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該当件数 : 18303



例文

The anneal wafer discrimination method is a method to discriminate wafers treated under not less than 1000 °C in reducing atmosphere in which a defect density in 5 μm of the wafer surface layer is not greater than 300/cm^2 and an average scattered light intensity is not greater than 300 (a.u) when measuring with laser wavelength of 680 nm.例文帳に追加

本アニールウェーハの判別方法は、1000℃以上の還元雰囲気で熱処理するアニールウェーハの判別方法であって、アニールする前のウェーハが、680nmのレーザ波長による測定で、ウェーハ表層5μm中に観察される欠陥密度が300個/cm^2以下であり、かつ、平均散乱光強度が300(a.u)以下である。 - 特許庁

In the induction current detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor and at least one detection electrode are relatively moved, an induction current is generated at least on one detection electrode by a potential change on the surface of the electrophotographic photoreceptor, and by detecting the induction current, the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

誘導電流検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面と少なくとも1つの検知電極とを相対的に移動させ、電子写真感光体の表面の電位変化により少なくとも1つの検知電極に誘導電流を発生させ、誘導電流を検出することによって電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

A dynamic type RAM, etc., provided with a lot of banks BNK0- BNKn containing redundant elements for defect relief is provided with a bank- enable register BR in which each of the banks detects more defective elements than the number of redundant elements to be installed and stores the unrelievable and unaccessible state and product-ships the dynamic RAM, etc., as mostly good memories.例文帳に追加

欠陥救済用の冗長素子を含む多数のバンクBNK0〜BNKnを備えるダイナミック型RAM等に、各バンクが冗長素子の設置数より多い欠陥素子を検出し、救済不能でアクセス不能状態を記憶するバンクイネーブルレジスタBRを設け、該ダイナミック型RAM等を、モーストリ・グッド・メモリとして製品出荷する。 - 特許庁

An unused area management table part 11 of the recording and reproducing device 1 generates an unused area management table 12 including logical addresses of an unused continuous area by using an area management table 9 including local addresses of a used area of a removable hard disk 4 and a defect management block 10 including a list of logical addresses of replaced sectors.例文帳に追加

記録再生装置1の未使用領域管理テーブル作成部11は、着脱可能のハードディスク4における使用領域の論理アドレス情報を含む領域管理テーブル9と、交替されたセクタの論理アドレスのリストを含む欠陥管理ブロック10とを用いて、未使用の連続領域の論理アドレスを含む未使用領域管理テーブル12を作成する。 - 特許庁

例文

This device is equipped with a surface light source 10 for performing light irradiation flatly onto an inspection object painted surface, an avalanche multiplication type imaging camera 21 as the image sensor entered by the regularly reflected light from the inspection object painted surface, and an image processing device 20 for inspecting existence of a defect on the painted surface by image processing for detecting a level change of the image signal.例文帳に追加

検査対象塗面を面状に光照射する面光源10と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ21と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置20とを備える。 - 特許庁


例文

Sensors 22-1-22-3 sense a motion of each actuator, each robot controller 20 transmits the motion to the multi-point connector 10, where ranking is made, the result is sequentially transmitted to the server 11 without crosstalk, the server 11 monitors the motion, transmits data to correct a defect as required, and each robot controller 20 rebuilds up its own program.例文帳に追加

各アクチュエータの動きは各々のセンサ22−1〜22−3により検出されロボット制御装置10を介して多地点接続装置10へ送られ、順位付けが行われ、混信しないように順次サーバ11へ送られ、サーバ11で監視され、必要に応じて不具合修正のデータを送出し、自己のプログラムを再構築する。 - 特許庁

To provide a heat-reflective glass on which a film having excellent cost-performance and high durability is formed even with the well-known gas composition having a high transparence, high heat-insulation property, without any spot defect caused by the oxidative coagulation of Ag film nor microdefect caused by dielectric film even after leaving in a hot and humid atmosphere for a long time.例文帳に追加

高可視光透過率および高断熱性を有するとともに高温高湿環境下に長期間放置してもAg膜が酸化凝集して生じる斑点状の欠陥及び誘電体膜に起因する微少欠陥の発生を抑制し、しかも同じガス組成でも成膜可能なコストパフォーマンスに優れた高耐久性の熱線反射ガラスを得ること。 - 特許庁

