「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(340ページ目) - Weblio英語例文検索

The control part 112 determines a position of irradiating the top of the glass substrate 102 with laser beams so that a range of irradiating the top of the glass substrate 102 with the laser beams emitted from a laser oscillator 103 includes at least one of a plurality of contact points between the external form of the defect and a circumscribing rectangle that circumscribes the external form.例文帳に追加

また、制御部１１２は、レーザ発振器１０３から出射されたレーザ光がガラス基板１０２上に照射される範囲が、欠陥の外形とその外形に外接する外接矩形との複数の接点のうち少なくとも１つを含むように、ガラス基板１０２上にレーザ光を照射する位置を決定する。 - 特許庁

To provide a sheet extrusion cap which has a channel for reducing the rigidity of a lip tip part as a function to remove the fine thickness unevenness of a sheet and prevents the deposition of a sheet material or its sublimated substance in the channel for reducing the rigidity to cause a sheet defect, and to provide a method for producing the sheet.例文帳に追加

本発明は、シートの細かい厚みムラを除去する機能としてリップ先端部を低剛性化するための溝を備え、さらに低剛性化のための溝部にシート材料やその昇華物が堆積してシート欠陥になることのない、シート押出成形用口金ならびにシート製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and equipment for evaluating the life time and process damage of a semiconductor substrate on the basis of the intensity of haze light by aiming at the haze light being scattering light emitted from an area in which strong scattering body does not exit when the crystal defect of a semiconductor substrate surface layer is evaluated by light scattering.例文帳に追加

半導体基板表層の結晶欠陥を光散乱で評価する際、強い散乱体が存在しない領域から発せられる散乱光であるヘイズ光に着目し、このヘイズ光の強度に基づいて半導体基板のライフタイムおよびプロセスダメージを評価する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which a plurality of interchangeable units equipped with RFID tags are housed, wherein communicating performance of the RFID tag is secured and malfunction due to an attaching defect of the interchangeable unit is reduced, by preventing mutual interference of adjacent RFID tags and improving directivity of an antenna.例文帳に追加

ＲＦＩＤタグを備えた交換ユニットを複数収納可能な画像形成装置において、隣接するＲＦＩＤタグ同士の混信を防ぐとともにアンテナの指向性を向上させることにより、ＲＦＩＤタグの交信性能を確保し、交換ユニットの取り付け不良による誤動作を低減する。 - 特許庁

To reliably repair the defect of an organic EL element caused by an electrode short circuit that cannot be detected by emission of light produced from a defective point when a voltage is applied to the organic EL element in which a contact is arranged on an electrode deposition region, and to improve the yield of an organic EL display apparatus.例文帳に追加

コンタクトを電極成膜領域に配置する有機ＥＬ素子において、有機ＥＬ素子に電圧を印加したときに、不良個所から発生する発光では検出ができない電極ショートに起因する有機ＥＬ素子の不良を確実にリペアし、有機ＥＬ表示装置の歩留まりを向上させる。 - 特許庁

To provide a method for producing high purity polycrystal silicon able to prevent occurrence of defect at a boundary face between a silicon core and new deposited polycrystal silicon on its surface when a polycrystal silicon rod is produced by depositing of silicon on the silicon core, using a thermal decomposition reaction of hydrogenated silicon.例文帳に追加

シリコンの水素化合物の熱分解反応によりシリコン芯体上にシリコンを析出させる棒状多結晶シリコンの製造時に、シリコン芯体とその表面に新たに析出する多結晶シリコンとの界面近傍における欠陥の発生を防止できる高純度多結晶シリコンの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor supersensitive to a light source emitting monochromatic light of a wavelength ≥380 nm and ≤500 nm, having high quality represented by high resolution, high gradation or the like, and allowing formation of a small-defect image faithfully developed to high-resolution exposure.例文帳に追加

波長３８０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の単色光を発する光源に対し高感度であり、高解像度、高階調性等に代表される高品質であって、しかも高解像度な露光に対して忠実に現像された欠陥の少ない画像を形成することのできる電子写真感光体を実現する。 - 特許庁

To enable formation of a semiconductor layer of crystal orientation (100) and a semiconductor layer of crystal orientation (110) on the same substrate while suppressing crystal defect, by forming an insulating film on a side wall of a second semiconductor layer and forming an epitaxial growth layer having the same crystal orientation as a first semiconductor layer.例文帳に追加

