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etching methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6852件
To provide a method of forming a high precise pattern of conductive tin oxide having excellent wear resistance on the surface of a substrate by a wet etching method regardless of the size of the non-conductive substrate and without polluting the working environment in a roam.例文帳に追加
本発明の課題は、湿式エッチング法により、非導電性基板の大きさに係わりなく且つ室内の作業環境を汚染することなく、該基板面に耐摩耗性の優れた導電性酸化錫の高精度パタ−ンを形成させる工業的に望ましい方法を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method and a manufacturing device of a micro pillar array element capable of precisely forming a fine pillar array structure at low cost by using a reactive ion etching method on a polymer material of polymethyl methacrylate (PMMA), poly carbonate (PC), etc. and the micro pillar array element used for a micro fluid chip, etc.例文帳に追加
PMMAやPC等のポリマー材料に対して、反応性イオンエッチング法を用いて、正確に微細なピラーアレイ構造を安価に形成することができるマイクロピラーアレイ素子の製造方法と製造装置並びにマイクロ流体チップ等に用いるマイクロピラーアレイ素子を提供する。 - 特許庁
To provide a vacuum chuck jig, a vacuum chuck method using this vacuum chuck jig, and a manufacturing method of a liquid-droplet discharging head that uses this vacuum chuck jig and having a high etching accuracy, wherein flaws and defects are hardly generated by this vacuum chuck jig in the processed portion of a sucked substrate made of silicon, etc.例文帳に追加
シリコン等の被吸着基板の加工部位に傷や欠陥の発生しにくい真空チャック治具及びこの真空チャック治具を使用した真空チャック方法、並びにこの真空チャック治具を使用したエッチング精度の高い液滴吐出ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing an opened laminate prepared by forming at least one opening in a support layer in a specified opening ratio by subjecting the support layer to two-stage etching without causing its permeable layer to suffer from adverse effects e.g. pinhole formation, and to provide a method for producing a component using the open laminate.例文帳に追加
透過層にピンホールなどの悪影響を与えることなく、支持層に2段エッチング加工を施して、所定の開口率で少なくとも1つの開口を設けてなる開口積層材の製造方法および開口積層材を用いた部品の製造方法の提供。 - 特許庁
To provide a method for producing an aluminum material for an electrolytic capacitor electrode having better etching characteristics, or the like by solving problems associated with the treatment with an acidic aqueous solution prior to the final annealing and the annealing conditions in the conventional method for producing an aluminum material for electrolytic capacitor electrodes.例文帳に追加
従来の電解コンデンサ電極用アルミニウム材の製造方法における最終焼鈍前の酸水溶液による処理と焼鈍条件に関する問題点を解決し、より優れたエッチング特性を有する電解コンデンサ電極用アルミニウム材の製造方法等を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for forming a pattern image, a substrate on which an image is formed and a method for forming the image on the substrate capable of realizing the shortening of processing time and the reduction of production cost without using a photomask in lithographic technique or etching technique.例文帳に追加
リソグラフィー技術或いはエッチング技術において、フォトマスクを使用せずにプロセス時間の短縮化や生産コストの低減を図ることが可能なパターン画像形成装置及びその方法並びに画像形成された基板及びその基板への画像形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cleaning composition which can suppress corrosion of tungsten constituting a semiconductor substrate and excels in removing a plasma etching residue and/or an ashing residue on the semiconductor substrate, and to provide a semiconductor device manufacturing method and cleaning method using the same.例文帳に追加