To provide a modifying method and a thin film formation method of a diamond thin film in which strain, defect, color or the like which exists in an independence diamond thin film (foil or plate) which removes a gas phase diamond thin film or a substrate formed on the substrate is removed or decreased effectively, or which can carry out modification to an orientation polycrystal or single crystal object.例文帳に追加

基板に形成した気相ダイヤモンド薄膜あるいは基板を除去した自立ダイヤモンド薄膜(箔又は板)に存在する歪み、欠陥、色などを効果的に除去又は減少させ、あるいは配向性多結晶又は単結晶体へと改質できるダイヤモンド薄膜の改質方法及び薄膜形成方法を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal display device of the transflective type which reduces the occurrence of the alignment defect of the liquid crystal in the rubbing down section and has the satisfactory display grade is provided by improving the plane shape of the projection on a counter substrate side and by setting the boundary portion with the transmission region of the projection in a direction nearer the rubbing direction of the alignment layer.例文帳に追加

対極基板側の突起の平面形状を改善し、突起の透過領域との境界部分を配向膜のラビング方向に近い方向に設定することにより、ラビング擦り下げ部での液晶の配向不良発生を低減し、良好な表示品位を有する半透過型の液晶表示装置を提供することができる。 - 特許庁

例文

This eddy-current flaw detection system includes an eddy-current sensor 1 comprising coils, and the eddy-current flaw detector 8 for impressing an AC voltage on the coils of the eddy-current sensor 1 placed on an inspecting object 2 while detecting a change in impedance of the coils induced by an eddy current flowing through the interior of the inspecting object, thereby detecting a defect.例文帳に追加

渦電流探傷システムは、コイルを有する渦電流センサ1と、検査対象2の上に設置される渦電流センサ1のコイルに交流電圧を印加するとともに、検査対象の内部に流れる渦電流で誘起されるコイルのインピーダンスの変化を検出し、欠陥を検出する渦電流探傷装置8とを有する。 - 特許庁

例文

The method for manufacturing the silicon carbide semiconductor device includes the steps of: (a) preparing a silicon carbide wafer 3 having a non-flatness defect 3a thereon; and (b) dropping a resist onto the silicon carbide wafer 3 from a dropping nozzle 1 while moving the dropping nozzle 1 from the upper side of the center of the silicon carbide wafer 3 to the upper side of the peripheral edge thereof.例文帳に追加

本発明に係る炭化珪素半導体装置の製造方法は、(a)表面に非平坦欠陥3aを有する炭化珪素ウエハ3を準備する工程と、(b)炭化珪素ウエハ3の中心上方から周縁上方まで滴下ノズル1を移動させながら、滴下ノズル1から炭化珪素ウエハ3にレジストを滴下する工程とを備える。 - 特許庁

In the method for evaluating the defect area of the silicon wafer, at least two oxygen deposit densities measured by some specific stages are compared.例文帳に追加

CZ法により窒素をドープし或はドープなしで育成されたシリコン単結晶棒からスライスして得られたシリコンウエーハであって、該シリコンウエーハの全面が、NV領域、OSFリング領域を含むNV領域、OSFリング領域のいずれかであり、かつ格子間酸素濃度が14ppma以下であるシリコンウエーハおよびその製造方法並びにシリコンウエーハの欠陥領域を評価する方法。 - 特許庁

To easily realize the formation of gate takeoff contact holes 112 and to suppress the occurrence of the contact defect arising from aluminum oxide, by suppressing the deposition of the aluminum oxide in contact parts 117 existing on the surface of gate electrodes 104 consisting of aluminum and aluminum alloy.例文帳に追加

アルミニウム及びアルミニウム合金からなるゲート電極部104の表面にあるコンタクト部117において、酸素を含むスパッタガスでのプラズマ酸化による酸化アルミニウムの成膜を抑制することによって、ゲート取り出しコンタクトホール112の形成が容易に実現でき、酸化アルミニウムに起因するコンタクト不良の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a phase shift photo mask which has sufficient transmittance of wavelength to be used even for a short exposure light wavelength, has proper transmittance of wavelength for defect inspections to successfully achieve the inspections, to provide a phase shift photo mask blanks for fabricating the mask, and to provide a method for fabricating a semiconductor device using the mask.例文帳に追加

