「DEFECTIVE」に関連した英語例文の一覧と使い方(105ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a color image signal conversion device that has a simple configuration, and can convert a color image signal so that a person with defective color vision can recognize at least a color boundary even if mixed color that cannot be identified by the person with defective color vision adjacently exists in tbe color image of an original color image signal.例文帳に追加

構成簡単にして、元のカラー映像信号のカラー映像中に、色覚異常者が識別できない混同色が隣接していた場合であっても、色覚異常者が少なくともその色境界だけは認識できるように、カラー映像信号の変換を行うことのできるカラー映像信号変換装置を得る。 - 特許庁

A decoded signal PX from a row decoder 12 and a defective cell specifying signal SEL are inputted to a selector circuit 14, each inputted decoded signal PX is outputted to each word line WL1-WL32 or spare word line WL33 based on respectively correspondent defective cell specifying signals SEL.例文帳に追加

セレクタ回路１４は、ロウデコーダ１２からのデコード信号ＰＸと制御回路２３からの不良セル指定信号ＳＥＬとが入力され、入力された各デコード信号ＰＸは、それぞれ対応する不良セル指定信号ＳＥＬに基づいて各ワード線ＷＬ（１）ＷＬ〜（３２）又はスペアワード線ＷＬ（３３）に出力される。 - 特許庁

In these heat developing device and the heat developing method, when the defective carrying of the heat developing recording material is detected in detecting the defective carrying of the heat developing recording material, a heat developing recording material present on a heat developing part is discharged in the driving state of the heat developing part, and then the heat developing part is stopped.例文帳に追加

本発明に係る熱現像装置及び熱現像方法は、熱現像記録材料の搬送不良を検出し、熱現像記録材料の搬送不良が検出された際に、熱現像部を駆動させた状態のまま、該熱現像部に存在する熱現像記録材料を排出し、その後、前記熱現像部を停止する。 - 特許庁

Further, when a defective block which needs a new alternative block is found in the filled-up state of a spare area, an LRC bit is set in the SDL entry together with the position information of the defective block so as to indicate the creation of a corresponding SDL entry when there is no room in the spare area.例文帳に追加

さらに、スペア領域がいっぱいである状態で、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、スペア領域に空きがなくなったときに対応するＳＤＬエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にＬＲＣビットがＳＤＬエントリに設定される。 - 特許庁

In order to store a result to which an address of a defective part is pre-decoded as fuse data corresponding to a result to which an address signal externally inputted is pre-decoded, the fuse data storing section 4 can not only replace a defective part by a spare cell, but can set a state in which a defect does not exist in fuse data.例文帳に追加

ヒューズデータ記憶部４は、外部から入力されたアドレス信号をプリデコードした結果に対応させて、不良個所のアドレスをプリデコードした結果をヒューズデータとして記憶するため、不良個所をスペアセルに置き換えることができるだけでなく、不良が存在しないという状態もヒューズデータにより設定することができる。 - 特許庁

To provide equipment for painting a building board in which the painted state of the building board painted by an ink-jet painting machine can be inspected easily with high precision when the painted building board is taken out from a conveying line and the generation of succeeding defective painting can be kept to a minimum when defective painting is found out by the inspection.例文帳に追加

インクジェット式塗装機で塗装した建築板の塗装状態の検査を、搬送ラインから取り出した状態で容易に且つ精度高く行なうことができ、しかも検査で塗装不良が発見された場合に、後続の塗装不良の発生を最小限に抑えることができる建築板の塗装設備を提供する。 - 特許庁

In the pattern correcting method, a low-viscosity film 41 is irradiated with laser light in the state wherein the defective portion is not irradiated with the laser light to form a mask 40 having a hole 40a, the mask 40 is stuck to a substrate 14, and correction liquid 20 is applied to the defective portion 13a through the hole 40a.例文帳に追加

このパターン修正方法では、レーザ光が欠陥部１３ａに照射されない状態で低粘着フィルム４１にレーザ光を照射して孔４０ａの開いたマスク４０を形成し、マスク４０を基板１４に密着させ、孔４０ａを介して欠陥部１３ａに修正液２０を塗布する。 - 特許庁

