「DEFECTIVE」に関連した英語例文の一覧と使い方(206ページ目) - Weblio英語例文検索

The upper surface of the stacked sheets A is sucked and lifted up by the sucking and lifting/lowering device 10, a detection sensor PH disposed on the side of the stacked sheets A detects whether or not the stacked sheets A are lifted up, and the detection sensor PH outputs the signal of the defective binding if the stacked sheets are not lifted up.例文帳に追加

その吸着昇降装置１０によって山積みシートＡの上面を吸着して上方に持ち上げ、山積みシートＡの側方に設けられた検出センサＰＨにより山積みシートＡが持ち上げられたかどうかを検出し、持ち上げられていない場合に検出センサＰＨにより結束不良の信号を出力する。 - 特許庁

To favorably cope with replacement of a defective block with an alternative block without occurring discontinuity of reproduced data such as sound interruption without adding a high-speed CPU (hardware) or high-speed large capacity memory (without increasing device cost) in an information reproduction control method of information recording medium which has a defect management function.例文帳に追加

欠陥管理機能を有する情報記録媒体の情報再生制御方法において、高速なＣＰＵ（ハードウェア）や高速大容量メモリを追加しなくても（装置のコストをアップさせることなく）、音切れなどの再生データの不連続性を発生させることなく、欠陥ブロックの代替ブロックへの置き換えに良好に対応できるようにする。 - 特許庁

A semiconductor wafer 5, having semiconductor chip formation parts 3, is prepared and the electrical characteristics of the respective semiconductor chip formation parts 3 are inspected to decide on their being normal parts or defective parts; and the other semiconductor chip 9 of at least one piece is electrically connected to each semiconductor chip formation part 3 which has been decided as being a normal part.例文帳に追加

複数の半導体チップ形成部３を備えた半導体ウエハ５を用意し、それぞれの半導体チップ形成部３について電気的特性検査を行い、良品部分または不良品部分の判定を行い、良品部分と判定された各半導体チップ形成部３に、少なくとも一つの個片の他の半導体チップ９を電気的に接続する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor by which the occurrence of fogging is prevented and also the occurrences of defective images such as black spots and an environmental memory are eliminated by improving humidity changes in an electrification characteristic and a sensitivity characteristic when using a titanyl phthalocyanine pigment or the like, an image forming method, an image forming apparatus and a process cartridge using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

本発明はチタニルフタロシアニン顔料等を用いた場合の帯電特性、感度特性の湿度変化を改良し、カブリが発生せず、且つ黒ポチや環境メモリ等の画像欠陥の発生がない電子写真感光体を提供することであり、該電子写真感光体を用いた画像形成方法、画像形成装置、プロセスカートリッジを提供することにある。 - 特許庁

To provide a substrate bonding apparatus for manufacturing an electro-optical device, when the electro-optical device is manufactured by bonding a plurality of a second substrates on a plurality of predetermined areas containing electro-optical material formed on a first substrate simultaneously, without applying an excessive cost to the electro-optical device formed from a defective area within the predetermined areas.例文帳に追加

第一基板に形成された電気光学物質を含む複数の所定の領域に、複数の第二基板を同時に貼り合わせて電気光学装置を製造する際に、上記領域内の不良の領域から形成される電気光学装置に過大なコストをかけずに電気光学装置を製造する基板貼り合わせ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laminated wiring board and a method of manufacturing the same, in which equal pressure may be applied between the wiring patterns to be connected and thereby poor connection of wiring patterns can be eliminated and generation of defective conductive area can also be prevented, when the laminated wiring substrate is manufactured by connecting two wiring board of printed board and flexible substrate through thermal deposition method.例文帳に追加

プリント基板及びフレキシブル基板等の２個の配線基板を熱圧着して接続し、積層配線基板を製造する際に、接続すべき配線パターン間に均一に加圧力を印加することができ、配線パターンの接続が不良とならず、導通不良箇所の発生を防止できる積層配線基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Alternatively, semiconductor wafers each of which has the number of LPDs per wafer equal to or smaller than a prescribed number are selected, and semiconductor wafers having a specific relationship between in-plane standard deviation values and in-plane average values of haze signals within wafer surfaces are selected, and the selected semiconductor wafers are determined to be non-defective wafers.例文帳に追加

また、ウェーハあたりのＬＰＤの個数が所定の個数以下である半導体ウェーハを選別し、更に選別した半導体ウェーハの選別した半導体ウェーハの中から、ウェーハ面内におけるヘイズ信号の面内標準偏差値及び面内平均値が特定の関係を示す半導体ウェーハを選別し、これを良品のウェーハとして判定する。 - 特許庁

