gas which uniformly flows is introduced to a surface of the wafer in the wafer boat to discriminate between the surface recombination of the wafer body and the recombination of the bulk, thereby obtaining a more accurate result through metal contamination management.例文帳に追加

上記方法で処理を行うとウェハボート内のウェハに均一な流れのN2ガスがウェハ表面に導入されて、ウェハ本体の表面再結合とバルクの再結合とを区別することが可能となり、金属汚染管理がより正確な結果を得る事が可能となる。 - 特許庁

To provide an inspecting method of a semiconductor substrate which can sense efficiently mechanical damages which may be generated on the back-ground surface of the semiconductor substrate (its rear surface, i.e., its surface having no electronic circuit) by back-grinding processing to the rear surface of the semiconductor substrate whereon semiconductor elements are formed, in forming the semiconductor elements by using a largely scaled semiconductor substrate.例文帳に追加

大判化された半導体基板を用いての半導体素子の形成工程に於いて、半導体素子が形成された半導体基板の裏面に対する研削（バックグラインド）処理によって、当該半導体基板の被バックグラインド面（半導体基板の裏面、電子回路の非形成面）に発生する可能性のある機械的損傷を、効率良く検出することができる半導体基板の検査方法の提供。 - 特許庁

When receiving RAM clear signals upon power supply processing, a main controller determines that they are effective RAM clear signals and initializes the game state when a front surface frame is opened (front surface frame closing signal low state), and determines that they are fraudulent RAM clear signals, invalidates RAM clear and reports fraudulence when the front surface frame is closed (front surface frame closing signal high state).例文帳に追加

主制御装置は、電源投入処理時にＲＡＭクリア信号を受信した場合、前面枠が開放されていれば（前面枠閉鎖信号ロウ状態）、有効なＲＡＭクリア信号と判断し、遊技状態の初期化を行い、前面枠が閉鎖されていれば（前面枠閉鎖信号ハイ状態）、不正なＲＡＭクリア信号と判断し、ＲＡＭクリアを無効にすると伴に不正報知を行う。 - 特許庁

The surface characteristics measuring apparatus provided with the detector for measuring the surface roughness of a workpiece, relatively rotates the workpiece and the detector for measuring surface roughness, inputs the output of the detector when the detector scans the surface of the workpiece to prepare measured data, performs rolling circle undulation filter processing on the measured data when the shape analysis of the workpiece is designated, and then performs the shape analysis.例文帳に追加

ワークの表面粗さを測定する検出器を備えた表面性状測定機において、ワークと表面粗さ測定用検出器とを相対的に回転駆動させ、検出器がワークの表面を走査した際に検出器の出力を入力して測定データとし、ワークの形状解析が指定された際に、測定データに転がり円うねりフィルタ処理を施した後、形状解析を行う。 - 特許庁

When the object to be detected is present within a specific distance range wherein road surface reflection is possibly caused, the laser radar 3 judges whether the object to be detected is the road surface 5, and adds a road surface flag when judging the road surface 5 to exclude it from an object of precedent vehicle recognition processing for the precedent vehicle 2 to be performed next.例文帳に追加

レーザレーダ３は、路面反射の可能性のある特定の距離範囲に検出対象物があった場合、測定データから求めた検出対象物の反射光の特徴量に基づいて、その検出対象物が路面５であるか否かを判断し、路面５であると判断した場合、路面フラグを付加し、次に実行する先行車両２に対する先行車両認識処理の対象から外す。 - 特許庁

This force detection device 1 is equipped with a semiconductor substrate 20 provided on the surface with a force detection part 60 for generating an electric signal corresponding to a working force, a semiconductor circuit substrate 220 provided on the surface with a circuit part 222 for processing the electric signal, and insulating blocks 50, 250 provided between the surface of the semiconductor substrate 20 and the surface of the semiconductor circuit substrate 220.例文帳に追加

力検知装置１は、作用する力に応じた電気信号を生成する力検知部６０が表面に設けられている半導体基板２０と、前記電気信号を処理する回路部２２２が表面に設けられている半導体回路基板２２０と、半導体基板２０の前記表面と半導体回路基板２２０の前記表面の間に設けられている絶縁性のブロック５０、２５０とを備えている。 - 特許庁

