「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(353ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a ceramic powder for a green sheet capable of firing at a low temperature of 750-850°C, giving a ceramic layer causing few warpage or defect, and excellent in resistance to plating and dielectric characteristics, and forming a wiring layer having fine and favorable wiring patterns when co-fired with silver-based conductive paste.例文帳に追加

７５０〜８５０℃での低温焼成が可能なグリーンシートを与え、銀系導体ペーストと同時焼成した際に、微細且つ良好な配線パターンを有する配線層の形成が可能で反りや欠陥の発生が少なく、耐メッキ性及び高周波帯での誘電特性に優れたセラミック層を与えるグリーンシート用セラミック粉末を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation-sensitive resin composition that can give a resist coating showing a high dynamic contact angle during exposure in an immersion exposure process, thereby showing excellent draining capability on the surface of the resist coating as well as high solubility with an alkali developing solution and with a rinsing liquid, and suppressing occurrence of a development defect.例文帳に追加

液浸露光プロセスにおいて、露光時には高い動的接触角を示すことにより、レジスト被膜表面が優れた水切れ性を示す一方で、アルカリ現像液及びリンス液に対する高い溶解性を示し、現像欠陥の発生が抑制されるレジスト被膜を与えることができる感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a highly sensitive organic photoreceptor, suitable for image exposure of a semiconductor laser or a light emitting diode having oscillation wavelength of 350-500 nm, and capable of preventing a memory from being generated and an image defect from being generated caused by very small charge leakage, and an image forming apparatus using the organic photoreceptor.例文帳に追加

本発明の目的は、発振波長か３５０〜５００ｎｍの半導体レーザ又は発光ダイオードの像露光に適性を有する、高感度で且つメモリーの発生や微小な電荷リークによる画像欠陥の発生を防止できた有機感光体を提供することであり、該有機感光体を用いた画像形成装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device by which even when a crystal defect included in a polysilicon film is electrically and substantially inactivated, processing temperature is not limited in subsequent processes, and an excellent interface can be formed between an active layer and a gate insulating layer, and to provide a semiconductor device and an electrooptical device.例文帳に追加

、ポリシリコン膜に含まれる結晶欠陥を電気的に略不活性化させた場合でも、その後の工程での処理温度が限定されることがなく、かつ、能動層とゲート絶縁層との間に良好な界面を形成することができる半導体装置の製造方法、半導体装置および電気光学装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element in which mono-domain alignment of a ferroelectric liquid crystal is obtained without forming an alignment defect such as a double-domain, and which is excellent in alignment stability and keeps the alignment unchanged irrespective of a change in temperature in the liquid crystal display element using the ferroelectric liquid crystal.例文帳に追加

本発明は、強誘電性液晶を用いた液晶表示素子において、ダブルドメイン等の配向欠陥が形成されることなく強誘電性液晶のモノドメイン配向を得ることができ、温度変化に対しその配向を維持することができる配向安定性に優れた液晶表示素子を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for forming a micro pattern by proximity field exposure by which a micro pattern having a high aspect ratio can be formed in an image formation layer with film thickness enough not to generate any defect such as pin hole or the like, when forming the micro pattern by proximity field exposure while the mask is made close to the image formation layer.例文帳に追加

マスクを像形成層に近接させて近接場露光によって微細パターンを作製するに際して、ピンホール等の欠陥の生じない厚さの膜厚に形成された像形成層に対して、高アスペクト比を有する微細パターンを作製することが可能となる近接場露光による微細パターンの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus capable of on one side full-rimless imaging like printing for a silver salt photograph, and on the other side imaging requiring strict size matching, or defect-free imaging by providing a margin part by switching the mode according to the application of an outputted image.例文帳に追加