In a structure where the array element and the organic electroluminescent diode are configured on the different substrates and connected together through a conductive spacer, in order to prevent defective contact between the conductive spacer and the organic electroluminescent diode, a difference is provided between an external pressure and an internal pressure of the substrate in a bonding process for a improved contacting force due to a pressure difference.例文帳に追加

また、アレー素子と有機電界発光ダイオードを相異なる基板に構成して伝導スペーサを通して連結させる構造において、伝導スペーサと有機電界発光ダイオード間に接触不良が発生することを防止するために、合着工程で基板の外部圧力と内部圧力に差を与えて圧力差により接触力を向上させる。 - 特許庁

To provide a reject tray and a paper treatment device capable of storing papers not suitable for issue and preventing occurrence of jam (defective storage) caused by the collision of succeeding papers with rear edges of stored papers by stopping the papers so that the position of the rear edges of all the reject papers stored in the tray is optimized.例文帳に追加

発行に適さない紙葉類を収容可能なリジェクトトレイであって、トレイ内に収容される全てのリジェクト紙葉類の後端縁の位置が最適位置となるように停止させることにより、後続紙葉類が既収容紙葉類の後端縁に衝突してジャム（収容不良）を発生することを防止できるリジェクトトレイ及び紙葉類処理装置を提供する。 - 特許庁

Synthetic resin injection ports 6 are arranged to the peripheral part of a product mold gap F and cooling water channels W1, W2, W3, W4 and W5 are made large in volume to be arranged so as to approach the product mold gap F to the utmost not only to reduce the generation of a defective article but also to reduce a cooling time by 30-50%.例文帳に追加

合成樹脂の射出口Ｒ６を製品型空隙Ｆの周辺部に配置し、冷却水の水路Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、Ｗ４、Ｗ５を大容積のものとしできる限り製品型空隙Ｆに近接させて配設することにより不良品の発生を低減させ、かつ冷却時間を３０〜５０％短縮できた。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an intermediate product of individual grating by cutting main members in advance by which deformation caused by the thermal distortion is not caused, the occurrence of defective products can be prevented, material loss is not caused even in the case of manufacturing dissimilar gratings, the yield of the products is excellent, and the order of small lot can be economically coped with.例文帳に追加

予め主部材を切断しておく個別型グレーチングの中間製品の製造方法において、熱歪みによる変形がなく、不良品の発生を防止でき、異形のグレーチング製造の場合でも材料ロスの発生がなく製品の歩留まりが良好で、小口注文に経済的に対処できる新規な製造方法を確立することである。 - 特許庁

To provide a membrane pattern formation method capable of suppressing a material for forming the membrane pattern from being wastefully consumed and easily discriminating a defective article and an acceptable article in a post-step, a production method for an elastic surface wave device, a liquid drop delivery apparatus, an elastic surface wave device, an elastic surface wave oscillation apparatus and an electronic instrument.例文帳に追加

膜パターンを形成する材料が無駄に消費されることを抑制できると共に、後工程において、不良品を良品と区別し易くすることができる、膜パターン形成方法、弾性表面波デバイスの製造方法、及び液滴吐出装置、並びに弾性表面波デバイス、弾性表面波発振装置、及び電子機器を実現する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus which enhances a process efficiency such as productivity and workability by attaching a separate film to an accurate location without loss of a step and which capable of remarkably improving product quality by preventing the occurrence of defective products while controlling the waste of attaching the separate film onto the wrapper film, as much as possible.例文帳に追加

包装紙フィルムに付着すべき別途のフィルムの無駄遣いを極力抑えながら、工程のロスなしに別途のフィルムを正確な個所に付着することで作業性及び生産性などの工程効率を向上し、且つ製品不良も防止することで製品の品質をも大きく向上することができる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To prevent generation of a defective product while applying a necessary winding tension in a method for winding a series of RFID tags comprising a number of RFID tags exchanging information with an external device in a non contact manner formed on a long belt-like flexible base at a predetermined pitch, and a RFID tag roll having the series of FRID tags wound thereon.例文帳に追加

本発明は、非接触で外部機器との間で情報のやり取りを行うＲＦＩＤタグが長帯状かつ可撓性のベース上に所定のピッチで多数形成されてなるＲＦＩＤタグシリーズの巻取方法、およびＲＦＩＤタグシリーズが巻取られてなるＲＦＩＤタグロールに関し、必要な巻取りテンションを与えつつ不良品の発生を防止する。 - 特許庁

