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sample ofの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20718件
Under the condition that five kinds of tests are supposed to be conducted for the third sample from the head of a sample rack 21, when an error indicating a shortage of the sample occurs at the third test, an analysis status flag of "under inspection/abnormal" is set for the test, and an analysis status flag of "under inspection/normal" is set for the tests therebefore.例文帳に追加
サンプルラック21の先頭から3番目のサンプルについて5種類のテストを行うように受け付けられていたが、3番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中/異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中/正常」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁
A process for measuring the recovery speed of the sample under compression includes the step of applying a compressive force so that the sample is compressed by a predetermined proportion of its thickness, the step of canceling the compressive force, and the step of measuring thickness verses time when the recovering sample returns to its condition before deformation.例文帳に追加
圧縮下の発泡材サンプルの回復速度を測定する処理は、発泡材サンプルがその厚さの所定の割合だけ圧縮されるように圧縮力を加えるステップと、圧縮力を解除するステップと、回復する発泡材サンプルが変形前の状態に戻る時の厚さ対時間を測定するステップとを含む。 - 特許庁
To provide a multicore optical fiber probe capable of widely employing the measuring region of a sample on a detection surface even if total reflection is not turned to one light for a plurality of times and capable of enhancing the detection precision of the sample by an absorption spectrum.例文帳に追加
1つの光に全反射を複数回させないでも、検出面での試料の測定領域を広く採ることがき、吸収スペクトルによる試料の検出精度を向上することを可能とした多芯光ファイバプローブ。 - 特許庁
To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope.例文帳に追加
透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。 - 特許庁
By using as a sample of the multicomponent inorganic compound thin film varying in composition two-dimensionally, the preparation of sample for every composition of various compositions is dispensed with and of the gas reactivity of each composition can be efficiently determined.例文帳に追加
平面的に組成が変化している多成分系無機化合物薄膜を試料として用いることで、種々の組成ごとに試料を作製することなく、各組成のガスに対する反応性を効率よく判別することができる。 - 特許庁
To provide an ion beam processing device and method capable of accurately specifying a processing site on the surface of a sample, and grasping a processing progress, in case of cross-section processing through irradiation of ion beams from a rear side of the sample.例文帳に追加
試料の裏面からイオンビームを照射して断面加工する場合に、試料の表面における加工場所を正確に特定し、さらに加工進行状況を把握することのできるイオンビーム加工装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a tire testing apparatus capable of testing a sample tire efficiently in a shorter period of time in evaluating various performance features of the tire by pressing the tread surface of the sample tire against the external surfaces of rotating drums driven to rotate.例文帳に追加
供試タイヤのトレッド表面を、回転駆動される回転ドラムの外表面に押圧して、タイヤの諸性能を評価するに当り、より短い時間で効率的に試験を行うことができるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁
After a prescribed time has elapsed, measurement data is analyzed or compared with a database and determined as corresponding to (1) sample data of low quality, (2) measurement of dopants, or (3) the number of times of measurements of the same sample equal to a threshold or more (104).例文帳に追加
所定時間経過後、測定データを分析あるいはデータベースと比較して(1)質の低い試料データ、(2)不純物の測定、(3)同じ試料の測定回数が閾値以上、の何れかに該当するか判定する(104)。 - 特許庁
In the method of detecting the solidification structure of steel, a cross-section of a sample of a steel casting piece is polished, a surface other than a polished surface 2 of a sample 1 is electrically insulated to be an electrically insulated surface 3, and the polished surface 2 is corroded.例文帳に追加