画像出力の用途に応じたモード切替を行うことにより、一方で例えば銀塩写真のプリントと同様の全面縁ナシの画像形成を可能とするとともに、他方で例えば厳密なサイズの一致が要求される画像形成や余白部分を設けて画像欠陥のない画像形成を可能とする画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The method of analyzing the failure in the semiconductor integrated circuit device includes storing defects and analog characteristics correlated with the defects in a database, detecting a fail bit in a first wafer, measuring analog characteristics of the fail bit in the first wafer, and identifying which defect has caused the fail bit by comparing the measured analog characteristics with the stored analog characteristics.例文帳に追加

互いに相関関係のある欠陥とアナログ特性とをデータベースに保存し、第１ウエハ内の不良ビットを探し出し、第１ウエハ内の不良ビットのアナログ特性を測定し、該測定されたアナログ特性とデータベースに保存されたアナログ特性とを比較して、不良の原因となった欠陥を判別することを含む不良分析方法。 - 特許庁

To produce a polished substrate for a magnetic memory disk having small maximum projection roughness Rp, small waving Wa and enhanced flatness FT of the surface, freed of contaminants such as an abrasive slurry remaining after mechanical polishing and blotches of a detergent and capable of giving a defect-free high density magnetic memory disk.例文帳に追加

基板表面の最大突起粗さＲｐ、うねりＷａが小さく、向上した平坦度ＦＴをそなえ、機械的ポリッシュ加工により表面に残留した研磨スラリー、洗剤シミなどの汚れが除去されて、欠陥のない高密度化の磁気メモリーディスクを得ることを可能とする磁気メモリーディスク用ポリッシュ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

By using the microarc oxidation treatment, when aluminum alloy including Si is used as the base material 12, the dense oxide film 13 with a thickness of 5 to 20 μm capable of suppressing an increase in the crystal defect therein can be formed, even if Si is crystallized out.例文帳に追加

マイクロアーク酸化処理を用いることによって、基材１２に例えばＳｉが含まれたアルミニウム合金を用いた場合に、Ｓｉが晶出状態となっていても、このＳｉによってこの酸化皮膜１３の結晶欠陥が増加するのを抑制可能な、５μｍ以上２０μｍ以下の厚みの緻密な酸化被膜１３を形成することが可能になる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a single crystal without generating metal pollution and deformation of a cooling cylinder, and capable of raising the single crystal rapidly and stably within the desired defect range, in manufacturing the single crystal by CZ method raising from a feed melt liquid, and its manufacturing unit.例文帳に追加

ＣＺ法により単結晶を原料融液から引上げて製造する際に、単結晶の冷却を効果的に行って、金属汚染を生じさせず、また冷却筒の変形を生じさせずに単結晶の引上げを所望の欠陥領域で高速でかつ安定して行うことのできる単結晶の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁

The ink discharge device is provided with a contour specification means and a timing control means, the contour specifying means specifies the contour part of a region (defect pixel 17) to be colored and the timing control means controls the ink-jetting timing of an ink discharge means (ink-jetting part 2) so as to make ink drops 16 land at least on the specified contour part.例文帳に追加

輪郭特定手段およびタイミング制御手段を備え、輪郭特定手段が、着色すべき領域（欠陥画素１７）の輪郭部分を特定し、タイミング制御手段が、すくなくとも上記特定された輪郭部分にインク滴１６を着弾させるように、インク吐出手段（インク吐出部２）によるインク吐出のタイミングを制御する。 - 特許庁

On the basis of data of defect inspection obtained in a process for forming a circuit pattern in a wafer 1 and of the shape of a circuit pattern wherein a poor conductive region 7a is found by a VC inspection, when performing DSA by using the data of VC inspection after forming the circuit pattern, a rectangular DSA region 8 is formed so as to surround the circuit pattern.例文帳に追加