To provide a fuel cell realizing high efficiency operation and long life by reducing operational loss such as exchanging defective articles or the like generated after power generation by realizing inspection of a polymer film in an isolated form before starting power generation and removing the defective articles having a cross-leak amount of larger than a prescribed value.例文帳に追加

本発明の目的は、発電開始前に高分子膜単体での検査を実現し、クロスリーク量が一定値以上である不良品を除去することで発電後に発現した不良品の交換作業等の作業ロスを削減し、かつ燃料電池の高効率運転、長寿命化を実現することである。 - 特許庁

The sections 10, 20 each transmit a mask notification signal for inhibiting defect detection in a transient state to the section 30, and the section 30 stops detecting a defective state for a prescribed time, according to the mask notification signal and detects a defective state for the sections 10, 20 after the mask is released.例文帳に追加

被監視機能部１０，２０は過渡状態における不良検出を禁止するマスク通知信号を監視制御部３０に送信し、監視制御部３０は該マスク通知信号に従って不良状態検出を所定時間停止するが、マスク解除後に被監視機能部１０，２０に対する不良状態の検出を行う。 - 特許庁

To obtain a transfer device prepared for an image forming apparatus and capable of surely preventing the winding of a sheet of transfer paper from a photoreceptor, defective transfer and the defective separation of a sheet of transfer paper from the photoreceptor by setting a guideline for determining the positional relation between respective members and the quality of materials for practically designing the transfer device.例文帳に追加

本発明の目的は、実際に転写装置を設計する場合の位置関係および材質を決める際の指針を設定して感光体からの転写紙の巻きつきや転写不良および転写ベルトからの転写紙の分離不良を確実に防止することのできる画像形成装置の転写装置を得ることにある。 - 特許庁

Thereby, when there exists a defect at the portion provided in the hole 61 of the inspection electrode means 6, discharge is made at the defective part, thereby a defect of the piezoelectric tube 3 provided at the hole 61 of the inspection electrode means 6 can be identified, and a mark can be made at the defective part.例文帳に追加

これによって、検査用電極手段６の孔６１に配設された部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するため、欠陥が検査用電極手段６の孔６１に配設された圧電体チューブ３に存在することを特定できるとともに、欠陥部にマークをつけることができる。 - 特許庁

To provide a method of detecting defective liquid separation in an extraction column, having such excellent characteristics as being able to easily and efficiently detect defective liquid separation in the extraction column, thereby always being able to carry out liquid-liquid extraction operation in a good condition, and to provide a method of operating the extraction column.例文帳に追加

抽出塔の分液不良現象を簡便かつ効率的に発見することができ、よって常に良好な状態で液−液抽出操作を実行することが可能であるという優れた特徴を有する抽出塔の分液不良現象の感知方法及び抽出塔の運転方法を提供する。 - 特許庁

Row detection processing to be executed by a liquid crystal substrate inspection device includes a step (S410) for reading an image, a step (S500) for executing defective candidate extraction processing, a step (S700) for executing row detection processing, a step (S1000) for executing defective row discrimination processing, and a step (S420) for outputting a result.例文帳に追加

液晶基板検査装置が実行する列の検出処理は、画像を読み込むステップ（Ｓ４１０）と、欠陥候補抽出処理を実行するステップ（Ｓ５００）と、列検出処理を実行するステップ（Ｓ７００）と、欠陥列判定処理を実行するステップ（Ｓ１０００）と、結果を出力するステップ（Ｓ４２０）とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which no defective pixel etc. occurs by suppressing the occurrence of defective insulation caused by an edge (a shape of the upper electrode broken at some midpoint of a dielectric material) etc. of an upper electrode in a capacitor, and to provide a liquid crystal display device, a flat panel display device and a method for manufacturing them.例文帳に追加

キャパシタにおける上部電極のエッジ（上部電極が誘電体材料の途中で途切れるような形状）などが原因となり発生する絶縁不良を抑制し、画素欠陥などが生じない半導体装置、液晶表示装置、平面表示装置およびそれらの製造方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, in the case that a new defective pixel takes place in the solid-state image pickup means 11 of a product after shipment, e.g. a service department can easily write the positional information of the defective pixel hardly being coped with in the automatic write mode to the storage means 16 without the use of a special writing jig.例文帳に追加

