「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(347ページ目) - Weblio英語例文検索

In this pattern defect inspection device, the quantity change in the ultraviolet laser beam is detected during inspection, to thereby determine the existence of an influence on the inspection, and service life prediction and abnormality of the light source are detected, and the inside of an optical system is cleaned, to thereby ensure prolongation of service life and long-term reliability of optical parts.例文帳に追加

検査中に紫外レーザ光の光量変動を検出して検査への影響の有無を判定し、かつ光源の寿命予測と異常を検知するとともに、光学系の内部を清浄化して光学部品の寿命延長と長期信頼性を確保するようにしたパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

To provide a lens module capable of performing both of differential interference observation and normal observation, capable of suppressing a flare when performing the normal observation, and capable of reliably detecting a minute defect when performing the differential interference observation, to provide a magnifying observation apparatus using the lens module, and to provide a magnifying observation method.例文帳に追加

微分干渉観察と通常観察との両方を行うことができ、通常観察を行う場合にはフレアを抑制することができ、微分干渉観察を行う場合には微小欠陥を確実に検出することができるレンズモジュール、該レンズモジュールを用いた拡大観察装置、及び拡大観察方法を提供する。 - 特許庁

When recording information to a multilayer optical recording medium 1 comprising information recording layers 20, 22, 24 and 26, information is recorded by irradiating a first information recording layer with a recording laser beam and defect information is collected on the multilayer optical recording medium 1 by detecting return light of the recording laser beam.例文帳に追加

複数の情報記録層２０、２２、２４、２６を備えた多層光記録媒体１に対して情報を記録する際に、第１情報記録層に記録レーザー光を照射して情報を記録すると共に、記録レーザー光の反射光を検出して多層光記録媒体１の欠陥情報を収集する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit structure which increases the drive current of a fin FET and provides a room for a pitch which forms an STI region used for forming a germanium-containing film by increasing the germanium percentage of the fin FET obtained and reducing a defect of a germanium film, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

得られるフィンＦＥＴのゲルマニウム百分率を高くしてゲルマニウム膜の欠陥を少なくすることにより、フィンＦＥＴの駆動電流を高め、ゲルマニウム含有膜の形成に用いるＳＴＩ領域を形成するピッチに余裕を持たせる集積回路構造及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Then a correction coefficient is found (200) on the basis of at least one of the 1st and 2nd infrared component levels and the color components of the image of the document 7 are decomposed into visible components (200), and the level of the decomposed visible components is detected and based on the correction coefficient, the defect of the image of the document is corrected (200).例文帳に追加

そして、前記第１赤外成分レベルと前記第２赤外成分レベルとの少なくとも一方に基づいて補正係数を求めて（２００）、原稿７の画像の色成分を可視成分に分解し（２００）、分解された可視成分レベルを検出し、補正係数に基づいて前記原稿の画像の欠陥を補正する（２００）。 - 特許庁

A test signal analyzing part 5 of the diagnostic apparatus body 1 determines whether or not there is defect and specifies a defective part with respect to the ultrasonic probe 3 on the basis of feature value of an amplitude or the like in the second test signal, obtained by separation processing of the synthesized test signal supplied via the transmission reception part 2.例文帳に追加

そして、診断装置本体１の試験信号分析部５は、前記送受信部２を介して供給される前記合成試験信号の分離処理によって得られた前記第２の試験信号における振幅等の特性値に基づいて超音波プローブ３に対する不良有無の判定と不良箇所の特定を行なう。 - 特許庁

A photomask (1) with a pellicle is two-dimensionally scanned with a scanning beam in a main scanning direction and a sub-scanning direction perpendicular to the main scanning direction; scattered light from the photomask is received by a one-dimensional image sensor (22) through an objective lens (20); and a defect is judged based on an output signal from the one-dimensional image sensor.例文帳に追加

ペリクル付きのフォトマスク（１）を、走査ビームにより主走査方向及びこれと直交する副走査方向に2次元走査し、フォトマスクからの散乱光を対物レンズ（２０）を介して1次元イメージセンサ（２２）により受光し、1次元イメージセンサからの出力信号に基づいて欠陥判定を行う。 - 特許庁

To reduce working defect of forging attributable to adhesion of powdery foreign matter such as chips to a blank and a forging die by proposing a technique for exhausting the powdery foreign matter to the outside of the forging die, the powdery foreign matter developed due to forging on the mating faces of a movable die and a fixed die in the forging die.例文帳に追加

