「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(364ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor memory unit configured to access the semiconductor memory through a memory control circuit includes a section for detecting the defective cell of the semiconductor memory and a defective cell rescue section arranged in the memory control circuit to assign a relief cell to rescue the defective cell of the semiconductor memory based on the result of detection by the defect detecting section.例文帳に追加

メモリ制御回路を介して半導体メモリにアクセスするように構成された半導体メモリ装置において、半導体メモリの不良セルを検出する不良セル検出部と、メモリ制御回路に設けられ、不良セル検出部の検出結果に基づき半導体メモリの不良セルを救済するための救済セルを割り当てる不良セル救済処理部、を備えたもの。 - 特許庁

Since the block copolymer is provided by showing a sol-gel transition behavior sensitive to temperature and pH not only supplementing the defect of conventional temperature sensitive copolymers, but also forming a further strong and stable hydrogel and being safe in a body, it is possible to utilize the same for various uses in medicinal and pharmaceutical delivery fields.例文帳に追加

本発明に係るブロック共重合体は、温度及びｐＨに敏感なゾル−ゲル遷移挙動を示すことにより、従来の温度敏感性の共重合体の欠点を補うだけではなく、一層強固で且つ安定したヒドロゲルを形成すると共に、体内で安全なものであることから、医療用及び薬物伝達分野において各種の用途として活用可能である。 - 特許庁

To provide a processing apparatus for a CTP printing plate that gives no adverse influence on an automatic platemaking machine caused by an elution defect portion on an end face of a photosensitive material due to pressure fog upon developing, even in a CTP printing plate requiring a chamfering process, and that can carry out stable development for a long period of time without depositing dirt on the surface of a conveyer roll.例文帳に追加

面取り処理を必要とするＣＴＰ印刷版においても現像時に圧力カブリによる感光材料端面部の溶出不良部に起因する自動製版機への悪影響が無く、また搬送ロールの表面に汚れが固着することなく長期に渡って安定な現像処理を行うことが可能なＣＴＰ印刷版の処理装置を提供する事。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing the toner capable of forming an image high in image quality and freed of image defect due to residual unreacted polymerable monomers by uniformly eliminating the unreacted polymerizable monomer and efficiently drying without receiving heat for a long time at the time of drying the toner particles in a wet state obtained by a polymerization process.例文帳に追加

重合法によって得られた湿潤状態のトナー粒子を乾燥させる場合に、未反応の重合性単量体を均一に除去でき、しかも熱を長時間受けることなく、効率のよい乾燥を実現することによって、残留する未反応の重合性単量体に起因する画像欠陥のない高画質画像の形成が可能なトナーが得られるトナーの製造方法の提供。 - 特許庁

This phosphor powder is obtained by preparing a core material through a solution preparation and its reaction process, then mixing the core material with an activator and a co-activator, subjecting it to a burning process and a removing process in which a surface crystalline defect layer or a surface strain layer formed in the burning process is removed, and then carrying out a surface treatment.例文帳に追加

このような蛍光体粉末は、溶液の調整工程及び反応工程を経てコア材を製造した後、該コア材を付活剤及び共付活剤と混合し、次いで焼成工程後、焼成品の表面に形成された表面結晶欠陥層あるいは表面歪み層を除去する除去工程を設け,その後表面処理することにより製造される。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens with a socket type frame for position correction which is applicable by being combined with various cover glasses and/or various liquid immersion liquid and/or at various working temperature, which can be moved in an axial direction, which can be used instead of a compression spring used for the microscope objective lens and other objective lens and further which can remove a defect of the spring.例文帳に追加

様々なカバーガラスおよび/または様々な液浸液と組み合わせて、および/または様々な作業温度において適用可能な軸方向に移動でき、顕微鏡対物レンズおよびその他の対物レンズに使用される圧縮バネの代わりになり、しかもバネの欠点を取り除くことができる位置修正用ソケット型フレームの付いた顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