従って、製品出荷後の固体撮像手段１１に新たな欠陥画素が発生した場合に、特別な書込み治具を使用することなく、しかも、自動書込みモードでは対処困難な欠陥画素の位置情報Ｄ１を例えばサービス部門で容易に記憶手段１６に書込むことができる。 - 特許庁

This memory is provided with a circuit 2 in which correspondence to a redundant memory cell selecting circuit 3 of a redundancy program circuit 1 is switched to a new redundant memory cell selecting circuit 3, a function of the redundant memory cell selecting circuit 3 previously corresponding is made inactive, in the case a redundant memory cell replaced for relieving a defective memory cell is defective.例文帳に追加

不良メモリセルを救済するために置き換えた冗長メモリセルが不良の場合に、冗長プログラム回路１の冗長メモリセル選択回路３への対応を新しい冗長メモリセル選択回路３へ切り替え、先に対応していた冗長メモリセル選択回路３の機能を不活性にする切り替え回路２を設ける。 - 特許庁

To solve a problem that, although there has been a method of evaluating pattern shapes of electronic devices by using design data or a non-defective pattern as a reference pattern, the pattern shape cannot be evaluated with high accuracy because of difficulty in defining an exact shape suitable for manufacturing conditions of the electronic devices by the design data or the non-defective pattern.例文帳に追加

設計データや良品パターンを参照パターンとして、電子デバイスのパターン形状を評価する方法があるが、設計データや良品パターンでは、電子デバイスの製造条件に適合した形状を正確に定義することが困難であり、パターンの形状を高精度に評価することができない。 - 特許庁

When inputting signals for defective products, a control part 17 makes the first stopper 13 and a second stopper 35 open and drives a pair of primary nip rollers 31a, 31b and a pair of secondary nip rollers 32a, 32b to release the defective products 20a to the outside while being held at two stages.例文帳に追加

制御部１７は検知部１６から不良品信号が入力されると、第１ストッパ１３および第２ストッパ３５を開とするとともに、一対の一次ニップローラ３１ａ，３１ｂと、一対の二次ニップローラ３２ａ，３２ｂを駆動し、不良品２０ａを２段階で挟持しながら外方へ放出させる。 - 特許庁

A checkup waiting queue creating portion 307 sets up a checkup requesting command for each portion determined defective of substrates which have been determined defective in each process using the database 303 and creates a data sequence wherein the checkup requesting commands are arranged in the order of corresponding substrates from those with the earliest processing start schedule time to those with the latest processing start schedule time.例文帳に追加

確認待ち行列生成部３０７は、データベース３０３を用いて、各工程で不良と判定された基板の不良判定部位毎に確認要求コマンドを設定し、各確認要求コマンドを、処理開始予定時刻が早い基板に対応するものから順に並べたデータ列を作成する。 - 特許庁

The element units 1 and 2 are pasted together to obtain the solar cell 10, so that an element unit which contains a defective solar cell element film is omitted in advance, only the element units which contain non- defective solar cell element films can be pasted together, and therefore the wasted material can be least.例文帳に追加

素子ユニット１，２の貼り合わせにより太陽電池１０を形成するようにしたので、欠陥の有る太陽電池素子膜を含む素子ユニットを予め除外し、欠陥の無い太陽電池素子膜を含む素子ユニットだけを貼り合わせることが可能になり、従って材料の無駄を最小限に抑えることができる。 - 特許庁

To provide a defect marking device applying marking to a defective portion detected by an inspection device of a lengthy sheet-like product carried in the longitudinal direction, only in one position without damaging the sheet-like product, so that removal or repair of the defective portion is easily performed in an after process.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなく、１か所のみにおいてマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

The state information (should be a defective cluster) on a reading disable region 8 is written in the management region 6 of the recording medium 1 so that the cluster belonging to the reading disable region 8 may be recognized as the defective cluster from the file system so as to secure the reading disable region 8 in the user region 5 of the recording medium 1.例文帳に追加