The optimum correction information is calculated (step S402) based on an electric characteristic result of an IC chip in the packaged IC chip just before delivery determined as a defective in an inspection process (step S401), and the calculated correction information is written in a nonvolatile memory for correction inside the IC chip to correct the electric characteristic of the IC chip (step S403).例文帳に追加

検査工程（ステップＳ４０１）において不良品と判定された出荷直前のパッケージ化されたＩＣチップに対し、その電気特性結果から最適な補正情報を算出し（ステップＳ４０２）、算出した補正情報をＩＣチップ内の補正用の不揮発メモリに書き込んで半導体チップの電気特性を補正する（ステップＳ４０３）。 - 特許庁

An output interruption circuit 13 is respectively provided to a plurality of the control units 5 in multi-drop connection to the nurse call master unit 1 via the nurse call trunk line cable 9, a transmission signal outputted from the nurse call master unit 1 activates the output interruption circuit 13 to disconnect a transmission circuit 12 of the defective control unit 5 from the nurse call trunk line cable 9.例文帳に追加

ナースコール親機１にナースコール用幹線ケーブル９を介してマルチドロップ接続される複数の制御器５にそれぞれ出力断回路１３を設け、ナースコール親機１から出力される送信信号で、前記出力断回路１３を作動させ、制御器５の送信回路１２をナースコール用幹線ケーブル９から切り離す。 - 特許庁

An element abnormality determination part within an imaging device detects whether an object pixel in an image signal obtained by constant photographing by an imaging element in which an imaging region is composed of an effective imaging region and an OB region is a pixel in the OB region of the imaging element and is also a defective pixel, with respect to all the pixels in the imaging region (steps S103 to S108).例文帳に追加

撮像装置内の素子異常判定部は、撮像領域が有効撮像領域及びＯＢ領域からなる撮像素子により常時撮影を行って得られる映像信号中の対象画素が、撮像素子のＯＢ領域の画素であり、かつ、欠陥画素であるか否かを、撮像領域の全画素について検出する（ステップＳ１０３〜Ｓ１０８）。 - 特許庁

Measured characteristic data are collected in order under the condition where the hot-side measuring probe 3 contacts with the component terminal of an inspection object, to be stored in a storage part 13, and the collected characteristic data are compared with characteristic data of a non-defective electronic component stored in the storage part 13 to determine the quality of the characteristic of the electronic component.例文帳に追加

そして、検査対象の部品端子にホット側測定プローブ３が接触している状態で測定された特性データを順次収集し、記憶部１３に保存するとともに、収集した特性データと記憶部１３に記憶されている良品の電子部品の特性データとの比較により電子部品の特性の良否判定を行う。 - 特許庁

This circuit comprises a pre-charge circuit 41 which is connected between a first power source terminal and an output node N1 and precharges the output node N1 to the potential of the first power source terminal in accordance with a control signal, and a fuse bank 100 which is connected between the output node N1 and a second power source terminal and stores an address signal corresponding to a defective cell.例文帳に追加

第１電源端子と出力ノードＮ１との間に接続され、制御信号に応じて出力ノードＮ１を第１電源端子の電位にプリチャージするプリチャージ回路４１と、出力ノードＮ１と第２電源端子との間に接続され、欠陥セルに対応するアドレス信号を貯蔵するヒューズバンク１００を含む。 - 特許庁

A fault of PD72 can be detected easily with a simplified structure because the PD72 can be detected as defective when the PD72 outputs a current, and the PD72 can be detected as normal when the PD72 does out output a current under the condition that an LD30 does not emit the optical beam.例文帳に追加

ＬＤ３０から光ビームが出射されていないときに、ＰＤ７２から電流が出力されているときには、ＰＤ７２が異常であると判別し、ＰＤ７２から電流が出力されていないときには、ＰＤ７２が正常であると判別することができるので、簡易な構成で、容易にＰＤ７２の異常を検知することができる。 - 特許庁

To reduce the fraction defective by clearing the very stringent accuracy of the hole diameter and the position, to improve the productivity, and to reduce the total production cost in a multi-core ferrule manufacturing method in which a plurality of metal wires, etc., are used for master, the wires are removed after the electro-casting and ferrule is machined.例文帳に追加

