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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18306



例文

To provide the outer electrode pattern of an electronic component of a structure that in the outer electrode pattern, the generation of a short- circuit between terminal electrodes is absolutely eliminated, a state that the terminal electrode provided on almost the central part of a printed board is soldered to the printed board also can be inspected and moreover, the defect of conduction between the terminal electrodes also can be absolutely eliminated.例文帳に追加

電子部品の外部電極パターンにおいて、端子電極間ショートの発生を皆無とし、且つ、基板のほぼ中央部に設けた端子電極の半田付け状態も検査することができ、更に、導通不良も皆無にし得る電極パターンを提供すること。 - 特許庁

Based on the displacement quantity of both patterns to be obtained by measuring an alignment mark for a light shielding pattern and an alignment mark for the phase shift pattern, displacement quantity of pieces of design data of both patterns is compensated and pattern defect inspection of a pattern to be inspected is performed on the basis of a reference pattern obtained by compensation of the displacement quantity.例文帳に追加

遮光パターン用のアライメントマークと位相シフトパターン用のアライメントマークを計測して得られる両パターンの位置ずれ量に基づき、両パターンの設計データの位置ずれ量を補正し、それにより得られた参照パターンを基準として披検査パターンのパターン欠陥検査を行う。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加

半導体集積回路(1)は、回路モジュール(2,3)の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス(5)に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線(9)に接続されたヒューズ回路(7)の不揮発性メモリセル(6)を用いる。 - 特許庁

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer.例文帳に追加

この欠陥来歴リスト8は、ウエハ1毎に作成され、各検査工程3_1,3_2,……,3_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数,大きさ,クラスタ情報,画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。 - 特許庁

例文

In the write-once type recording medium having a plurality of recording layers, a normal recording and reproducing area, an alternate area, a first alternate management information area and a second alternate management information area (TDMA) (Temporary Defect Management Area) are provided and writing existence presentation information (space bitmap) is recorded.例文帳に追加

複数の記録層を有するライトワンス型の記録媒体において、通常記録再生領域と、交替領域と、第1の交替管理情報領域と、第2の交替管理情報領域(TDMA)が設けられ、さらに書込有無提示情報(スペースビットマップ)が記録される。 - 特許庁


例文

To improve the display grade by preventing generation of an internal offset voltage in driving and the occurrence of a display defect by turning and a display failure by varying of electrical characteristics between a vertical alignment layer and a tilt alignment layer of a liquid crystal display element of a hybrid aligned nematic type display mode.例文帳に追加

ハイブリッド・アラインド・ネマティック型表示モードの液晶表示素子において、垂直配向膜とチルト配向膜との電気的特性が異なることにより駆動時に内部オフセット電圧を発生し、焼き付き及び表示不能による表示不良を生じるのを防止して、表示品位を向上する。 - 特許庁

To prevent an abnormal discharge at a double-side printing time or OHT printing time when the transfer voltage gets high and to prevent an image defect caused by the abnormal discharge by improving the material of a transfer member such as a transfer roller in an inline system image forming device using a transfer belt.例文帳に追加

転写ベルトを用いたインライン方式の画像形成装置において、転写ローラ等の転写部材の物性を改善することにより、転写電圧が高くなる両面プリント時やOHTプリント時等に異常放電を防止して、これに起因する画像不良を防止することである。 - 特許庁

To provide an evaporation source for vacuum vapor deposition, which can form a film with a film thickness exceeding several hundred micrometers, can highly uniformly and quickly melt a large amount of a film-forming material, and can prevent a defect due to bumping and the like, and to provide a vacuum vapor-deposition apparatus using the evaporation source.例文帳に追加

数百μmを超える厚膜の成膜が可能であり、かつ、多量の成膜材料を高い均一性で迅速に溶融でき、しかも、突沸に起因する欠陥等も防止できる真空蒸着用の蒸発源、および、この蒸発源を利用する真空蒸着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of heat-treating a silicon wafer, the method eliminating a crystal defect of a COP etc., at a surface part of the wafer to become a device active region, generating a BMD at a bulk part with high density, and further suppressing a slip generated during an RTP.例文帳に追加

デバイス活性領域となるウェーハの表面部においてCOP等の結晶欠陥を消滅させることができ、バルク部においてはBMDを高密度で形成させることができ、さらに、RTPにおいて発生するスリップを抑制することができるシリコンウェーハの熱処理方法を提供する。 - 特許庁