記録媒体１のユーザ領域５に読み出し不能領域８を確保すべく、読み出し不能領域８が属しているクラスタが、ファイルシステムから欠陥クラスタとして認識されるように、記録媒体１の管理領域６に、読み出し不能領域８の状態情報（欠陥クラスタであること）を書き込んでおく。 - 特許庁

The mounting line is provided with a mounting machine specifying means specifying a defective mounting machine processing a mounting defect component from a plurality of the mounting machines 10 when the inspection machine 93 detects the mounting defect component and a mounting machine stopping means stopping the defective mounting machine which the mounting machine specifying means specifies.例文帳に追加

本実装ラインは、検査機９３によって実装不良部品が発見された際に、複数の実装機１０の中から実装不良部品を処理した不良実装機を特定する実装機特定手段と、実装機特定手段によって特定された不良実装機を停止させる実装機停止手段と、を備える。 - 特許庁

First repair data making to correspond a redundant circuit and a replacement information of a defective memory cell are compressed, and the first repair data arrayed in order of redundant circuits and second repair data making to correspond a redundant address for replacing a defective address not included in the first repair data are set in a plurality of fuses.例文帳に追加

冗長回路と不良メモリセルの置換情報とを対応させた第１リペアデータがデータ圧縮され、冗長回路順に配列された第１リペアデータと、第１リペアデータには含まれない不良アドレスを置換するための冗長アドレスとを対応させた第２リペアデータとが複数のヒューズに設定される。 - 特許庁

In the case where a defective photographed image D_2' in which a measurement point P overlaps with a shielding area A shielding a surface 6a of the brake disk 6 is included in corrected photographed images D_0', ... in the time-series order, a temperature T_2 of the measurement point P in the defective photographed image D_2' is excluded from a result of measurement.例文帳に追加

ブレーキディスク６の表面６ａを遮蔽する遮蔽領域Ａと測定点Ｐとが重なる不良の撮影画像Ｄ_2'が補正後の時系列順の撮影画像Ｄ_0'，…中に存在するときには、この不良の撮影画像Ｄ_2'中の測定点Ｐの温度Ｔ_2を測定結果から除外する。 - 特許庁

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

To provide a defective pixel update system for a digital camera capable of correcting a defective pixel caused by the time degradation of a solid-state imaging element.例文帳に追加

生産工程における工場出荷時の固体撮像素子の欠陥画素情報はデジタルカメラにあらかじめ記憶させておき、画素補正することができるが、出荷後の経時劣化により生じた欠陥画素に対しては新規で発生した欠陥画素の画像上の位置特定が非常に困難であるため画素補正ができない。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a microarray chip capable of correcting a defective part or removing the same when the defective part is formed and having a specific biopolymer arranged and fixed thereto in a fine patternwise state without causing the non-specific adsorption of an object to be inspected or the like.例文帳に追加

本発明は、不良部分が発生した場合に修正やその不良部分の除去が可能であり、また被検査物が非特異的な吸着をすること等のない、微細なパターン状に特異性生体高分子が配列・固定されたマイクロアレイチップの製造方法を提供することを主目的としている。 - 特許庁

To provide a method of stably producing a nonfoamed formed article of a vinyl chloride resin free from defective appearance by directly adding a hydrated gypsum (specifically dihydrate gypsum) to a vinyl chloride resin without converting it to anhydrous gypsum, without requiring wasteful energy cost nor causing foaming or defective forming stemming from water of crystallization.例文帳に追加

含水石膏（特に二水石膏）を無水石膏に転換せずに直接塩化ビニル樹脂に配合し、無駄なエネルギーコストをかけずに且つ結晶水に由来する発泡や成形不良を生じることなく、安定して外観不良のない塩化ビニル樹脂製の非発泡成形体を製造する方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a microarray chip capable of correcting a defective part or removing the same when the defective part is formed and having a specific biopolymer arranged and fixed thereto in a fine patternwise state without causing the non-specific adsorption of an object to be inspected or the like.例文帳に追加

本発明は、不良部分が発生した場合に修正やその不良部分の除去が可能であり、また被検査物が非特異的な吸着をすること等のない、高精細なパターン状に特異性生体高分子が配列・固定されたマイクロアレイチップの製造方法を提供することを主目的としている。 - 特許庁