The oxidation-resistant rare earth based magnet powder has a coating layer principally comprising a pigment on the surface thereof, and its producing process comprises a step for mixing rare earth based magnet powder and processing liquid containing a pigment, and a step for drying the processing liquid containing a pigment adhering to the surface of the rare earth based magnet powder.例文帳に追加

本発明の耐酸化性希土類系磁石粉末は、顔料を主たる構成成分とする被着層を表面に有してなることを特徴とするものであり、その製造方法は、希土類系磁石粉末と顔料含有処理液を混合した後、顔料含有処理液が表面に付着した希土類系磁石粉末を乾燥することを特徴とするものである。 - 特許庁

In this method for specifying a surface characteristic, the first characteristic value and second characteristic value for characterizing unevenness of the surface are calculated, numerical processing is applied at least to the first characteristic value to calculate the first drawn-out value, and numerical processing is applied at least to the second characteristic value to calculate the second drawn-out value.例文帳に追加

表面特性を特定するための方法であって、表面の凹凸を特徴づける第一の特性値と第二の特性値が算出され、少なくとも第一の特性値に数学的な処理を適用することによって第一の導出値が算出され、少なくとも第二の特性値に数学的な処理を適用することによって第二の導出値が算出される。 - 特許庁

The wiring circuit board 1 is obtained by preparing a support substrate 2 and a base insulating layer 3 respectively, bonding the reverse surface of the base insulating layer 3 having been subjected to activation processing to the support substrate 2 using laser light 9 after previously performing activation processing on the top surface of the base insulating layer 3, forming a conductor pattern 4 on the base insulating layer 3, and then removing the support substrate 2.例文帳に追加

支持基板２とベース絶縁層３とをそれぞれ用意し、ベース絶縁層３の表面を、予め活性化処理した後、活性化処理されたベース絶縁層３の下面を、レーザー光９を用いて支持基板２と接合し、ベース絶縁層３の上に導体パターン４を形成し、その後、支持基板２を除去することにより、配線回路基板１を得る。 - 特許庁

A surface defect inspection device includes a differential interference image acquisition part 2 containing a differential interference optical system for forming a differential interference optical image of the workpiece 1 and a photographing part for acquiring a differential interference image by photographing the differential interference optical image, and a processing part 3 for processing the differential interference image and detecting the defect on the surface of the workpiece.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の微分干渉光学像を形成する微分干渉光学系と前記微分干渉光学像を撮像して微分干渉画像を得る撮像部とを有する微分干渉画像取得部２と、前記微分干渉画像を処理して、被検査物１の表面における欠陥を検出する処理部３と、を備える。 - 特許庁

To provide a processing method of fiber structures dyed, decolored, modified or the like, when forming many spots having optional size and density on the surface of a fiber structure, so that at least the surface or the spots exhibit(s) optional color or function without requiring complex operation such as previously preparing particulate including a processing agent.例文帳に追加

繊維構造物の表面に、任意の大きさ及び密度をもった多数の斑点を加工するにあたり、予め加工剤を内包した微粒子を準備するなどの煩雑な操作を必要とせず、上記表面及び上記斑点のうち少なくともいずれか一方が、任意の色または機能を示すように、染色、脱色または改質等された繊維構造物の加工方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate processing device and a substrate processing method which can suppress formation of a water mark in a surface of a substrate to be processed and corrosion of a copper interconnection exposed in a surface of the substrate to be processed when the substrate to be processed such as a semiconductor wafer is subjected to cleaning treatment by cleaning liquid containing hydrofluoro ether.例文帳に追加

半導体ウエハ等の被処理基板に対してハイドロフルオロエーテルを含む洗浄液により洗浄処理を行う際に、当該被処理基板の表面にウォーターマークが形成されたり、あるいは被処理基板の表面で露出している銅配線が腐蝕してしまったりすることを抑制することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁

This device for judging the soundness of the reinforced concrete judges the soundness of a corroded point P of a reinforcing bar 12 by measuring the magnetic field on the objective surface for measurement or the vicinity thereof at many points with the surface of the reinforced concrete as the objective surface for measurement, and processing the data obtained in the multiple- point measurement to obtain the distribution of the current density of the reinforced concrete.例文帳に追加

