「DEFECTIVE」に関連した英語例文の一覧と使い方(136ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a display method in a semiconductor manufacturing apparatus, with which not only processing/non-processing of each wafer but also whether the processing is normally finished is displayed to clearly distinguish between a normal wafer and a defective wafer, so that the normal wafer and the defective wafer can be prevented from being mixed and the presence/absence of a wafer cassette is displayed to enable an operator to surely mount the wafer cassette, and the semiconductor manufacturing apparatus.例文帳に追加

各ウエハの処理／未処理だけでなく、処理が正常に終了したかどうかを表示して、正常ウエハと不良ウエハの区別を明確にし、正常ウエハと不良ウエハの混同を防ぐことができ、また、ウエハカセットの有無を表示してオペレータがウエハカセットを確実に搭載することができる半導体製造装置における表示方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

The defective part is irradiated with the laser beam by controlling the irradiation position of the laser beam to be variable on the surface in a direction along a Y axis perpendicular to the optical axis and in a direction along an X axis perpendicular to the optical axis and to the Y axis, and to be variable in a plurality of times along the optical axis from the surface of the defective part to the surface of the film substrate 26.例文帳に追加

このとき、レーザ光の照射位置を、表面において光軸と直交するＹ軸が延びる方向と当該光軸およびＹ軸のそれぞれと直交するＸ軸が延びる方向とに可変としながら、且つ当該照射位置を光軸に沿って欠陥部の表面からフィルム基板２６の面に至るまで複数回に分けて可変としながら、レーザ光を照射する。 - 特許庁

In the allocation circuit 1c, a write circuit part 10 is formed for each bit line to output parity bits D9-D12 in write data WD to a bit line in which a defective memory cell is not formed but a normal memory cell is formed, based on bit line selection information SL which shows whether it is a bit line in which the defective memory cell is formed in the memory cell on the bit line.例文帳に追加

割付回路１ｃには、各ビット線について、ビット線上のメモリセルに不良メモリセルが形成されたビット線か否かを示すビット線選択情報ＳＬに基づいて、ライトデータＷＤ中のパリティビットＤ９〜Ｄ１２を、不良メモリセルが形成されていない正常なメモリセルが形成されているビット線に出力する書込回路部１０を設けた。 - 特許庁

To provide a searching method used for various purposes capable of carrying out automatically defect search in a short time with simple constitution without using detail circuit information, in the case of carrying out the defect search for specifying a function-defective or production-defective portion of a mounting board mounted with an IC and an electronic component.例文帳に追加

ＩＣ及び電子部品が実装された実装基板の機能不良あるいは製造不良の箇所を特定する不良探索を行う場合において、詳細な回路情報無しに簡易な装置構成で自動的に短時間で不良探索を行うことができる汎用的な探索手法を実現した実装基板不良探索方法及び実装基板不良探索装置を提供する。 - 特許庁

A redundant circuit is previously connected to another circuit via a fuse 3 formed of Al wiring, and when a normal circuit becomes partially defective, a defective circuit is replaced by a redundant circuit isolated by cutting off the fuse 3, to ensure a semiconductor integrated circuit device of normal operations, where the cut edge face of the cut fuse 3 is formed of an inactive compound 21.例文帳に追加

冗長回路をＡｌ配線からなるヒューズ３を介して別回路に予め接続しておき、正規回路が部分的に不良回路となった場合には、ヒューズ３を切断して分離した冗長回路を不良回路に代替して正常動作を確保する半導体集積回路装置において、切断したヒューズ３の切断端面を、不活性な化合物２１で構成する。 - 特許庁

The systems established by the management for managing elements of customer protection, such as the Customer Explanation Management System, the Customer Support Management System, the Customer Information Management System and the Outsourcing Management System, are defective or seriously defective. For example, the systems are insufficient. The deficiency of the system may lead to the defection of customers and threaten the ability of the financial institution to continue operating as such, or have already led to such a situation. 例文帳に追加