When a short circuit is produced between a lower electrode and an upper electrode due to a pinhole 12 of an insulating film 7 in an auxiliary capacitor part consisting of a common signal wiring 3 or a scanning wiring (lower electrode), and an insulating film 7 and a pixel electrode 5 (upper electrode), a part of the upper electrode 13 near the short circuit defect 12 is removed by irradiation of light energy.例文帳に追加

共通信号配線３または走査配線（下部電極）と絶縁膜７と絵素電極５（上部電極）とで構成される補助容量部において、絶縁膜７のピンホール１２により下部電極と上部電極との短絡が生じている場合に、光エネルギーを照射して短絡欠陥部１２周辺の上部電極部分１３を除去する。 - 特許庁

To prevent the stripe void of an image caused by removed powder that adhesive material such as an electrification product adhering to an electrifying device 2 is removed in an image forming apparatus having an electrification cleaning stage for cleaning the electrifying device 2 and an adhesive and fused material eliminating stage for eliminating an image defect caused by the electrification product and the adhesion of developer on an image carrier 1.例文帳に追加

帯電装置２を清掃する帯電清掃行程と、像担持体１上の帯電生成物や現像剤付着等による画像不良を解消する付着・融着物解消行程を有する画像形成装置に於いて、帯電装置２に付着した帯電生成物などの付着物を除去した除去粉を起因として発生する画像の筋状白抜けを防止する。 - 特許庁

This defect inspecting device is provided with a laser beam source 1 for generating a light beam, a sample table 11 for observation, an objective lens 9 for converging the beam from the light source to irradiate a surface of a sample, a half-mirror 6a for separating a light beam reflected by the sample from the beam incident into the sample, and a wedge 17 for branching the separated light beam.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は光ビームを発生するレーザー光源１と、観察すべき試料台１１と、前記光源からの光ビームを集束して試料の表面に照射する対物レンズ９と、試料で反射した光ビームを試料に入射する光ビームから分離するハーフミラー６ａと、分離された光ビームを分岐するウェッジ１７を備えている。 - 特許庁

A surface layer 4, at least high in seed defect density, is removed in a first conductive silicon carbide epitaxial film 2 grown from the front surface of the first conductive silicon carbide single crystal substrate 1 by chemical vapor deposition method, and thereafter, a second conductive silicon carbide epitaxial film 3 is made to grow from the front surface of the silicon carbide epitaxial film 2, whose surface layer 4 is removed.例文帳に追加

化学気相蒸着法によって第１導電型の炭化珪素単結晶基板１の表面から成長させた第１導電型の炭化珪素エピタキシャル膜２における少なくとも種欠陥密度が高い表層４を除去した後、表層４を除去した炭化珪素エピタキシャル膜２の表面から第２導電型の炭化珪素エピタキシャル膜３を成長させる。 - 特許庁

The method for manufacturing the semiconductor device comprises the steps of forming a recess 5 or a protrusion on the upper surface of a semiconductor substrate 1, then performing a homoepitaxy on the upper surface of the substrate 1 to form a homoepitaxial film 4 and a defect layer 6, and measuring the thickness of the film 4 based on the measurement of the length dimension of the layer 6 in the off direction.例文帳に追加

本発明の半導体装置の製造方法は、半導体基板１の上面に凹部５または凸部を形成した後、半導体基板１の上面にホモエピタキシーを実行してホモエピタキシャル膜４と欠陥層６とを形成し、そして、欠陥層６のオフ方向の長さ寸法を測定することに基づいてホモエピタキシャル膜４の膜厚を測定するように構成したものである。 - 特許庁

Among the court's precedent (e.g., Judgment of Tokyo District Court, February 18, 1997, 964 Hanreitaimusu 172) states that because every program is likely to have some Bugs, a program should not be considered as having defect because of the Bug if the Vendor repair the Bugs promptly after becoming aware thereof or if they quickly take reasonable, alternative steps after consulting with users. 例文帳に追加