鉄筋コンクリートの健全性判定装置は、鉄筋コンクリートの面を測定対象面とし、前記測定対象面又はその近傍の磁場を多点測定し、前記多点測定により得られたデータを処理することにより、前記鉄筋コンクリートの電流密度分布を得ることにより、鉄筋１２の腐食ポイントＰの健全性を判定する。 - 特許庁

As a countermeasure to the reflection on the surface or the like of a beam member 20, incident light is reflected diffusely by roughly processing a surface on the member, incident light is absorbed on the surface by applying a paint having a spectroscopic absorption characteristic according to the wavelength of a light source, and alternatively, the member is formed not in a flat plane but in a curved plane.例文帳に追加

梁部材２０の表面などにおける反射への対策は、部材の表面を粗面仕上げとして入射光を乱反射させる、光源の波長に合わせて分光吸収特性を持つ塗料などを塗布することで入射光を表面で吸収する、あるいは部材の形状を平面でなく曲面で構成する。 - 特許庁

In addition, the method for processing the surface using a scratching tool having a number of scratching nails on its apex part for manufacturing such the panel as this, is characterized by that an interval between the adjoining scratching nails at a position on the surface of the panel under a condition where the scratching nails bite the surface of the panel, is ≥3 mm.例文帳に追加

またそのようなパネルを作製するために先端部に多数の引っ掻き爪を有する引っ掻き加工具を用いた表面加工方法において、上記引っ掻き爪をパネル表面に食い込ませた状態におけるパネル表面位置での隣り合う引っ掻き爪の間隔が３ｍｍ以上となるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a styrenic resin foam which has fine cells by uniform expansion at a high expansion ratio, smooth and good surface appearance, can be uniformly printed beautifully without causing a white void when directly printed on its surface by a roll, shows a beautiful cut surface without causing feathering when cut by a guillotine or a slicing machine, and is easy in post-processing.例文帳に追加

高倍率に均一に発泡して微細な気泡を持ち、表面が平滑で見栄えがよい上に、表面にロールで直接印刷した場合に、白とびを生じることなく一様に美麗に印刷でき、またギロチンやスライザーで切断した場合に髭を生じなくて、切断面が美麗であと加工が容易なスチレン系樹脂発泡体を提供しようとする。 - 特許庁

Light from the surface of a sample within a measurement range decided according to optical magnification is received by a photodetector through a confocal optical system, the height information and the light quantity information of the surface of the sample are acquired based on the received light information, and the picture of the surface of the sample obtained by processing the acquired information is displayed on the screen of a display apparatus.例文帳に追加

光学倍率によって決まる測定範囲内の試料表面からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光情報に基づいて試料表面の高さ情報及び光量情報を取得し、取得した情報を処理して得られる試料表面の画像を表示装置の画面に表示する。 - 特許庁

This floor surface processing device is provided with a portable base 12 movable on the floor surface F to be processed, a laser oscillator 20 attached to the base 12, and an optical device 24 provided on the base 12 and guiding laser beam outgoing from the laser oscillator 20 toward the floor surface F arranged below the base 12 so as to adjust its radiation position two-dimensionally.例文帳に追加

加工対象である床面Ｆ上を移動可能な可搬式の基台１２と、該基台１２に取付けられたレーザ発振器２０と、基台１２に設けられて、レーザ発振器２０から出射されるレーザ光を前記基台１２の下方に配置される床面Ｆに向けてその照射位置を二次元的に調節可能に誘導する光学装置２４と、を備える。 - 特許庁

The inspection light 4 out of focus in a front or rear focus is formed into an image on the surface of the object and a change in the quantity of the regular reflected light from the surface of the object of the inspection light 4 out of focus is detected to detect the flaw present on the surface of the object and the shape of the detected image is evaluated by image processing.例文帳に追加

物体表面に対して前ピントまたは後ピントでピントずれした検査光４を結像させ、そのピントずれした検査光４の物体表面からの正反射光の光量変化を検出することにより物体表面に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥の形状を画像処理によって評価する。 - 特許庁

To provide a positive type resist processing liquid composition which prevents a contamination source such as polish waste from attaching to a positive type resist surface, by imparting hydrophilicity to the positive type resist surface in a manufacturing process, including applying resist as a surface protective film of a semiconductor wafer or the like and polishing the peripheral part of the substrate (such as, a beveled part, an edge part and a notch part).例文帳に追加