法令等遵守態勢について、経営陣自らが関与する重大な法令等違反が認められるなど、その遵守態勢に欠陥がある、または、重大な欠陥が認められる。その結果、金融機関としての存続が脅かされるような法令等違反の発生が懸念される、または、そのような法令等違反が発生している状況にある。 - 金融庁

Furthermore, when a defective block requiring a new replacement block is found while recording or playback data when spare area is full, instead of carrying out linear replacement, the LRC bit is set in the SDL entry along with the location information of the defective block so as to indicate that the corresponding SDL entry is made when the spare area is full.例文帳に追加

さらに、スペア領域がいっぱいである状態でデータの記録または再生を実行している間に、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、リニア交替を実行するのではなく、スペア領域に空きがなくなったときに対応するＳＤＬエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にＬＲＣビットをＳＤＬエントリに設定する。 - 特許庁

A detection part 51 compares an index value calculated by using a pixel value of a prescribed pixel and a pixel value of an ambient pixel of the prescribed pixel with a changed defect detection level in a photographed image acquired by using an image pickup element such as a CCD to thereby determine whether the prescribed pixel is a defective pixel, detecting the defective pixel in the picked-up image.例文帳に追加

そして、検出部５１は、ＣＣＤなどの撮像素子を用いて取得される撮影画像において、所定の画素の画素値と当該所定の画素の周辺画素の画素値とを用いて算出される指標値を、変更された欠陥検出レベルと比較することによって、当該所定の画素が欠陥画素であるか否かを判定し、撮像画像における欠陥画素を検出する。 - 特許庁

To provide a reliability analysis method supporting, during reliability analysis for a multipurpose design, the optimization of the multipurpose design by use of a plurality of design margins (reliability indexes) and each correlation degree between defective mode as indexes or the clarification of the causal relation/correlation hidden between the plurality of design margins or each correlation degree between defective modes and each design variable.例文帳に追加

多目的設計における信頼性解析の中で、複数の設計マージン（信頼性指標）や各不良モード間の相関度合を指標として多目的設計最適化を行うことや、複数の設計マージンや各不良モード間の相関度合と各設計変数との間に潜む因果・相関関係を明らかにすることを支援する信頼性解析方法を提供する。 - 特許庁

When the defective inspection is performed to the mask substrate which becomes the origin of the mask of exposure, an exposure region 13 is extracted after the mask pattern is formed from pattern data concerning the form of a mask pattern to be formed on the mask substrate, and the defective inspection must be performed only to a part before screening substrate corresponding to an exposure region 13.例文帳に追加

露光用マスクの元となるマスク基材に対して欠陥検査を行う場合にあたり、前記マスク基材に形成すべきマスクパターンの形状に関するパターンデータから当該マスクパターンが形成された後における露光領域１３を抽出し、前記露光領域１３に対応する前記マスク基材の部分についてのみ前記欠陥検査を行うようにする。 - 特許庁

A batch discriminating signal line LSENL performing badge discrimination of pass/fail by verifying read-out operation after write-in is provided at an end part of a common signal line COMi, and a fuse F for non-detecting a defective column for eliminating a defective column from batch discrimination operation is arranged between this batch discriminating signal line LSENL and each column common signal line COMi.例文帳に追加

共通信号線ＣＯＭｉの端部には、書き込み後のベリファイ読み出し動作でパス／フェイルの一括判定を行う一括判定信号線ＬＳＥＮＬが設けられ、この一括判定信号線ＬＳＥＮＬと各カラムの共通信号線ＣＯＭｉの間には、不良カラムを一括判定動作から除外するための不良カラム非検出用のフューズＦが配置される。 - 特許庁

When fine substances 8, 10 consisting of a material having refractive index contrast against a material constituting the slab type photonic crystal are arranged on positions other than a slab layer in a defect (3) area, a light confinement effect to the defective waveguide is increased by controlling the the refractive index of the defect (3) part, so that the propagation loss of the defective waveguide can be reduced.例文帳に追加