短波長の露光波長に対しても十分な透過率が得られ、使用可能であると共に、欠陥検査波長に対しても適切な透過率を有し、満足すべき検査が可能となる位相シフトフォトマスク及び該マスクを製作するための位相シフトフォトマスクブランクス並びにこのマスクを用いた半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To reliably avoid the breakdown of all servo circuits when a defect detection signal is detected from a photodetection output from a photodetector in an optical disk reproducing apparatus which switches a focusing servo circuit and a tracking servo circuit into a HOLD status, respectively.例文帳に追加

光検出器よりの光検出出力から、欠陥検出信号が検出されたときは、フォーカシングサーボ回路及びトラッキングサーボ回路をそれぞれホールド状態に切換えるようにした光ディスク再生装置において、光検出器よりの光検出出力から欠陥検出信号が検出されたときは、全サーボ回路の破綻を確実に回避する。 - 特許庁

The catalyst for detoxicating dioxins comprises an oxide, which consists of at least one kind selected from the group consisting of cerium oxide, iron oxide and manganese oxide, an oxide of cerium and zirconium and an oxide of cerium, zirconium and aluminum and in which oxygen defect is introduced by reduction treatment, and a noble metal supported to the metal oxide.例文帳に追加

酸化セリウム、酸化鉄、酸化マンガン、セリウムとジルコニウムとの酸化物、並びにセリウムとジルコニウムとアルミニウムとの酸化物からなる群より選ばれる少なくとも1種からなり、還元処理により酸素欠陥が導入された酸化物と、前記金属酸化物に担持された貴金属とを備えることを特徴とするダイオキシン類無害化用触媒。 - 特許庁

The defect-type classification part 6 classifies the types of defects, by comparing a previously prepared reference waveform with the detected waveforms and comparing inspection waveforms, acquired by TFT array inspection for classifying the types of TFT defects, with a known reference waveform and determines the types of defects that cannot be distinguished by image display.例文帳に追加

欠陥種類分類部6は、予め用意しておいた基準波形を検出波形と比較することによって、TFTの欠陥の種類を分類するTFTアレイ検査で取得した検査波形を、既知の基準波形と比較することによって、欠陥種類の分類を可能とし、画像表示では区別できない欠陥種類を判別する。 - 特許庁

Where the applicant has made amendments according to the observations of the examiner, eliminated the defect which may lead to rejection of the application so that the patent right may be granted to the revised application, if there are still some defects in the application, the examiner shall invite the applicant again to eliminate these defects. 例文帳に追加

出願人が審査官からの意見に基づき、出願に補正を行ったことで、却下につながる恐れのある欠陥が解消され、補正された出願には専利権が付与される可能性が現れた場合、出願に欠陥が依然存在しているなら、審査官はこれらの欠陥の解消を再度出願人に通知しなければならない。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which can completely prevent the occurrence of an image defect, can inexpensively and surely be manufactured, and is made excellent in photoelectric characteristic even in the case of using conductive base substance to which centerless grinding is performed as it is without performing post-processing, and to provide an image forming device using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

センタレス研削が施された導電性基体を後処理を施さずにそのまま用いた場合であっても、画像欠陥の発生を十分に防止することができ、安価に且つ確実に製造可能でありしかも光電特性に優れた電子写真感光体、並びにその電子写真感光体を用いた画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

The method of producing such silicon wafer and the method of evaluating defect area of the silicon wafer are also provided.例文帳に追加

CZ法により窒素をドープし或はドープなしで育成されたシリコン単結晶棒からスライスして得られたシリコンウエーハであって、該シリコンウエーハの全面が、NV領域、OSFリング領域を含むNV領域、OSFリング領域のいずれかであり、かつ格子間酸素濃度が14ppma以下であるシリコンウエーハおよびその製造方法並びにシリコンウエーハの欠陥領域を評価する方法。 - 特許庁

The visual inspection method conducted in the inspection of the construction work comprises establishing plane coordinates on the surface or on the floor of the object to be inspected such as individual room or a section of the divided partition, and the position of a defect found in the inspection is specified by numerals according to the coordinates.例文帳に追加

建築工事の検査において実施する目視検査方法であって、検査の対象となる1室ごとに、または分割された1区画ごとにその床面に、あるいは検査の対象となる面ごとに平面座標を設定し、検査にて発見された不具合の位置を前記座標上の数値で特定することを特徴としている。 - 特許庁