半導体ウェハ等の表面保護膜としてレジストを塗布し、基板の周縁部（ベベル部、エッジ部、ノッチ部等）の研磨を行う製造工程において、ポジ型レジスト表面に親水性を付与することにより研磨屑等の汚染源がポジ型レジスト表面に付着するのを防止するレジスト処理液組成物を提供する。 - 特許庁

The substrate processing device forming one substrate by bonding the bonding surfaces of two substrates, comprises a surface state detecting portion detecting the surface states of the bonding surfaces, and a bonding strength determining portion determining bonding strength on the basis of the detected surface states.例文帳に追加

２枚の基板の貼り合わせ面同士を貼り合わせて１枚の基板を形成する基板処理装置であって、貼り合わせ面の表面状態を検出する表面状態検出部と、前記検出された表面状態に基づいて貼り合わせ強度を判定する貼り合わせ強度判定部と、を備えたことを特徴とする基板処理装置が提供される。 - 特許庁

To provide an in-mold coating molding method high in processing accuracy and excellent in productivity for injecting a paint in the gap between the surface of the resin molded article molded in a mold and the cavity surface of the mold to cure the same to produce an integrated molded article having a coating film closely bonded to the surface thereof.例文帳に追加

金型内で成形した樹脂成形品の表面と金型のキャビティ表面との間に塗料を注入した後、塗料を金型内で硬化させて、樹脂成形品の表面に塗膜が密着した一体成形品を得るための、加工精度が高く、かつ、生産性に優れた金型内被覆成形方法と、使用される成形装置を提供する。 - 特許庁

A masking processing surface 54 is formed on the front surface of a printed wiring board 50 in which printed wiring and a display part are assembled, a detachable attaching means is provided on the base part of the display part, the display part is fitted to an attaching hole 52 of the masked printed wiring board, and a conductor is connected to a conductor surface 53.例文帳に追加

プリント配線、表示部品等が組み付けられるプリント配線基板５０の表面にマスキング処理面５４を形成し、表示部品４０の基部に脱着可能な取着手段を設け、表示部品をマスキングしたプリント配線基板の取付け孔５２に嵌着するとともにその導線を導体面５３に接続可能とするものである。 - 特許庁

This paper processing device projects a carrying force reducing part from an ejecting tray surface when the stopper member exists in the position of checking the carrying of the paper bundle, and moves the carrying force reducing part to a position in the same as the ejecting tray surface or lower than the ejecting tray surface when the stopper member exists in the position of not checking the carrying of the paper bundle.例文帳に追加

ストッパ部材が用紙束の搬送を阻止する位置にあるときは、搬送力低減部を排出トレイの面より突出させ、ストッパ部材が用紙束の搬送を阻止しない位置にあるときは、搬送力低減部を排出トレイの面と同じ又は排出トレイの面より低い位置に移動させる用紙処理装置とする。 - 特許庁

The determining apparatus includes a projector 21 for projecting a pattern on a surface of a translucent resin 15, a CCD camera 22 for photographing the pattern projected on the surface of the translucent resin 15, and an arithmetic processing unit 23 for determining the surface shape or filling amount of the translucent resin 15 based on a pattern image captured by the CCD camera 22.例文帳に追加

透光性樹脂１５の表面にパターンを投影する投影装置２１と、透光性樹脂１５の表面に投影されたパターンを撮影するＣＣＤカメラ２２と、ＣＣＤカメラ２２によって撮影されたパターン画像に基づき透光性樹脂１５の表面形状もしくは充填量を判定する演算処理部２３とを備えている。 - 特許庁

Since a heavy metal acquisition layer composed of a crystal alteration layer is formed on the reverse-surface side of the silicon substrate through laser beams irradiation, Cu and Ni mixed principally in the reverse-surface grinding and polishing processes and heavy metal mixed in a process following the thin thickness processing can be also obtained in a reverse-surface neighborhood region.例文帳に追加

本発明によれば、レーザー光の照射によってシリコン基板の裏面側に結晶変質層からなる重金属捕獲層を形成していることから、主に裏面研削・研磨工程において混入するＣｕ、Ｎｉや薄厚加工後の次工程で混入する重金属も裏面近傍領域に捕獲することが可能となる。 - 特許庁