欠陥３領域内でスラブ層以外の位置にスラブ型フォトニック結晶を構成する材料に対して屈折率コントラストを有する材料からなる微小物体８，１０を設けることにより、欠陥３部分の屈折率を制御して欠陥導波路への光閉じ込め効果を増加させることで欠陥導波路の伝播損失を低減させることができるようにした。 - 特許庁

To provide a decorative material repairing method which enables the repair of the defective spot of the decorative material with a pattern applied to the surface of a substrate based on pattern data stored in advance by ink-jet coating by producing no feeling of difference from a part other than the defective spot, the decorative material which is repaired by the method and produced, and a decorative material repairing apparatus.例文帳に追加

予め記憶された模様データに基づいて基材の表面に模様が施された化粧材の不良箇所を、その不良箇所以外の部分との違和感を生じさせることなくインクジェット塗装により補修できる化粧材補修方法と、該化粧材補修方法により補修がなされて製造された化粧材、更に化粧材補修装置を提供する。 - 特許庁

Further, when a defective block which needs a new alternative block is found while data is recorded or reproduced in the filled-up state of a spare area, an LRC bit is set in the SDL entry together with the position information of the defective block so as to indicate the creation of a corresponding SDL entry when there is no room in the spare area.例文帳に追加

さらに、スペア領域がいっぱいである状態でデータの記録または再生を実行している間に、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、スペア領域に空きがなくなったときに対応するＳＤＬエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にＬＲＣビットがＳＤＬエントリに設定される。 - 特許庁

Non-flat etching defective peripheral portions of a wafer due to deviation of inner and outer peripheral portions of the wafer in etching and the etching quantity difference, caused by the etching solution feed rate difference or non-flat polishing defective peripheral portions of the wafer, due to its biting into the polishing cloth in mirror-surface working are ground off mechanically, to leave only the inner portion of the wafer superior in flatness.例文帳に追加

エッチング加工時のウエハ内外周の偏り及びエッチング液供給の相違に伴って生じるエッチング量の差が原因のウエハ外周の非平坦な「エッチングダレ」部分、或いは鏡面加工時の研磨クロスへの食い込みに伴って生じるウエハ外周の非平坦な「研磨周辺ダレ」部分を機械的に研削除去することにより平坦度に優れたウエハの内部のみが残る。 - 特許庁

This contiguous data area is set across one of another file recording area already recorded on the information storage medium or a defective area on the information storage medium to set an extent as an information-recording place to an area divided by another file recording area or the defective area on the information storage medium.例文帳に追加

このコンティギュアスデータエリアは、情報記憶媒体上に既に記録されている別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域のいずれか一方をまたがって設定し、別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域により分割される領域に対して情報記録場所としてのエクステント（ｅｘｔｅｎｔ）を設定している。 - 特許庁

To improve performance in reading and writing in a defective sector by reducing the number of times of seek in alternation processing, since the number of seek times is increased and it takes much time to record and reproduce data in alternation processing when physical arrangement of alternation sectors in an alternation range are not recorded in the address order of defective sectors in a logical user region.例文帳に追加

本発明は、交替領域での交替セクタの物理的な並びが論理的なユーザ領域の欠陥セクタのアドレス順に記録されていない場合、交替処理において、シーク回数が多くなり情報の記録、再生時に時間がかかるため、交替処理におけるシーク回数を低減し、欠陥セクタでの読み出し、書き込みでの性能向上することを目的とする。 - 特許庁

By adding linear replacement control (LRVC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL entry according to a skipping algorithm, the optical recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加

リニア交替アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御（ＬＲＣ）ビットを２次欠陥リスト（ＳＤＬ）エントリに追加し、これによって光記録媒体記録／再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにするものである。 - 特許庁

Then the arithmetic processing unit compares mask pattern inspection data to the mask pattern image data so as to specify a defective portion of the mask pattern, generates positional information of the defective portion, and identifies a tendency of occurrence of the defect on the photomask, based on the positional information and the density information for the respective plurality of small regions.例文帳に追加