To provide conductive water-base ink for rotogravure printing exhibiting good printability by suppressing the occurrence of fogging, a doctor streak and the like, and to provide a method for manufacturing highly reliable multilayer ceramic electronic component exhibiting stabilized electric characteristics by preventing the generation of a defect in a multilayer structure using the conductive water-base ink for rotogravure printing.例文帳に追加

版かぶりや、ドクター筋発生等を抑制し、印刷適性が良好なグラビア印刷用導電性水性インキを提供するとともに、それを用いることにより、積層体の構造欠陥不良等の発生を防ぎ、電気的特性が安定し、信頼性の高い積層セラミック電子部品の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reinforce adhesive force between organic polymer layers by performing cleaning and reforming of the surface of a lower side organic polymer layer without losing economical properties and productivity for the purpose of preventing a display defect caused by insufficient adhesive force between the organic polymer layers, in a method for manufacturing a color filter wherein the organic polymer layers are superposed on a substrate.例文帳に追加

基板上に有機高分子層を重ね合わせたカラーフィルタの製造方法において、有機高分子層間の密着力不足に起因する表示不良の発生を防止するために、下側有機高分子層表面の洗浄・改質を経済性・生産性を損なうことなく実施し、有機高分子層間の密着力を強化する。 - 特許庁

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」(収差補正装置に準ずる装置)であって、EDX分析、WDX分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

To provide an organic photoreceptor free from an image defect such as fogging, a black spot and environmental memory and void by improving the temperature and humidity change of charging characteristic and sensitivity characteristic when using titanyl phthalocyanine pigments, and to provide an image forming method, an image forming apparatus and a process cartridge using the organic photoreceptor.例文帳に追加

本発明の目的は、チタニルフタロシアニン顔料等を用いた場合の帯電特性、感度特性の温湿度変化を改良し、カブリ、黒ポチ、環境メモリ、白ヌケ等の画像欠陥の発生がない有機感光体を提供することであり、該有機感光体を用いた画像形成方法、画像形成装置、プロセスカートリッジを提供することにある。 - 特許庁

In a semiconductor memory provided with a redundant circuit replacing the defective cell existing on a memory cell array by a redundant cell and relieving the defect, data DQ0-DQ15 of plural bits externally given are written into a memory cell in a memory cell array 30 by a write circuit 40, and read out from the memory cell array 30 by a read circuit 50.例文帳に追加

メモリセルアレイ上に存在する不良セルを冗長セルで置換して欠陥を救済する冗長回路を備えた半導体記憶装置において、外部から与えられる複数ビットのデータDQ0〜DQ15を書き込み回路40によりメモリセルアレイ30内のメモリセルに書き込み、これを読み出し回路50によりメモリセルアレイ30から読み出す。 - 特許庁

This image defect inspection device 10 is equipped with an image alignment part 22 for detecting a sub-pixel offset amount between two images which are objects under inspection, and a correction amount determination part 25 for determining a correction amount for a gray level difference detected by a difference detection part 26 at pattern edge parts of the two images based on the detected offset amount.例文帳に追加

画像欠陥検査装置10は、検査対象たる2つの画像のサブピクセルずれ量を検出する画像アライメント部22と、検出したサブピクセルずれ量に基づいて、差分検出部26により検出されるグレイレベル差の、前記の2つの画像のパターンエッジ部における補正量を決定する補正量決定部25とを備えることとする。 - 特許庁

To provide an insulating resin composition having good flexibility of an insulating resin even when crosslink density of the resin is increased and excellent in insulating property with a circuit conductor when allowed to stand under high temperature and humidity without causing defect such as crack in the insulating resin, an adhesive for circuit boards and a circuit board using the composition and a method for producing the circuit board.例文帳に追加

樹脂の架橋密度を高めても絶縁樹脂の可撓性が良好であり、絶縁樹脂に割れなどの欠陥を生じさせることなく、高温・高湿雰囲気下に放置したときの回路導体との絶縁性に優れた絶縁樹脂組成物およびそれを用いた配線板用接着剤ならびに配線板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The sound epitaxial layer is obtained by setting the plane orientation to be (100) and specifying a range of an angle tilted in the [001] direction or at θ in the[001] direction to the [100] axis or an angle tilted in the [010] direction or at ψ in the [010] direction to hardly cause the pit defect.例文帳に追加