To provide a technology which can diagnose especially the AC characteristics of an I/O section in an IC, for which diagnoses/tests have been conventionally impossible and not performed, in order to reduce percent defective in IC products constituting a storage device, thereby allowing to detect defective components and improve quality.例文帳に追加

ストレージ装置を構成するＩＣ製品の不良率の低減のために、ＩＣ内における従来では診断・テストが実施不可能及び対象外であったＩ/Ｏ部について特にそのＡＣ特性を診断することができ、これにより不良の検出を可能にして品質向上できる技術を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device for inspecting the presence of the defect of an object to be inspected using the neural network is equipped with an artificial flaw forming means for forming the artificial defective image of the object to be inspected by image processing and a learning means for learning the neural network on the basis of the artificially formed defective image.例文帳に追加

ニューラルネットワークを用いて被検物の欠陥の有無を検査する欠陥検査装置において、被検物の人工的な欠陥画像を画像処理により作成する人工欠陥作成手段と、人工的に作成された欠陥画像により前記ニューラルネットワークを学習させる学習手段と、を備える。 - 特許庁

To surely discriminate a defective product through inspection of an information carrier and to avoid an adverse effect of defective product transportation in an inspection method and an inspection system of an information carrier for performing product inspection in a manufacturing process of an information carrier such as an IC tag, an IC label, an IC card and a magnetic card.例文帳に追加

本発明は、ＩＣタグ、ＩＣラベル、ＩＣカード、磁気カード等の情報担体の製造工程における製品検査を行う情報担体の検査方法及び検査システムに関し、情報担体の検査による不良品を確実に判別させることができると共に、不良品搬送の悪影響を回避することを目的とする。 - 特許庁

When a defective product is found, it can be analyzed as to which manufacturing condition of which process is the cause of the defect, by investigating the record 100 of the defective product, because the manufacturing condition and the result of the measurement and assessment of each product are managed in a mass in the individual product record 100.例文帳に追加

個別の製品の製造条件とその測定、評価の結果が、個別製品レコード１００に集約して管理されるので、不良品が見つかったときには、その不良品のレコード１００を調べることで、どの工程のどの製造条件が不良の原因になったのかの分析が可能になる。 - 特許庁

The ECU 80 determines the defective position of the actuator 20 by collating a rotating angle indication indicated to the electric motor according to the indication shift range, the number of counts of the encoder, and shift range detection signals with which the rotating position of the detent plate 52 is detected with each other and selects the vehicle traveling control according to the defective position.例文帳に追加

ＥＣＵ８０は、指示シフトレンジに応じて電動モータに指示する回転角度指示と、エンコーダのカウント数と、ディテントプレート５２の回転位置を検出したシフトレンジ検出信号とを照合することにより、アクチュエータ２０の異常箇所を判定し、異常箇所に応じた車両走行制御を選択する。 - 特許庁

This tape polishing device is provided with a polishing tape for polishing a defective projection occurred on a surface of a substrate, a polishing head 15 for pressing the polishing tape against the defective projection, a position detection mechanism 17 for detecting a position of the polishing head 15 in the axial direction, and a radial bearing 16 for supporting the polishing head 15 in the radial direction.例文帳に追加

このテープ研磨装置は、基板表面に発生した突起欠陥を研磨するための研磨テープと、研磨テープを突起欠陥へ押し付ける研磨ヘッド１５と、研磨ヘッド１５の軸方向の位置を検出する位置検出機構１７と、研磨ヘッド１５を径方向に支持するラジアル軸受１６とを備える。 - 特許庁

Particularly, a forming method of the precipitates includes: a process 4 for forming defects in a semiconductor material 2 while forming defective regions by mechanical work or oxygen implantation; and a next process for carrying out heat treatment of the semiconductor material 2 while forming the precipitates in the defective regions.例文帳に追加

とりわけ、材料析出物生成方法について、機械的作用によって、または、酸素注入によって欠陥領域を形成する間に、半導体材料２内に欠陥を形成する工程４と、その後、欠陥領域内に材料析出物を生成する間に、上記半導体材料２の熱処理を行う工程とを含む。 - 特許庁