そして、前記演算処理部（２５）は、前記マスク検査用データ（１３）と前記マスクパターン画像データとを比較して前記マスクパターンの欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）とし、前記欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）の位置情報を生成し、前記位置情報と前記複数の小領域ごとの密度情報（［Ａ］〜［Ｃ］）とに基づいて、前記フォトマスクに発生する欠陥の発生傾向を特定する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection apparatus and a method for automatically detecting defects with little errors at low cost and classifying the defects, and in particular, to provide a substrate inspection apparatus and an automated inspection method for automated inspection to search and find defective particles and unintended defective figures by a designer on a substrate such as a mask reticle and for automated classification of these defects.例文帳に追加

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor device is provided with a first memory circuit including a memory cell and a redundant memory cell, a second memory circuit for storing the address of a defective memory cell included in the first memory circuit, a holding circuit including a latch circuit, a replacement circuit for replacing the defective memory cell by a redundant memory cell, and an inspection circuit for writing the information of the second memory circuit in the holding circuit.例文帳に追加

本発明は、メモリセルと冗長メモリセルを含む第１の記憶回路と、第１の記憶回路が含む不良メモリセルのアドレスを記憶する第２の記憶回路と、ラッチ回路を含む保持回路と、不良メモリセルを冗長メモリセルに置き換える置き換え回路と、第２の記憶回路の情報を保持回路に書き込む検査回路とを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

This method fetches an image about a check object having a regularly linear pattern by an image pickup device, applies differential processing to the fetched gradation image to detect a defective candidate, cuts out the original image of the defective candidate part, performs labeling processing of the cut out image, performs redecision according to the characteristic of the pattern and classifies and detects the defect and the type of the defect with high accuracy.例文帳に追加

規則的な直線状パターンを持つ検査対象についてその画像を撮像素子にて取り込み、取り込んだ濃淡画像に対して差分処理を行って欠陥候補を検出し、欠陥候補部分の原画像を切り出し、切り出した画像のラベリング処理を行い、そのパターンの特徴によって再判定を行い、欠陥を精度良くかつ欠陥の種類を分別して検出する。 - 特許庁

At least one defective region and the substitute region are included in the first region, and address numbers are applied to at least one defective region and the substitute region.例文帳に追加

ユーザーが記録可能な第１の領域と情報記憶媒体上の欠陥領域に対する代替え領域とを設け、上記第１の領域内のアドレスを指定する第１のアドレス番号が付与されると共に少なくとも一箇所の欠陥領域および代替え領域が上記第１の領域内に含まれ、かつ少なくとも前記一箇所の欠陥領域および代替え領域にも上記アドレス番号が付与される。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detecting method and its device capable of stably detecting solely harmful defects by establishing an optimal frequency range and filtering defective signals caused by a harmful defect and noise signals caused by a defective shape which does not pose a problem for processing as for a differential signal output from an eddy current flaw detection sensor.例文帳に追加

渦流探傷センサから出力される差動信号について、有害な欠陥の存在に起因する欠陥信号と、処理上問題とならない形状不良に起因するノイズ信号とを最適な周波数帯域を設けてフィルタリングすることで、有害な欠陥のみを安定して検出することが可能な渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a semiconductor substrate which detects an extremely precise defective occurrence position in microns through a combination of optical inspection and electrical inspection on a semiconductor substrate, and has a defective correcting mechanism capable of carrying out effective correction with a minimum area to be separated in combination with a correcting mechanism.例文帳に追加

半導体基板に対して光学的な検査と電気的な検査を組み合わせ、μ単位の非常に精密な故障発生位置を検出する半導体基板の検査装置を提供すると共に、修正機構と組み合わせることによって、切り離す面積を最小にして効率の良い修正を実施することができる欠陥修正機構を具備した検査装置を提供する。 - 特許庁