鋼鋳片の試料の断面を研磨し、試料1の研磨面2以外の面を電気絶縁処理して電気絶縁処理面3とし、研磨面2を腐食することを特徴とする鋼の凝固組織検出方法である。 - 特許庁
A plurality of replicas of the sample tip part are prepared, the plurality of replicas are shape-measured by the confocal microscope, respective data shape-measured about the plurality of replicas are combined to construct the three-dimensional shape of the observed sample.例文帳に追加
試料先端部のレプリカを複数作製し、該複数のレプリカをコンフォーカル顕微鏡により形状計測し、該複数のレプリカについて形状計測した各データを合成して観察試料の三次元形状を構築する。 - 特許庁
Sample information including: information of the tangential push-pull signal; and information of a position of the diffraction grating 3 from which the tangential push-pull signal is obtained is stored, and the position 3 of the tangential push-pull signal is set on the basis of the sample information.例文帳に追加
このタンジェンシャルプッシュプル信号の情報と、このタンジェンシャルプッシュプル信号が得られた回折格子3の位置の情報とを含むサンプル情報を記憶し、このサンプル情報に基づいて回折格子の位置3を設定する。 - 特許庁
To provide a liquid sample container capable of allowing easy and inexpensive manufacturing, of dispensing with calibration for all the containers, of easily taking a liquid sample in and out, and of generating a low concentration of standard gas too.例文帳に追加
製造が容易で安価であるとともに、個々の全てのものについて較正を行う必要がなく、しかも、液体試料の出し入れが容易で低濃度の標準ガスを発生させることも可能である液体試料容器を提供する。 - 特許庁
A signal processing circuit 101 has two sample-and-hold circuits 5a, 5b connected to the output end of an amplifier 2, and the outputs of the amplifier are sampled by the sample-and-hold circuits 5a, 5b at different voltages by means of sampling signals that are out of phase in terms of time.例文帳に追加
増幅器2の出力端に2個のサンプリングホールド回路5a,5bを接続し、このサンプルホールド回路5a,5bにより、増幅器の出力を、時間的に位相がずれたサンプリング信号により互いに異なる電圧でサンプリングする。 - 特許庁
To provide a method for controlling an electron beam in an electron beam device capable of conducting operations such as autofocusing of a structure of the sample to be observed in high accuracy all the time regardless of the structure of the sample indicated on an observation display.例文帳に追加
観察画面上の試料の構造に関わりなく、常に観察したい試料の構造部分のオートフォーカス等の動作を高い精度で行うことができる電子ビーム装置における電子ビーム制御方法を実現する。 - 特許庁
Moreover, the method includes a step of obtaining a plurality of electron microscopic images associated respectively with the plurality of sample regions, a step of processing the information associated with the plurality of electron microscopic images, and a step of determining a plurality of first grayscale values of the plurality of sample regions.例文帳に追加
さらに、この方法に、それぞれ複数のサンプル領域に関連する複数の電子顕微鏡画像を得ることと、複数の電子顕微鏡画像に関連する情報を処理することと、複数のサンプル領域の第1の複数のグレイスケール値を判定することが含まれる。 - 特許庁
A method of measuring an object in a sample using oxidase includes the steps of: obtaining measured values by reacting objects in a sample to be measured with oxidase in two or more types of difference conditions; and correcting effects of oxygen dissolved in the sample on the basis of the obtained two or more measured values and a correction method preset to correct the effects of oxygen dissolved in the sample.例文帳に追加
試料中の測定対象物をオキシダーゼを用いて測定する方法であって、2種類以上の異なる条件で試料中の測定対象物をオキシダーゼと反応させることにより測定値を得ること、及び、2以上の測定値の結果と、試料中の溶存酸素の影響を補正するためにあらかじめ設定された補正方法とに基づき補正をすることを含む測定方法に関する。 - 特許庁
This method for selectively and accurately quantitatively analyzing the water-insoluble cellulose in the sample by dissolving the water-insoluble cellulose in the sample in a cellulase solution is characterized in that the amount of the used cellulase per g of the sample is in a filter paper-disintegrating force range of 10,000 to 40,000 units.例文帳に追加
試料中の非水溶性セルロースをセルラーゼ溶液中で可溶化して非水溶性セルロース含有量を求める分析法であって、試料1gに対するセルラーゼの使用量が、ろ紙崩壊力10000ユニットから40000ユニットの範囲である非水溶性セルロースの定量分析法。 - 特許庁