半導体基板のタングステンの腐食を抑制でき、かつ、半導体基板上のプラズマエッチング残渣及び/又はアッシング残渣の除去性に優れた洗浄組成物、並びに、前記洗浄組成物を用いた半導体装置の製造方法及び洗浄方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a cleaning liquid composition for a semiconductor substrate that improves removal force of residue during cleaning of a metal layer after dry etching and reduces damage of the metal layer to a minimum, a cleaning method of the semiconductor substrate using the composition, and a manufacturing method of a semiconductor device.例文帳に追加
ドライエッチング後の金属層の洗浄時、残留物の除去力を向上させ、金属層の損傷を最小化することができる半導体基板用洗浄液組成物、これを用いた半導体基板の洗浄方法、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
The method of casting the main agent into a blanking mold having wall parts and columnar members becoming the clearance parts, and removing the blanking mold, or the method of removing a fibrous member from the product obtained by kneading the fibrous member with the main material by etching or the like can be used instead of the formation of the clearance parts by the laser processing.例文帳に追加
レーザ加工などによって間隙部を形成する代わりに、間隙部となる壁部や柱状部材を有する抜き型に主剤を注入した後、抜き型を剥離する方法や、主剤に繊維状部材を混練して繊維状部材をエッチングなどで除去する方法を採ることもできる。 - 特許庁
To provide a production method of a shadow mask for a color cathode-ray tube that can make such holes, through with narrow electron beams can pass, that cannot be made with photo-etching method, that can carry production without contaminating the environment and further that can easily change pattern of holes for passing the electron beams.例文帳に追加
フォトエッチング法では明けることのできないような小径の電子ビーム通過孔も明けることができ、また環境を汚染することなく低コストで製造することができ、さらには容易に電子ビーム通過孔のパターンを変更できるカラーブラウン管用シャドウマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
A manufacturing method of a nitride-based semiconductor laser device includes steps of etching the back surface (nitrogen face) of an n-type GaN substrate 1 having a wurtzite structure by RIE method and forming an n-side electrode 8 on the etched back surface (nitrogen face) of the n-type GaN substrate 1.例文帳に追加
この窒化物系半導体レーザ素子の製造方法は、ウルツ鉱構造を有するn型GaN基板1の裏面(窒素面)をRIE法によりエッチングする工程と、その後、エッチングされたn型GaN基板1の裏面(窒素面)上に、n側電極8を形成する工程とを備えている。 - 特許庁
In this method for manufacturing an optical integrated device by the butt-joint method, a first mask 21 for etching and removing selectively a first semiconductor structure 11 that is formed early is used as a mask pattern of a smaller width L1 that the width L0 of the first layer structure 11.例文帳に追加
バットジョイント法による半導体光集積素子の製造において、先に形成した第1半導体層構造11に対して選択的なエッチング除去を行うための第1マスク21を、第1層構造11の幅L0よりも狭い幅L1のマスクパターンとする。 - 特許庁
To provide a blank, a photomask, its manufacturing method, and a pattern transfer method for forming a shading layer as a pattern without trailing the skirt of the shading layer nor exerting adverse influence on a transparent substrate even when dry etching is carried out with a blank having no stopper layer provided between the transparent substrate and shading layer.例文帳に追加
ストッパー層を透明基板と遮光層の間に設けないブランクで、ドライエッチングでエッチングしても、遮光層が裾を引がず、透明基板に悪影響を与えず遮光層をパターンとして形成するブランク、フォトマスク、その製造方法、パターン転写方法を提供すること。 - 特許庁
Since this method for manufacturing the heat spreader for the semiconductor package is processed by forming at least one groove 1a by cutting by etching work or machining work, the method can provide a heat spreader 1 having a large heat dissipation area at an extremely low cost compared with that in a conventional powder metallurgical production.例文帳に追加
本発明の半導体パッケージ用ヒートスプレッダの製造方法は、1以上の溝1aをエッチング加工又は機械加工による切削により形成するため、従来の粉末冶金法と比較してきわめて低コストで放熱面積の高いヒートスプレッダ1を提供できる。 - 特許庁