The restoration device 100 for restoring the color filter 200 constituted by arraying colored layers 20 on a transparent substrate 12 in a predetermined pattern is provided with: a detection part 8 of detecting the defective part 20a of the colored layer 20; and a discharge part of discharging black material for the detected defective part 20a by using an inkjet head 1.例文帳に追加

透明基板１２上に着色層２０を予め定められたパターンにて配列することによって構成されるカラーフィルタ２００を修復する装置１００であって、前記着色層２０の欠陥部分２０ａを検出する検出部８と、検出された前記欠陥部分２０ａに対してインクジェットヘッド１を用いて黒色材料を吐出する吐出部とを備える。 - 特許庁

The bone replacement material 1 is provided with a flat columnar base part 2, a flange part 3 and a piercing needle insertion hole 4 to which the piercing needle is to be inserted, and is mounted on a perforation (bone defective part) formed on the cranial bone.例文帳に追加

骨補填材１は、扁平柱状の基部２と、フランジ部３と、穿刺針が挿通される穿刺針挿通用孔４とを有し、頭蓋骨に形成された穿孔（骨欠損部）に装着される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device with high packaging strength capable of suppressing defective connection because of cracks generated at the solder bonded interface when drop impact is applied, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

落下衝撃時に半田接合界面において発生するクラックによる接続不良を抑制し、実装強度が高い半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical multiplexing/demultiplexing element in which film formation is easily performed, manufacture yield is drastically improved and the stripping of contact surface and defective adhesion due to a film stress does not occur.例文帳に追加

成膜を容易に行うこと、また製造時の歩留まりを大幅に向上させること、さらに、膜応力による接合面の剥離や接着不良が発生することがない光合分波素子を提供する。 - 特許庁

The defective ejection of the ink cuased by the generation of the fault of the piezoelectric element 14 and the generation of the bubbles in the pressure chamber 3 is detected by measuring change in the resonant frequency when the piezoelectric element 14 is driven.例文帳に追加

圧電体素子１４駆動時の共振周波数の変化を測定することにより圧電体素子１４の不良発生および圧力室３の気泡発生によるインク不吐出を検知する。 - 特許庁

To provide an IEEE1394 interface device capable of visually realizing the connecting state of an IEEE1394 interface reference device, and quickly confirming the defective state of the device.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インタフェース準拠装置の接続状態を視覚的に可能とするとともに、当該装置の故障状態を迅速に確認可能なＩＥＥＥ１３９４インタフェース装置を提供する。 - 特許庁

In the case that the output of a part of the sensors is not present, it is judged that the electric continuity of the sensor and the electrode is defective, a switch means is switched (S4), the drive pulses are generated and the sensor is vibrated (S5).例文帳に追加

一部のセンサの出力なしの場合、そのセンサの電極との電気的導通が不良と判定し、スイッチ手段を切り換え（Ｓ４）、駆動パルスを発生し、そのセンサを振動させる（Ｓ５）。 - 特許庁

This test circuit detects a bit in which a shift is caused in a write-in property in a memory cell array 1 as a defective bit using a method by which one axis write-in current of a difficult axis direction is applied.例文帳に追加

このテスト回路は、メモリセルアレイ１中の書き込み特性にシフトがあるビットを、困難軸方向の一軸書き込み電流を印加する手法を用いて不良ビットとして検出する。 - 特許庁

The inputted image of a pattern to be inspected is compared with the image of a non-defective pattern to detect the incompatible area, and the horizontal scanning directional and vertical scanning directional continuity of the pattern is also detected.例文帳に追加

入力された検査対象パターンの画像を良品パターンの画像と比較して不一致領域を検出すると共に、水平走査方向及び垂直走査方向のパターンの連続性を検出する。 - 特許庁

To provide an optical waveguide, of which the deterioration in optical characteristics is decreased, by reducing internal stresses arising in a core and preventing defective embedding due to the formation of an overhang, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