第２半導体層の側壁に絶縁膜を形成して、第１半導体層の結晶方位を引き継いだエピタキシャル成長層を形成することで、結晶方位（１００）の半導体層と結晶方位（１１０）の半導体層を同一基板上に結晶欠陥を抑制して形成することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method of resin sealing and molding an electronic part, which stably cuts and separates a package and a resin passage at a specific cutting and separating position, by using the resin molding die of the electronic part made in a ful consideration of the matter of a remaining gate and a package defect.例文帳に追加

ゲート残り及びパッケージ欠けの問題に十分に配慮した電子部品の樹脂封止成形用金型を用いることにより、パッケージ部分と樹脂通路部分とを特定な切断分離箇所にて安定して切断分離することができる、電子部品の樹脂封止成形方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an ink jet recording sheet which significantly inhibits the discoloration of the ink in the long-term preservation of the sheet as a defect of a conventional ink jet recording sheet, when the sheet is printed in full color, especially the discoloration due to the color fading of a phthalocyanine dye when it is used as a dye for a cyan ink.例文帳に追加

インクジェット記録用シート上にフルカラーで印字された場合に、従来のインクジェット記録用シートの欠点であった長期保存での変色、とりわけシアンインク用染料としてフタロシアニン系染料を用いた場合、その褪色に伴う変色を著しく減少させたインクジェット記録用シートを提供する。 - 特許庁

Further, a gain coefficient setting means 24 is provided with sets a predetermined gain coefficient for each optical filter when a photodetecting element having a black defect is detected by monitoring the signal level outputted from the solid image pickup element when plane light is made incident.例文帳に追加

そして、固体撮像素子３に対して、平面光が入射されたときに当該固定撮像素子から出力される信号レベルを監視することで黒欠陥が生じている受光素子を検出するにあたって、各光フィルタについて予め決められた利得係数を設定する利得係数設定手段２４を設ける。 - 特許庁

To provide a developing device which can be easily designed, by which developer inside a developer container can be stably circulated by first and second stirring means, and a density irregularity, fogging and density defect, etc., can be prevented, a process cartridge and an image forming device provided with the developing device.例文帳に追加

本発明は、設計が容易で、第一撹拌手段及び第二撹拌手段によって現像剤容器内の現像剤を安定して循環させ、濃度ムラ、カブリ、濃度不良等を防止することのできる現像装置及びこの現像装置を備えるプロセスカートリッジ並びに画像形成装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A means 44 is provided for comparing a fatal region pattern 34 which is generated from design data for forming a wiring pattern and shows necessary indispensable regions corresponding to the center of the wiring pattern with an inspected pattern obtained from wiring patterns on an object under test, thereby detecting the defect from the non-coincidence of both patterns.例文帳に追加

配線パターンを形成するための設計データから生成され前記配線パターンの中心部に対応する必要不可欠な領域を示す致命領域パターンと、前記被検査物上の配線パターンから得た検査パターンとを比較して、両パターンの不一致により欠陥を検出する比較手段４４を有する。 - 特許庁

To provide a semiconducting roller which uses a polar rubber material, and which does not use a liquid rubber, or a plasticizer such as a phthalate ester and an adipate ester and which has good extruding processability, productivity and rubber touch, and which does not have a defect in foam formation and air hole and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

極性ゴム材料を使用し，液状ゴム，フタル酸エステルやアジピン酸エステルなどの可塑剤をいずれも使用することなく，押出加工性，生産性が良好であると共にゴム肌も良好であり，しかも発泡やエアホールの不良のない半導電性ローラー並びにその製造方法を提供する。 - 特許庁

The terminal part of the damaged nerve is inserted into a collagen tube having a compact and smooth outer barrier face, with which the damaged nerve can be recovered without defect by preventing interplant of coupled tissues and the formation of cicatrix tissue, so that the damaged nerve can be reconnected and reproduced.例文帳に追加