To provide a plate allowing a pattern-like separation layer and a pattern layer to be simply formed without using etching, having a beautiful transfer shape and capable of responding to a minute pattern because the separation layer and the pattern layer has an identical shape; to provide a manufacturing method of the plate; and to provide a board and a manufacturing method of the board.例文帳に追加
パターン状の剥離層およびパターン層をエッチングによらずに簡単に形成でき、しかも、剥離層とパターン層が同一形状であるので、転写形状が綺麗で微細パターンに対応できる版、版の製造方法、基板および基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
This manufacturing method comprises the steps of depositing a silicon oxide film 450 on the surface of the semiconductor substrate 100 having the convex 300 on this surface according to high density plasma chemical vapor deposition and etching the silicon oxide film according to isotropic etching so that the deposited silicon oxide film has a height less than that of the summit of the convex portion.例文帳に追加
表面に凸状部300を有する半導体基板100の前記表面に高密度プラズマ−化学気相成長法によりシリコン酸化膜450を堆積させる堆積工程と、堆積させたシリコン酸化膜の表面が前記凸状部の頂上よりも低い高さになるように等方性エッチングにより前記シリコン酸化膜をエッチングするエッチング工程とを備える。 - 特許庁
To provide a method for forming a resist underlayer film of a multilayer resist film having at least three layers used in lithography, wherein the resist underlayer film reduces reflectance, has high etching resistance, high heat, and solvent resistances, and avoids wrinkling on a substrate particularly during the etching of the substrate, and also to provide a patterning process using the same.例文帳に追加
リソグラフィーで用いられる少なくとも3層を有する多層レジスト膜のレジスト下層膜の形成方法であって、反射率を低減でき、エッチング耐性が高く、高い耐熱性、耐溶媒性を有し、特に基板のエッチング中によれの発生がないレジスト下層膜を形成するためのレジスト下層膜形成方法及びこれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a parallel plate plasma processing system, and a method for fabricating a semiconductor device using the plasma processing system, in which the probability of charge-up damage can be lowered at the time of ashing or etching and machining for fabricating a good device can be carried out without varying the permittivity of an interlayer insulation film before and after etching.例文帳に追加
平行平板型プラズマ処理装置において、アッシングまたはエッチング時のチャージアップ・ダメージを受ける確率を低くすることができ、かつエッチング前後で層間絶縁膜の誘電率を大きく変化させてしまうことなく良好なデバイス形成のための加工を行うことができるプラズマ処理装置及びプラズマ処理装置を用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
The coating method of silicon particles includes: a mixed particle coating step for coating an underlying substrate 1 with mixed particles of silicon particles 2 and silicon oxide particles 3; and a dry etching step for removing the silicon oxide particles 3 by performing dry etching to the mixed particles on the underlying substrate 1 coated therewith, with higher selection ratio of the silicon oxide particles 3 with respect to the silicon particles 2.例文帳に追加
シリコン粒子2と酸化シリコン粒子3との混合粒子を基材1上に塗布する混合粒子塗布工程と、前記基材1上に塗布された前記混合粒子に対して、前記シリコン粒子2に対する前記酸化シリコン粒子3の選択比が高いドライエッチングを行って前記酸化シリコン粒子3を除去するドライエッチング工程と、を含む。 - 特許庁
The method of manufacturing a compound semiconductor 1 comprises forming silicon nitride 3 on a GaAs substrate 1, forming silicon oxide 4 on the silicon nitride 3, forming a resist on the silicon oxide 4, etching the silicon oxide 4, removing the resist to form a silicon oxide sidewall 5 on the entire surface, and etching the entire surface, to form openings 6 reaching the surface of the GaAs substrate 1.例文帳に追加
GaAs基板1上に窒化シリコン3を形成し、窒化シリコン3上に酸化シリコン4を形成し、酸化シリコン4上にレジストを形成して酸化シリコン4をエッチングし、レジストを除去して全面に酸化シリコンからなるサイドウォール5を形成し、全面をエッチングしてGaAs基板1の表面に達する開口部6を形成して化合物半導体1を製造する構成にした。 - 特許庁