The method of manufacturing the semiconductor device includes the processes of forming a mark made of a non-single-crystalline reformed layer inside a back surface of a semiconductor wafer by irradiating the semiconductor wafer with laser light from the back surface; and exposing the reformed layer by subjecting the back surface of the semiconductor wafer to polishing or grinding processing after the process of forming the mark.例文帳に追加

半導体ウェーハの背面からレーザ光を照射して、前記半導体ウェーハの背面より内部に非単結晶質の改質層からなるマークを形成する工程と、前記マークを形成する工程の後に、前記半導体ウェーハの背面を研磨或いは研削処理して前記改質層を表出させる工程を設ける。 - 特許庁

To provide a transfer film for curved surface printing which is free from the generation of cracks in an image layer constituting a pictorial pattern and capable of performing the curved surface printing with outstanding design characteristics, during a transfer processing step using a curl fit process for applying an activator to the transfer film for curved surface printing having a formed image layer constituting the pictorial pattern.例文帳に追加

絵柄を構成する画像層を形成した曲面印刷用転写フィルムに活性剤を塗布して行うカールフィットによる転写加工工程に際して、絵柄を構成する画像層のひび割れが発生せず、意匠性に優れた曲面印刷を行うことのできる曲面印刷用転写フィルムを提供することを主目的とするものである。 - 特許庁

To provide a decorative sheet which is able to maintain a beautiful aesthetic nature without easy change in gloss on a surface even if the surface temperature of the decorative sheet is exposed to 60°C or more in a laminating process with a base material and in a state of use after processing, in the decorative sheet for exterior having a surface protective sheet layer 4 comprising thermoplastic acrylic resin.例文帳に追加

熱可塑性アクリル系樹脂からなる表面保護シート層４を具備した外装用等の化粧シートにおいて、基材とのラミネート加工工程や施工後の使用状態で、化粧シートの表面温度が６０℃以上の高温に曝されることがあっても、表面の艶変化を発生しにくく、美麗な意匠性を持続可能な化粧シートを提供する。 - 特許庁

A far infrared radiating material is mixed into a synthetic resin material or a coating material, surface layer processing is applied so that a far infrared radiating layer is formed on the vertebra, an additional function for activating a waterdrop by the effect of the far infrared rays radiated by the surface layer is exhibited, and the surface layer to which pigment is mixed can improve the appearance of the product.例文帳に追加

遠赤外線放射材を合成樹脂素材、又は塗料素材に混合し、バーティブラに遠赤外線放射層が形成された表層面加工を施工し、表層面より放射される遠赤外線の効果により水滴を活性化する付加機能を有し、顔料を混合した表層面が製品の美観を向上させることができる。 - 特許庁

A decision processing device 20 estimates the state of the road surface on which the vehicle travels based on the feature vector generated by the feature vector generating device 16 and the feature vector corresponding to the road surface states stored corresponding to each of a plurality of road surface states stored in a decision map memory 22 and the generation source of the tire generation sound.例文帳に追加

判定処理器２０は、特徴ベクトル生成器１６で生成された特徴ベクトルと、判定マップメモリ２２に記憶された・複数の路面状態の各々毎に対応して記憶された路面状態及びタイヤ発生音の発生源に対応する特徴ベクトルと、に基づいて、車両が走行する路面の状態を推定する。 - 特許庁

In a step of forming a conductor film as an electrode to the first principal surface S1 and the second principal surface S2 located in the opposite side along the thickness direction of a semiconductor wafer 1 on which an element is formed, the semiconductor wafer 1 is accommodated in the manner that the entire part of at least the second principal surface S2 of the semiconductor wafer 1 is stored within a processing chamber 4.例文帳に追加

素子を形成した半導体ウェハ１の第１主面Ｓ１と厚さ方向に沿って互いに反対側に位置する第２主面Ｓ２に電極としての導体膜を形成する工程であり、まず、半導体ウェハ１のうち少なくとも第２主面Ｓ２の全部が処理室４内に収まるように、半導体ウェハ１を収容する。 - 特許庁

Through the simple processing of synthesizing two or more partial images P2, the surface image P1 with less positional deviation from the actual surface of the object can be generated, and by inputting machining information on the surface image P1, the object can be excellently machined based on the inputted machining information.例文帳に追加