エピタキシャル成膜前にガスエッチングが施されるとピット欠陥が発生し易くなるが、面方位が(100)であり、[100]軸に対して[001]方向または[001]方向に角度θ、[010]方向または[010]方向に角度φとした傾斜角を、特定範囲とすることで、ピット欠陥が発生し難くなり、健全なエピタキシャル層が得られる。 - 特許庁

To provide an image forming device capable of preventing the generation of ozone and an image defect such as the image flowing by applying a contact charge, and performing uniform charge and stable cleaning on the image carrier, and moreover, stably forming excellent images over a long period even under the high humid environment, therefore, further being advanced in energy saving, miniaturizing, and maintenance freeing.例文帳に追加

接触帯電を用いてオゾンの発生及び画像流れなどの画像不良を防止し、更に、像担持体の均一な帯電、及び安定したクリーニングが可能であり、高湿環境下でも長期に亙り安定して高品位の画像を形成することができ、従って省エネルギー化、小型化、メンテナンスフリー化が更に進んだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display medium suppressing display defect, even when an external force is applied to the medium, compared with a configuration in which color developing layers each including a porous layer comprising an assembly of a plurality of particles and an electrochromic dye held by the porous layer, and electrode layers structured separately from the color developing layers are alternately stacked.例文帳に追加

複数の粒子の集合体からなる多孔質層と該多孔質層に保持されたエレクトロクロミック色素とを有する発色層と、該発色層とは別体として構成された電極層と、が交互に設けられた構成に比べて、外部から力を加えられた場合であっても、表示の欠陥の抑制された表示媒体を提供する。 - 特許庁

The patch rejects the use of a support sheet to remove skin irritation which is a common defect of the conventional patches, and the base material is composed of a styrenic thermoplastic elastomer and an oil ingredient, and the main component of the oil ingredient is a liquid hydrocarbon, and the patch is a beauty sheet prepared by dipping this base material in an oily cosmetic liquid.例文帳に追加

本発明に係る貼付剤は、これまでの貼付剤の共通の欠点である皮膚刺激性を除去するため支持シートの使用を排し、基剤がスチレン系熱可塑性エラストマーとオイル成分からなり、オイル成分の主成分が液状炭化水素であり、この基剤を油性化粧液に浸漬させて作成した美容シートである。 - 特許庁

To provide a medical surface-nanofabricated titanium promoting the proliferation and the differentiation of osteoblastic cells performing and the osteoanagenesis by filling a joining part between an artificial bone and a bone, and further an osseous defect site of a jawbone with a reinforcing material, various types and shapes of dental implant materials, a mesh-type reinforcing material and a screw.例文帳に追加

人工関節と骨との接合部や骨折部への補強材、各種形状の歯科インプラント材、メッシュ型補強材およびネジ、更には顎骨などの骨欠損部に填入することにより、骨再生を図ることができるようにした骨芽細胞系細胞の増殖と分化を促進する医療用ナノ表面加工チタンを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device for a semiconductor device which can discriminate a defect position in the semiconductor device, even if it is the case where voltage is applied to a non-electrode plane which does not form an electrode of the semiconductor device, by using infrared ray irradiated to non-electrode plane or infrared ray radiated from non-electrode plane.例文帳に追加

半導体装置の電極を形成していない非電極面に電圧を印加する場合であっても、非電極面へ照射される赤外線、又は非電極面から放射される赤外線を用いて、半導体装置の欠陥部位を容易に判別できる半導体装置の検査方法、及び半導体装置の検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide magenta toner for electrophotography, a developer and an image forming device which have superior fluidity and uniform dispersiveness of a colorant, causes neither ground staining nor toner scattering, reduces filming, spending to a carrier, etc., are free of an image defect and superior in transparency, coloring degree, and color reproducibility, and can obtain stable image quality for a long period.例文帳に追加

流動性や着色剤の均一分散性に優れ、地汚れやトナー飛散が生じず、フィルミングや、キャリアへのスペント等の発生が少なく、その上、画像欠陥も見られず、透明性や着色度や色再現性についても優れ、長期に亘り安定した画像品質を得ることが出来る電子写真用マゼンタトナー、現像剤、及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The other is a θ coordinate position detection mechanism 107 which is for use in stage position control, wafer notch (orientation flat) detection, and wafer center alignment control and whose accuracy is lower than that of the θ coordinate position detection mechanism for detecting the foreign substance and the defect.例文帳に追加

