Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To provide an image forming apparatus in which a developing means is commonly used as a means for recovering and cleaning the toner remaining after transfer and which is excellent in miniaturization and does not give rise to an image defect and image memory due to fusion of a latent image holding medium and contamination of an electrostatic charging member.例文帳に追加
現像手段が、転写残トナーを回収クリーニングする手段を兼ねている小型化にすぐれている画像形成装置において、潜像保持体の融着・帯電部材の汚染による画像不良・画像メモリの発生しない画像形成層値を提供することにある。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device having high operational reliability by forming a metal reflection layer composed of a Cr layer and an Al layer, having a shape of which the pattern dimension of the Al layer is smaller than that of the Cr layer, and preventing a display defect, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加
Cr層、Al層からなる金属反射層で、Al層のパターン寸法をCr層のパターン寸法よりが小さい形状の金属反射層を形成して、表示不良を防止し、高い動作信頼性を有する液晶表示装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
The read or write time of a prescribed quantity of data is measured and is compared with a limit time, and a pertinent area is decided to be defective when the access time exceeds the limit time, and the area is registered in a defect list so that the area cannot be used.例文帳に追加
規定量のデータの読み出しあるいは書き込み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アクセス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当領域を未使用にすることを可能にする。 - 特許庁
To realize a method for inspecting a semiconductor device, which can inspect for the presence of generation of etching stop phenomenon or a mis-etching during hole formation with a simple visual inspection, can find defects in manufacture at a early stage, and can prevent flow out of the defect to a next step.例文帳に追加
ホール形成時におけるエッチングストップ現象又は抜け不良の発生の有無を簡単な外観検査により検査することができ、製造不良を早期に発見することができると共に、次工程への流出を防止することができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method and the device capable of distinguishing black stains, non-black stains and tears, without determing pattern as a defect, when performing an inspection of defects, such as stains, tears and defective shape in a sheet-like article that varies widely in color reproducibility (dispersion, color unevenness and/or color fading).例文帳に追加
色の再現性に幅(ばらつき、色ムラおよび/または色あせ)のあるシート状物品における汚れ、破れ、形状不良等の欠陥検査において、模様を欠陥と判定せず、かつ、黒汚れ、非黒よごれおよび破れの判別が可能な検査方法および装置の提供。 - 特許庁
To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.例文帳に追加
建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁
The data analysis part 24, on the basis of the input of extraction condition by the permitted access, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information to generate a graph showing the extraction result with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加
データ解析部24は、許可されたアクセスによる抽出条件の入力に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報から抽出条件を満たす情報を抽出し、部品7の画像をグラフ要素として抽出の結果を示すグラフを生成する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a member for plasma display and a member for plasma display and a plasma display using the same, which provide a good reliability without a defect, by the same conductivity inspection as prior arts for the member for plasma display in which an electrode in divided into at least two groups.例文帳に追加
電極が2群以上に分割されたプラズマディスプレイ用部材において、従来と同じ導通検査方法により、欠陥がなく信頼性に優れたプラズマディスプレイ用部材の製造方法、およびプラズマディスプレイ用部材とプラズマディスプレイを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a defect discrimination method capable of discriminating between a detected flaw signal and a noise signal generated from a complicated shape of an inspection object spot, when performing eddy current flaw detection of the inspection object spot on a complicated shape part having a shape changing three-dimensionally.例文帳に追加