金属などの線材の二本以上の複数本を母型に使用し、電鋳後、当該線材を除去してから機械加工する多心フェルールの製造方法において、孔径及び位置の極めて厳しい精度をクリアすることによって更に不良率を低くすることと、生産性を向上して、全体の生産コストを更に下げること。 - 特許庁

To provide a method for forming a photovoltaic element which can solve such a problem that a semiconductor layer formed on a metallic layer functioning as a photoelectric conversion layer can not cover the metallic layer sufficiently well and a defective part is produced because a projection projecting partly from the uneven area formed on the surface of the metallic layer or a part having a large difference in height in the uneven area exists.例文帳に追加

本発明は、金属層表面に形成した凹凸の一部に突出した部分や凹凸差が大きな部分が存在するため、その上に形成される光電変換層として機能する半導体層が金属層を十分に被覆できず、欠陥部位が生じてしまう問題、を解消できる光起電力素子の形成方法を提供する。 - 特許庁

This status display system for a printer acquires device information about the printer connected to a network, estimates a total print number from maintenance information of the printer not connected to the network, and in maintenance of the printer by a maintenance operator, acquires information necessary for the maintenance from a server for allowing preparation of a replacement part or prediction of a defective part.例文帳に追加

本発明はネットワークに接続されたプリンタ装置から装置の情報を取得し、又はネットワークに非接続のプリンタ装置のメンテナンス情報からトータル印刷枚数を推測し、保守員がプリンタ装置のメンテナンスを行う際、メンテナンスに必要な情報をサーバから取得し、例えば交換部品の準備や不良個所の予測を予め可能とするものである。 - 特許庁

A microcomputer 240 is operated by a defective pixel selecting program stored in a program ROM 250 to execute processing of the defect detection circuit 211 several times while varying the detection level and narrows down detected pixels so that the number of detected pixels may be within the range of the preliminarily prepared maximum value of the number of pixels which can be subjected to correction processing.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２４０では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えながら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。 - 特許庁

To provide a display device capable of discriminating that a defective pixel is which kind of pixel (picture element) among a plurality kinds of pixels on a process of forming a switching element when manufacturing a display element, moreover having uniformly aligned characteristics of respective pixels without differences of pixel opening area, cumulative capacitance or else at every kinds of pixels.例文帳に追加

表示素子を製造する際に、スイッチング素子を形成した段階で、欠陥のある画素が複数種類の画素のうちどの種類の画素（絵素）であるかを識別することが可能であると共に、画素の種類によって画素開口面積及び蓄積容量等の違いが生じることがなく、各画素の特性が均一に揃っている表示装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, by performing ion implantation using a mask 180 in a second ion implantation process, an impurity ion is implanted into a region including the defective portion where the width of the offset region 114 is enlarged, to form the hole storage region 113 including a protruding region 113A to the transfer electrode 160A, 160B sides.例文帳に追加

そこで、第２のイオン注入工程によってマスク１８０を用いたイオン注入を行うことにより、オフセット領域１１４の幅が大きくなった欠損部分を含む領域に不純物イオンを注入し、転送電極１６０Ａ、１６０Ｂ側へのはみ出し領域１１３Ａを有する正孔蓄積領域１１３を形成する。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for evaluating the solder shape at the time of BGA(bal grid array) mounting in which defective solder shape after secondary mounting of BGA is evaluated before secondary mounting, and a computer readable recording medium storing a program for evaluating the solder shape at the time of BGA.例文帳に追加

本発明は、ＢＧＡ(Ball Grid Array)の二次実装後におけるはんだ形状不良を二次実装前に評価するＢＧＡ実装時におけるはんだ形状評価方法及びＢＧＡ実装時におけるはんだ形状評価装置及びＢＧＡ実装時におけるはんだ形状評価プログラムを収納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。 - 特許庁

A semiconductor memory comprises a redundancy memory cell and a fuse circuit having three output states being different each other according to an input signal, and is provided with a redundancy circuit having a redundancy word line decoder substituting for a redundancy cell corresponding to a defective type generated in a normal cell by controlling cutting of a fuse according to an input signal.例文帳に追加

半導体メモリ装置は、冗長メモリセルと、入力信号に従いそれぞれ異なった三つの出力状態をもつヒューズ回路を含み、入力信号に従いヒューズのカッティングを制御してノーマルセルに発生した不良類型に相応する冗長セルに代替する冗長ワードラインデコーダとを有する冗長回路を備える。 - 特許庁