裁判例の中にも、プログラムにはバグが存在することがあり得るものであるから、不具合発生の指摘を受けた後、遅滞なく補修を終え、又はユーザーと協議の上相当な代替措置を講じたときは、当該バグの存在をもってプログラムの欠陥（瑕疵）と評価することはできない、とするもの（東京地裁平成９年２月１８日判決・判タ 964号 172頁）がある。 - 経済産業省

Its thickness (d) is determined by satisfying a prescribed relation with the refractive index (n) of the material of the defect layer, to obtain a transmissivity spectral half-value width Wt, with which ample extinction ratio can be obtained, even if the half-value width is about 1 nm for spectrum when an LD is an incident light.例文帳に追加

欠陥層３としてＰＬＺＴの焼結材を用い、研磨することによって、欠陥層３を薄膜化し、その厚さｄを欠陥層の材料の屈折率ｎとの関係で所定の式を満足させることにより、ＬＤを入射光として用いた場合のスペクトルの半値幅が１ｎｍ程度の大きさがあっても、十分な消光比が取れるだけの透過率スペクトル半値幅Ｗｔを得ることができる。 - 特許庁

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20.例文帳に追加

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。 - 特許庁

The method for continuously inspecting the transparent resin sheet on a production line radiates light from a light source installed above the transparent resin sheet and detects a shadow cast on a whiteboard installed behind the transparent resin sheet through the transparent resin sheet, to thus detect an appearance defect in the transparent resin sheet.例文帳に追加

透明な樹脂シートを生産ライン上で連続的に検査する方法において、透明樹脂シート上方に設置した光源により光を照射し、該透明樹脂シートの裏側に設置した白板に写る影を該透明樹脂シート越しに検出することによって、透明樹脂シートの外観上の欠点を検出する透明樹脂シートの検査方法およびかかる検査方法により得られる品質に優れた透明樹脂シートの製造方法。 - 特許庁

To provide a dental implant used for tooth root defect preventing from occurring of loosening and release phenomena of an abutment from an implant body, eliminating discomfort with the use and improving the durability of use.例文帳に追加

インプラント体にアバットメントをテーパー雄ネジ及びテーパー雌ネジからなるテーパーネジ構造により結合固定することになり、このテーパー雄ネジ及びテーパー雌ネジからなるテーパーネジ構造によりテーパーネジ相互の固有の螺着結合強度の向上を図ることができ、インプラント体に対するアバットメントの緩みや離脱現象を未然に防止することができ、使用に伴う不快感をなくすことができるとともに使用の耐久性を高めることができる。 - 特許庁

To solve the defect of the conventional cleaning technique for oil containing insoluble contaminants by establishing a novel separation method for separating insoluble contaminants in oil, which are mixed in the wide range from large particles to small particles, in place of the separation treatment conventionally performed as a method for removing the insoluble contaminants in the oil.例文帳に追加

本発明は、油中の不溶性汚染物を除去する方法として、従来行われている分離処理法にかわり、大きい粒子から小さい粒子まで広範囲に混在している油中の不溶性汚染物を一つの処理方法で同時に分離する新規な分離法を確立することにより、従来の不溶性汚染物を含む油の浄化技術における欠点であった課題の解決を図る。 - 特許庁

Consequently, since oxidation film can be securely formed even in the part where surface area of the end parts of fins 122, 132 is very small if oxidation film is formed by the anode oxidation film treatment, it is possible to prevent the generation of hydrogen gas securely due to chemical reaction of aluminum and water, even if SiO_2 film cannot be formed and a crack defect occurs in the SiO_2 film.例文帳に追加

したがって、陽極酸化皮膜処理にて酸化皮膜を形成すれば、フィン１２２、１３２の端部等の表面積が非常に小さい部分にも確実に酸化皮膜を形成することができるので、仮に端部にＳｉＯ_２皮膜が形成できなかった場合やＳｉＯ_２皮膜にクラック欠陥が発生していたとしても、アルミニウムと水とが化学反応して水素ガスが発生することを確実に防止できる。 - 特許庁