θ座標位置検出機構を異物・欠陥検出の座標位置算出に用いる高精度のθ座標位置検出機構と、ステージの位置制御,ウエハノッチ(オリフラ)検出,ウエハセンタ合わせ制御に用いる前記異物・欠陥検出用θ座標位置検出機構より低い精度のθ座標位置検出機構とで2つを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a water-based paint composition capable of forming a coating film excellent in processability and corrosion resistance, good in degassing at a curing process and leaving no bubble in the coating film after curing, and causing no defect in the coating film, and to provide a method for producing the composition.例文帳に追加

本発明は、加工性、耐食性に優れる塗膜を形成し得る塗料組成物であって、塗工後硬化前の塗膜中に泡が存在しても、硬化時の脱泡が良好で、硬化後の塗膜中に泡が残らず、塗膜欠陥が発生しない水性塗料組成物及び該水性塗料組成物の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a toner product in which friction charging between a toner container and toner in the toner container is suppressed, thus the remaining amount of the toner in the toner container can be reduced upon toner feed, and which can form an image of high quality free from the generation of an image defect even in a high temperature-high humidity environment, and to provide an image forming apparatus.例文帳に追加

トナー容器とトナー容器内のトナーとの摩擦帯電が抑制され、その結果、トナー供給時にトナー容器内のトナー残存量を低減させることができると共に、高温高湿環境下においても、画像不良が発生しない高画質の画像を形成することができるトナー製品および画像形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a selective etching method capable of evaluating a crystal defect of an ultra-low resistant silicon single crystal substrate having electric resistivity of <10cm, especially BMD (bulk micro defects) properties, which can not be easily detected by conventional methods, by selectively etching using a chromium-less etching solution which does not contain harmful chromium and utilizing the silicon single crystal substrate.例文帳に追加

従来容易には検出することができなかった電気抵抗率が10mΩ・cm未満である超低抵抗のシリコン単結晶基板の結晶欠陥、特にBMDの特性を、有害なクロムを含有しないクロムレスのエッチング液を用いて選択エッチングすることにより評価し、利用することを可能にする、選択エッチング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fitting constitution of an ultrasonic wave sending and receiving apparatus and an ultrasonic flowmeter using the constitution to achieve a stable electric connection and to have a high reliability controlling a defect by preventing an electrode pin of the ultrasonic wave sending and receiving apparatus from a disturbance factor by means of a fixing tool of the ultrasonic wave sending and receiving apparatus.例文帳に追加

、超音波送受波器の固定具で超音波送受波器の電極ピンを外乱要因から保護する構成にすることで、安定した電気的接続を可能とし、不具合を押えた信頼性の高い超音波送受波器の取り付け構成とその構成を用いた超音波流量計を提供することを目的とする。 - 特許庁

Color tone levels of defective portions on both the pick-up images are compared by a comparator 102 and it is determined that the defect is present on the flip-chip bonded surface if the color tone level on the pick-up image to the flip-chip bonded surface is higher than that on the pick-up image to the substrate backplane.例文帳に追加

上記両方の撮像画像に存在する欠陥部の色調レベルは比較部102によって比較され、フリップチップ接合面に対する撮像画像での色調レベルが基板裏面に対する撮像画像に対する撮像画像での色調レベルよりも高い場合に、該欠陥がフリップチップ接合面に存在するものであると判断される。 - 特許庁

To provide a titanium alloy billet having excellent defect detectability in an ultrasonic crack inspection test, even in a large-sized billet with a diameter of ≥ϕ150 mm, for which the inspection of internal defects can be performed by a generally used ultrasonic crack inspection method similarly to the case of the other metal products, and which can be mass-produced as well.例文帳に追加

直径がφ150mm以上の大型のビレットであっても、他の金属製品の場合と同様に、一般的に用いられている超音波探傷法で、内部欠陥の検査を行うことができ、しかも、量産することが可能な、超音波探傷試験における欠陥検出能力に優れたチタン合金ビレットを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a laminated ceramic electronic part such as laminated ceramic capacitor using Ni as an inner electrode by which a laminated ceramic electronic part such as laminated ceramic capacitor on which no structural defect such as crack or delamination occurs, whose insulating resistance hardly deteriorates and which exhibits a high reliability.例文帳に追加