本発明では、鍛造用金型において、可動型と固定型との合わせ面に鍛造加工により生じる切粉等の粉体状の異物を金型の外部へ排出する技術を提案して、前記異物がブランクや鍛造用金型に付着することに起因する加工不良の低減を図る。 - 特許庁

To provide a method of inspecting pattern defects which automatically detects coating defects in fluorescent material coated on a glass substrate of a plasma display or the like, without being influenced by a coating pattern, such as a lattice-like fluorescent coating film, is easily installed in a production line of a panel, and realizes low-priced and high-speed defect inspection.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等のガラス基板に塗布された蛍光体の塗布欠陥を格子状蛍光体塗布膜等の塗布パターンに影響されず高感度に自動検出し、また、パネルの製造ラインに容易に設置でき、低価格、高速度の欠陥検査を実現したパターン欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁

Just after regenerating the DPF (S1), when under an operation condition of being steady and exceeding a threshold value in the exhaust flow rate (S2), a deviation in the exhaust flow rate among the three areas is arithmetically operated (S3 and S4), and a maximum value ΔMAX among an absolute value of the deviation is compared with a defect determining level SL (S5).例文帳に追加

そして、ＤＰＦの再生直後であって（Ｓ１）、定常でかつ排気流量が閾値を超える運転条件のときに（Ｓ２）、前記３領域間での排気流量の偏差を演算し（Ｓ３，Ｓ４）、偏差の絶対値のうちの最大値ΔＭＡＸと欠陥判定レベルＳＬとを比較する（Ｓ５）。 - 特許庁

This defect inspection method of a gray tone part in a gray tone mask is characterized by including a process (a drawing 1 (3)) of applying gradating processing for flattening the signal when there is a periodic change as indicated in a drawing 1 (2) in the transmissivity signal obtained by scanning a gray tone part as indicated in a drawing 1 (1).例文帳に追加

グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥検査方法であって、図１（１）に示すようなグレートーン部を走査して得られる透過率信号に、図１（２）に示すような周期的な変動がある場合に、その信号を平坦化するためのぼかし処理を施す（図１（３））工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

Since assembling of an TM cell signal by the cell assembly section 106 and check of the cell assembly memories not in use by the test signal check sections 107-1-107-n are conducted in parallel, a normal cell assembly memory can be selected in the case of setting a new destination and the operation defect can be avoided.例文帳に追加

セル組立部１０６によるＡＴＭセル信号の組立と、試験信号検査部１０７−１〜１０７−ｎによる非使用のセル組立メモリの検査とを並行して行うので、新たな送信先を設定する際に、正常なセル組立メモリを選択することができ、これにより、動作不良を回避することができる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can prevent an image from having a defect such as density unevenness by supplying a developer to a developer carrier axially uniformly by reducing partiality of the developer in a developing device when conveying means which agitate and convey the developer in the developing device are arranged one over the other.例文帳に追加

現像装置内の現像剤を攪拌、搬送する搬送手段が上下に配置された場合に、現像装置内の現像剤の片寄りを軽減し、現像剤担持体への現像剤の供給が軸方向に均一に行われ、濃度ムラ等の画像不良の発生を防ぐことのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that proper normalization cannot be performed to cause a defect in gradations if a color gamut of a print image and a color gamut of color data supplied to the printer are normalized with a black point as reference when a color value of the black point of the color gamut in the print image printed by the printer is not the darkest value.例文帳に追加

印刷装置で印刷された印刷画像における色域の黒点の色彩値が最暗でない場合に、そのような黒点を基準にこの印刷画像の色域とこの印刷装置に供給される色データの色域とを規格化すると、適切な規格化を行うことができず、階調性に不具合が発生する。 - 特許庁

To provide: an inspection method capable of specifying the portion where junction leak defect is occurred, by irradiating a semiconductor device with an electron beam at a predetermined interval a plurality of times, and optimizing conditions of junction forming process by carrying out the inspection using wafer under a semiconductor manufacturing process; a device; and the method of manufacturing the semiconductor.例文帳に追加

半導体装置に電子線を所定の間隔で複数回照射して、接合リーク不良発生箇所を特定でき、半導体製造工程途中のウエハで本検査を実行することにより接合形成プロセス条件の最適化を行うことができる検査方法及び装置、半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image recorder having a fixing unit which easily adjusts a contact pressure of a pressure roll to a heat roll without being detached from a device main body even when a type of a recording paper, peripheral circumstances, and the like are changed to suppress occurrence of curl not to bring about a recording defect.例文帳に追加

