「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(307ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an imaging device capable of preventing deformation of a photoconductive film and an image defect due to temperature rise of the imaging device without degrading the performance of the imaging device such as high sensitivity, high resolution and high S/N ratio.例文帳に追加

撮像装置の高感度、高解像度、高Ｓ／Ｎ等の性能を劣化させることなく、撮像装置の温度上昇による光導電膜の変形及び画像欠陥を防止することができる撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent an eaves-shaped scum formed in a boundary between a discharge opening and a channel from occurring, improve dimensional accuracy and stability, and provide a solution to an emerging defect in the manufacturing method of an inkjet recording head.例文帳に追加

インクジェット記録ヘッドの製造方法において、吐出口と流路の境界部に形成されるひさし状のスカムの発生を防ぎ、寸法精度と安定性を向上し、かつ新たに出てきた不具合に対しての解決の方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of making an organic light emitting diode display represent many kinds of gray level while solving defects of a known technology that is able to represent many kinds of gray level on a display and has a defect in contrast between a gray level and a gray level.例文帳に追加

周知の技術の、ディスプレイに多種類のグレイレベルを現出させることができず、またグレイレベルとグレイレベルの間のコントラストの不良の欠点を解決する、有機発光ダイオードディスプレイに多種類のグレイレベルを表現させる方法の提供。 - 特許庁

In the defect detection method in the sheet-like printed matter (10) for continuously printing the same pattern on the continuous sheet, mask treatment (14) is made to a part (12) outside a pattern range that does not become a product, thus inspecting only a product section (11).例文帳に追加

連続するシート上に同一の絵柄が連続して印刷されるシート状印刷物（１０）の欠陥検出方法であって、製品とはならない絵柄範囲外の部分（１２）にマスク処理（１４）して製品部分（１１）のみ検査できるようにした。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

By providing the connection part 14, heavy metal 54 introduced to the active layer 13 is gettered by the oxygen deposit defect 53 of the support substrate 11 through this connection part 14 by heat treatment when forming a device, so that the heavy metal pollution is prevented.例文帳に追加

接続部１４を設けることで、活性層１３に導入された重金属５４は、デバイス形成時の熱処理で、この接続部１４を通して支持基板１１の酸素析出欠陥５３でゲッタリングされ、重金属汚染を防止できる。 - 特許庁

To provide an image processor which is constituted to shorten image fetching time and to reducer the labor and time required for correlating a picture with inspected results at the time of clearing up the cause of a defect.例文帳に追加

画像取り込み時の時間短縮を図ることが可能であると共に、欠陥の発生原因を究明する際における画像と検査結果との対応付けに要する手間を削減することができる構成とされた画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration device for array type magnetic flaw detection equipment capable of calibrating easily sensitivity of an individual magnetic sensor for a micro-fine defect of a running thin steel sheet, in the array type magnetic-field test equipment, and a calibration method therefor.例文帳に追加

本発明は、アレイ型磁気探傷装置において、走行中の薄鋼板の微小欠陥に対する個々の磁気センサの感度校正が容易に行えるアレイ型磁気探傷装置の校正装置、及びその校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a chemical mechanical polishing method capable of suppressing surface defect including scratches, and sufficiently suppressing a cost in practical usage in a planarizing process of a surface to be polished by the chemical mechanical polishing method.例文帳に追加

化学的機械的研磨方法による被研磨面の平坦化工程において、スクラッチをはじめとした表面欠陥が抑えられ、現実の使用においてもコストを十分に抑える事が出来る化学的機械的研磨方法を提供することを目的とする - 特許庁

To improve the lifetime of a semiconductor device, the lifetime or the mobility of the carrier of the operation of the device to a sufficient value for the practical use of the device, by realizing a crystal growing technique for forming a semiconductor layer in an extremely low defect density.例文帳に追加

半導体層を極めて低い欠陥密度で形成する結晶成長技術を実現し、半導体装置の寿命又はこの動作に係るキャリアの寿命もしくは移動度を当該半導体装置の実用化に十分な値に改善する。 - 特許庁