ウェハ１に配線パターンを形成する過程で得られる欠陥検査のデータと、配線パターン形成後のＶＣ検査のデータを用いてＤＳＡを行う際、ＶＣ検査によって導通不良領域７ａが見つかった配線パターンの形状を基に、その配線パターンを囲むようにして矩形形状のＤＳＡ領域８を設定する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a gallium nitride single crystal substrate having small crystal defect density and a large surface area from a gallium nitride single crystal layer laminated on the surface of silicon (Si) single crystal used as a substrate and having low dislocation density, excellent crystal quality and a large diameter and to provide the gallium nitride single crystal substrate manufactured by the same method.例文帳に追加

転位密度が低く結晶品質に優れ、且つ大口径の珪素（Ｓｉ）単結晶を基板として利用し、その表面上に積層した窒化ガリウム単結晶層から結晶欠陥密度の小さい大面積の窒化ガリウム単結晶基板を製造する方法とその方法により製造された窒化ガリウム単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide an organic electroluminescence element which includes a crystal structure, optimizes resistibility and ionization potential, improves carrier injection ability and transportability, has high luminous efficiency, high luminous brightness, and no defect by using a flat layer of a molybdenum oxide, to provide its manufacturing method, and to provide an organic elecroluminescence display.例文帳に追加

結晶構造を含み、かつ平坦な酸化モリブデン層を具備することによって、抵抗率やイオン化ポテンシャルを最適化し、キャリア注入性や輸送性を向上させ、高発光効率、高発光輝度、長寿命、かつ欠陥が無い有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法並びに有機エレクトロルミネッセンス表示装置を提供すること。 - 特許庁

Dislocations are collected into the region H25 to reduce dislocations in the surrounding low defect single crystal region Z and the C-plane growth region.例文帳に追加

下地基板２１の上に規則正しくストライプマスクパターンを設けてその上にファセット２６よりなる直線状のＶ溝（谷）２４を形成しこれを維持しながらＧａＮ２２をファセット成長させファセット面２６よりなるＶ溝（谷）底部に欠陥集合領域Ｈ２５を形成しそこへ転位を集めてその周囲の低欠陥単結晶領域ＺとＣ面成長領域を低転位化する。 - 特許庁

The setting of the full format is performed when areas after recorded Lead-Out area become predetermined values or lower due to the change of the recording position of the STA area, or when even if the areas after the Lead-Out area are the predetermined values or higher, there is a defect in the SIP recording position in the full format state.例文帳に追加

Ｆｕｌｌ Ｆｏｒｍａｔ の設定は、ＳＴＡ領域の記録位置の変更により記録されたＬｅａｄ−Ｏｕｔ領域以降の領域が所定値未満となる場合または同Ｌｅａｄ−Ｏｕｔ領域以降が所定値以上であってもＦｕｌｌ Ｆｏｒｍａｔ 状態でＳＩＰが記録される位置に欠陥が存在する場合に行う。 - 特許庁

To improve the defect that the smoothness in the cut face of low carbon, sulfur free-cutting steel, in particular, the free-cutting steel obtained by an addition of a large quantity of sulfur of ≥0.4%, the machinability of which equals to that of a lead free-cutting steel and to provide a low carbon, sulfur free-cutting steel having small surface roughness.例文帳に追加

低炭素イオウ快削鋼、とくに０．４％以上の多量のイオウを添加して鉛快削鋼に匹敵する被削性を実現した快削鋼において、この快削鋼が切削面の平滑性において鉛快削鋼に劣るという欠点を改善し、表面粗さが良好なレベルにある低炭素イオウ快削鋼を提供すること。 - 特許庁

To provide a cutting tool that improves adhesiveness of a hard coated layer without peeling occurrence between a Ti-based coated layer and an Al_2O_3 layer even in a severe cutting condition where a strong impact is applied to a tool cutting edge of intermittent cutting or the like of metal, and has high defect resistance, abrasion resistance, and long service life.例文帳に追加