To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。 - 特許庁

To provide an image forming method capable of preventing an defective image such as black stripes on an image, even in the case of forming the image by an image forming apparatus where a lamp irradiation position by an eraser lamp lies on the upstream side of a toner removing area by a cleaning device in the electrostatic latent image carrier rotating direction.例文帳に追加

イレーサーランプによるランプ照射位置がクリーニング装置によるトナー除去領域よりも静電潜像担持体の回転方向上流側である画像形成装置を用いて画像形成を行う場合であっても、画像上に黒筋が生じるなどの画像不良が発生するのを防止することができる画像形成方法を提供することである。 - 特許庁

The data management device 8 has a function of storing process information on processing conditions of each processing, in a storage device in association with identification codes for specifying products, deleting the whole process information on products determined to be non-defective products as a result of an inspection process performed on the produced products, from the storage device, and holding other information than that.例文帳に追加

このデータ管理装置８は、各処理の処理条件に関するプロセス情報を製品を特定する識別符号と対応させて記憶装置に記憶させ、生産された製品について行われた検査工程の結果、良品と判定されたものに関する全プロセス情報を記憶装置から削除し、それ以外を保持させる機能を備えている。 - 特許庁

To provide an image forming device and an image forming method, which do not generate any defective image such as a black dot, etc., by improving the toner cleaning performance of a cleaning device for cleaning toner while applying a bias voltage and coming into contact with a photoreceptor, and also, resolving the problem of an image memory easily occurring in the case of using the cleaning device.例文帳に追加

本発明はバイアス電圧を印加し感光体に接触してトナーのクリーニングを行うクリーニング装置を用い、トナーのクリーニング性を改良すると共に該クリーニング装置を用いた場合に発生し易い画像メモリーを解決し、黒ポチ等の画像欠陥を発生させない画像形成装置、画像形成方法を提供することである。 - 特許庁

Information for generating a pseudo memory defective pattern is automatically extracted based on information about memory circuit constitution of a test specification 2 and redundancy circuit constitution, a pseudo memory pattern information file 10 is prepared, while a relieving code expected value is automatically extracted, and a relieving code expected value file 11 is prepared (STP6).例文帳に追加

試験仕様書２のメモリ回路構成及び冗長回路構成に関する情報に基づいて、擬似メモリ不良パターンを発生させるための情報を自動抽出して擬似メモリ不良パターン情報ファイル１０を作成すると共に、救済コード期待値を自動抽出して救済コード期待値ファイル１１を作成する（ＳＴＰ６）。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, which is equipped with a metal fuse structure which is restrained from causing failure to it due to the fact that moisture penetrates through molding resin, when the defective bits of memory cells which form an LSI are substituted by redundant bits and a fuse-cutting device which cuts off the fuses of the same.例文帳に追加

ＬＳＩを構成するメモリセルの不良ビットを冗長ビットで代替した場合に、モールド樹脂を浸透してきた水分によって金属製ヒューズに起因する動作不良を起さないようにしたヒューズ構造を有する半導体集積回路装置およびそのような半導体集積回路装置のヒューズを切断するヒューズ切断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

The equipment for experiencing and learning wall cloth is constituted of a wall substrate display 101, provided with a defectively constructed parts on the wall surface, and a wall cloth display 102 provided with the same defective parts as the wall substrate display 101 covered with two types of wall cloth, and the wall substrate 101 and the wall cloth display 102 are arranged side by side.例文帳に追加

本壁クロス体験学習装置１００は、壁面に施工不良箇所が設けられた壁下地ディスプレイ１０１と、壁面に壁下地ディスプレイ１０１と同様の施工不良箇所が設けられ、該施工不良箇所を覆うように２種類の壁クロスが貼着された壁クロスディスプレイ１０２とが並んで設けられたものである。 - 特許庁

To provide a device for producing absorbent articles, a method for producing absorbent articles, and an absorbent article, for suppressing manufacturing a defective absorbent article due to creases generated on a continuum, when a plurality of sheets are connected together by pressing an outer edge section of the continuum corresponding to an extended part formed of the plurality of sheets.例文帳に追加

複数のシートにより形成された延出部に相当する連続体の外縁領域部位を押圧することによって複数のシートを接合する場合において、連続体にシワが発生することによる吸収性物品の製造不良を抑制できる吸収性物品の製造装置、吸収性物品の製造方法及び吸収性物品を提供する。 - 特許庁