To provide a procedure capable of setting and processing an original sample surface direction to be accurately vertically to the FIB irradiation direction without deviation of even several degrees, when applying additional processing of a picked-up sample to a sample which is fixed on a block stand.例文帳に追加
本発明の課題は、ピックアップした試料をブロック状の台に固定した形態の試料に追加工を施す場合、元々の試料表面方向を数度の狂いもなく、FIB照射方向に対して正確に垂直となるようにセットして加工できる手法を提示することにある。 - 特許庁
An electron beam E generated and accelerated by an electron gun 1 connected to a high voltage power source is focused by a focusing lens 3 formed of condenser lenses, tilted by two stages of deflection coils of a deflection part 4, and applied to a sample 5a on a sample setting table in a sample room 5.例文帳に追加
高電圧電源に接続した電子銃1から発生し加速された電子線Eは、コンデンサレンズからなる収束レンズ3で収束されてから、偏向部4の2段の偏向コイルにより傾斜されて試料室5内の試料載置台上の試料5に照射される。 - 特許庁
The region for holding a different sample container is inserted in the magnetic shield successively by the rotation of the holder 3 and the magnetization of the labelled specimen in the first sample container and the detection of the magnetic field generated from the labelled specimen housed in the second sample container are performed parallelly.例文帳に追加
ホルダー2の回転により、異なる試料容器を保持する領域が順次磁気シールドの内部に挿入され、第1の試料容器に収納される標識化検体の磁化と、第2の試料容器に収納される標識化検体から発生する磁場の検出とが、並行して実行される。 - 特許庁
To uniformly and electrically neutralize the surface of a sample which is charged nonuniformly and positively by the effects of photoelectrons, when the sample made of an insulator or a sample, in which insulators and conductors are arranged in a matrix is irradiated with X-rays in X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加
X線光電子分光分析において、絶縁体からなる試料、または絶縁体と導電体がマトリックスに配列した試料にX線を照射した際に光電子効果により表面が不均一にプラス帯電した試料の該表面を均一に電気的に中和する。 - 特許庁
A weight weighed value W_a of a sample S in air, and a weight weighed value W_1 of the sample S in a liquid by elevating a water vessel 2 storing the liquid having a known specific gravity value ρ_W are weighed to calculate a specific gravity value ρ of the sample pursuant to a computation expression ρ=ρ_WW_a/(W_a-W_1).例文帳に追加
空気中の試料Sの重量計量値W_aと既知比重値ρ_wの液体を収容した水槽2を上昇させその液中での試料Sの重量計量値W_1を計量し、演算式ρ=ρ_wW_a/(W_a−W_1)より試料Sの比重値ρを算出する。 - 特許庁
An automatic grip chuck device 4 with a ruptured sample removal function of this invention comprises upper, lower automatic grip chuck parts 4A, 4B for gripping automatically and respectively both end sides of the test sample 12 performed tensile test and for performing the tensile test of the test sample 12.例文帳に追加
本発明の破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置4は、引張り試験を行う試験サンプル12の両端側をそれぞれ自動的に把持するとともに、該試験サンプル12の引張り試験を行うための上部,下部自動把持チャック部4A,4Bを備えている。 - 特許庁
To accurately perform luminous stimulus and photobleach in the corresponding area of a sample by specifying an optional three-dimensional area in a stereoscopic sample image, and to accurately perform the analysis of the behavior of the sample having a stereostructure after the luminous stimulus is performed.例文帳に追加
標本の三次元像中の任意の三次元領域を指定することにより、光刺激やフォトブリーチを、標本中の対応する領域に正確に行うことができ、立体構造を有する標本の光刺激後の挙動解析を正確に行うことができるようにする。 - 特許庁
Alternatively, the impermeable liquid is dripped on the membrane to which the sample is held to allow the liquid droplet of the liquid to be present on the surface of the membrane and the liquid is dried while extracting the sample into the liquid to form the crystal of the sample to perform the laser desorption ionization mass spectrometry.例文帳に追加
サンプルが保持されたメンブレンの上に非浸透性の液体を滴下し、メンブレン表面上に前記液体の液滴を存在させ、サンプルを液体中に抽出しながら液体を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。 - 特許庁