例文

To prevent the defect, such as scab-like flaw, blister flaw, caused by gas bubble and inclusion catched on the surface layer of a cast slab, to reduce cleaning work and to improve the yield of a good product, in the case of casting molten steel in a mold into the slab, etc., by electromagnetic-stirring.例文帳に追加

鋳型内の溶鋼を電磁攪拌してスラブ等を鋳造する際に、鋳片の表層部に捕捉された気泡や介在物に起因するヘゲ疵やフクレ疵等の欠陥を防止し、手入れを減らし良製品の歩留りを向上できる溶鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

例文

In the method and device of marking a chip ID, when the chip ID is marked until a step in which chips are arranged in the form of a wafer, the wafer or a chip coordinate value in the wafer can be traced by detecting the chip ID even when a defect occurs during chip steps or after shipping of the chip.例文帳に追加

本発明のマーキング方法及び装置はウエハ形状で配列している工程までにチップIDをマーキングすることで、チップ工程時やチップ出荷後の不具合発生時であってもチップIDを検出する事によって、ウエハやウエハ内チップ座標までトレースする事ができる。 - 特許庁

To form steadily a transparent electric conductive layer, which has a characteristic of high permeability and low resistance by forming a net structure, where precious-metal particles progress without generating a film defect, and by an applying method of using the solution for the transparent electric conductive layer formation containing the previous-metal particles.例文帳に追加

貴金属微粒子を含む透明導電層形成用塗液を用いた塗布法を用いて、膜欠陥を発生させることなく、貴金属微粒子の発達した網目状構造が形成し、高透過率で低抵抗の特性を有する透明導電層を安定して形成する。 - 特許庁

To provide a winding change guide device for a wire which prolongs the life of a winding change guide before a flaw defect occurs in the wire even if the wire delivered from a take-up machine is guided by the winding change guide and is taken up by the take-up machine and which is capable of improving linearity and decreasing product defects.例文帳に追加

巻取機から繰り出されたワイヤを巻替ガイドで案内して巻取機で巻取っても、ワイヤにキズ不良が発生するまでのガイドの寿命が長くなると共に、直線性を向上でき、さらには製品不良を低減できるワイヤの巻替ガイド装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein the addition of a circuit used at the time of turning on/off power is unnecessary, the addition of a process and the increase of a manufacturing expenses are prevented, a recovery means is provided to make recovery from a defect by a simple method, and a capacity and reliability are improved.例文帳に追加

電源を入れる時と切る時に用いる回路の追加が不必要であり、プロセスの追加や作製費用の増大を防止し、欠陥を簡便な方法で救済する救済手段を有し、大容量化と信頼性の向上を実現した半導体装置の提供を課題とする。 - 特許庁

Defect inspection, with high sensitivity, is made possible by irradiating the optical film, while scanning it with inspection light across the transparent film 30 to sense changes in intensity of reflected inspection light, is sensed, and determining the number of defects in the optical film plane, on the basis of information about changes in the intensity of reflected light.例文帳に追加

そして、光学膜に透明膜30を介して検査光を走査させながら照射して検査光の反射光強度の変化を検知し、反射光強度の変化情報に基づいて光学膜面内の欠陥数を求めると、高感度での欠陥検査が可能となる。 - 特許庁

To provide a forming method of an optical film suppressed in the generation of a crosslinked gel at the time of melt extrusion molding, reduced in appearance defect and capable of developing excellent display quality in the case incorporated in a liquid crystal display device or the like, the optical film and a phase difference film.例文帳に追加

溶融押出成形時における架橋ゲルの発生を抑制し、外観欠点が少なく、液晶表示装置等に組み込んだ場合に優れた表示品質を発現することが可能な光学フィルムの製造方法、光学フィルム及び位相差フィルムを提供する。 - 特許庁

The images photographed by means of the two image pickup devices are processed by means of an image processor 11, and existence of a defect is determined if a part colored in black or white is detected in the tested object S, and subsequently, removal as a defective item is carried out by means of a defective item removing device 12.例文帳に追加

2つの撮像装置によって撮影された被検査物Sの映像は画像処理装置11によって処理され、被検査物Sに黒色または白色の着色部分が検出されると欠陥があると判断され、不良品除去装置12によって不良品として除去される。 - 特許庁

To inexpensively evade troubles that a runner lock pin for automatically cutting a gate through mold-opening is broken and damaged due to the slide defect cauded by the difference of the thermal expansion dependent on the mold temperature during molding to induce a mold crush or the like in a three-sheet structure type mold injection molding mold.例文帳に追加