3次元的に形状が変化する複雑形状部の検査対象箇所を渦電流探傷する場合において、検出される傷信号と検査対象箇所の複雑な形状によって生じる雑音信号を識別可能にする欠陥識別方法を提供する。 - 特許庁
To eliminate such a defect that when degreasing a ceramic molded body using an activated carbon powder or zeolite powder, the powder adheres to the surface of a ceramic sintered compact, and fracture or crack is generated resulting in occurrence of defective products when removing the adhered powder.例文帳に追加
活性炭粉体又はゼオライト粉体を用いてセラミック成形体の脱脂を行うにあたり、セラミック焼結体の表面に活性炭粉体又はゼオライト粉体が付着し、この付着物を除去する際に欠けや割れが発生して不良品が発生することを防止する。 - 特許庁
Since this coating agent for making the pattern finer contains the water-soluble peptide, the pattern can be narrowed with a large narrowing quantity compared with a conventional coating agent for making the pattern finer, without causing any defect after processing with the coating agent for making the pattern finer.例文帳に追加
本発明のパターン微細化用被覆剤は水溶性ペプチドを含有するので、パターン微細化用被覆剤による処理の後にディフェクトが発生することなく、従来のパターン微細化用被覆剤に比べて大きな狭小化量により、パターンの狭小化を行うことができる。 - 特許庁
After a recording medium is loaded, it is checked whether or not processing after resetting in recording medium access is performed and when it is so, defect information recorded in DMA is read out without reading medium information recorded on a control track.例文帳に追加
記録媒体のローディング処理の後、記録媒体アクセス中のリセット後の処理であるか否かをチェックし、記録媒体アクセス中のリセット後の処理である場合は、コントロールトラックに記録された媒体情報の読み出しを行わないでDMAに記録された欠陥情報の読み出しのみを行う。 - 特許庁
To avoid a brazing defect of an end of a tube and a tube insertion hole rim by securing a necessary amount of brazing material in a brazing portion of the end of the tube and the tube insertion hole rim, while improving production efficiency by improving workability in insertion of the end of the tube in a tube insertion hole of a header tank.例文帳に追加
ヘッダタンクのチューブ挿入孔にチューブの端部を挿入する際の作業性を良好にして生産効率を向上させながら、チューブの端部とチューブ挿入孔周縁とのろう付け部分にろう材を必要量確保できるようにして、両者のろう付け不良を回避する。 - 特許庁
To provide a reduced pressure drying apparatus which does not make to generate a minute defect on the front surface of a coating film by eliminating the ununiformity of the film thickness resulting from a remaining solvent in reduced pressure drying used when a pattern is formed by a photolithography method, and to provide a reduced pressure drying method.例文帳に追加
フォトリソグラフィー法によってパターンを形成する際に用いる減圧乾燥において、残留溶剤に起因した膜厚の不均一性を解消し、塗膜の表面に微小欠陥を発生させない減圧乾燥装置、減圧乾燥方法を提供すること。 - 特許庁
To provide long-life cooking raw material for boiled rice mixed with fish, meat, vegetable and/or the like in advance free from seasoning food additive or reduced in the blending quantity of the food additive, where an ingredient part and a seasoning part are independently packaged, and causing no defect in cooking.例文帳に追加
調味目的の食品添加物を使用しない、または配合量を低く抑えたことを特徴とし、具材部と調味料部とが別個に包装されてなる炊飯不良が起こらない長期保存可能な炊込みごはん用調理素材を提供することを目的とする。 - 特許庁
The green compact 10 can be continuously molded without causing the defect in the feed of the powder for powder metallurgy or the like, thus the sintered product obtained by sintering the green compact 10 has almost uniform strength and density, and the sintered product having almost uniform and stable strength and density can be produced.例文帳に追加
粉末冶金用粉末の供給不良等を起すことなく、圧粉体10を連続成形することができ、この圧粉体10を焼結した焼結品は、強度及び密度がほぼ均一なものとなり、強度と密度がほぼ均一な安定した焼結品を製造することができる。 - 特許庁
To provide a manufacture inspection analyzing system capable of appropriately specifying a processor or a processor group as the cause of occurrence of a defect during manufacturing of a processed body, without performing processing such as attaching information on a processor having performed processing to the processed body.例文帳に追加
被処理体に対して処理した処理装置の情報を付与するなどの処理を行うことなく、被処理体の製造途中において、的確に欠陥の発生要因となる処理装置または処理装置群を特定することを可能とする製造検査解析システムを提供する。 - 特許庁