To provide a gasket connecting method capable of simplifying gasket connecting work carried out on the job site in a joint of exterior wall surface jointing portion for exterior finishing members of a building, securing a good state of adhesion and considerably decreasing the percentage of occurrence of defect in adhesion.例文帳に追加

建築用外装材の外壁面接合部の目地に現場で施工するガスケット接続作業の簡易化、良好な接着状態の確保および接着欠陥発生率の大幅減少が可能なガスケットの接続方法の提案。 - 特許庁

To provide an information transmission terminal for supporting independence, which a physically or mentally handicapped person as well as an old person having physical defect can easily use and transmit self-will to a desired opposite party at desired time.例文帳に追加

身体的或いは知的障害を有する者や体が不自由な老人等が容易に使用でき、所望の相手に、かつ所望の時に自分の意思を伝達することを可能とした自立支援のための情報伝送用端末機を提供する。 - 特許庁

The presence or absence, and dimensions of the hole-like defect are inspected based on the light intensity of regular reflection light 29 and the irregular reflection light 31 that are displayed on a display means 33 in response to the detection output of the first and second photosensors 30 and 32.例文帳に追加

第１および第２光センサ３０，３２の検出出力に応答して表示手段３３に表示される正反射光２９および乱反射光３１の光強度に基づいて孔状欠陥の有無および寸法を検査する。 - 特許庁

The optical information recording and reproducing apparatus of this invention is provided with a defect detection section and a switch section, and the switch section interrupts input of an abnormal jump detection signal to a recording and reproducing signal switching circuit for a time while a light spot detects a defective part and for a prescribed time after passing through the defective part.例文帳に追加

欠陥検出部とスイッチ部を設けて、光スポットが欠陥部を検出している間と欠陥部通過後の所定時間は、スイッチ部によりアブノーマルジャンプ検出信号の記録再生信号切り換え回路への入力を断つ。 - 特許庁

To provide an original reader that prevents foreign matters such as paper powder separated from an original at an ADF(Automatic Document Feeder) provided with an original carrying path directed laterally whose cross section is almost U-shaped from depositing onto a mirror or the like of a scanner thereby avoiding read information from having a defect.例文帳に追加

横向きの略Ｕ字状の原稿搬送路を設けたＡＤＦにおいて、原稿から分離した紙粉等の異物が、スキャナーのミラー等に付着することを防止し、読み取った情報に障害が発生することを防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a molding stock transferring device and a molding stock transferring method where, when an optical glass preform in a softened state is arranged on a die for molding, and is molded, an optical glass preform is arranged at the desired position of the die for molding, and further, the generation of a molding defect is surely suppressed.例文帳に追加

軟化状態の光学ガラス予備成形体を成形用金型上に配置して成形を行う際に、成形用金型の所望の位置に光学ガラス予備成形体を配置するとともに、成形不良の発生を確実に抑えること。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic electronic component which prevents inner defect during baking such as delamination and crack, prevents crack in a thermal impact test, is excellent in print property of conductive paste, and has small characteristic dispersion, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

デラミネーション、クラックなどの焼成時の内部欠陥を防止するとともに、熱衝撃試験におけるクラックを防止し、かつ導電性ペーストの印刷性が良好で、特性ばらつきが小さい積層セラミック電子部品及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Preferred embodiments of the present invention can be used to rapidly navigate to one single bit cell in a memory array or similar structure, for example to characterize or correct a defect in individual bit cells in the memory array or similar structure.例文帳に追加

例えばメモリ・アレイまたは類似の構造内の個々のビット・セルの欠陥を特徴づけまたは補正するために、本発明の好ましい実施形態を使用して、メモリ・アレイまたは類似の構造内の単一のビット・セルへ迅速にナビゲートすることができる。 - 特許庁

To provide a camera, which has a lens frame unit containing driving mechanisms so that a defect of the lens frame can be detected in an early production stage and minimizes the scale of an electric circuit to suppress the rise of the cost, and an electric driving unit.例文帳に追加