記録用紙の種類や周囲環境等が変化しても、定着ユニットを装置本体から取り外さずに、加圧ローラのヒートローラに対する圧接力を簡単に調整可能とし、カールの発生を抑え、記録不良も発生させることのない定着ユニットを有する画像記録装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a positive type resist composition that is suitable for the use of an exposure light source of ≤160nm especially of a F_2 excimer laser beam (157nm), specifically a positive type resist composition that indicates sufficient transparency when a light source of 157nm is used and has little light edge roughness, development defect and scum.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、特にＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、具体的には１５７ｎｍの光源使用時に十分な透過性を示し、且つラインエッジラフネス、現像欠陥及びスカムが少ないポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a card type electronic circuit module that can have a tall electronic component mounted on a circuit board stored in a case while an external size and a height position of a terminal electrode meet the standard, and also can have a wide mounting area on a main surface of the circuit board to hardly have a defect in continuity of the terminal electrode.例文帳に追加

外形寸法や端子電極の高さ位置を規格に準じつつ、筐体内に収納される回路基板に背の高い電子部品を実装可能であると共に、該回路基板の主面に広い実装領域を確保できて端子電極の導通不良も発生しにくいカード型電子回路モジュールを提供すること。 - 特許庁

To provide a polyester film allowing a worker to detect a defect, foreign matter or the like with high precision in a visual inspection by a crossed Nicol method which is one of inspection methods for polarizing plate and favorably usable as a mold releasing film hardly scratched in a manufacturing process for the mold releasing film and a process by use of the mold releasing film.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルム用として好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

A defect judging unit DET sets the secondary side outputs of both auxiliary current transformers to the same level and takes a difference of the secondary side outputs, and judges as that the transformation ratio of either one auxiliary current transformer is abnormal, both the transformation ratios are abnormal or a secondary side disconnection of one auxiliary current transformer when the difference exceeds a predetermined value.例文帳に追加

異常判定部ＤＥＴは、両補助変流器の二次側出力を同じレベルにしてその差分をとり、この差分が一定値を越えるときはいずれか一方の補助変流器の変成比が異常または両方の変成比が異常、または一方の補助変流器の二次側断線として判定する。 - 特許庁

The image forming device prevents the image defect in company with the separation discharge occurring when separating the transfer paper P from the transfer belt 8 by restraining the discharge on a rear side of the transfer paper P parting from the transfer belt by stimulating the discharge on the surface of the transfer paper P by means of a discharge stimulating roller 140.例文帳に追加

放電励起ローラ１４０によって転写紙Ｐの表面での放電を励起させることにより転写ベルトから分離する転写紙Ｐの裏面での放電を抑制するようにして、転写紙Ｐを転写ベルト８から分離する際に発生する剥離放電に伴う画像不良を抑制するようにした。 - 特許庁

A dry film resist 5 as a bank is pasted in a direction crossed in an extending direction of the bank 2 after inspecting a defected location 3 existed on a partition of the bank 2 by a defect inspection means 4, and a pasted repair material 6 is temporarily cured by applying the repair material 6 at a zone sandwiched between the pasted banks.例文帳に追加

欠陥検査手段４によりバンク２の隔壁にある欠陥箇所３を検査した後、バンク２の延在方向と交差する方向に土手としてのドライフィルムレジスト５を貼付し、貼付された土手で挟まれた領域に修復材料６を塗布して、塗布された修復材料６を仮硬化させる。 - 特許庁

The image processing inspection part 50 composes a composite image by synthesizing an image of dicing line, which divides a circuit pattern at the surface of the wafer, into an image of rear surface of the wafer imaged by the rear surface imaging device 130 and detects the position of the defect based on the composite image with corresponding to the position of each circuit pattern.例文帳に追加

画像処理検査部５０は、ウエハの表面において回路のパターンを分割するダイシングラインの画像を裏面撮像装置１３０により撮像されたウエハ裏面画像に合成して合成画像を生成し、この合成画像に基づいて欠陥の位置を各回路パターン位置と対応させて検出する。 - 特許庁

To provide a pattern-forming method with which a defect-free permanent pattern, such as a wiring pattern can be efficiently formed with high definition by suppressing distortion of an image provided on a pattern forming material and setting the total light transmittance and the haze value of a support in the pattern forming material within a prescribed range.例文帳に追加

パターン形成材料上に結像させる像の歪みを抑制し、かつ、該パターン形成材料における支持体の全光線透過率及びヘイズ値を所定の範囲とすることにより、欠陥のない配線パターン等の永久パターンを高精細に、効率よく形成可能なパターン形成方法の提供。 - 特許庁