特に金属の断続切削等の工具切刃に強い衝撃がかかるような過酷な切削条件においても、Ｔｉ系被覆層とＡｌ_２Ｏ_３層との間で剥離が発生することなく硬質被覆層の密着性を高めることができ、優れた耐欠損性および耐摩耗性を有する長寿命の切削工具を提供する。 - 特許庁

The pattern defect detection device includes a light source 11 for generating and emitting light, a scan mirror 14 for scanning a substrate 20 with the light emitted by the light source 11, a fluorescent light image detection unit 17 for detecting the image of fluorescent light emitted by the substrate 20, and a diffusion light image detection unit 19 for detecting the image of diffusion light diffused by the substrate 20.例文帳に追加

光を生成して出射する光源１１と、光源１１から出射される光を基板２０にスキャンするスキャンミラー１４と、基板２０で蛍光された蛍光イメージを検出する蛍光イメージ検出部１７と、基板２０で散乱された散乱光イメージを検出する散乱光イメージ検出部１９と、を含むものである。 - 特許庁

To provide a phase transition type optical recording medium wherein repetitive recording at high linear speed of DVD 8X or more with a capacity equal to that of a DVD-ROM can be performed and a disk defect due to film floating and the like are hardly generated even after repetitive recording or long time preservation under severe environment by enhancing adhesiveness between a reflection layer and a sulfuration preventing layer.例文帳に追加

ＤＶＤ−ＲＯＭと同容量でＤＶＤ８倍速以上の高線速度で繰返し記録が可能であり、反射層と硫化防止層との密着性を向上させることにより、繰返し記録後あるいは過酷な環境下で長期保存した後でも、膜浮き等によるディスク欠陥が生じ難い相変化型光記録媒体の提供。 - 特許庁

To provide a rust-proofing film which has a flexible and durable barrier layer, is furthermore easy to be laminated, excellent in workability and economic efficiency and free from the generation of a delamination defect where the barrier layer can prevent a vapor phase corrosion inhibitor that functions as rust-proofing from discharging out of package and exterior water vapor and oxygen from permeating when a metal part etc. is packed.例文帳に追加

金属部品などを包装した時に、発錆防止機能を発現させる気化性防錆剤の包装外への放出と外部からの水蒸気及び酸素の浸入を抑制できる柔軟で耐久性のあるバリア層を備え、かつ、積層が容易で加工性・経済性に優れ、デラミネーション不良の発生しない防錆フィルムを提供する。 - 特許庁

This method includes a stage or gaining engine numerical values 14 measured under the first operating condition, a stage for gaining engine numerical values 18 measured under the second operating condition, and a stage 66 for generating a defect vector y infrred according to the measured engine numerical values gained under the first and the second operating conditions.例文帳に追加

本方法は、第１の運転条件で測定されたエンジンの諸数値（１４）を得る段階と、第２の運転条件で測定されたエンジンの諸数値（１８）を得る段階と、第１及び第２の運転条件で得られた測定されたエンジン諸数値に基づいて推定される欠陥ベクトルｙを生成する段階（６６）とを含んでいる。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

To propose the structure of an array substrate for a reflection and transmission type liquid crystal display device which uses a reflecting plate where a reflecting electrode is electrically floated and separately drives a pixel area by a transparent electrode and to improve the yielding of a liquid crystal panel by improving an opening rate by preventing an operation defect of a switching element due to a leak current.例文帳に追加

反射電極を電気的にフローティングさせた反射板を用い、別途透明電極で画素領域を駆動する反射透過型液晶表示装置用アレー基板の構造を提案し、並びに漏れ電流によるスイッチング素子の作動不良を防止して開口率を改善することにより液晶パネルの収率を改善する。 - 特許庁

To provide a plywood inspection apparatus identifying an adhesion failure of a plywood and a cavity in the plywood in inspecting the plywood for a defect (cavity), detecting a difference between the cavity and a node, coping with a defective cavitated plywood in a subsequent process, from on that signal, thereby lowering an incidence of defective goods.例文帳に追加