When sample point data corresponding to an end point of one stroke are acquired, thinning processing for all sample point data composing the one stroke is executed and prescribed processing is reexecuted on the basis of a stroke comprised of thinned sample point data.例文帳に追加
また、1つのストロークの終了点に対応するサンプル点データが取得されると、その1つのストロークを構成する全てのサンプル点データに対して間引き処理が実行され、間引き処理後のサンプル点データにより構成されるストロークに基づいて所定の処理が再実行される。 - 特許庁
To realize uniform mass resolution regardless of the mass of a sample ion scattered from a sample irradiated with measuring beams, and to achieve high mass resolution by securing long flight distance regardless of a compact device and allowing the sample ion to fly for a long time.例文帳に追加
測定用ビームば照射された試料から散乱した試料イオンの質量にかかわらず均一な質量分解能を実現し,且つ,コンパクトな装置でありながら長い飛行距離を確保して長時間試料イオンを飛行させることにより高い質量分解能を実現すること。 - 特許庁
When the sample data of the buffer are outputted to the outside, the sample data before one sampling period and those of the current sampling period are read and outputted when the node, where the sample data of the channel are put on the packet, exists upstream and downstream, respectively.例文帳に追加
バッファのサンプルデータを外部に出力するときには、そのchのサンプルデータをパケットに乗せたノードが、自ノードより上流にある場合は1サンプリング周期前のサンプルデータを読み出して出力し、自ノードより下流にある場合は現サンプリング周期のサンプルデータを読み出して出力する。 - 特許庁
To obtain a safe cassette for a pathologic tissue sample capable of efficiently preventing a label from peeling from the body of the cassette for the pathologic tissue sample to fall even if the cassette for the pathologic tissue sample is immersed in an organic solvent during specimen preparing work and capable of preventing a medical accident.例文帳に追加
本発明は標本作製作業で有機溶剤に病理組織試料用カセットが浸かっても、病理組織試料用カセット本体よりラベルが剥がれ落ちるのを効率よく阻止でき、安全で、医療事故を防止することができる病理組織試料用カセットを得るにある。 - 特許庁
The sample chuck 2 supporting the semiconductor sample 13 is provided with an upper side layer 6 formed of a semiconductor material and having a holding face 18 holding the sample, and a lower side layer 4 formed of a conductive material and laminated on the contrary side to the holding face of the upper side layer.例文帳に追加
半導体サンプル13を支持するサンプルチャック2は、半導体材料から形成されかつ前記サンプルを保持する保持面18を有する上側層6と、導電材料から形成されかつ前記上側層の前記保持面とは反対側に積層された下側層4とを備えている。 - 特許庁
At the time of stirring the liquid sample, a predetermined suction quantity of the liquid sample is sucked by the nozzle tip 2 at the level height position of the liquid sample in a container 100, after which the nozzle tip 2 is lowered to a given height determined by the relation with the predetermined suction quantity to start suction or discharge.例文帳に追加
液体試料の攪拌に際して、まず容器100内の液体試料の液面高さ位置でノズルチップ2により所定吸引量だけ液体試料を吸引し、その後、所定吸引量との関係で決まる所定高さだけノズルチップ2を下降させて吸引又は吐出を開始する。 - 特許庁
The lowest lowered position of the needle is calculated, with respect to the sample bottle at another position, based on the three set lowest lowered positions (three-dimensional coordinate positions) and the arrangement coordinates of the sample bottles on the sample bottle tray 4, and an operation of the needle is controlled, according to the calculated lowest lowered position.例文帳に追加
設定された三点の最下降位置(3次元座標位置)と、試料びんトレイ4の試料びん配置座標とから、他の位置における試料びんに対するニードルの最下降位置が算出され、算出された最下降位置に従って、ニードルの動作が制御される。 - 特許庁
The sample stocker 2 comprises a guide part 22 supporting the sample S, an opening part 22a formed on one side face of the guide part 22 in a state of being vertically continued to the guide part 22, and having a width larger than a width of the sample S, and an opening and closing member 24 for opening and closing the opening part 22a.例文帳に追加