結合組織の内殖を防ぎ、瘢痕組織の形成を防いで損傷を受けた神経の欠陥のない修復を可能にするコンパクトで平滑な外側バリア面を有するコラーゲン管の中に損傷を受けた神経の端部を挿入することによって、損傷を受けた神経は再接続および再生される。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a radiation sensitive composition for a color liquid crystal display device which brings about no display defect due to lowering of an operating function in a part where voltage is applied and which is used to form a coloring layer on a driving substrate of a thin film transistor(TFT) mode color liquid crystal display device.例文帳に追加

電圧を印可した部分における作動機能の低下に起因する表示不良を起こすことがない、薄膜トランジスター（ＴＦＴ）方式カラー液晶表示装置の駆動用基板上に着色層を形成するために用いられるカラー液晶表示装置用感放射線性組成物を提供する。 - 特許庁

To obtain a toner supply method by which the defect of a developing device by a conventional technique is made up by specially improving a toner supplying part in the developing device in an image forming method by which many sheets of images are repeatedly formed in a high speed recorder of an electrophotographic method and an electrostatic recording method or the like.例文帳に追加

電子写真法、静電記録法等の高速記録装置において繰り返し多数枚の画像を形成する画像形成方法において、特に現像装置内のトナー供給部を改善することで従来技術による現像装置の欠点を補ったトナー供給方法を得ることである。 - 特許庁

To eliminate trouble such as image defect or back surface stain caused by toner or paper powder adhered to a conductive guide member arranged in a conveyance path from a paper feeding device to a fixing device via an image process device, in an image forming apparatus using an electrophotographic system.例文帳に追加

電子写真方式を採用した画像形成装置において、給紙装置から画像プロセス装置を経て定着装置に至るまでの搬送経路中に配置され且つ導電性を呈するガイド部材に、トナーや紙粉が付着していたために生ずる画像汚れや裏面汚れ等の問題を解消する。 - 特許庁

Thereby, pixel patterns of wirings, TFT elements and the like formed on the TFT array substrate 11 of the liquid crystal display panel 10 can be made easy to be seen and when the defect existing in the pixel patterns is detected or repaired, the operation to peel or to re-stick the polarizing plate 11a is unnecessitated.例文帳に追加

これにより、液晶表示パネル１０のＴＦＴアレイ基板１１に形成されている配線やＴＦＴ素子などの画素パターンが見え易くなり、画素パターンに存在する欠陥検出の際あるいは欠陥リペアの際に、偏光板１１ａを剥がしたり貼り直したりする作業が不要になる。 - 特許庁

A plurality of thresholds (upper-side envelope thresholds 1, 2 and lower-side envelope thresholds 1, 2) for comparing an upper-side envelope 35 with the lower one 36 are used, to obtain a defect state more accurately, and improve reproduction stability by optimally controlling each circuit block.例文帳に追加

上側包絡線３５と下側包絡線３６をそれぞれ比較する複数の閾値（上側包絡線閾値１、上側包絡線閾値２、下側包絡線閾値１、下側包絡線閾値２）を用いることにより、より正確に欠陥状態を把握し、各回路ブロックを最適に制御することにより、再生安定性の向上を図る。 - 特許庁

To provide a technology which can improve the yield of products by suppressing the increase of product defects arising from abnormality of a specific device, and a technology which can shorten a time period for identifying a device having developed an abnormality when a product defect arises to improve the yield of products.例文帳に追加

特定の装置異常で発生する製品不良の拡大を抑制して製品の歩留まり向上を図ることができる技術を提供するまた、製品不良が発生した際、異常を起した装置を特定するための時間を短縮して製品の歩留まり向上を図ることができる技術を提供する。 - 特許庁

The device for reproducing a disk acquires a defect list on which correspondence information on a defective block and an alternative block is registered with the classification of the defective block from a recording medium, and reads the alternative block and transfers it to the origin of a reproduction request when it is necessary to read the defective block from the recording medium.例文帳に追加

欠陥ブロックと代替ブロックとの対応情報が欠陥ブロックの種別とともに登録された欠陥リストを記録媒体から取得しておき、該記録媒体から欠陥ブロックを読み出す必要がある場合は、その代替ブロックを読み出して再生要求元に転送するディスク再生装置を前提としている。 - 特許庁

To solve the problem of a current bio-toilet dissolving tank agitating device having the agitating structure for rotating a shaft when dissolving excreta with the bio germ and formed into the shaft rotating structure with a defect that the shaft is easy to be broken and damaged and hard to cope with these damage in a limited space inside a tray.例文帳に追加