The method includes steps of depositing a hard mask on a substrate in a first processing chamber, depositing a resist layer on the substrate, patterning the resist layer, etching the hard mask through apertures formed in the patterned resist layer in a second chamber, and etching a chromium layer through apertures formed in the hard mask in a third chamber.例文帳に追加
また、第1の処理チャンバにおいて基板上にハードマスクを堆積するステップと、レジスト層を該基板上に堆積するステップと、該レジスト層をパターニングするステップと、第2のチャンバにおいて該パターニング済みレジスト層上に形成されたアパーチャを介して該ハードマスクをエッチングするステップと、第3のチャンバにおいて該ハードマスクに形成されたアパーチャを介してクロム層をエッチングするステップと、を含んでいる。 - 特許庁
The manufacturing method of the passage substrate comprises at least a step of (A) etching a polyimide resin layer 11 by using an alkaline solution as a chemical etching solution, and performing the hydrophilization of the surface of the etched polyimide resin layer 11, and a step of (B) forming the passage by laminating other polyimide resin layers 12, 13.例文帳に追加
(A)アルカリ性溶液をケミカルエッチング液として用いることで、ポリイミド樹脂層11をエッチングするとともに、該エッチングされた前記ポリイミド樹脂層11の表面を親水性化する工程と、(B)前記エッチングされたポリイミド樹脂層11に、他のポリイミド樹脂層12,13を積層することで流路を形成する工程と、を少なくとも行なうポリイミド樹脂製の流路基板の製造方法とすること。 - 特許庁
In the method of manufacturing the magnetic head, the pole groove and first and second initial side shield grooves are formed in a nonmagnetic layer using an etching mask layer having first to third openings, and wall faces of first and second initial side shield grooves that are closer to the pole groove are etched by a dry etching to thereby complete the first and second side shield grooves 25b1, 25b2.例文帳に追加
磁気ヘッドの製造方法では、第1ないし第3の開口部を有するエッチングマスク層を用いて非磁性層に磁極溝部、第1および第2の初期サイドシールド溝部を形成し、ドライエッチングによって、第1および第2の初期サイドシールド溝部における磁極溝部により近い壁面をエッチングして、第1および第2のサイドシールド溝部25b1,25b2を完成させる。 - 特許庁
A method of manufacturing a Ge island 2 comprise in sequence: a semiconductor layer growing step of growing a Ge semiconductor layer 2 on an Si substrate 1; and a Ge semiconductor layer etching step of etching the Ge semiconductor layer 2 until reaching the Si substrate 1 to form the Ge island 2 spreading in the direction of the Si substrate.例文帳に追加
本発明は、Si基板1上にGe半導体層2を成長させるGe半導体層成長工程と、Ge半導体層2をSi基板1に達するまでエッチングし、Si基板1方向に対して裾広がりとなるGeアイランド2を形成するGe半導体層エッチング工程と、を順に備えることを特徴とするGeアイランド2の製造方法である。 - 特許庁
The mask cleaning method includes the steps of: preparing a mask having a mask film on its surface with the foreign substance including silicon oxide deposited thereon; holding the mask at a temperature, at which an etching rate to the foreign substance is higher than an etching rate to the mask film, in a cleaning gas including dilute hydrofluoric acid vapor; and supplying the washing gas to the surface of the mask to etch the foreign substance.例文帳に追加
マスクの洗浄方法は、シリコン酸化物を含む異物が付着したマスク膜を表面に有するマスクを用意する工程と、希フッ酸蒸気を含む洗浄ガスにおいて、マスク膜に対するエッチングレートよりも異物に対するエッチングレートが高くなる温度にマスクを保持する工程と、マスクの表面に洗浄ガスを供給して異物をエッチングする工程とを含む。 - 特許庁
The dry etching method of a glass substrate masked by a silicon substrate comprises: a step of bonding a silicon substrate 11 to a surface of a glass substrate 12; a step of forming a silicon mask 11M comprising the silicon substrate 11 on the glass substrate 12; a step of etching the glass substrate 12 through the silicon mask 11M; and a step of removing the silicon mask 11M from the glass substrate 12.例文帳に追加
シリコン基板をマスクとするガラス基板のドライエッチング方法において、ガラス基板12の表面にシリコン基板11を接合する工程と、ガラス基板12上でシリコン基板11からなるシリコンマスク11Mを形成する工程と、シリコンマスク11Mを介してガラス基板12をエッチングする工程と、シリコンマスク11Mをガラス基板12から除去する工程とを有する。 - 特許庁