To provide a radiation image detector having an electrode layer where many linear electrodes for reading out charge signals generated in a semiconductor layer are arrayed, capable of suppressing an influence of breaking of a wire on an image without causing an image defect caused when a wire breaking part is directly repaired.例文帳に追加
半導体層において発生した電荷信号を読み出すための線状電極が多数配列された電極層を備えた放射線画像検出器において、断線箇所を直接修復することによる画像欠陥を生じることなく、断線による画像への影響を抑制する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and manufacturing method thereof where such problems as substrate soaring and hot carrier which are easy to occur with an SOI device are sufficiently suppressed while crystal defect is hard to occur at a surrounding structure even with a wide spread partial separation insulating film.例文帳に追加
SOIデバイスにおいて生じやすい基板浮遊問題やホットキャリアの問題を充分に抑制することが可能で、広く分布する部分分離絶縁膜であっても周囲の構造に対し結晶欠陥を生じさせにくい半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a laminated ceramic electronic component which can polish a green chip at a low cost and prevent excess chamfering to the green chip, and can consequently prevent defect of electrical characteristics in an obtained electronic component.例文帳に追加
グリーンチップを低コストで研磨することができ、かつ、グリーンチップに対する過剰な角取りを防止することができる共に、その結果として得られる電子部品における電気特性の不良を防止することができる積層型セラミック電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To suppress thinning particularly generated at the tip of a ring-shaped groove upper jaw, assure efficient sealing strength during sealing and prevent a defect such as the corrosion or crack of a battery can liable to be generated at the tip of the jaw, by putting the battery can by grooving.例文帳に追加
電池缶を溝入れ加工することにより、特に環状溝部上顎の先端部に生じる薄肉化を抑止して、封口時における十分な封口強度を確保し、環状溝部上顎の先端部に生じやすい電池缶の腐蝕や亀裂といった不具合を防止を図る。 - 特許庁
An angled probe 7 for transmission is arranged in one side of the interface 4 of the material 1 where the presence of no defect in the interface 4 is judged, and an angled probe 8 for reception is arranged in the other side to measure an attenuation amount of an ultrasonic wave transmitted through the interface 4.例文帳に追加
次に、接合界面4に欠陥が存在していないと判断された接合材1の接合界面4の一方の側に送信用の斜角探触子7を、他方の側に受信用の斜角探触子8を配置し、接合界面4を透過する超音波の減衰量を測定する。 - 特許庁
To suppress a defect of correcting a differentiation signal to 'OOH' even when I, Q phase signals are changed simultaneously due to a noise intruded in a reception signal resulting in making a phase rotating direction unclear and one of them is changed to make a phase rotating direction clear.例文帳に追加
受信信号に混入したノイズにより、I相,Q相信号が同時に変化して位相の回転方向が不明になり、その後、一方が変化して位相の回転方向が明らかになっても微分信号を「00H」に修正してしまう、という問題を解決する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor with which the excess coating film of an electrophotographic photoreceptor is removed with an organic solvent, so that when the manufactured electrophotographic photoreceptor is used in an electrophotographic process, occurrence of an image defect (unevenness in halftone) can be suppressed, and an apparatus for removing an excess coating film.例文帳に追加
電子写真感光体の余剰塗膜を有機溶剤を用いて除去し、製造した電子写真感光体を電子写真方式に用いた場合に発生する画質欠陥(ハーフトーンのむら)を抑制できる電子写真感光体の製造方法および余剰塗膜除去装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus which is made smaller in the diameter of a developing roller and in which high-definition images of high copying density are stably formed for a long period of time by preventing the occurrence of an image defect like image fogging, contamination of the inside of the image forming apparatus, and the back staining of a recording medium, etc.例文帳に追加
現像ローラが小径化された画像形成装置において、画像かぶりなどの画像欠陥、画像形成装置内部の汚染、記録媒体の裏汚れなどの発生を防止し、コピー濃度の高い高画質画像を長期間にわたって安定的に形成する。 - 特許庁
To provide a belt-like electrophotographic photoreceptor which is tough in repeated use for a long period, free from a crack and film separation, durable against a stress caused by tension at the time of drive and stop, and which is free from an image defect such as moire, and to provided an image forming method and device using the photoreceptor.例文帳に追加