合板の欠陥（空洞）を検査するにあたり、合板の接着不良と合板の空洞とを識別して検査することが可能で、また、空洞と節との相違も検出することができ、その信号から後工程で空洞のある欠陥合板に対処することが可能で不良商品の発生率も低下させることのできる合板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an inkjet recording material which is composed of an ink receptive layer including silica formed by a gaseous phase method and an ink receptive layer including alumina or an alumina hydrate, in this order, on a support, and also, which especially does not impair ink absorption and achieves an improvement of coating liquid stability and the suppression of coating defect occurrence.例文帳に追加

気相法シリカを含むインク受容層と、アルミナまたはアルミナ水和物を含むインク受容層を支持体上にこの順で設けたインクジェット記録材料の製造方法において、特にインク吸収性を損なうことなく、塗布液安定性及び塗布欠陥の発生が改善されたインクジェット記録材料の製造方法を提供する。 - 特許庁

A determination part computes an overall rank as an integrated index from each rank and determines whether the occurrence possibility of a product defect is high (step S70), based on the overall rank, and a storage part stores the information from which the factors are extracted in a data server as the information relating to the claim handling operation (step S90), based on the determination result.例文帳に追加

そして、判定部は、各ランクから統合指標としての総合ランクを算出し、当該総合ランクに基づいて、製品に不具合が発生している可能性が高いか否かを判定し（ステップＳ７０）、その判定結果に基づいて、格納部が、要素を抽出した情報をクレーム対応業務に係る情報としてデータサーバに格納する（ステップＳ９０）。 - 特許庁

To provide a driving method of a polyphase motor using simple control logic, capable of suppressing the generation of a start defect even when phase interruption abnormality occurs for a motor requiring the detection of a rotor position and the determination of an output phase corresponding to the rotor position at the start, a polyphase motor driving system, and a heat pump device to which they are applied.例文帳に追加

ロータ位置の検出とロータ位置に応じた出力相の決定が始動時に必要なモータに対して、欠相異常が生じた場合でも始動不良の発生を抑えることができる、簡単な制御ロジックを用いた多相モータの駆動方法、多相モータ駆動システムおよびそれらが適用されているヒートポンプ装置を提供する。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

To provide a simulated beverage for a toy, which enables young children or the like to enjoy playing house and mothering with the simulated beverage which always presents fresh external appearance because of suppressing growth of mold and bacteria without producing visual defect due to a color tone change and floating matter so as to maintain an aspect of fresh milk or juice for a long period of time.例文帳に追加

黴や細菌の繁殖を抑制し、色調変化や浮遊物による視覚的な不具合を生じることがなく、常に新鮮なミルクやジュースの様相を長期的に維持できるため、幼児等が常に新鮮な外観を呈した模擬飲料を使用して、楽しくままごとや育児のまねごと等の遊戯が可能な玩具用模擬飲料を提供する。 - 特許庁

The processing device 3 provides a first inspection domain in the direct irradiation area on the picked-up image picked up by the imaging device 2, and sets a second inspection domain in the diffused light irradiation area, and detects a defect related to irregularities on the inspection surface B by using brightness information of at least either of the first inspection domain and the second inspection domain.例文帳に追加

処理装置３は、撮像装置２で撮像された撮像画像において直接照射エリアに第１の検査領域を設けるとともに拡散光照射エリアに第２の検査領域を設定し、第１の検査領域および第２の検査領域の少なくとも一方の輝度情報を用いて、被検査面Ｂの凹凸に関する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide refractory particles suitable as casting sand, which are composed of a spherical mullite sintered compact or a spherical mullite-corundum sintered compact in which the high melting point properties of mullite are not impaired, and having no burn-on defect even in the environments of the contact with high temperature molten metal and high pressure, having excellent heat resisting properties, and further having low thermal expansion.例文帳に追加