This defect classification equipment is provided with an illuminating unit 101 for illuminating a light transmitting coating surface with illuminating lights whose wavelength is restricted, a CCD camera 104 for imaging the interfering image of the coating surface through a lens 103, and a PC 110 for calculating the radiant direction component quantity of the peripheral luminance gradient to each pixel in the pickup image and for classifying the defects based on the radiant direction component quantity.例文帳に追加

波長を制限した照明光により光透過性のあるコーティング表面を照明する照明器１０１と、レンズ１０３を通してコーティング表面の干渉像を撮像するＣＣＤカメラ１０４と、撮像した画像内の各画素に対する周囲の輝度勾配の放射方向成分量を算出し、この放射方向成分量を基に欠陥を分類するＰＣ１１０とを具備する。 - 特許庁

To provide a method for obtaining a fired aluminum titanate body by firing a molded body of a starting material mixture, the method allowing a preferable mechanical strength to be kept even after binder is burnt off upon firing, therefore, suppressing the occurrence of a defect such as cracking during firing and producing a fired aluminum titanate body having a desired shape with a high yield.例文帳に追加

原料混合物の成形体を焼成することによりチタン酸アルミニウム系焼成体を得る方法において、焼成時、バインダが焼失した後においても良好な機械的強度を保つことができ、もって、焼成中におけるひび割れ等の欠陥の発生が抑制され、所望の形状を有するチタン酸アルミニウム系焼成体を歩留まりよく製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

The method of processing the substrate where the substrate is processed by dividing the same in a depth direction includes the steps of injecting protons from a main surface of the substrate S11; and irradiating to the substrate a light, having a wavelength substantially equal to the absorption wavelength of the defect level formed in the substrate by the proton injection so as to divide the substrate S12.例文帳に追加

基板加工方法は、基板を深さ方向において分断することによって加工する基板加工方法であって、基板の一主面側からプロトン注入を行うプロトン注入工程Ｓ１１と、プロトン注入によって基板中に形成された欠陥準位の吸収波長と略等しい波長をもつ光を基板に照射することにより基板を分断する照射工程Ｓ１２と、を具備する。 - 特許庁

A data recording device for the recording medium having a flash memory allowing writing of data with a block comprising a prescribed number of bytes as a unit, and having a function to use a part of all the blocks as the alternative block for a defect block not capable of being written with normal data transmits the data to the recording medium as a part of a data file with a data amount corresponding to a prescribed number of blocks as a writing unit.例文帳に追加

所定数のバイトからなるブロックを単位としてデータの書き込みが可能なフラッシュメモリを有し、全ブロックのうちの一部を正常なデータの書き込みができなくなった不良ブロックの代替ブロックとして用いる機能を有する記録媒体のためのデータ記録装置は、所定数のブロックに対応するデータ量を書き込み単位として、データファイルの一部としてデータを記録媒体へ送信する。 - 特許庁

In this image reader, the plurality of LEDs are made to simultaneously emit light toward a shading reference plate, a luminance value pattern corresponding to the arrayed LEDs from a detection result of an optical sensor based on reflected light from the shading reference plate, is obtained, and when a recessed part lower than a first predetermined threshold exists in the luminance value pattern, it is determined that the defect occurs in the LED single article corresponding to the recessed part.例文帳に追加

画像読取装置において、複数のＬＥＤに同時にシェーディング基準板に向けて発光させ、シェーディング基準板からの反射光に基づく光センサの検出結果からアレイ状のＬＥＤに対応した輝度値を取得し、当該輝度値に所定の第１のしきい値より低い凹箇所が存在する場合に、凹箇所に対応したＬＥＤ単品に異常が発生していると判定する。 - 特許庁

The inspection device of the display device includes a pattern control part for controlling a pixel control part for controlling the state of a pixel disposed in the display device, and making the display device display an image pattern having a discrete point string, an imaging part for acquiring image information by imaging the image pattern, and an inspection part for inspecting a defect based on the image information.例文帳に追加