長期の繰り返し使用においても強く、クラックや膜剥がれなどをせず、駆動時、静止時のテンションによる応力にも強く、モアレなどの画像欠陥のないベルト状の電子写真感光体及びそれを用いた画像形成方法及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a process for producing an oxide magnetic body in which remanent magnetic flux density can be enhanced, although it has been difficult hitherto, by improving the defect of dry molding, i.e. so-called "the ratio of remanent magnetization/saturation magnetization" in dry molding having high molding speed as compared with wet molding.例文帳に追加
湿式成形に比べて成形速度が速い乾式成形において、乾式成形の欠点であるといわれる「(残留磁化/飽和磁化)の比」を改善して、従来より困難であるとされていた残留磁束密度を向上させることのできる酸化物磁性体の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cold cathode fluorescent lamp in which an intermediate electrode is prepared to eliminate the defect of unstable discharge due to current leakage from the lamp when a long-sized fluorescent lamp is used in a high frequency region of a low current region and to make it possible to discharge stably.例文帳に追加
長尺型の蛍光ランプを低電流領域の高周波領域で使用すると、ランプからの電流漏れが発生し、放電が不安定になる虞があったが、これを中間電極を設けることにより回避して安定した放電を可能とした冷陰極蛍光ランプを提供する。 - 特許庁
To provide a method in which a cast and forged product without a substantially problematic defect even when used in a later forging process is inspected with high inspection accuracy and with satisfactory efficiency, by a method wherein a so-called preform after a casting operation or a finished product as required is inspected.例文帳に追加
鋳造後のいわゆるプリフォーム或いは必要により完成部品を検査することにより、その後の鍛造工程で使用しても、実質的に問題となるような欠陥を有しない鋳造鍛造品を検査精度高く、かつ、検査効率よく、検査する方法の提供。 - 特許庁
In this surface defect inspection device, the light emitting elements 30 are arranged consecutively to remain a prescribed shape of dark face in an inside, in the lay-out pattern, and arranged to receive the irradiation light of each of the light emitting elements 30 reflected from the inspected face on at least one dark face 31 by the imaging camera 4.例文帳に追加
レイアウトパターンが発光素子30を内側に所定形状の暗面を残すように連続的に配置させたものであり、少なくとも1つの暗面31に撮像カメラ4が被検査面から反射される各発光素子30の照射光を受光するように配置する。 - 特許庁
To solve such a problem that, in an aluminum molding, an alumite film and a pore sealing film are extremely hard films, and, as hard metal films are further vapor-deposited thereon in a multilayer, the strength of the whole layer is deteriorated, and the respective films pull each other, so as to generate microcracks and the defect in adhesion.例文帳に追加
アルミニウム形成品において、アルマイト膜や封孔処理膜は非常に硬い膜であり、その上面に更に硬い金属膜を多層に蒸着して行くと全体の層の強度が衰え夫々の膜同士が引っ張り合いマイクロクラックや密着不良が発生するものと考慮される。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor realizing high image quality recording whose resolution is ≥1,200 dpi and eliminating an image defect such as an interference fringe pattern (moire) by setting the surface roughness of a conductive supporting body to a specified range, and an image forming method using the same.例文帳に追加
この発明は、導電性支持体の表面粗さを特定の範囲に設定することにより、解像度1200dpi以上の高画質記録で、干渉縞模様(モアレ)等の画像不良を解消した電子写真感光体及びそれを用いた画像形成方法を提供する。 - 特許庁
Besides a bonding pad 11 to bond an electrical source lead, a ground lead, or a signal lead, a non-bonding pad used only to check a structure defect of its chip 10, i.e., a plurality of test pads 12 are connected to a required circuit point in the IC chip.例文帳に追加
電源線、接地線及び信号線のいずれかにボンディングするためのボンディングパッド11の他に、そのチップ10の構造不良を検査するためにのみ使用される非ボンディングパッド、すなわちテストパッド12を、ICチップ中の所要の回路ポイントに接続して複数設ける。 - 特許庁
To provide a method for hot-rolling a grain-oriented magnetic steel sheet in which even in the case of containing a large quantity of grain-boundary segregation-type elements, the surface crack caused by hot-brittleness and further, the development of surface defect, such as scab, on a product sheet, can effectively be prevented.例文帳に追加