カメラのレンズ鏡枠の不良を早い工程で検出可能なようにレンズ鏡枠単体で駆動機構の簡潔したカメラであり、電気回路の規模を最小限に抑えコストアップを抑えたカメラと電動駆動ユニットを提供すること。 - 特許庁

The wafer appearance inspection device 201 includes: a measuring stage 205; a monitor camera 203 for imaging a surface shape of a wafer 204 placed on the stage; and a control computer 202 for executing detection processing of surface shape defect of the wafer 204.例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置２０１は、測定ステージ２０５と、その上に載置されたウェーハ２０４の表面形状を撮像するモニタカメラ２０３と、ウェーハ２０４の表面形状欠陥の検出処理を実行する制御用コンピュータ２０２を備える。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which eliminates the need for tapering a connection hole by wet etching to reduce the aspect ratio of the connection hole and can reduce the generation rate of a connection hole formation defect.例文帳に追加

本発明は、接続孔のアスペクト比を低減するために、ウェットエッチングにより接続孔にテ−パを施す必要がなく、接続孔形成不良の発生率を低減することができる半導体装置の製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a lighting device for inspection which is capable of irradiating a long-sized object to be inspected like a cable with uniform illuminance so that a defect of appearance can be stably detected by an image processing system, when inspecting the appearance of the object to be inspected.例文帳に追加

ケーブルのような長尺物の被検査物の外観検査を行うに当たって、画像処理システムで安定して外観の欠陥を検出できるよう、一様な照度で被検査物を照射することができる検査用照明装置を提供する。 - 特許庁

To stably grow an Si single crystal having no defective region by clearly detecting the type of a defective region or a defect-free region of an Si single crystal grown with a certain pull speed profile and feeding back such data for the subsequent pulling.例文帳に追加

ある引き上げ速度プロファイルで育成されたSi単結晶の欠陥領域あるいは無欠陥領域のタイプを明確に検出し、このデータを次の引き上げにフィードバックすることよって、欠陥領域のないSi単結晶を安定して育成する。 - 特許庁

To provide a cargo protective member wherein a shock and vibration can be effectively prevented to keep a cargo from being broken or damaged, movement due to a shift of the cargo is suppressed, and a defect of a precision instrument due to static electricity can be prevented from occurring.例文帳に追加

衝撃や振動を効果的に防止して、荷物の破損や損傷を防止するとともに、荷物のズレによる移動を抑止し、かつ静電気による精密機器の欠陥の発生を防止することができる荷物保護部材を提供すること。 - 特許庁

A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加

データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁

The polarization (alpha)(an angle (alpha) from s-polarization) of light irradiated to a sample, an object under defect detection, is calculated by substituting the condition of the circuit pattern of the sample, and the azimuth angle, and incident angle of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

Since a lower layer electrode 31 formed on the top face of the core 11 is unerringly covered by a light-emitting layer 32 formed on the top face, a defect such as a disconnection or a short circuit can be prevented from occurring in the light-emitting element 30.例文帳に追加

上記構造によれば、コア１１上面に形成される下層電極３１を、その上面に成膜される発光層３２が確実に被覆できるため、発光素子３０に断線や短絡という欠陥が発生することを確実に防止できる。 - 特許庁

Then, the kind of a defect is discriminated within the image photographed by the imaging device 1, under the condition where the inspected object is lighted by the oblique light source 4, based on a form of density change in the area of the defective portion, in the image processing part 7.例文帳に追加

その後、画像処理部７は、斜方光源４により検査対象を照明した状態で撮像装置１に撮像された画像内において不良部分を含む領域の濃度変化の形により不良の種類を識別する。 - 特許庁

The magnetic recording layer 3b which needs to be heated or cooled prior to recording is disposed on one surface of a base material 2 provided with a IC module 4, printings 5a and 5b and the like and coated thereon with a masking layer 7b having high thermal conductivity to eliminate the defect.例文帳に追加