表示デバイスに設けられた画素の状態を制御する画素制御部を制御して前記表示デバイスに離散的な点列となるような画像パターンを表示させるパターン制御部と、前記画像パターンを撮像して画像情報を取得する撮像部と、前記画像情報に基づいて欠陥の検査を行う検査部と、を備えたことを特徴とする表示デバイスの検査装置が提供される。 - 特許庁

To prevent a generation of a bird's beak on a surface of an element formation region due to a thick element isolation film formed in an element isolation region, to prevent an occurrence of a crystal defect in a semiconductor layer near an end of the element isolation film, and to reduce a stress received by the semiconductor layer, in a semiconductor device having a plurality of element formation regions and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

複数の素子分離領域で分離された複数の素子形成領域を有する半導体装置及びその製造方法において、素子分離領域に形成される膜厚の厚い素子分離膜による素子形成領域の表面のバーズビークの発生を防ぐこと、並びに素子分離膜の端部近傍の半導体層に結晶欠陥が発生することを防止し、且つ該半導体層が受けるストレスの低減を図る。 - 特許庁

To provide an aluminum oxide precursor sol which suppresses a defect in the appearance of a film caused by the flocculation of an organic aluminum compound upon film formation by removing the organic aluminum compound from the aluminum oxide precursor sol, and which enables a surface rugged structure having antireflection performance at low temperature to be produced, and to provide a method for producing the aluminum oxide precursor sol, and a method for producing an optical member using the same.例文帳に追加

有機アルミニウム化合物を酸化アルミニウム前駆体ゾルから除去することで製膜時の有機アルミニウム化合物の凝集による外観不良を抑制し、かつ低温で反射防止性能を有する表面凹凸構造を作製可能な酸化アルミニウム前駆体ゾルおよび酸化アルミニウム前駆体ゾルの製造方法、それ用いた光学用部材の製造方法を提供するものである。 - 特許庁

A step between a reflection portion which reflects EUV light and an absorption portion which absorbs the EUV light is adjusted to a size which is an odd multiple of a 1/4 wavelength of the inspection light used for defect inspection that is carried out utilizing edge light shield effect by a phase difference between reflected light from the reflection portion and reflected light from the absorption portion when a reflection-type mask blank is irradiated perpendicularly with the inspection light.例文帳に追加

ＥＵＶ光を反射する反射部とＥＵＶ光を吸収する吸収部との段差を、欠陥検査に使用する検査光の１／４波長の奇数倍の大きさに調整し、検査光を垂直に照射した際の、反射部からの反射光と、吸収部からの反射光の位相差によるエッジ遮光効果を利用して欠陥検査を行うことにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method and system for setting the destination of a microcomputer by which electronic equipment to be controlled by various specification is surely operated by switching and setting extended specifications added with the most extended functions among the various specifications even when any significant defect is generated since the pin of the select port of the microcomputer comes off a substrate due to any factor.例文帳に追加

本発明は、何等かの原因によりマイコンのセレクトポートのピンが基板から外れる等して重大な欠陥が生じた場合であっても、各仕様の内の最多の拡張機能が付加された拡張仕様に切換え設定するようにして、各仕様で制御する電子機器を確実に動作させることができるマイコンの仕向設定方法およびマイコンの仕向設定システムを提供するものである。 - 特許庁

In this color vision-handicapped person-adaptable computer input screen configured by an electronic form, the electronic form comprises components comprising at least a text, an object and input effect, a color vision defect degree of an input person is decided on the basis of input information about the user entered into an input frame, and display contents of the component are changed.例文帳に追加

電子フォームで構成されたコンピュータ入力画面において、前記電子フォームを少なくともテキスト，オブジェクト，入力効果からなる構成要素で構成し、入力枠に入力された利用者の入力情報に基づいて入力者の色覚障害度を判定し、前記構成要素の表示内容を変更することを特徴とする色覚障害者対応コンピュータ入力画面を提供する。 - 特許庁