従来、バイオ菌で糞尿を消滅させるに当たり軸を回転させる攪拌構造を採用するものもあるが、それらは軸回転構造になっているので、軸折れや他の損傷も多い欠陥があり、トレイの限られたスペース内での損傷対策には無理があるため、これらの解消を図る。 - 特許庁

To provide an electrophotographic apparatus which maintains good cleanability over a long period of time in spite of an electrophotographic photoreceptor having high mechanical durabilility to wear, flaws, etc., is free of an image defect and improves the durability of the electrophotographic photoreceptor and a cleaning blade and an electrophotographic image forming method.例文帳に追加

摩耗や傷などに対する機械的耐久性が高い電子写真感光体であっても、長期にわたって良好なクリーニング性を保持し、画像不良がなく、かつ、電子写真感光体やクリーニングブレードの耐久性を向上させた電子写真装置および電子写真画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dross defect suppressing device of a device for continuously plating a molten metal of a steel strip in which a dross residence time in a triangular zone at the time of continuously plating the molten metal is reduced, the dross inclusion is effectively suppressed, and a plated steel plate excellent in surface property is manufactured stably over a long time.例文帳に追加

連続溶融金属鍍金時の三角地帯におけるドロス滞留時間を減少させ、ドロス噛み込みを効果的に抑制し、表面性状の優れた鍍金鋼板を長期に渡り安定して製造し得る、鋼帯の連続溶融金属鍍金装置のドロス欠陥抑制装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a tungsten sputtering target by which the occurrence of particle defect in a deposited film can be suppressed even if powder having a particle size of a level identical with that of commercially available powder is used, i.e., the tungsten target having high density, fine grain size and low oxygen content can be stably manufactured at a low cost.例文帳に追加

現在一般的に市販・流通されている粒径の粉末を使用しても、成膜上のパーティクル欠陥の発生を抑え、すなわち、高密度・結晶粒径が微細、且つ酸素含有量が低いタングステンターゲットを低いコストで且つ安定して容易に製造できるスパッタリング用タングステンターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the threshold value of the transistor which has trapped the hole and the electron in the crystal defect fluctuates, the difference in a drain current due to the fluctuation of the threshold values of a NMOS transistor 201 and a NMOS transistor 202 provided in the storage part 200 is detected by a sense amplifying circuit provided in a SRAM part 100 to read the stored data.例文帳に追加

結晶欠陥に正孔又は電子をトラップしたトランジスタは閾値が変化するので、記憶部２００が備えるＮＭＯＳトランジスタ２０１とＮＭＯＳトランジスタ２０２の閾値の変化によるドレイン電流の差をＳＲＡＭ部１００が備えるセンスアンプ回路で検出することにより記憶されたデータの読み出しを行う。 - 特許庁

To provide a texture forming method by which a texture having good asperity in shape can be formed by preventing overetching from producing a defect in shape in an asperity structure in forming a texture on a zinc oxide-based material film, and to provide a method for manufacturing a transparent electrode layer, and a method for manufacturing a solar battery.例文帳に追加

酸化亜鉛系材料からなる膜に対するテクスチャの形成においてオーバーエッチングによる凹凸構造の形状不良を防止して、良好な凹凸形状を有するテクスチャを形成することが可能なテクスチャ形成方法、透明電極層の製造方法および太陽電池の製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a fixing device which prevents fixing defect from being caused even if continuous printing to a large size sheet is performed in spite of such constitution that a temperature sensor is arranged outside the maximum sheet passage area on the edge in the fixing roller and energization of a heater on the edge side is controlled based on detected temperature of the temperature sensor.例文帳に追加

定着ローラにおける端部の最大用紙通過領域外に温度センサを配置し、その検出温度に基づいて、端部側のヒータの通電を制御する構成でありながら、大サイズの用紙に対する連続印字を行っても定着不良が発生することのない定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a single crystal, by which a high quality single crystal wherein a desired defect area is formed in the crystal growth direction can be easily manufactured with a high productivity and yield by suppressing the fluctuation of the temperature gradient in the vicinity of the solid-liquid interface to be minimum when the single crystal is grown.例文帳に追加