試料ストッカ2は、試料Sを支持するガイド部22と、ガイド部22の一側面にガイド部22の上下方向に連続して形成され、試料Sの幅よりも大きな幅を有する開口部22aと、開口部22aを開閉自在とする開閉部材24と、を備える。 - 特許庁
The sample design presenting device and sample design presenting method and program point at an undesirable place and show its commentary and sample when there is unsuitable representation on the accessibility of a web page and when there is an undesirable HTML in the viewpoint of the accessibility of the web page.例文帳に追加
ウェブページのアクセシビリティ上、不適切な表現がある場合、ウェブページのアクセシビリティの観点で、好ましくないHTMLが存在する場合、その好ましくない箇所を指摘し、その解説と見本とを示す見本デザイン提示装置、見本デザインの提示方法及びプログラムである。 - 特許庁
A server 108 determines a voice sample data most similar to the voice for assigning the reading voice received from the cellular phone 100, out of the plurality of kinds of voice sample data 111, 112 stored in a memory 110, and transmits the determined voice sample data to the cellular phone 100.例文帳に追加
サーバ108は、メモリ110に記憶した複数種類の音声サンプルデータ111、112の中から、携帯電話100から受信した読み上げ用音声を指定する音声に最も類似する音声サンプルデータを決定して、前記決定した音声サンプルデータを携帯電話100に送信する。 - 特許庁
The solid shape evaluation apparatus evaluates the sample by creating data indicating the solid shape of the sample from a plurality of cross-sectional images acquired by an X-ray CT scanner device and comparing the data with data indicating the solid shape of the sample created by CAD etc.例文帳に追加
立体形状評価装置はX線CTスキャナ装置で取得した複数の断面画像から試料の立体形状を示すデータを作成し、このデータとCAD等で作成した試料の立体形状を示すデータとを比較することにより試料の評価を行う。 - 特許庁
When the probe 15 is lowered to the blood collection tube 3 and the sample cup 4, the lower dead point Ld of the probe in the blood collection tube and the lower dead point Lu of the probe in the sample cup are set respectively, and the lowering positions of the probe 15 to the blood collection tube 3 and the sample cup 4 are restricted.例文帳に追加
採血管3とサンプルカップ4とに対してプローブ14を下降するときの採血管プローブ下死点Ldとサンプルカップ内プローブ下死点Luとをそれぞれ設定し、これら採血管3とサンプルカップ4とに対するプローブ14の下降位置を制限する。 - 特許庁
When the sample 5 is filled in between the upper and lower fixing dies 2 and 3, a ring-shaped auxiliary plate 8 which is larger than the outer diameters of the outside circumferential parts of the fixing dies and smaller than the inner diameters of their inside circumferential parts is held by the sample 5 between the upper and lower fixing dies 2 and 3 together with the sample 5.例文帳に追加
上下固定ダイ2、3間に試料5を充填する際、試料5とともに固定ダイの外側円周部の外径よりも大きくその内側円周部の内径よりも小さいリング状の補助板8を上下固定ダイ2、3間にて試料5に保持させる。 - 特許庁
Preferably, the conductive surface is the conductive layer formed on the surface of the sample using a converged ion beam or an electron beam by a converged ion beam device and the conductive layer is vapor-deposited on the region reaching the conductive sample fixing implement from the vicinity of measuring region on the surface of the sample.例文帳に追加
好ましくは、導電性物質は、集束イオンビーム装置により集束イオンビームまたは電子ビームを用いて試料表面に形成された導電層であり、導電層は、試料表面において測定領域近傍から導電性試料固定具に至る領域に蒸着される。 - 特許庁
A long plate-like sample 1 is arrangement-fixed x-directionally, a pair of excitation yokes 2 is arrangement-fixed to be opposed y-directionally each other in both sides of the sample 1, and excitation coils 3 are wound in both ends of the sample 1 and the respective excitation yokes 2.例文帳に追加
長板形状とされた試料1がx方向に配置固定されるとともに、その試料1の両側にy方向に互いに対極する一対の励磁用継鉄2が配置固定され、試料1の両端及び各励磁用継鉄2には励磁コイル3が巻き付けられる。 - 特許庁
This standard sample of the inclusion or the like in the metal sample for spark discharge emission analysis is prepared by distributing a sample of a prescribed non-metal inclusion and/or a deposit (hereafter referred to as 'inclusion or the like' simply in a lump) on the surface of a metal base material, and covering thereon with metal foils.例文帳に追加