ＩＣモジュール４、印刷５ａ、５ｂ等を備えた基材２の片面に、記録に先立って、加熱もしくは冷却を要する磁気記録層３ｂを有し、その上を熱伝導性の高い隠蔽層７ｂで被覆し、課題を解消することができた。 - 特許庁

The pattern inspection device 1 is equipped with an ideal pattern generation part 30 which automatically generates an ideal pattern PR and a comparison decision part 50 which decides a defect of an inspected pattern by using the result of a comparison between the ideal pattern PR and inspected pattern PS.例文帳に追加

パターン検査装置１は、理想パターンＰＲを自動生成する理想パターン生成部３０と、理想パターンＰＲおよび被検査パターンＰＳとの比較結果を用いて被検査パターンの欠陥を判定する比較判定部５０とを備えている。 - 特許庁

To obtain large relieving efficiency with small area by using a common fuse set for row/column common relieving for arbitrary one side of row relieving or column relieving, according to that the defect of row being more or the defects of column being more in a memory chip and to enhance relieving efficiency.例文帳に追加

メモリチップにロウ不良が多いかカラム救済が多いかに応じてロウ／カラム共通救済用フューズセットをロウ救済あるいはカラム救済の任意の一方に使用し、救済の効率を高め、少ない面積で大きな救済効率を得る。 - 特許庁

To provide a weighing system for diagnosing quickly an abnormality of a weighing head in a weighing head abnormality diagnosis mode for generating a state wherein a specific weighing head supposed to be a cause of weighing defect is used without fail.例文帳に追加

計量不良の要因と想定される特定の計量ヘッドを必ず使用する状況を作り出すという計量ヘッド異常診断モードによって、その計量ヘッドにおける異常の存否を迅速に診断する計量システムを提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet irradiation device which can cure good an ultraviolet curable color ink of a plurality of colors adhered on a recording medium for the purpose of multi-color printing such as full-color printing without the defect of bleeding and color mixture caused.例文帳に追加

フルカラー印刷等の多色印刷のために記録媒体上に付着された複数色の紫外線硬化型のカラーインクを、にじみや色混じりという不具合を招くことなく、良好に硬化させることのできる紫外線照射装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cassette for an infusion pump with which changeover is reliably kept between a free-flow state and an anti-free-flow state, response is easily performed to naturally dropping infusion, the number of components is drastically reduced, and also a defect hardly occurs in an operation.例文帳に追加

フリーフローの状態とアンチフリーフローの状態とを確実に切り換え維持でき、自然落下による輸液にも容易に対応できるだけでなく部品点数が極めて少なく動作不良が発生し難い輸液ポンプ用カセットを提供する。 - 特許庁

The oxide solid lubricant film comprises a compound oxide that has a layer oxygen defect perovskite structure represented by composition formula (1): Sr_xCa_1-xCuO_y (wherein X shows a number of 0.0-1.0; y is a number of 1.8-2.2).例文帳に追加

下記組成式（１） Ｓｒ_ｘＣａ_１−ｘＣｕＯ_ｙ （１） （式中、Ｘは０．０〜１．０の数を示し、ｙは１．８〜２．２の数を示す）で表される層状酸素欠陥ペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなる酸化物系固体潤滑膜。 - 特許庁

In this defect inspection apparatus, the inspection face of a monolithic carrier which has an outer edge in a prescribed shape and in which a regular lattice-shaped pattern is formed in a region surrounded by the outer edge is imaged by a low-magnification camera 20, and the imaged inspection face is output to a microcomputer 70 as image data.例文帳に追加

低倍率カメラ２０により、所定形状の外縁を有し、この外縁によって囲まれる領域に規則的な格子状パターンが形成されるモノリス担体の検査面を撮像し、画像データとしてマイクロコンピュータ７０に出力する。 - 特許庁