To provide a solar cell of high energy conversion efficiency by reducing recombination of carrier by partially providing an insulating layer to a junction interface between a back electrode film and a semiconductor thin film which becomes a light absorbing layer, and by reducing defect density and improving carrier concentration by adding Ia group element or Vb group element to a partial insulating layer and diffusing it to the semicondcutor thin film.例文帳に追加

裏面電極膜と光吸収層となる半導体薄膜の接合界面に部分的に絶縁層を設けることによりキャリアの再結合を低減し、かつ部分的な絶縁層にＩａ族元素あるいはＶｂ族元素を添加することにより半導体薄膜へ拡散させて、欠陥密度の低減やキャリア濃度の向上を行い、エネルギー変換効率の高い太陽電池を提供する。 - 特許庁

The control method of an image forming apparatus comprises step S10 for receiving document image data and holding it in a storage section, and step S22 for making the image forming apparatus to form an image based on the document image data held in the storage section if a defect exists in a print result image formed by the image forming apparatus based on the document image data.例文帳に追加

原稿画像データを受信し、受信された原稿画像データを記憶部に保持させるステップＳ１０と、画像形成装置において原稿画像データに基づいて画像形成された印刷結果画像にディフェクトが存在した場合に記憶部に保持されている原稿画像データに基づいて画像形成装置に画像を形成させるステップＳ２２とを含む制御方法により上記課題を解決できる。 - 特許庁

(1) Subject to this Act, the Court may, on the application of the Registrar or a person aggrieved, order the rectification of the Register by - (a) making an entry wrongly omitted to be made; or (b) deleting or amending an entry wrongly made or wrongly remaining; or (c) inserting a condition or limitation that ought to be inserted; or (d) correcting an error or defect.例文帳に追加

(1) 本法に従い，裁判所は，登録官又は不服申立人の申請に基づき，次に掲げる方法による登録簿の訂正を命ずることができる。 (a) 誤って削除された記録を登録させること (b) 誤って行われた若しくは誤って残っている記録を削除若しくは修正すること，又は (c) 挿入すべき条件若しくは制約を挿入すること，又は (d) 誤り若しくは不備を訂正すること - 特許庁

(4) The statement of the grounds for the appeal on a point of law must contain 1. a declaration as to the extent to which the court order is being appealed and the extent the modification or reversal thereof is requested; 2. an indication of the legal rule breached; 3. where the basis for the appeal on a point of law is the argument that the law in respect of procedure was breached, a statement of the facts constituting the defect. 例文帳に追加

(4) 法律審判請求理由の陳述は，次のものを含まなければならない。 1. 裁判所命令に対する審判請求の範囲及び要求する変更又は破棄の範囲についての申立2. 違反が生じた法規範の表示3. 法律審判請求の基礎が，手続に関する法律についての違反があるという主張であるときは，その不備を構成している事実についての陳述 - 特許庁

To provide a rotary saw equipped with a hard tip in which there is no risk that the rotation of the rotary saw stops with rotary saw breaks and its broken pieces fly apart, or a material to be cut repels and is leaped, and also which has solved the defect that the rotary resistance of the rotary saw becomes large by a pressure from both sides of cutting groove.例文帳に追加

木質の被切断材を切断する際に、回転鋸の切り刃が深く喰いこむ結果、回転鋸の回転が停止したり、回転鋸が破断して、その破断片が飛散したり、或いは被切断材が反発して跳ね飛ばされる危険がなく、また切断溝の両側面からの圧迫により、回転鋸の回転抵抗が大きくなるという欠点を解消した超硬質チップを備えた回転鋸を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming device and its cleaning method capable of preventing an image defect such as a black point or void on a formed image by preventing the driving torque of a toner image carrier from being increased and abnormal sound such as chatter sound or jitter on the formed image from occurring and removing toner powder and the paste of label paper or the like which are electrostatically and physically firmly stuck.例文帳に追加