コアに発生する内部応力を低減すると共にオーバーハングの形成による埋め込み不良を防止して、光学特性の劣化を低減できる光導波路及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Since each withstand voltage V2 between the electrodes can be measured before actual devices are formed of the wafer 10, a defective wafer 10 can be removed before being passed to an actual device manufacturing process.例文帳に追加

また、ウエハ１０から実デバイスを作製する前に電極間耐圧Ｖ２を測定することができるため、不適格なウエハ１０を実デバイス作製工程に回す前に除外することができる。 - 特許庁

To reduce the probability of defective paper feeding by allowing a re-try of paper feeding in each paper feed mechanism if a recording paper reaches a transfer part before a developer image reaches there.例文帳に追加

転写部に現像剤像が到着するタイミングまでに記録紙も到着するのであれば各給紙機構における給紙の再試行を許容することで、給紙不良の確率を従来よりも低減する。 - 特許庁

To obtain a production line analyzing system capable of reducing analyzing labor and time, preventing defective inputs of analysis information made by human error, and improving analyzing accuracy.例文帳に追加

分析作業労力及び分析作業時間を減少させ、人為的な分析情報の誤入力を防止し、分析精度を向上させることができる生産ライン分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal processing method capable of reducing the occurrence of an off-track servo, etc., due to the influence of a defective part of a disk, a fingerprint, etc., and an optical disk apparatus to which the signal processing method is applied.例文帳に追加

ディスクの欠陥部や指紋等の影響により、トラックサーボ外れ等が生じることを軽減可能な信号処理方法及びその信号処理方法が適用される光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

A pulse number corresponding to the amount of the pay-out of the strip corresponding to the computed mean value Cfav of the defective sheet levels is selected from a pulse table and set in a strip feeding pulse motor, so that the strip equivalent to the pulse number can be fed.例文帳に追加

算出された損券レベルの平均値Ｃｆａｖに対応した帯繰り出し量に対応するパルス数をパルステーブルから選択し帯送りパルスモータにセットし、パルス数分の帯を送る。 - 特許庁

To provide a screening method of a laminated capacitor to preventing shipping of a capacitor defective in electrostatic capacity or in dielectric loss at a voltage withstanding test or an insulation resistance measurement.例文帳に追加

耐圧試験や絶縁抵抗測定時によって生じる静電容量不良や誘電損失不良の積層コンデンサが流出しないようにすることができる、積層コンデンサの選別方法を得る。 - 特許庁

To make it possible to apply coating while repairing a defective spot without interrupting a coating step even when a nozzle is clogged and the supply of the coating material is stopped during ink-jet coating in an industrial ink-jet coating apparatus.例文帳に追加

工業用インクジェット塗装装置においてインクジェット塗装中にノズル詰まり、塗料切れ等が発生しても、塗装工程を中断せずに不良箇所を補修しながら塗装ができるようにする。 - 特許庁

On an optical disk which uses both of grooves and lands as recording tracks, a data area for recording and reproducing data and a DMA area for managing defective sectors of the data area are formed in the recording tracks.例文帳に追加

グルーブとランドの両方を記録トラックとする光ディスクにおいて、記録トラックには、データを記録再生するデータ領域と、データ領域の欠陥セクタを管理するＤＭＡ領域とが形成される。 - 特許庁

To detect defective contact or the like between an IC card connector and an IC card in a dedicated short range communication device for performing radio communication with the external on the basis of data stored in a contact touch type IC card.例文帳に追加

接点接触式のＩＣカードに記憶されたデータを基に外部と無線通信を行う狭域通信装置において、ＩＣカードコネクタとＩＣカードとの接触不良等を検出する。 - 特許庁

To prevent the occurrences of an explosion image and the defective separation of paper in accordance with a transfer process in an image forming apparatus to transfer an image on a belt-shaped image carrier to the paper by a transfer member.例文帳に追加

ベルト状像担持体上画像を転写部材により紙上に転写する画像形成装置に於て、上記転写工程に伴い発生する爆発画像及び紙の分離不良を防止する。 - 特許庁