Niを内部電極として用いた積層セラミックコンデンサなどの積層セラミック電子部品の製造方法において、クラックやデラミネーションなどの構造欠陥が発生せず、かつ、絶縁抵抗の劣化の少ない信頼性の高い積層セラミックコンデンサなどの積層セラミック電子部品を製造することができる、積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

The processing apparatus compares the image imaged by the one imaging device 13 with an image of the gauge as the reference of the dimension of the plate-like body 12 previously stored in the storage device to inspect the dimension of the plate-like body 12, and determines a shadow in the image imaged by the one imaging device 13 as a defect of the plate-like body 12.例文帳に追加

処理装置は、1つの撮像装置13が撮像した画像と、記憶装置に予め記憶しておいた板状体12の寸法の基準となるゲージの画像とを比較して板状体12の寸法を検査するとともに、1つの撮像装置13が撮像した画像中の影を板状体12の欠陥として判定する。 - 特許庁

The surface defect evaluation device evaluates surface defects of a measurement object, on the basis of measurement point data and reference point data, after aligning the measurement point and the reference point, on the basis of the sequential convergence processing for the sequential convergence of the distance between the measurement point of the measurement object and the reference point, corresponding to a reference surface shape of the measurement object.例文帳に追加

測定対象物の測定点と測定対象物の基準表面形状に対応する基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせした後の測定点データと基準点データとに基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。 - 特許庁

Elongation of the thermal transfer sheet due to peeling in image transfer is reduced to prevent defect of a printed matter, by setting a peeling strength after thermobonding of the thermal transfer sheet and a transfer object to a fixed value or less and by suppressing the ratio of the maximum value and minimum value of the peeling strength from start of the peeling to the end in a certain fixed value.例文帳に追加

熱転写シートと被転写体との熱接着後の剥離強度において、剥離強度を一定以下としまた、剥離開始から終了までの剥離強度の、最大値と最小値の比をある一定量に抑えることで、画像転写時の剥離による熱転写シートの伸びを低減し、印画物の不良を防止できることを見出した。 - 特許庁

To provide a maintenance method for heat-exchange plates of a plate-type heat exchanger, capable of reducing maintenance cost by having a flaw inspection process for pinpointing the damaged part of the defect, especially when a penetration detect generated by damage due to an inspection process using a leak tester is found.例文帳に追加

プレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法において、特に、リークテスターを用いた検査工程により損傷により生じた貫通欠陥部が発見された場合に、損傷箇所を特定するための探傷検査工程を行うことにより、メンテナンスコストを低減しうるプレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法を提供すること。 - 特許庁

Man-machine interface means includes display means, controls radiation dose control means, radiation irradiation position control means, partial discharge detection means and voltage application means, and causes the outer shape of a defect detection object, a radiation irradiation position, a partial discharge detection signal waveform and an applied voltage waveform to be displayed on the same screen of the display means.例文帳に追加

マンマシンインターフェース手段は、表示手段を有し、放射線量制御手段、放射線照射位置制御手段、部分放電検出手段および電圧印加手段を制御するとともに、欠陥検出対象物の外形、放射線照射位置、部分放電検出信号波形および印加電圧波形を表示手段の同一画面に表示する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device in which a printing area of product identification information can be sufficiently secured even when a panel is miniaturized, a connection defect between a flexible circuit board and an electronic component due to the printing of the product identification information is not easily generated and combination between ink to be used for printing and a flexible circuit board is not restricted.例文帳に追加

パネルを小型化した場合でも製品識別情報の印字領域を十分に確保でき、製品識別情報を印字することによるフレキシブル回路基板と電子部品との接続不良も生じ難く、さらに印字に用いるインクとフレキシブル回路基板との組み合わせの制限を受けない電気光学装置を提供する。 - 特許庁

例文

In the method, a fluorinating agent is allowed to be contact with the surface of the glass substrate in a gas phase, thereby, fluorine atoms are introduced to the surface layer including the surface of the glass substrate, thereafter, laser beams of the wavelength region having absorption for glass material constituting the glass substrate and, thereby, the surface of the glass substrate having a concave defect is smoothened.例文帳に追加

気相中でガラス基板表面にフッ素化剤を接触させることにより、該ガラス基板表面を含む表層にフッ素原子を導入した後、該ガラス基板を構成するガラス材料に対して吸収を有する波長域のレーザ光を該ガラス基板表面に照射することにより、凹欠点を有するガラス基板表面を平滑化する方法。 - 特許庁




  
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