To provide a hard mask composition for forming an inorganic hard mask film having an excellent etching selectivity to an organic hard mask film over the organic hard mask film used in etching of a fine pattern of a semiconductor device, and a method for manufacturing semiconductor devices in which an underlying layer pattern of a semiconductor device is formed using a hard mask formed using the hard mask composition.例文帳に追加
半導体素子の微細パターンの食刻に用いられる有機系ハードマスク膜の上部に、有機系ハードマスク膜に対する食刻選択比に優れた無機系ハードマスク膜の形成のためのハードマスク用組成物、及びこれを利用して形成されるハードマスクを用いて半導体素子の被食刻層パターンを形成する半導体素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
The method of manufacturing a semiconductor device includes a reactive ion etching step to form grooves in a semiconductor by partly removing the surface of the semiconductor by reactive ion etching, and a small-angle ion milling step to partly remove the bottom of the groove by emitting an ion beam to the bottom of the groove in an inclined direction at a zero degree or higher and 45 degrees or lower with respect to the bottom thereof.例文帳に追加
半導体の表面の一部を反応性イオンエッチングにより除去することによって半導体に溝を形成する反応性イオンエッチング工程と、溝の底面に対して0°より大きく45°以下の角度に傾斜した方向からイオンビームを照射することによって溝の底面の一部を除去する低角度イオンミリング工程とを含む半導体装置の製造方法である。 - 特許庁
The method of manufacturing the suspension blanks with wiring for the hard disks by using a laminate of a three-layered structure laminated with a conductive layer across an electrical insulation layer on a metallic layer to develop spring characteristics comprises subjecting the surface of the insulation layer on the metallic layer surface side to preetching to decrease the differences in etching rates, thereby performing the polyimide etching with the high accuracy.例文帳に追加
バネ特性を発現させる金属層の上に電気的な絶縁層を介して導電性層が積層された3層構造の積層体を用いてハードディスク用配線付きサスペンションブランクスを製造する方法であって、前記金属層面側の前記絶縁層の表面のプレエッチングを実施し、エッチングレートの差を軽減させることにより、高精度にてポリイミドエッチング加工を行う。 - 特許庁
In the method of forming the transparent conductor layer on the surface of the LTPS layer, the transparent conductor layer is laminated after the surface of the LTPS layer is etched with a diluted hydrofluoric acid at room temperature, and an etching amount of the LTPS layer (in terms of etching amount of a silicon oxide CVD film) is set to 30 to 70 Å.例文帳に追加
本発明のLTPS層の表面に透明導電体層を形成する方法は、室温において低温ポリシリコン層の表面を希フッ酸によりエッチングした後に透明導電体層を積層する方法において、前記低温ポリシリコン層のエッチング量(酸化珪素CVD膜エッチング量換算)を30Å以上70Å以下としたことを特徴とする。 - 特許庁
To provide a cleaning method of easily removing residues generated at dry-etching carried out for etching an a-Si semiconductor layer or a polysilicon semiconductor layer and very efficiently cleaning a semiconductor substrate without corroding a silicon wafer, a board of glass, plastic or the like, and a-Si, polysilicon, and wiring materials used for a thin film circuit at all in a semiconductor substrate manufacturing process.例文帳に追加
半導体基板を製造する工程で、半導体層であるa−Siやポリシリコン等のドライエッチング時に発生する残渣物を容易に除去でき、さらにガラス、シリコンウェハー、プラスチック等の基板や薄膜回路に使用されるa−Si、ポリシリコンや配線材料を全く腐食することなく極めて効率良く半導体基板を洗浄する方法を提供する。 - 特許庁
In this manufacturing method for a transfer mask, having openings formed into a thin film supported with a support frame, the openings are formed, using an etching mask layer as a mask, the etching mask layer is formed, using a resist pattern formed by the lithography using a photoresist as the mask, and the corner squareness of the opening pattern is set at 90°±0.3°.例文帳に追加
支持枠部に支持された薄膜部に開口を形成してなる転写マスクの製造方法であって、前記開口は、エッチングマスク層をマスクとして形成されてなり、前記エッチングマスク層は、フォトレジストを用いたリソグラフィー法により形成されたレジストパターンをマスクとして形成され、開口パターンのコーナーの直角度が、90°±0.3°であることを特徴とする転写マスクの製造方法。 - 特許庁