トナー像担持体の駆動トルクの増大、ビビリ音等の異音の発生、或は形成画像上のジッタの発生を防止すると共に、静電気的及び物理的に強く付着したトナー粉やラベル紙のノリ等を除去することにより、形成画像上に黒点や白抜けといった画像欠陥が生じるのを防止することができる、画像形成装置及びそのクリーニング方法を提供することを課題とするものである。 - 特許庁

To provide a hetero epitaxial wafer structured so that an element layer constituted of a compound semiconductor is hetero-epitaxially grown through a buffer layer on the main surface of a substrate capable of reducing a residual stress even when a linear expansion coefficient difference between the substrate and the element layer is large, and effectively suppressing the bending of the wafer or crystal defect generation to the element layer or the like.例文帳に追加

基板の主表面上に、バッファ層を介して化合物半導体よりなる素子層をヘテロエピタキシャル成長させた構造とされるヘテロエピタキシャルウエーハにおいて、基板と素子層との間の線膨張係数差が大きい場合にも、残留する応力を低減することができ、ひいては、ウエーハの反りや素子層への結晶欠陥発生などを効果的に抑制できるヘテロエピタキシャルウエーハを提供する。 - 特許庁

To provide a bond graph analysis system for blocking such a defect as much as possible that a work loss or input preparation error occurs since an analyzer temporarily prepares a bond graph on paper when analyzing the physical phenomenon of machine, fluid or electricity while expressing it with the bond graph and information required for analysis is constructed in an input file for analysis while watching the relevant bond graph.例文帳に追加

本発明は、機械，流体，電気等の物理的現象をボンドグラフで表現して解析する際に、解析者は一旦紙にボンドグラフ作成し、当該ボンドグラフを見ながら解析に必要な情報を解析用入力ファイルに構築させるようにしているために、作業ロスや入力作成ミスを生じさせており、このような欠点を可及的に阻止するボンドグラフ解析システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A crystal defect caused by the implantation of a fluorine ion can be recovered to decrease the leak level of the p-channel MOS transistor and a fluctuation in the leak by the steps of implanting a fluorine ion for forming the fluorine ion implantation region, implanting ion for forming a p-tyep LDD6, and heat treating before forming side walls of gate electrodes 3, 23 at temperatures not less than 900°C.例文帳に追加

フッ素イオン注入領域形成用のフッ素イオン注入、ｐ型ＬＤＤ６形成用のイオン注入後で、かつ、ゲート電極３，２３のサイドウォールの形成前に９００℃以上の熱処理を行うことにより、フッ素イオン注入による結晶欠陥を回復することが出来，その結果ｐチャネル型ＭＯＳトランジスタのリークレベルを低くすることができ，かつリークのばらつきも小さくできる。 - 特許庁

Each silicon crystal is heated at a first temperature in order to bring an in-crystal defective reaction into its quasi thermal equilibrium state, and an infrared absorption spectrum of each silicon crystal is measured while keeping an in-crystal defect concentration in the quasi thermal equilibrium state, and a first absorption peak value resulting from NN pairs and a second absorption peak value resulting from NNO complexes are acquired.例文帳に追加

シリコン結晶の各々を、第１の温度まで加熱して、結晶内欠陥反応を準熱平衡状態まで至らしめ、シリコン結晶の各々について、準熱平衡状態における結晶内欠陥濃度を維持した状態で赤外線吸収スペクトルを測定し、ＮＮペアに起因する第１の吸収ピーク強度及びＮＮＯ複合体に起因する第２の吸収ピーク強度を求める。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display element and to provide a liquid crystal display element using a ferroelectric liquid crystal, which results in uniform alignment of the ferroelectric liquid crystal without producing an alignment defect, which has excellent alignment stability and is capable of keeping the alignment even when the temperature increases over the phase transition temperature, and which shows high manufacturing efficiency.例文帳に追加