単結晶を育成する際に、固液界面近傍の温度勾配の変動を最小限に抑制し、結晶成長方向に所望欠陥領域が形成された高品質の単結晶を容易に、かつ高い生産性及び歩留りで製造できる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

At the surface heating step S10, a temperature of the semiconductor substrate 12 at the depth 50 after the implantation step S8 is kept to be lower than a hydrogen ion outward-diffusion temperature, whereby the surface 12b of the semiconductor substrate 12 is heated until a temperature of the surface 12b of the semiconductor substrate 12 reaches a crystal defect disappearing temperature or higher.例文帳に追加

表面加熱工程Ｓ１０は、注入工程Ｓ８後の前記深さ５０の半導体基板１２の温度を水素イオン外方拡散温度未満に維持しながら、半導体基板１２の表面１２ｂの温度が結晶欠陥消滅温度以上に昇温するまで半導体基板１２の表面１２ｂを加熱する。 - 特許庁

To provide a letterpress having few pattern defects when manufacturing an organic electronic device such as an organic electroluminescent element at a letterpress printing method, an inspection method for a letterpress for implementing in advance to preventing of the pattern defect, a manufacturing method for an organic electronic device using the same letterpress, and an organic electronic device using the same letterpress.例文帳に追加

有機エレクトロルミネッセンス素子をはじめとする有機電子デバイスを凸版印刷法で作製する際、パターン欠陥の少ない凸版、及びパターン欠陥を防止するために予め行う凸版の検査方法、並びにそれを用いた有機電子デバイスの製造方法並びにそれを用いた有機電子デバイスを提供する。 - 特許庁

To detect the presence of insulators at a given plate even in circumstances where they cannot be detected by a photosensor and detect the presence of the insulators in accordance with conduction check, avoiding the deterioration of a contact and a contact defect following the deterioration and providing highly accurate detection.例文帳に追加

ホトセンサによる検出が不可能な状況であっても、所定位置における絶縁体の有無を検出することができ、しかも、導通チェックに基づいて絶縁体の有無を検出するものでありながら、接点の劣化や、劣化に伴う接触不良を回避し、精度の高い検出を行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a liquid crystal display element by which a display defect associated with unevenness of threshold voltage can be prevented and liquid crystal display of high quality can be performed by subjecting a transparent substrate on which a columnar spacer consisting of a photosensitive resin is formed to rubbing treatment from two directions opposite to each other.例文帳に追加

感光性樹脂からなる柱状スペーサが形成された透明基板に対して、互いに相対する双方向からのラビング処理を行うことにより、しきい値電圧むらにともなう表示不良の発生を防止し、高品位な液晶表示を行うことができる液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

Even if radiation dose to detector volumes 22B and 22C is reduced by defects on the encoder disk or a point defect 26 due to seaming, etc. existing in the optical path inside the encoder, the optical encoder can normally operate based on signals from other detector volumes 22A, 22D and 22F.例文帳に追加

エンコーダ・ディスク上の欠陥や、エンコーダ内部の光路中に存する汚れ等による点欠陥２６により、検出器領域２２Ｂおよび２２Ｃへの入射光量が減じられても、他の検出器領域２２Ａ、２２Ｄ、および２２Ｆからの信号に基づき、光学式エンコーダは正常に作動することができる。 - 特許庁

To suppress formation of a void as a connection defect caused by trapping of a gas in a connection layer by eliminating the need of working, such as, grooving on the reverse surface of a semiconductor element, even when a semiconductor is connected using a conductive adhesive producing a very large amount of gas.例文帳に追加

ガスの発生がきわめて多量な導電性接着剤を用いて半導体素子の接続を行う場合においても、半導体素子の裏面に溝加工などの加工を不要とし、接続層内部にガスがトラップされることにより形成される接続欠陥としてのボイドの発生を抑制することである。 - 特許庁

This defect analyzer is characterized in that the semiconductor integrated circuit is irradiated with an electromagnetic field by a probe, and fluctuation in electrical characteristics in the integrated circuit such as power supply current fluctuation is detected by an open gate or by activating gate potential, thereby detecting whether defects exist or not.例文帳に追加

半導体集積回路においてプローブにて電磁界を照射し、オープンゲートまたはゲート電位を活性化することで電源電流変動などの半導体集積回路内の電気的な特性変動を検出し、不良の有無を検出することを特徴とする半導体集積回路の不良解析装置である。 - 特許庁