3枚型構造のモールド射出成形金型において、ゲートを型開きにより自動切断を行うためのランナーロックピンが、成形時の金型温度による熱膨張差により摺動不良により折れ、破損し金型潰れ等によって引き起こされる不具合を低コストで回避させる。 - 特許庁

To provide a printing plate for offset printing and a method for manufacturing the same, wherein the high-definition printed matter of a pattern size and a rectangular shape is obtained and such a defect that the printed matter of a thick film is hardly obtained is eliminated in an offset printing method including an inversion printing method, a peeling printing method or the like.例文帳に追加

反転印刷法、剥離印刷法等を含むオフセット印刷法において、高精細なパターン寸法及び矩形の印刷物を得ることができ、かつ厚膜の印刷物が得にくいといった欠点を解決するオフセット印刷用印刷版及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, even if there is such a defect that film thickness is thin at one point of some light emitting element, there is a little influence on the sum of resistance values of the resistance bodies and light emitting elements, thus currents which should flow to other light emitting elements never gather at one point on the light emitting element.例文帳に追加

このようにすれば、ある発光素子のどこか一点にでも膜厚が薄い等の欠陥がある場合でも、抵抗体と発光素子との抵抗値の総和には殆ど影響がないので、他の発光素子に流れるべき電流が当該発光素子上の一点に集まることはない。 - 特許庁

To solve a problem that it is impossible to sufficiently eliminate a noise due to a defect in a solid-state image pickup element or the like by only adding a low frequency component of one color to a high frequency component of other color when a change it the signal of the one color is inverse to a change in the signal of the other color in the case of eliminating the noise.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥などによるノイズを除去するとき、自分の信号の低域成分と他色の信号の高域成分を加算しただけでは自分の信号と他色の信号の変化が反対のときにノイズを十分に除去できないので、これを解消すること。 - 特許庁

To provide an intermediate transfer body with which a resistance change by a transfer voltage is little, the uniformity of electric resistance is improved, the change in the dependence on electric fields and the electric resistance by the environment is little and the occurrence of an image defect is suppressed and an image forming device having the same.例文帳に追加

転写電圧による抵抗変化が少なく、電気抵抗の均一性を改善し、電界依存性および環境による電気抵抗の変化が少なく、画質欠陥の発生が抑制された中間転写体およびそれを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pressure bonding device for an ornament sheet applying a woodgraining treatment to the peripheral end of the ornament sheet while press bonding the the ornament sheet to the surface of a trim body in which defect such as floating and peeling of the end portion of the ornament sheet is eliminated, and end treatment is simply carried out at low cost.例文帳に追加

トリム本体の表面に装飾シートを圧着して装飾シートの周縁端末を木目込み処理する装飾シートの圧着装置において、装飾シートの端末部の浮き、剥がれ等の不良をなくすとともに、端末処理を簡単かつ廉価に実施する。 - 特許庁

To provide a recorder by which the fluctuation of resistance is not caused by environmental change and the transferring of printing on a back surface, the mark of electronic discharge on a transfer medium and an image transfer defect such as developer image scattering do not occur even in the case of the miniaturization of a device, and fogging on the end part of the transfer medium does not occur.例文帳に追加

環境変化や裏面印字転写等で抵抗の変動を生じたり、装置が小型化しても、転写媒体に対して放電跡、現像剤像チリ等の画像転写欠陥が生じず、且つ転写媒体端部のカブリ等が発生しない記録装置を提供せんとするものである。 - 特許庁

To solve the problem of the conventional disk drive that cannot have optimally compensated a deteriorated signal level due to missing of a signal caused by a defect such as a flaw or due to dirt such as a fingerprint in accordance with a reproduction speed of an optical disk when a time constant of an AGC circuit and a cut-off frequency of an HPF(High Pass Filter) are fixed.例文帳に追加

AGC回路の時定数やHPFのカットオフ周波数が固定であると、傷などのディフェクトに起因する信号の欠落や指紋などの汚れに起因する信号レベルの低下に対して、光ディスクの再生速度に応じた最適な補償が行えない。 - 特許庁

To provide a holding method which can prevent defects in contact with such as supporting member when handling a silicon wafer, especially, a split caused from crack growth that is with a contact defect apt to occur as a stating point in a wafer which is with a {110} surface as a main surface; and to provide a holding jig.例文帳に追加