本発明は、強誘電性液晶を用いた液晶表示素子において、配向欠陥が形成されることなく強誘電性液晶の均一な配向を得ることができ、相転移以上に昇温してもその配向を維持することができる配向安定性に優れ、かつ、製造効率のよい液晶表示素子の製造方法および液晶表示素子を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for packing an electrophotographic photoreceptor with which, after the electrophotographic photoreceptor is incorporated into an image forming apparatus, even in the case the package is removed, sticking of the adhesive component in an adhesive tape to the electrophotographic photoreceptor is effectively suppressed, and the defect in an image caused thereby can be suppressed, and to provide a method for incorporating the electrophotographic photoreceptor using the same.例文帳に追加

電子写真感光体を画像形成装置に対して組み込んだ後に、その梱包を取り外した場合であっても、粘着テープの粘着剤成分が電子写真感光体に対して付着することを効果的に抑制し、それに起因する画像不良を抑制することができる電子写真感光体の梱包方法及びそれを用いた電子写真感光体の組み込み方法を提供する。 - 特許庁

Where the requirements stipulated by this Law or by a statutory order under Section 12(1) as regards a correct application have not been met, the Patent Office shall advise the applicant of the defects and invite him to remedy them within a period of two months after service of the notification. Where the defect is remedied within the time limit, the date of receipt of the document at the Patent Office shall be deemed the date of the application for the design. The Patent Office shall establish that date and advise the applicant thereof. 例文帳に追加

正規の出願に関して，本法又は第12条[1]に基づく施行令に定めた要件を満たしていない場合，特許庁は出願人にその欠缺を通知し，通知の送達後2月以内にそれらを補完するよう勧める。この期間内に欠缺が補完されれば，特許庁でその書類を受理した日を意匠の出願日とみなす。特許庁はこの日を確定し出願人に通知する。 - 特許庁

Subject to subsection (7), the Court may, on the application in the prescribed manner of any person aggrieved by the non-insertion in, or omission from, the register of any entry, or by any entry made in the register without sufficient cause, or by any entry wrongly remaining in the register, or by an error or defect in any entry in the register, make such order for making, expunging, or varying such entry as it may think fit. 例文帳に追加

(7)に従うことを条件として，裁判所は，登録簿に挿入されず又は記入の不作為若しくは十分な根拠なく登録簿に記入され又は登録簿に不正な記入が残され又は登録簿の記入に誤記若しくは欠陥があることにより不服と思う者の所定の方法による申請により，適切と認める記入を行い，記入を抹消し若しくは変更を命令することができる。 - 特許庁

To provide a method for correcting defects of an ITO film, by which defect parts of an ITO film, especially, in a color filter forming substrate used for a liquid crystal display panel of MVA mode with high quality display or in a substrate in an intermediate process for manufacturing the color filter forming substrate, can be locally and easily corrected.例文帳に追加

特に、高品位表示のＭＶＡモードの液晶表示パネルに用いられるカラーフィルタ形成基板もしくは該カラーフィルタ形成基板を作製するための中間工程の基板におけるＩＴＯ膜の欠損箇所を修正する、ＩＴＯ膜の欠損修正方法で、局所的にＩＴＯ膜の欠損箇所を、簡単に、修復形成することができる、ＩＴＯ膜の欠損修正方法を提供する。 - 特許庁

In a defect detection method for remotely detecting defects S that are present in a girder 4 of a ceiling crane as a large steel structure, the girder 4 for causing repetitive stress variations by the drive of a crane carriage 7 is photographed by an infrared camera 9, and temperature distribution variations on the surface of the girder 4 are measured as images, thus detecting defects present in the ceiling crane.例文帳に追加

大型鋼構造物として天井クレーンのガーダ４に存在する欠陥（Ｓ）を離れた場所から検出する欠陥検出方法において、クレーン台車７の走行により繰り返し応力変動が生じているガーダ４を赤外線カメラ９により撮影して、ガーダ４の表面の温度分布変動を画像として計測し、これにより天井クレーンに存在する欠陥を検出する。 - 特許庁