Also, the method for forming a via cavity in a double corrugated interconnecting structure includes forming an etch stop layer on the present interconnecting structure, forming a dielectric layer on the etch stop layer, etching a portion of the dielectric layer to form a via cavity therein, exposing a portion of the etch stop layer, and etching the etch stop layer to extend the via cavity.例文帳に追加
また、バイア空洞を二重波状形状相互接続構造に形成する方法は、現存の相互接続構造上にエッチング止め層を形成し、エッチング止め層上に誘電体層を形成し、誘電体層の一部分をエッチングしてバイア空洞を誘電体層に形成しエッチング止め層の一部分を露出し、エッチング止め層をエッチングしてバイア空洞を拡張することを含む。 - 特許庁
In the failure analysis method of a semiconductor device for a failure cause made by wiring formed on a semiconductor silicon board, a layer insulation film 3 is etched and removed on the semiconductor silicon board by using etching gas (for instance, CHF3) having a high etching selection ratio between a lower layer wire 2 and upper layer wiring 4, and the failure cause (foreign matter 5) is analyzed.例文帳に追加
半導体シリコン基板上に形成した配線に起因する不良原因を解析する半導体装置の不良解析方法において、下層配線2や上層配線4との間で高いエッチング選択比を有するエッチングガス(例えば、CHF_3)を用いて、半導体シリコン基板上の層間絶縁膜3をエッチング除去して、不良原因(異物5)を解析する。 - 特許庁
A method for preventing plasma damage includes a stage of depositing an etching stop layer 27 on a substrate in which a predetermined device is formed, a stage of depositing a PMD 29 and a polysilicon 28 on the etching stop layer, a stage of depositing an insulating film 30 on the substrate, and a stage of forming a metal wiring 31 on the insulating film.例文帳に追加
所定の素子が形成された基板の上に蝕刻止まり層27を蒸着する段階と;前記蝕刻止まり層上にPMD29及びポリシリコーン28を蒸着する段階と;前記基板の上に絶縁膜30を蒸着する段階と;及び前記絶縁膜の上に金属配線31を形成する段階と;を含んで成り立つことを特徴とするプラズマのダメージを防止する方法。 - 特許庁
This method for manufacturing of a semiconductor device includes: a first step of carrying a silicon substrate into a processing chamber; a second step of supplying at least a first silane-based gas and a first etching gas into the processing chamber while heating the silicon substrate; and a third step of supplying at least a second silane-based gas and a second etching gas into the processing chamber while heating the silicon substrate.例文帳に追加
シリコン基板を処理室内に搬入する第一のステップと、前記シリコン基板を加熱しつつ、前記処理室内に少なくとも第一のシラン系ガスと第一のエッチングガスを供給する第二のステップと、前記シリコン基板を加熱しつつ、前記処理室内に少なくとも第二のシラン系ガスと第二のエッチングガスを供給する第三のステップと、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁
By the method for producing the indium compound, the indium compound can be easily produced from a ferrous chloride solution containing indium (for example, a waste solution produced in an etching process for etching an ITO material or the like by ferric chloride) by using a chelate resin having a polyamine group or N-methylglucamine group.例文帳に追加
本発明者らは、インジウムを含有する塩化第一鉄液(例えばITO材等の塩化第二鉄によるエッチング廃液より)からインジウムを回収する方法を鋭意検討した結果、インジウムを含有する塩化第一鉄液からポリアミン基またはN−メチルグルカミン基を有するキレート樹脂を用いることによりインジウム化合物を容易に製造することができることを見出して完成させた。 - 特許庁
This method includes a process step of forming a plurality of apertures (402) inclusive of at least two apertures having areas varying from each other according to the lens-forming regions to be formed with one microlens and a process step subjecting the substrate to wet etching by using these, in which the external shapes of the microlenses are formed by this wet etching.例文帳に追加
基板(10)上の該レジスト(401)に対して、一つのマイクロレンズを形成すべきレンズ形成用領域に応じ、相異なる面積を有する少なくとも二つの開口部を含む複数の開口部(402)を形成する工程と、これらを利用して前記基板に対するウェットエッチングを実施する工程とを含み、該ウェットエッチングによりマイクロレンズの外形形状を形成する。 - 特許庁