In the layout verification method of a semiconductor device for verifying a formation defect which occurs in wiring on a chip layout, an area ratio between the total area of the same node wiring on the chip layout and the total area of a contact hole on the same node wiring is limited and based upon the limitation, propriety is judged to detect the portion where the wiring formation is defective.例文帳に追加

チップレイアウト上の配線で発生する形成不良を検証する半導体装置のレイアウト検証方法であって、チップレイアウト上で同一ノード配線の総面積と同一ノード配線上のコンタクトホールの総面積との面積比を制限し、この制限に基づいて良否判定することにより配線形成不良箇所を検出する。 - 特許庁

A standard substrate 3 is faced symmetrically to a testing substrate 2 by a substrate arranging means 26 via an electrode member 4, then an RF electromagnetic wave is propagated to the member 4 by a network analyzer 5 to measure a characteristic, and the presence of defects in a surface of the testing substrate 2 is determined by a defective detecting means 25, based on a result measured hereinbefore.例文帳に追加

標準基板３と試験基板２を基板配置手段２６で電極部材４を介して対称に対向させ、この状態でネットワークアナライザ５により電極部材４にＲＦ電磁波を伝搬させて特性を測定し、この測定結果から不良検出手段２５により試験基板２の表面の不良の有無を判定する。 - 特許庁

To provide an inspecting device for semiconductor pattern where, when a semiconductor circuit pattern region of a sample is inspected, a clear contrast between a defective part and a base material is obtained, various patterns of defects, voids and foreign matters of various materials are detected, and the defects are classified using the result of detection of the inspected defects, and a method for inspecting semiconductor pattern.例文帳に追加

試料の半導体回路パターン領域の検査を行う際に、欠陥部と下地で明確なコントラストが得られ、幅広い種類のパターンの欠陥，空隙，各種材質の異物を検出でき、その検査された欠陥検出結果を用いて欠陥を分類することができる半導体パターン検査装置及び半導体パターン検査方法を提供する。 - 特許庁

Then, both ends of the shaft 33a is held by a receiving part 55 while the brush 33 is rocked, and the brush 33 is positioned and is provided in the charging, so that the defective contact of the brush due to the manufacturing error of the resin frame 35 or the like is eliminated and a uniform charging is imparted to the surface of the photoreceptive drum.例文帳に追加

そして、前記帯電ブラシ３３が揺動した状態で、軸３３ａの両端部を受部５５により受けて、ブラシ３３の位置決めを行って帯電作用に供することで、樹脂フレーム３５の製造誤差等に起因するブラシの接触不良を解消し、感光体ドラム表面に均一な帯電作用を付与できるようにする。 - 特許庁

The apparatus and method for optically inspecting a printed circuit board make it possible to use light in an infrared band to reduce excessive detection of products that are judged to be defective due to a nonconducting foreign matter, and make it possible to simultaneously carry out an electrical circuit pattern inspection and an appearance inspection, thus enabling an improvement in speed of inspection.例文帳に追加

開示されたプリント回路基板の光学検査装置及びその方法によれば、赤外線帯域の光を利用して非伝導性異物によって不良品と判別される過検出を低減することができ、電気的な回路パターン検査及び外観検査を同時に処理することができるため、検査速度を向上させることができる。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

To provide an optical disk device for recording data only once on an optical disk, in which data is written so as to be readable even in other optical disk device while relieving data for a defective block, and to provide a data recording method in the optical disk device, and an optical disk in which data is recorded by the device and method.例文帳に追加

一度だけ記録可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、欠陥ブロックに対するデータを救済しつつ、他の光ディスク装置においても読み取り可能にデータを書き込む光ディスク装置、光ディスク装置におけるデータ記録方法、及びそれら装置、方法によってデータが記録された光ディスクを提供すること。 - 特許庁

In the method for producing the titanium oxide thin film, a prepared dense multilayer carbon nanotube whose surface is provided with a defective part and/or pores and/or an oxidized part by performing ultrasonic treatment or high-frequency treatment is dispersedly arranged at a glass substrate, and titanium oxide is thereafter vapor-deposited on the carbon nanotube in a gaseous oxygen atmosphere by a laser ablation process.例文帳に追加

超音波処理もしくは高周波処理を施すことによって表面に欠陥部位及び／または細孔及び／または酸化部位を設けた調整稠密多層カーボンナノチューブをガラス基板に分散配置した後、このカーボンナノチューブに対して酸素ガス雰囲気中でレーザーアブレーション法により酸化チタンを蒸着させるようにしている。 - 特許庁