シリコンウェーハをハンドリングする際の支持部材などとの接触傷の発生と、特に、{110}面を主表面とするウェーハにおいて生じやすい接触傷を起点としたクラック伸展に起因する割れを防止できる保持方法および保持治具を提供する。 - 特許庁

Since the spacers 4 have the sticking layers 5, the sticking force of the substrates 1a and 1b increases and the movement of the spacers 4 by the impact and vibration in a liquid crystal injection process can be prevented and the damage of pixel regions by the movement, the occurrence of a cell gap defect, etc., can be prevented.例文帳に追加

また、スペーサ4が固着層5を有するので、基板1a、1bとの固着力が増加し、液晶注入工程において衝撃・振動によるスペーサ4の移動を防止できるとともに、移動による画素領域2の傷つき、セルギャップ不良の発生等を防止できる。 - 特許庁

In the production process of the resin optical waveguide, the core pattern of the waveguide is embedded after executing heat treatment of150°C, thus the deformation and embedding defect of the waveguide core pattern are prevented, thereby forming the resin optical waveguide low in loss and excellent in the optical characteristics.例文帳に追加

樹脂光導波路の作製工程において、150℃以上の熱処理を実施した後、導波路のコアパターンを埋め込むことにより、導波路コアパターンの変形および埋め込み不良等を防止し、低損失で、光学特性に優れた樹脂光導波路の作製方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a resist surface modifying liquid and a method for forming a resist pattern using the resist surface modifying liquid used as a surface treatment liquid prior to the post exposure baking (PEB) processing of a resist film to reduce the water repellency of the resist film to thereby restrain the occurrence of a defect.例文帳に追加

レジスト膜の露光後加熱処理(PEB)工程前の表面処理液として用いられるレジスト表面改質液であって、レジスト膜の撥水性を低下させ欠陥の発生を抑制できるレジスト表面改質液及びこれを利用したレジストパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate with a reduced step to eliminate a defect of an upper layer caused by the step of an edge of an insulation layer when the insulation layer such as an dielectric layer on the substrate and various layers are formed thereon; and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

基板上に誘電体層等の絶縁層を設け、その上に種々の層を形成する際に、絶縁層のエッジの段差に起因して生じる上層の欠陥の解消を図り、段差を少なくした基板およびその製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING TRANSLUCENT ARTICLE MADE OF TRANSLUCENT MATERIAL, METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF GLASS SUBSTRATE, GLASS SUBSTRATE FOR MASK BLANK, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, MASK BLAND AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, MASK FOR EXPOSURE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

透光性材料からなる透光性物品の検査方法、ガラス基板の欠陥検査方法及び装置、マスクブランク用ガラス基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、及び露光用マスクの製造方法、並びに、マスクブランク用ガラス基板、マスクブランク、露光用マスク、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

However, in the case that the open failure of the purge control valve is detected, to surely avoid occurrence of speed reduction type defect owing to decrease of negative torque or generation of positive torque caused by combustion of purge gas, increase of opening of the throttle valve 18 during the speed reduction fuel cut-off operation is inhibited.例文帳に追加

ただし、パージ制御弁の開故障が検出されている場合には、パージガスの燃焼による負トルクの低下ないしは正トルクの発生によって減速性不良が生じるのを確実に回避するため、減速フューエルカット中にスロットル弁18の開度を増大することを禁止する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a thermoplastic resin sheet using a static electricity applying casting method, drastically increasing the upper limit of a sheet molding speed caused by the applying irregularity defect generated in the thermoplastic resin sheet, and a static electricity applying casting method used therein.例文帳に追加

静電印加キャスト法を用いた熱可塑性樹脂シートの製造方法において、熱可塑性樹脂シートに発生する印加むら欠点によるシート成形速度の上限を飛躍的に増加させる熱可塑性樹脂シートの製造方法およびこれに用いる静電印加装置を提供すること。 - 特許庁

In the third inspection process, the solid-state imaging device is inspected per predetermined range set in advance, and the number of peculiar pixels within each range is counted, and at the same time, the sum of brightness data of the individual peculiar pixels within each range is calculated as a defect level.例文帳に追加

第3検査工程では、予め設定されている所定範囲ごとに固体撮像素子の検査が行われ、この所定範囲内の特異画素の個数が計数されると同時に、この所定範囲内の各特異画素の輝度データの合計値が欠陥レベルとして算出される。 - 特許庁