ムライトが持つ高融点特性を損なうことなく、高温の溶湯との接触・高圧力の環境下においても焼着欠陥を起こさない、耐熱特性に優れ、更に、熱膨張の小さい球状ムライト質焼結体又は球状ムライト・コランダム質焼結体からなる、鋳物砂として好適な耐火粒子を提供する。 - 特許庁

The irradiation position of the electron beam and the mounting base are relatively moved, data obtained by relating the detection result of the emitted secondary electrons to the irradiation position of the electron beam on the wafer W in the entire inspection object region of the wafer W are acquired, and presence of a defect where a part that should be a conductive part becomes an insulation part is inspected based on the data.例文帳に追加

電子線の照射位置と載置台とを相対的に移動させて、ウエハＷの検査対象領域全体において、放出された２次電子の検出結果と、ウエハＷ上の電子線の照射位置とを対応付けたデータを取得し、このデータに基づいて、導電部であるべき部位が絶縁部となっている欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

To provide a method and system for updating a recipe, capable of updating an optical condition stored in the recipe in order to detect a defect of a circuit pattern more easily without reducing an inspection time in a visual inspection device inspecting a semiconductor substrate including the circuit pattern formed thereon based on the recipe storing the optical condition.例文帳に追加

回路パターンが形成された半導体基板を光学条件が格納されたレシピに基づいて検査する外観検査装置において、回路パターンの欠陥をより検出し易くするために、検査時間を削ることなく、レシピに格納された光学条件を更新することが可能なレシピ更新方法およびレシピ更新システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a cooling device in a continuous annealing furnace employing an air-jet cooler as a cooling device of a steel strip and capable of avoiding a problem that foreign matters such as rust are mixed in the air jet and jetted on a surface of the steel strip and product defect occurs on the surface of the steel strip without degrading the productivity.例文帳に追加

鋼帯の冷却装置としてエアージェットクーラーを採用した連続焼鈍炉において、錆等の異物がエアー噴流に混入して鋼帯の表面に噴射され、鋼帯表面に製品欠陥を生じる問題を、生産性を低下させることなく回避可能とした連続焼鈍炉における冷却装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration solidification casting apparatus which optimizes vibration conditions including the two parameters of centrifugal force and frequency prescribed as the vibration conditions to vibrate a mold, and can suppress the fining of the macro-crystal grains of the metallic structure produced in a solidification process and the generation of a cavity defect, with respect to a vibration solidification casting technique.例文帳に追加

振動凝固鋳造技術において、鋳型を振動させる振動条件として規定される遠心力及び振動数の二つのパラメータを含む振動条件を最適化し、凝固過程で生成される金属組織のマクロ結晶粒の微細化及び鋳巣欠陥の発生を抑制することが可能な振動凝固鋳造装置の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide equipment for manufacturing hot dip metal coated steel strip and a method of manufacturing hot dip metal coated steel strip capable of reducing the occurrence of splash and top dross defect even at the usual plate passage speed and even at the high speed plate passage speed and capable of stably manufacturing a hot dip metal coated steel strip excellent in surface appearance.例文帳に追加

通常通板速度においても、また高速通板時においても、スプラッシュおよびトップドロス欠陥の発生を低減し、表面外観に優れる溶融金属めっき鋼帯を安定して製造できる溶融金属めっき鋼帯製造設備及び溶融金属めっき鋼帯の製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a trench embedding composition excellent in embedding property to a trench (groove) having an opening width of a nanometer level on a substrate surface and a large aspect ratio capable of suppressing the generation of a defect such as a void, and suitable for manufacturing an isolation structure having excellent electrical insulation properties, and to provide a method for manufacturing a trench isolation structure using the composition.例文帳に追加