To provide a developer replenishing device capable of preventing a defect such as the scattering of developer to the outside of the device, maldistribution, clogging and the sticking of the developer in a circulation carrying path or the unstable detection of a developer residual amount sensor.例文帳に追加

現像剤補給装置において、装置外への現像剤の飛散、循環搬送経路内での現像剤偏りと詰まりや固着、現像剤残量センサーの不安定検出といった欠点を防いだ現像剤補給装置を提供する。 - 特許庁

The device does not generate transfer defect in the case of adopting the recording material P of the small size with high resistance by constituting the transfer system 15, so as to make dynamic impedance per unit length of the transfer nip N2 in the lengthwise direction to be 0.3 MΩ.m or less under all environment.例文帳に追加

転写系１５を、転写ニップＮ２の長手方向の単位長さ当たりの動的インピーダンスが、全環境で０．３ＭΩ・ｍ以上となるようにすることにより、記録材Ｐが高抵抗の小サイズの場合の転写不良が防止される。 - 特許庁

To provide an ink for ink jet recording, having high jetting stability and further capable of forming such a picture image as to be excellent in color, light stability, and water resistance, to have no defect in picture quality, such as bleeding of a narrow line, and to exhibit excellent image preservability under a severe condition.例文帳に追加

吐出安定性が高く、しかも得られる画像の色相、耐光性、耐水性にも優れ、細線の滲みなど画質についての欠点が無く、過酷な条件下での画像保存性が優れたインクジェット記録用インクを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device, wherein the existence of a bright spot defect generated by a minute foreign matter and the like invaded in an assembling step can be made inconspicuous up to a level practically having no problem while cost increase is suppressed; and to provide a bright spot suppressing method.例文帳に追加

組立工程中の微小な混入異物などにより発生する輝点欠陥の存在を、コストアップを抑制しつつ実使用上問題ないレベルまで目立たなくさせることができる液晶表示装置及び輝点抑制方法の提供。 - 特許庁

An image processing unit 1 includes a range-updating means 10 for adding a captured image of an object 4 to be inspected to an image memory 14 for setting as an image for setting, when a defect determining means 13 determines that the object is a conforming article.例文帳に追加

画像処理装置１は、欠陥判定手段１３で良品と判定された場合に、当該検査対象物４の撮像画像を設定用画像として設定用画像メモリ１４に追加する範囲更新手段１０を有している。 - 特許庁

To provide a glass blank designed to prevent the fogging defect of formed articles by accompanying the fusion of glass and dies at a high temperature and the degradation in the surface roughness of the dies and to improve a parting property in manufacturing of optical elements and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

高温におけるガラスと型の融着、および、型の表面粗さの低下に伴う成形品の曇不良、更には、光学素子の製造に際しての離型性の向上を意図したガラスブランクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a loop material capable of quickly specifying a formation position of a specific shape site on the whole circumference of a loop material and of forming a condition in which the presence of a defect on the specific shape site can be inspected.例文帳に追加

ループ材の全周における特異形状部位の形成位置を迅速に特定し、この特異形状部位における欠陥の有無を検査することができる状態を迅速に形成することができるループ材検査装置を提供すること。 - 特許庁

To realize grounding of high reliability without continuity defect even in the case that the outside surface of the end part of a photoreceptor is worn due to contact with a photoreceptor support part with respect to a base body of the photoreceptor body made of resin of which a conductive layer is formed on the surface.例文帳に追加

表面に導電性層が形成された樹脂製の基体について、感光体の端部の外側表面が感光体支持部と接触して摩耗した場合でも、導通不良を生ずることなく、信頼性の高い接地を可能とする。 - 特許庁

To eliminate a defect of a prior-art, due to the fact that a distance between a conductor track and an aluminum layer is short a high electrostatic capacity is formed there, and that a time constant of electron for deciding a signal for electron beam control is increased.例文帳に追加

導体トラックとアルミニウム層との間の短い距離により、そこに高静電容量が形成され、これが電子線制御用の信号の決定のための電子の時定数を増加させるという従来技術の欠点を改善する。 - 特許庁