The sound absorbing layer and the low vent layer can be firmly integrated in a range of the peeling strength of 0.01-10.0 N/cm to reliably prevent any defective peeling, and the excellent sound absorbing performance and insulating performance can be ensured for a long time without any defective peeling by controlling the ventilation volume in the low vent layer 40.例文帳に追加

そして、接着層５０により剥離強度０．０１〜１０．０Ｎ／ｃｍの範囲で強固に一体化して、剥離不良を確実に防止するとともに、低通気層４０における通気量をコントロールすることで、良好な吸音性能、遮音性能を剥離不良が生じることなく長期に亘り確保する。 - 特許庁

The cassette transfer unit 2 is provided with cassettes for performing a treatment, in particular, cassette ports 8-14 constituting a first module for placing a cassette for housing defective substrates, and cassette ports 15-19 constituting a second module for stocking these cassettes so that substrates determined as defective are separated.例文帳に追加

カセット移載部２は、処理を行なうカセット、特に検査装置の場合において不良判定の基板を振り分けるため、不良基板収容用カセットを置くための第１モジュールを構成するカセットポート８〜１４と、それらカセットをストックするための第２モジュールを構成するカセットポート１５〜１９とを備えている。 - 特許庁

In a defect analyzing computer 10, the number of defective bits are counted for each coordinate based on defective data (bit map data) BD obtained by an electrical test by a tester 2 and a defect numbers histogram is made (means 12), wavelet analysis is performed for the defect numbers histogram and a wavelet coefficient is calculated (means 13).例文帳に追加

不良解析計算機１０は、テスタ２による電気的試験により得られた不良データ（ビットマップデータ）ＢＤに基づいて座標ごとに不良ビット数をカウントして不良数ヒストグラムを作成し（手段１２）、不良数ヒストグラムについてウェーブレット解析を行ないウェーブレット係数を算出する（手段１３）。 - 特許庁

To provide a paper feeder capable of securely carrying paper and avoiding the occurrence of defective paper feeding, an automatic document carrying device capable of securely carrying documents and avoiding the occurrence of the defective paper feeding, and an image forming device having the paper feeder and the automatic document carrying device.例文帳に追加

用紙を確実に搬送することができるとともに、給紙不良の発生を回避することができる給紙装置、原稿を確実に搬送することができるとともに、給紙不良の発生を回避することができる自動原稿搬送装置およびこれを備えた画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This inkjet recorder is equipped with a print head having a plurality of ink jet nozzles including liquid ejection-defective nozzles and non-defective nozzles, and can select whether or not information of ejection of ink is changed based on information of a recording medium.例文帳に追加

インク液滴吐出不良なノズルとインク液滴吐出良好なノズルとを有する複数のインク吐出ノズルを備えた印刷ヘッドを有するインクジェットプリンタにおいて、印刷媒体の情報によりインク吐出情報を変更するか否かを選択できることを特徴とするインクジェットプリンタ用データ処理システム。 - 特許庁

To provide a defective bit evading method for a semiconductor device, by which the semiconductor device such as a microcomputer with a CPU and a memory formed on a single semiconductor board is delivered as a product even with a large number of defective bits, an yield is improved, and relief is efficiently performed.例文帳に追加

ＣＰＵとメモリを単一の半導体基板上に形成したマイクロコンピュータ等の半導体装置において、不良ビットの個数が多い場合でも製品として出荷することができ、歩留まりが向上し、救済効率の良い半導体装置の不良ビット回避方法及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

An inspection for specifying the defective pixel coming into the put-out state at all times among the pixels arrayed on the support substrate is performed, and the light scattering property is imparted by selectively applying the energy from the outside to at least one member arranged on the light extraction side of the defective pixel specified by the inspection.例文帳に追加

前記支持基板上に配列されている画素のうち常時消灯状態となる欠陥画素を特定するための検査を行い、検査により特定された欠陥画素の光取り出し側に配置されている少なくとも一つの部材に、外部からエネルギーを選択的に加えて光散乱性を付与する。 - 特許庁