The washing method for removing an adherent from the surface of the constituent member of the film forming apparatus installed in the treatment atmosphere of the film forming apparatus includes plasma etching treatment for reducing the adhesion force of the adherend and the constituent member and washing treatment for washing off the adherend reduced in the adhesion force with the constituent member by the plasma etching treatment.例文帳に追加
成膜装置の処理雰囲気に設置された成膜装置の構成部材の表面から付着物を除去するための洗浄方法であって、上記付着物と上記構成部材との密着力を低減させるプラズマエッチング処理と、上記プラズマエッチング処理によって上記構成部材との密着力が低減した上記付着物を水にて洗い流す水洗処理とを有する。 - 特許庁
To provide an etchant and an etching method which can suppress side etching without corroding electronic members, various lamination films and the like on a substrate, for the substrate which has a lamination structure of tungsten and/or titanium-tungsten alloy which are used for electrodes and interconnection lines for a semiconductor device and a thin film transistor of a liquid crystal display or for interconnection lines and barrier metal for the electrodes.例文帳に追加
半導体装置や液晶表示装置の薄膜トランジスタの電極や配線、またこれらの電極の配線やバリアメタルとして用いられているタングステン及び/又はチタン−タングステン合金の積層構造を有した基板において、基板上の電子部材、各種積層膜等を腐食することなく、サイドエッチングを抑制したエッチング液及びエッチング方法を提供する。 - 特許庁
In an etching method of selectively etching a polysilicon film 12 on a lower layer film 11 having a step 11a to form a specified pattern on the film 12, only a step region 12a of the polysilicon film 12 are selectively etched and the polysilicon film 12 with the etched step region 12a is selectively etched to form a specified pattern on non-step regions.例文帳に追加
段差部11aを有する下層膜11上に形成されたポリシリコン膜12をエッチングしてポリシリコン膜12に所定のパターンを形成するエッチング方法であって、ポリシリコン膜12の段差部領域12aのみを選択的にエッチングし、段差部領域12aがエッチングされたポリシリコン膜12を選択的にエッチングして非段差部領域に所定のパターンを形成する。 - 特許庁
The method of manufacturing the semiconductor device having wiring and a plug connected to wiring is provided with a step for forming an insulating film on wiring, a step for forming an opening in the insulating film by dry etching for forming the plug, and a step for removing the reaction product generated by dry etching with plasma discharge by hydrogen simple substance gas or gas comprising nitrogen.例文帳に追加
配線と、配線に接続されるプラグとを有する半導体装置の製造方法であって、配線上に絶縁膜を形成する工程と、プラグを形成するためにドライエッチングにより絶縁膜に開口を形成する工程と、水素単体ガスまたは窒素を含むガスによるプラズマ放電により上記ドライエッチングにより生じた反応生成物を除去する工程とを有するものである。 - 特許庁
By this method, etching residues are removed without sputtering copper at the bottom parts of the opening parts, by providing an anisotropic hydrogen plasma, making ions in the plasma chemically react on the etching residues at the bottom of opening part including copper oxide on an exposed copper surface as ≥1 in relative permittivity, and then washing an exposed part on the copper surface.例文帳に追加
本方法は、異方性水素プラズマを提供して、プラズマ中のイオンと、露出した銅表面上の酸化銅を含む一以上の開口部の底部におけるエッチング残留物との間に化学反応を起こさせ、それによって、銅表面の露出した部分を洗浄して、開口部の底部で銅をスパッタリングすることなくエッチング残留物を除去することを含む。 - 特許庁
The method for manufacturing a semiconductor device includes: a modified layer forming step for pulse-irradiating a substrate 10 consisting of single crystal silicon with a laser light L by moving a focal position, and partially polycrystallizing the single crystal silicon to form a continuous modified layer 11 in the single crystal silicon; and an etching step for etching the modified layer 11 to remove it.例文帳に追加
単結晶シリコンからなる基板10に対して、焦点位置を移動させてレーザ光Lをパルス照射し、前記単結晶シリコンを部分的に多結晶化して、前記単結晶シリコン中に連続した改質層11を形成する改質層形成工程と、前記改質層11をエッチングして除去するエッチング工程と、を備える半導体装置の製造方法とする。 - 特許庁