基板表面上のナノメートルレベルの開口幅を有し、アスペクト比が大きいトレンチ（溝）への埋め込み性に優れ、ボイドなどの欠陥の発生が抑制され、電気的絶縁性に優れたアイソレーション構造を製造するのに好適なトレンチ埋め込み用組成物、および該組成物を用いたトレンチ・アイソレーション構造の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a rubber composition which is high in friction coefficient to paper due to excellent flexibility, and can form a roller body which hardly causes an image defect such as a roller imprint when printing onto photographing paper or the like is performed by embedding a roller into an inkjet printer, and to provide the paper feed roller including the roller body formed by using the rubber composition.例文帳に追加

柔軟性に優れるため紙に対する摩擦係数が高い上、インクジェットプリンタに組み込んで写真用紙等への印刷に使用した際にローラ跡残りの画像不良を生じにくいローラ本体を形成しうるゴム組成物と、前記ゴム組成物を用いて形成したローラ本体を備えた紙送りローラとを提供する。 - 特許庁

To provide a stopper structure for a rotary operation member facilitating assembling of a channel stopper and attaining fitting and replacement while maintaining a shipping state of a product (requiring no decomposition) without increasing the number of components and the cost and decreasing durability, and without inducing a defect causing bite of the channel stopper bites into the resinous rotary operation member.例文帳に追加

部品点数の増大、コストアップ、耐久性の低下を招くことなく、更にチャンネルストッパが樹脂製の回転操作部材に食い込みを起こす不具合を招くことなく、チャンネルストッパの組付けが容易であり、製品出荷状態を維持したまま（分解を必要としない）取付け、取替えが可能な回転操作部材のストッパ構造を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate having a multilayer reflection film suppressed the generation of particles caused by the peeling of the conductive film and abnormal discharge at the electrostatic chucking of substrate provided with the conductive film, a high quality reflection type mask blanks for exposure having less surface defects caused by particles, and a high quality reflective type mask for exposure having no defect pattern caused by particles.例文帳に追加

導電膜を設けた基板の静電チャック時の導電膜の膜剥れや異常放電によるパーティクルの発生を抑制した多層反射膜付き基板、パーティクルによる表面欠陥の少ない高品質の露光用反射型マスクブランクス、及びパーティクルによるパターン欠陥のない高品質の露光用反射型マスクを提供する。 - 特許庁

To significantly improve convenience of data processing by storing all of image data in a primary storage device, namely, a memory that allows direct access to any part of the image data, in a device that collects a large amount of image data in a defect inspection device or the like for semiconductor photomasks and allows a computer to detect defects on photomasks on the basis of the image data.例文帳に追加

半導体用フォトマスクの欠陥検査装置等の大量の画像データを収集し、その画像データに基づいてコンピュータがフォトマスク上の欠陥を検出する装置などでは、画像データの任意の部分に直接アクセスできる一次記憶装置、即ちメモリ上にその全てを収納できるならばデータ処理の利便性が飛躍的に向上する。 - 特許庁

To provide the automatic inspection apparatus of a mold capable of simultaneously detecting the presence of recessed and protruded defects on the surface of a metal mold for anti-glaring treatment having a chromium plating surface and capable of detecting a defect with high inspection precision even with respect to a plurality of kinds of molds having different surface uneven shapes.例文帳に追加

クロムめっき表面を有する防眩処理用金属金型の表面における凹み状欠陥および凸状欠陥の有無を同時に検出でき、異なる表面凹凸形状を有する複数種類の金型に対しても高い検査精度で欠陥の検出を行なうことができる金型の自動検査装置を提供する。 - 特許庁

After the detection of the joint defective pixel, the defect determination of the joint pixel adjacent to the downstream side of a read-out direction of a data bas line of the detected joint defective pixel is performed preferentially by the joint defective pixel detection part 23 to thereby monitor properly the joint defective pixel which is the defective pixel after joint processing.例文帳に追加

そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部２３は行うことで、ビニング処理後（結合後）の欠損画素であるビニング欠損画素（結合欠損画素）を適正に監視することができる。 - 特許庁