The Li-deficient manganese complex oxide is represented by a formula: Li1-xMO2 with a part of lithium lacking from proportional composition having a lamellar crystal structure (where, M denotes manganese or a metal of two or more kinds with manganese as a main component, and x as a Li defect volume satisfies 1/5<x).例文帳に追加

リチウムの一部が定比組成から欠損し、層状型結晶構造を有し、 Li_1−xMO_2…(A) (式中のMはマンガン又はマンガンを主成分とする二種以上の金属、リチウム欠損量xは1/5<xを満たす)で表されるLi欠損マンガン複合酸化物である。 - 特許庁

The defect detection step includes: a step for capturing use cases associated with the software application, and for checking their validity; a step for providing an automatic invocation of property monitors for model checking; a step for visualizing one or more defects in the software application for diagnosis.例文帳に追加

この欠陥検出段階は、ソフトウェアアプリケーションと関連する使用状況を捕らえ、その有効性を確認する段階と、モデルチェックのための特性モニタの自動起動を与える段階と、診断のためにソフトウェアアプリケーションにおける1又はそれ以上の欠陥を視覚化する段階とを有する。 - 特許庁

To provide a PVA extrusion method using a twin-screw extruder for manufacturing a product of good quality with high productivity by removing such a defect that a PVA solution of good quality not generating undissolved lumps and air bubbles can not be manufactured in a conventional twin-screw extruder and productivity is also bad, and the twin-screw extruder.例文帳に追加

従来の2軸押出機ではママコが無く、気泡の無い良品質のPVA溶液が製造出来なく、生産性も悪いと言う欠点を取り除き、生産性が高く良品質の製品が生産される2軸押出機によるPVAの押出方法と2軸押出機を提供すること。 - 特許庁

To provide a droplet discharge apparatus in which the discharge defect and the displacement of the discharge position of ink are prevented even when a discharge recovery operation such as a wiping operation or a flashing operation is not carried out for a little while in the discharge of the ink on a large sized substrate using the droplet discharge apparatus, an electro-optic device and electronic equipment.例文帳に追加

液滴吐出装置を用いて大型の基板上にインクを吐出し、ワイピング操作やフラッシング操作等の吐出回復操作を暫時行わない場合でも、インクの吐出不良及び吐出位置のズレを防止した、液滴吐出装置、電気光学装置、及び電子機器を提供する。 - 特許庁

Thus, a shielding effect of the signal line is raised, the aperture ratio is raised by reducing width of a black matrix, parasitic capacity between the signal line and the common potential lines is reduced, a defect when the signal line and the floating film are short-circuited is minimized to raise the display quality.例文帳に追加

これにより信号線のシールド効果を高め、ブラックマトリクスの幅を縮小して開口率を向上させることができ、信号線と共通電位線との寄生容量を小さくし、信号線とフローティング膜とが短絡した場合の欠陥を最小限に抑えて表示品位を向上させる。 - 特許庁

To provide a diagnostic device of a rolling bearing unit capable of highly accurate detection without overlooking a defect of a rotating part of a mechanical device, when performing an inspection test periodically, while rotating the device, without decomposing the mechanical device requiring much labor for decomposition.例文帳に追加

分解するのに多くの手間がかかるような機械装置の分解を行なうことなく、回転させながら定期的に検査試験を行う場合、その機械装置の回転部品の欠陥を見落とすことなく高精度な検出が可能な転がり軸受ユニットの診断装置を提供する。 - 特許庁

The Cl group of the silicon source gas is reduced to a hydrogen chloride(HCl) by the hydride compound gas and is removed together with an exhaust gas, it is possible to prevent a visual defect due to a SiClx crystal obtained by coupling chloride to silicon, and an abnormal growth of the lower polysilicon film.例文帳に追加

水素化合物ガスによりシリコンソースガスのCl基を塩化水素(HCl)に還元し、排気ガスと共に除去するので、塩素とシリコンが結合したSiClx結晶による視覚不良、ならびに下部のポリシリコン膜の異常成長を防止することができる。 - 特許庁

To provide an inkjet recording device and a discharge recovery control method by which the recovery treatment during recording can be done properly responding to each grade in which a plurality of nozzles generate discharge defect when recording using the plurality of nozzles with different sizes of discharged ink droplets.例文帳に追加

吐出するインク滴の大きさが異なる複数のノズルを用いて記録を行なう際の記録中の回復処理を複数のノズルそれぞれの吐出不良を生じる程度に適切に対応して行なうことができるインクジェット記録装置および吐出回復制御方法を提供する - 特許庁