The method of manufacturing the semiconductor device includes the processes of (a) forming a resist film 17 selectively on a surface of the nitride film 16; and (b) etching the resist film 17 while etching the nitride film 16 using the resist film 17 as a mask to leave the nitride film 16 covered with the resist film 17 which is made thin and has its end surface retracted.例文帳に追加
本発明の一実施形態に係る半導体装置の製造方法は、(a)窒化膜16の表面に選択的にレジスト膜17を成膜する工程、(b)レジスト膜17をマスクとして窒化膜16をエッチングすると同時にレジスト膜17をもエッチングし、薄膜化され端面が退避されたレジスト膜17に覆われた窒化膜16を残す工程を備えて構成される。 - 特許庁
The method for cleaning a reflective photomask blank, which has a conductive film essentially comprising Cr formed on one surface of a glass substrate, comprises etching the conductive film by using an aqueous solution of diammonium cerium nitrate in an etching amount of 10 nm to L-20 nm, wherein L (nm) represents the film thickness of the conductive film.例文帳に追加
ガラス基板の一方の面にCrを主成分とする導電膜が形成された反射型マスクブランクスの洗浄方法であって、前記導電膜の膜厚をL(nm)とするとき、エッチング量が10nm以上、L−20nm以下となるように、硝酸第二セリウムアンモニウム水溶液を用いて該導電膜をエッチング処理することを特徴とする反射型マスクブランクスの洗浄方法。 - 特許庁
The substrate processing method comprises steps of forming a prescribed pattern by etching a film to be etched formed on a substrate; denaturing a substance remained after ending etching processing so as to be soluble in a prescribed liquid; subsequently silylating a surface of the film to be etched on which a pattern is formed; and thereafter dissolving and removing the substance denatured by supplying the prescribed liquid.例文帳に追加
基板上に形成された被エッチング膜をエッチング処理して所定パターンを形成する工程と、エッチング処理を終了した後に残存する物質を所定の液に対して可溶化するように変性させる工程と、次いで、パターンが形成された被エッチング膜の表面をシリル化処理する工程と、その後、所定の液を供給して変性された物質を溶解除去する工程とを有する。 - 特許庁
In this method of producing the optical reflecting surface, wherein the optical reflecting surface consisting of 111 faces is formed on a monocrystal Si substrate with 100 faces, using anisotropic etching, the shape of the etching mask for forming the optical reflecting surface is formed into a circular or polygonal recessed shape comprising segments with angles larger than 1° and smaller than 44° to the direction of the faces 111 predicted from orientation flat.例文帳に追加
(100)面の単結晶Si基板に異方性エッチングを用いて(111)面からなる光学反射面を形成する光学反射面作製方法であって、光学反射面を形成するためのエッチングマスクの形状を、オリフラから予想される(111)面の方向に対して1度より大きく44度より小さい角度の線分からなる円弧または多角形の凹形状としている。 - 特許庁
To provide a metal wiring substrate and a method of manufacturing the same, which can form a pattern of a metal film with a simple process not requiring any etching process on a metal film, can precisely form a fine pattern, even on a metal such as copper (Cu) that is difficult to control etching, and is superior in material utilization efficiency, and a metal wiring substrate for reflection liquid crystal display.例文帳に追加
金属膜のエッチング工程を必要とせず簡単なプロセスによりパターン形成することができ、銅(Cu)等のエッチング制御が困難な金属であっても精細にパターニングでき、かつ材料の利用効率の優れた金属配線基板及び金属配線基板の製造方法並びに反射型液晶表示装置用金属配線基板を提供する。 - 特許庁
To provide a method for a surface treatment in which an equipment can be easily constituted and miniaturized, and a surface reforming such as a wettability improvement or a surface treatment such as an ashing or an etching can be performed relatively easily at a low cost, without requiring an additional stage for a rinse in a wet etching or a drying, and without an expensive and large facility for a vacuum or a decompressing.例文帳に追加
ウエット法のリンスや乾燥のための追加工程を必要とせず、また真空や減圧のための高価で大型の設備を必要とせず、装置を簡単に構成しかつ小型化でき、濡れ性改善などの表面改質やアッシング、エッチングなどの表面処理を、比較的容易にかつ低コストで行うことができる新規な表面処理方法を提供する。 - 特許庁
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