金属基材の表面に所定の非金属介在物及び/又は析出物(以下、まとめて単に「介在物等」という。)のサンプルを分布させ、その上に金属箔を覆ってなるスパーク放電発光分析用金属試料中介在物等標準試料。 - 特許庁
A difference sample data register 120 of a gamma correction device 100 holds as difference sample data a difference between a corrected signal level and a yet-to-be-corrected signal level for each of multiple sample points set at equal intervals between the permissible minimum and maximum levels of an input video signal.例文帳に追加
ガンマ補正装置100の差分サンプルデータレジスタ120は、入力映像信号のとりうる最低レベルと最高レベル間に等間隔に設定された複数のサンプル点の差分サンプルデータとして、補正後の信号レベルと補正前の信号レベルとの差分を保持している。 - 特許庁
An embedding means 12 embeds auxiliary information in a part of bits when a signal obtained by coding data based on a sample in which a part of bits is set to zero by each sample by ADPCM and a signal obtained by coding data based on a sample in which a part of bits is set to 1 become the same signal.例文帳に追加
埋込手段12が、各サンプルごとに、一部のビットを0にしたサンプルに基づくデータをADPCMにより符号化した信号と、一部のビットを1にしたサンプルに基づくデータをADPCMにより符号化した信号とが同じ信号になるとき、一部のビットに補助情報を埋め込む。 - 特許庁
To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
This optical system characteristics discrimination method includes a first step for detecting the reflected light of the sample to form the histogram related to the intensity distribution of the reflected light in the sample, and a second step for analyzing the histogram formed in the first step that discriminates the characteristics of the sample.例文帳に追加
試料の反射光を検出して該試料における反射光の強さの分布に関するヒストグラムを作成する第1ステップと、 前記第1ステップで作成した前記ヒストグラムを解析して前記試料の特性を判別する第2ステップと、 を備える光学方式特性判別方法である。 - 特許庁
To provide a chamber by which also an emitted gas from a sample as a whole is measured without being restricted by a size or a shape of the sample and which is manufactured simply so as to be matched to the size or the shape of the sample and to provide a measuring method of the emitted gas by using the chamber.例文帳に追加
試料の大きさや形状に拘束されることなしに、試料全体からの放散ガスをも測定することができ、また、試料の大きさや形状に合わせ、簡便に作製できるチャンバーおよびそのチャンバーを用いた放散ガスの測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a biological sample-culturing and observing system which can selectively set various culture environments without giving loads such as outer light, stains, and the troubles of the kinds of culture solutions and samples to a biological sample such as viable cells, and can culture and observe the biological sample in set conditions with the passage of time.例文帳に追加
生細胞等の生体試料にとって、外光、汚染、並びに培養液や試薬の種類の不具合等の負担をかけることなく、種々の培養環境を選択的に設定でき、しかも、設定した条件で培養している生体試料を経時的に観察する。 - 特許庁
Introduction of the sample into the capillary is performed, by forming a plug region which holds a liquid different from the migration liquid to one end of the capillary and applying the electric field to the capillary, in a state where the end surface of the plug region is brought into contact with a sample solution containing the sample.例文帳に追加
前記キャピラリー内への試料導入は、前記キャピラリーの一端に泳動液とは異なる液体を保持したプラグ領域を形成し、該プラグ領域端面を、前記試料を含む試料溶液と接触させた状態で該キャピラリーに電界を印加することにより行う。 - 特許庁
To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.例文帳に追加
観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、TEMやFIBによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a wafer holder capable of simultaneously transporting a wafer and a cross-sectional sample made from the wafer, and reduced in size and weight; and to provide a sample preparation device capable of simultaneously transporting a wafer and a cross-sectional sample by the wafer holder, and reduced in the size of the whole device.例文帳に追加
ウエハ及びウエハから作製された断面試料を同時に搬送することが可能であるとともに、小型化、軽量化が図られたウエハホルダ及びこのウエハホルダによってウエハ及び断面試料を同時に搬送可能で、装置全体の小型化が図られた試料作製装置を提供する。 - 特許庁
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