これにより、２以上の部分画像Ｐ２を合成するといった簡単な処理により、実際の対象物の表面との位置ずれが小さい表面画像Ｐ１を生成することができるとともに、当該表面画像Ｐ１上で加工情報を入力することにより、入力した加工情報に基づいて良好に加工を行うことができる。 - 特許庁

The method includes a step of surface-treating the surface of an ion conductive polymer film so as to obtain surface uniformity by using the plasma processing process, a step of adsorbing metal electrodes to both sides of the ion conductive polymer film, a step of reducing polymer metal composites to both sides of the ion conductive polymer film, and a step of forming a coating layer.例文帳に追加

プラズマ処理工程を利用してイオン伝導性高分子膜の表面が均一になるように表面処理する段階と、前記イオン伝導性高分子膜の両面に金属電極を吸着する段階と、前記イオン伝導性高分子膜の両面に高分子金属複合体を還元する段階と、コーティング層を形成する段階とを含む。 - 特許庁

The surface defect evaluation device evaluates surface defects of a measurement object, on the basis of measurement point data and reference point data, after aligning the measurement point and the reference point, on the basis of the sequential convergence processing for the sequential convergence of the distance between the measurement point of the measurement object and the reference point, corresponding to a reference surface shape of the measurement object.例文帳に追加

測定対象物の測定点と測定対象物の基準表面形状に対応する基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせした後の測定点データと基準点データとに基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。 - 特許庁

The golf riding cart is equipped with an imaging unit 31 to image a road surface on a fairway, a container 32 to store joint soil, an image processing means 41 to recognize a soil surface exposed on the fairway based on image information taken in from the imaging unit 31, and a repairing means 44 to throw the joint soil in the container 32 onto the exposed soil surface.例文帳に追加

フェアウェイ上の路面状態を撮像する撮像装置31と、目土を収容する容器32と、撮像装置31から取り込んだ画像情報に基づき、前記フェアウェイ上の露出土面を認識する画像処理手段41と、画像処理手段41で認識した露出土面上で容器32内の目土を投下する補修手段44とを備える。 - 特許庁

The manufacturing method of the electric casting mold has the process (step S11) of processing the surface of the material of a master mold to obtain the master mold having a fine surface uneven shape and the process (step S12) of forming an electrodeposition layer on the surface of the master mold and peeling the electrodeposition layer from the master mold to obtain the electric casting mold as a negative mold.例文帳に追加

電気鋳造金型を製造する方法は、マスター型の素材の表面を加工することにより微細な表面凹凸形状を有するマスター型を得る工程（ステップＳ１１）と、マスター型の表面上に電着層を形成し、当該電着層をマスター型から剥離してネガティブ型としての電気鋳造金型を得る工程（ステップＳ１２）と、を有する。 - 特許庁

On the surface of a nozzle plate 21 previously subjected to surface roughening (oxygen plasma processing or sand blasting) to have a surface roughness (Ra) of 0.01-0.1, a plasma polymerization film having a thickness of 0.5 μm or less is formed by plasma CVD using a compound containing fluorine or silane as a material and then it is coated with fluororesin to form an ink repellent film.例文帳に追加

予め粗面化処理（酸素プラズマ処理又はサンドブラスト処理）により表面粗さ（Ｒａ）０．０１〜０．１とされたノズルプレート２１表面に、フッ素含有化合物又はシラン化合物を原料としてプラズマＣＶＤ法により０．５μｍ以下のプラズマ重合膜を形成し、その皮膜上にフッ素樹脂を塗布し、撥インク膜を形成する。 - 特許庁

At processing stages 10 to 16, a panel holder 17 having three holder arms 20 and vacuum sucking a rear surface of the panel 1 is arranged at the processing stages of the odd number and a panel holder 18 having four holder arms 30 and vacuum sucking the rear surface of the panel 1 is provided at the processing stages of the even number.例文帳に追加

処理ステージ１０〜１６において、奇数番目の処理ステージには３本のホルダアーム２０を有し、パネル１の裏面を真空吸着するパネルホルダ１７が配置され、偶数番目の処理ステージには４本のホルダアーム３０を有し、パネル１の裏面を真空吸着するパネルホルダ１８が設置されており、これら各パネルホルダ１７，１８はそれぞれ取付部材２１，３１に装着され、それぞれＺ軸駆動手段，Ｙ軸駆動手段及びＸ軸駆動手段からなる駆動手段に装着されている。 - 特許庁