粒界偏析型元素を多量に含有する場合であっても、熱間脆性に起因した表面割れひいては製品板におけるヘゲ疵などの表面欠陥の発生を効果的に防止することができる方向性電磁鋼板の熱間圧延方法を提供する。 - 特許庁
The luminous flux of a light source needed for the inspection is converted into slit light suitable for the inspection, the semiconductor package 13 fixed to a movable table 14 is irradiated with the above slit light, and image of irregularly reflected light at a defect place in the semiconductor package 13 is picked up by an image pickup means.例文帳に追加
検査に必要な光源の光束を検査に適したスリット光に変換し、前記スリット光を、移動可能なテーブル14に固定された半導体パッケージ13に照射し、半導体パッケージ13内の不良個所での乱反射光を撮像手段によって撮像する。 - 特許庁
To obtain a powder coating material which can easily be obtained without undergoing a long and complicated production step and, simultaneously, without the possibility of causing gelation when produced and, it addition, the powder coating material thus produced which can form a coating film having excellent smoothness without causing the defect of the coating film such as foaming and a pinhole.例文帳に追加
長くて複雑な製造工程を得ることなく、容易にかつ製造時にゲル化を起こす恐れがなく、しかも得られる粉体塗料がワキやピンホールのような塗膜欠陥を生じることなく平滑性に優れる塗膜を形成するような粉体塗料を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid material applying apparatus capable of applying the liquid material forming defect-free smooth and fine patterns with high degree of freedom, even for a three-dimensional substrate, a liquid material applying method, and an electronic device manufactured by using the liquid material applying apparatus.例文帳に追加
基板が立体形状であっても自由度高く微細かつ欠陥のない滑らかなパターン作成を行う液体材料の塗布が可能な液体材料塗布装置、液体材料の塗布方法、及び液体材料塗布装置を用いて作製された電子デバイスを得ることを目的とする。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of forming gate insulating films with a plurality of thicknesses on the same semiconductor substrate during a single step of forming the gate insulating films and suppressing a defect caused by a pro-oxidant material from occurring in the gate insulating film.例文帳に追加
1回のゲート絶縁膜形成工程で複数の厚みのゲート絶縁膜を同一の半導体基板上に形成することができるとともに、ゲート絶縁膜に酸化促進物質による欠陥が発生するのを抑制することができる半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁
To provide a flux-cored wire for electrogas arc welding for stainless steel, even in the case an extra-thick stainless steel plate is welded, which can obtain a weld metal free from the generation of a fusion defect and undercut in a bevel, having high strength and having high toughness in an extra-low temperature environment.例文帳に追加
極厚のステンレス鋼板を溶接する場合においても、開先内に融合不良及びアンダカットが発生せず、高い強度及び極低温環境における高い靭性を有する溶接金属を得ることができるステンレス鋼エレクトロガスアーク溶接用フラックス入りワイヤを提供する。 - 特許庁
An unrecorded normal partition is prevented from being erroneously determined to be recorded by the resetting means and the measuring means of reproducing signal peak and bottom levels, and correct determination is made as to whether the partition of a trial writing area corresponding to the defect partition of a count area is used or unused.例文帳に追加
再生信号のピークレベルとボトムレベルのリセット手段および測定手段により、未記録の正常パーティションを記録済みと誤って判断しないようにし、また、カウント領域の欠陥パーティションに対応する試し書き領域のパーティションが使用済みか未使用かを正しく判断する。 - 特許庁
Reflected light from the second area of the steel pipe surface is received by a one-dimensional camera to measure brightness thereof, the measured brightness is compared with the calculated reference level, and the presence of a defect on the steel pipe surface is detected based on a comparison result therein (S4).例文帳に追加
そして、鋼管表面の第2領域から反射光を1次元カメラにより受光してその輝度を計測し、算出した基準レベルと計測した輝度とを比較して、その比較結果に基づいて、鋼管表面の欠陥の有無を検出するようにしている(S4)。 - 特許庁
To obtain a developed image of high quality by preventing a developer of a low toner concentration ratio peeled from magnetic brush rollers by peeling magnetic poles after the end of development from directly readhering to clamping magnetic poles thereby preventing the image defect to bring about the degradation in image density in a part of the toner image.例文帳に追加