To weld at high speed without being accompanied by an defect such as undercut, to improve the heat resistance and durability of an insulation tip itself as well and to keep connections between the insulation tip and a power feed tip and between the insulation tip and wire tip in good condition.例文帳に追加

アンダーカットなどの不具合を伴うことなく高速での溶接が可能であり、これと同時に、絶縁チップそれ自体の耐熱・耐久性を良好なものにできると共に絶縁チップと給電チップおよびワイヤガイドチップとの間での結合をも良好な状態に維持できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for estimating a contact defect position where electric connection between solder balls of an integrated circuit device and a metallic foil of a printed board is different from design in a ball grid array (BGA) type integrated circuit device mounted on the printed board by using solder.例文帳に追加

プリント基板上にはんだを用いて実装されたBGA(ボール・グリッド・アレイ)タイプの集積回路デバイスが、集積回路デバイスのはんだボールとプリント基板の金属箔との間で設計通りの電気的な接続をしていない接触不良箇所を推定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an oxide magnetic material having improved residual magnetic flux density that has been difficult heretofore by improving "the ratio of the residual magnetization to the saturation magnetization", that is thought a defect in dry molding, in dry molding higher in molding speed in comparison with wet molding.例文帳に追加

湿式成形に比べて成形速度が速い乾式成形において、乾式成形の欠点であるといわれる「(残留磁化/飽和磁化)の比」を改善して、従来より困難であるとされていた残留磁束密度を向上させることのできる酸化物磁性体の製造方法を提供する。 - 特許庁

The circuit pattern inspection apparatus is configured to display, on a monitor 50, images for detection 522, 523 and 524 in respective chip regions and inspects defect of their circuit patterns by using such displayed images, when it inspects a semiconductor wafer having a plurality of chip regions (dies) whose circuit patterns are identical.例文帳に追加

回路パターン検査装置では、同一の回路パターンを有する複数のチップ領域(ダイ)を有する半導体ウエハを検査するとき、チップ領域毎の検出用画像522,523,524をモニタ50に表示し、チップ領域毎の検出用画像522,523,524から、回路パターンの欠陥を検査する。 - 特許庁

To mass-produce group III nitride semiconductor light emitting elements in an industrial scale by reducing the defect rate of light emitting elements for extracting light from the substrate side, and improving light extraction efficiency as to a group III nitride semiconductor light emitting element using an n-type conductive substrate.例文帳に追加

n型導電性基板を用いたIII族窒化物半導体発光素子において、基板側より光を取り出す発光素子の不良率の低減および光り取り出し効率を向上させ、工業的規模でIII族窒化物半導体発光素子の量産を図る。 - 特許庁

The manufacturing method and the inspection method of organic EL element comprise a step for applying a voltage between the upper surface side and the lower surface side of the protection layer 26, and a step for deciding presence or absence of a defect of the protection layer 26 on the basis whether a current flows through the protection layer 26.例文帳に追加

本製造方法および検査方法は、前記保護層26を挟んで上面側と下面側から電圧を印加する工程と、前記保護層26に電流が流れたか否かによって該保護層26の欠陥の有無を判定する工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The defects of a plurality of steel materials are detected with the positions, and stored as defect data, and cutting specification data related with the ordering of steel materials are stored, and a yield rate is calculated by using those data, and the sets of a plurality of base materials and a plurality of orders are selected and decided by using the yield rate.例文帳に追加

複数の鋼材の欠陥を位置と共に検出して欠陥データとして記憶しておくと共に、鋼材の注文に係る切断仕様データを記憶しておき、これらデータを用いて歩留率を算出し、この歩留率を用いて複数の母材と複数の注文の組を選択決定する。 - 特許庁

例文

To provide a manufacturing method of a tube for a pneumatic tire capable of preventing a defect in manufacture from being caused because a green tube is bent to cause a flaw and the flaw is worsened to produce the unevenness of the gage of the green tube, and to provide a cushioning material, an expansion-contraction apparatus and a turning apparatus.例文帳に追加

本発明は、グリーンチューブに折れ傷が発生し、該折れ傷が悪化することによってグリーンチューブのゲージが不均一になり、製造不良に繋がることを抑制することのできる空気入りタイヤ用チューブの製造方法、緩衝材、拡縮装置及び回転装置を提供する。 - 特許庁




  
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