To provide a spinning method preventing abnormality of discharge defect and breakage of parts caused by invasion and biting of particles between a movable part and a non-movable part in the interior of a gear pump when a spinning dope containing particles is fed to a spinneret and enabling long-term and stable spinning without impairing a gear pump.例文帳に追加

本発明は、粒子を含む紡糸原液を送液する際に、ギヤポンプ内部の可動部品と非可動部品間に該粒子が侵入し噛み込みが発生し、吐出不良による異常や、部品破損などを防ぎ、ギヤポンプが破損することなく、長時間安定した紡糸が可能な紡糸方法を提供するものである。 - 特許庁

To obtain a polyester resin composition capable of decreasing oligomers generated in melt extrusion and so capable of decreasing cleaning frequency for the oligomers and increasing productivity and capable of obtaining products excellent in surface properties such as having no defect like streak and flaw, and to provide a method for producing the resin composition.例文帳に追加

溶融押出時に発生するオリゴマーを低減し、これにより、オリゴマー汚れによる清掃回数を低減でき生産性が向上できるとともに、且つ製品とした場合スジや傷といった欠点のない表面特性に優れた製品を得ることができるポリエステル樹脂組成物、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The defect inspecting device focuses a plurality of beams on a sample, scans simultaneously the plurality of the beams over a sufficiently longer distance than the maximum interval of the beams, and preferably detects secondary electrons from the plurality of the beams by magnifying the secondary electrons emitted from each scanning point by a magnifying optical system.例文帳に追加

欠陥検査装置は、複数のビームを試料上に合焦させ、該ビームの最大間隔より十分大きい距離にわたって、複数のビームを同時に走査し、各走査点から放出された二次電子を拡大光学系で拡大してそれぞれの複数のビームからの二次電子を検出する装置であることが好ましい。 - 特許庁

Thus, a state change on the surface of the nitride semiconductor and a change in a charging state of the surface defect level caused by the presence of hydrogen in the SiN protection film 180 are suppressed so that the gate leakage current and current collapse can be suppressed to a level for satisfying the high characteristic requirement of the commercial level.例文帳に追加

これによりＳｉＮ保護膜１８０中に水素が存在することで生じる窒化物半導体表面の状態変化と表面欠陥準位の荷電状態の変化が抑制され、ゲート漏れ電流と電流コラプスとをコマーシャルレベルの高い特性要求を満足するレベルまで抑制することが可能となる。 - 特許庁

To provide an image forming device which forms a toner image based on a document picture on a recording sheet and fixee it on the recording sheet by heating and which can suppress a fixing defect even if the temperature of a fixing member, which heats a toner image during fixing is lowered, and to provide an image forming method.例文帳に追加

原稿画像に基づくトナー像を記録シート上に形成し、該トナー像を記録シートに加熱定着する画像形成装置であって、定着中にトナー像に熱を加える定着部材の温度がたとえ低下しても、定着不良を抑制できる画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁

In the case where the image processing apparatus is a digital compound machine provided with a facsimile application and a printer application in addition to a copy application, or any defect exists in the network environment, image data and bibliographic information stored in a mass storage are selectively transmitted to an external device depending on each application and network environment.例文帳に追加

画像処理装置がコピーアプリケーションに加えて、ファクシミリアプリケーションやプリンタアプリケーション等を搭載したデジタル複合機である場合やネットワーク環境に不具合がある場合、各アプリケーションやネットワーク環境に応じ、大容量記憶装置に記憶されている画像データと書誌情報を外部機器に対して選択的に伝送する。 - 特許庁

To eliminate the occurrence of an aligning defect caused by non- uniform rubbing pressure by reducing the step differences of pixel electrodes, that are made the same as the film thickness of source/drain electrodes in a conventional lateral electric field system liquid crystal display device active matrix substrate on which the pixel electrodes are produced in the same process of manufacturing the source/drain electrodes.例文帳に追加

従来の横電界方式液晶表示装置用アクティブマトリックス基板では、画素電極をソース・ドレイン電極と同一工程で作製しているので、画素電極の段差はソース・ドレイン電極の膜厚と同じ０．２〜０．４μｍと大きくなり、ラビング圧不均一による配向不良が発生しやすくなる。 - 特許庁