現像終了後に剥離磁極にて磁気ブラシローラから剥離したトナー濃度比の低い現像剤が、つかみ磁極に直接再付着するのを防止して、トナー画像の一部に画像濃度の低下を来たす画像欠陥を防止して、高画質の現像画像を得る。 - 特許庁
In this member for the plasma display panel, all or part of structure layers selected out of an electrode, a dielectric layer, a partition wall and a phosphor layer are formed on the substrate, and a defect is provided in a non-effective region not contributing to the lighting display of the structure layers.例文帳に追加
基板上に電極、誘電体層、隔壁および蛍光体層から選ばれた全てまたは一部の構成層が形成され、かつ、該構成層の点灯表示に寄与しない非有効領域に欠陥を具備したことを特徴とするプラズマディスプレイパネル用部材およびプラズマディスプレイパネル。 - 特許庁
To provide a liquid crystal panel without breakage of an insulating substrate forming a laminated substrate, peeling of a seal member, or a defect in display characteristics even when a transparent conductive film is heated and formed on the laminated substrate with high airtightness into which a liquid crystal is charged by a vacuum injection method.例文帳に追加
液晶を真空注入法により充填する、気密性が高い貼り合わせ基板の表面上に、透明導電膜を加熱形成しても、貼り合わせ基板を形成する絶縁基板の破損やシール材の剥離および表示特性において欠陥のない液晶パネルを得る。 - 特許庁
To prevent a stripe defect in the spreading direction which is generated on a film flow-cast on a metal supporting body from occurring when a plastic polymer film is manufactured by a solution casting method, and at the same time, manufacture the film which is excellent in surface smoothness and thickness uniformity at a favorable productivity.例文帳に追加
プラスチックポリマーのフィルムを溶液キャスト法で製造する際、金属支持体上に流延されたフィルムに発生する流延方向のスジ欠陥を防止するとともに、表面平滑性及び厚み均一性も優れたフィルムを生産性よく製造できるようにする。 - 特許庁
Also, the mold powder is so prepared that 6 to 20wt% alumina is contained therein and the basicity of the mold powder is within a range from 1.3 to 2.0 and, thereby the hydrogen absorbency can be improved, the heat extraction defect due to the hydrogen can be surely prevented and the operation can be stabilized.例文帳に追加
また、モールドパウダーを、6〜20wt%のアルミナを含有しているものとし、さらにモールドパウダーの塩基度が1.3〜2.0の範囲内とすることによって、水素分吸収能を向上させることができ、より確実に水素起因の抜熱不良を防止して操業を安定させることができる。 - 特許庁
If an object 12 to be examined does not have the defect and is normal, a light attenuated by the plate 18 from the illuminator 14 arrive at the unit 16 through an examining point of the object 12, and hence the light is detected in the intensity attenuated by the plate 18 by the unit 16.例文帳に追加
被検査物12に欠点がなく正常な場合には、照明装置14から拡散板18によって減衰された光が、被検査物12の検査点を通過して撮像装置16に到達するために、撮像装置16では、拡散板18によって減衰された強度で検出される。 - 特許庁
To provide the outer electrode pattern of an electronic component of a structure that in the outer electrode pattern, the generation of a short- circuit between terminal electrodes is absolutely eliminated, a state that the terminal electrode provided on almost the central part of a printed board is soldered to the printed board also can be inspected and moreover, the defect of conduction between the terminal electrodes also can be absolutely eliminated.例文帳に追加
電子部品の外部電極パターンにおいて、端子電極間ショートの発生を皆無とし、且つ、基板のほぼ中央部に設けた端子電極の半田付け状態も検査することができ、更に、導通不良も皆無にし得る電極パターンを提供すること。 - 特許庁
Based on the displacement quantity of both patterns to be obtained by measuring an alignment mark for a light shielding pattern and an alignment mark for the phase shift pattern, displacement quantity of pieces of design data of both patterns is compensated and pattern defect inspection of a pattern to be inspected is performed on the basis of a reference pattern obtained by compensation of the displacement quantity.例文帳に追加
遮光パターン用のアライメントマークと位相シフトパターン用のアライメントマークを計測して得られる両パターンの位置ずれ量に基づき、両パターンの設計データの位置ずれ量を補正し、それにより得られた参照パターンを基準として披検査パターンのパターン欠陥検査を行う。 - 特許庁
A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加
半導体集積回路(1)は、回路モジュール(2,3)の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス(5)に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線(9)に接続されたヒューズ回路(7)の不揮発性メモリセル(6)を用いる。 - 特許庁
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