In the fine pattern correction method, laser light α, irradiated on a given position deviated from the center 32a of an objective lens 32, refracted with the objective lens 32, and directed toward a focus F is irradiated aslant from upward on a side wall face of the correction part 30 consisting of correction paste 21 coated on a rib chip defect 85.例文帳に追加

この微細パターン修正方法では、対物レンズ３２の中心３２ａから外れた所定の位置にレーザ光αを照射し、対物レンズ３２で屈折して焦点Ｆに向かうレーザ光αを、リブ欠け欠陥８５に塗布した修正ペースト２１からなる修正部３０の側壁面に斜め上方から照射する。 - 特許庁

To provide a press that can perform press working such as punching with superior accuracy even if a press driving/pressurizing means like a press ram is inclined, and that can also perform press working without causing damage to a punch or the like or machining defect of a product even if a clearance is extremely narrow between the punch and die.例文帳に追加

プレスラム等のプレス駆動加圧手段が傾斜した場合においても、打抜き等のプレス加工を精度良く行うことができ、併せてパンチとダイとのクリアランスが極めて狭くとも、パンチ等の損傷や製品の加工不良を招くことなくプレス加工を行い得るプレス装置の提供を目的とする。 - 特許庁

This device has an inspection head 4 for photographing each fuel rod 100 which is an inspection object, a moving means for moving the fuel rod 100 and the inspection head 4, and a fuel rod inspection control device 6 for performing visual dimension inspection or defect inspection from an appearance image of the fuel rod 100 photographed by the inspection head 4.例文帳に追加

被検査体である燃料棒１００を撮影する検査ヘッド４と、燃料棒１００または検査ヘッド４を移動させる移動手段と、検査ヘッド４で撮影した燃料棒１００の外観画像から外観寸法検査または欠陥検査をする燃料棒検査制御装置６とを有する。 - 特許庁

To provide a rubber composition used for a rubber member for a conveying roller which is used in a portion contacting a conveyed article and reduces sticking of abrasion dust generated when conveying a glass substrate to the glass substrate, conveyance defect of the rubber member due to tensile stress mitigation, and an ESD (electrostatic discharge) phenomenon.例文帳に追加

搬送物と接触する部分に用いる搬送ローラ用ゴム部材であり、ガラス基板を搬送する際に生じる摩耗粉の、搬送物であるガラス基板への粘着、前記ゴム部材の引張応力緩和による搬送不良、ならびにＥＳＤ現象を低減したゴム部材のためのゴム組成物を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laver dehydrating sponge causing no shape defect thereof during dry storage, enabling itself to easily be moistened enough to be usable, having high water absorptivity required in producing laver and moderate hardness, and capable of efficiently discharging water absorbed once without returning it to a laver material as the object for water absorption.例文帳に追加

乾燥保管時に形状的な欠陥を起こさず、かつ容易に使用時が可能な湿潤状態とすることが可能で、かつ海苔製造時に要求される優れた吸水性、適度な硬さ、一旦吸水した水分を吸水対象物である海苔原料に戻さず効率的に排水し得る海苔脱水用スポンジを提供する。 - 特許庁

To provide a valve system facilitating the lift amount adjustment of a valve even in the case of forming a cylinder part for performing preliminary opening/closing of a valve, at a rocker arm and causing no defect such as the leakage of oil pressure from the cylinder part even if operated for a long time.例文帳に追加

本発明は、ロッカアームにバルブの予備的な開閉を行わせるシリンダ部を形成した場合であっても、バルブのリフト量の調整が容易であり、かつ長時間運転しても上記シリンダ部から油圧がリークする等の不具合の生じないバルブシステムを提供することを主目的とするものである。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element capable of reducing an interaction between a reverse tilt domain generated in a pixel and a reverse tilt formed in a pixel corresponding to an adjacent pixel electrode, improving an image quality defect due to a lateral electric field and obtaining a higher image quality and to provide a projection type liquid crystal display device.例文帳に追加

画素内に発生するリバースチルトドメインと隣接する画素電極に対応する画素内に形成するリバースチルトとの相互作用を低減でき、横電解による画質不良を改善でき、より高品位な画質を得ることができる液晶表示素子および投射型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marking device applying marking to a defective portion detected by an inspection device of a lengthy sheet-like product carried in the longitudinal direction, only in one position without damaging the sheet-like product, so that removal or repair of the defective portion is easily performed in an after process.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなく、１か所のみにおいてマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device allowing an optimal voltage independent of a gate-off voltage value to be applied to a liquid crystal when restoring a defective pixel of an active matrix type LCD in which a TFT is formed as a switching element in each pixel area, and to provide a pixel defect restoring method.例文帳に追加

本発明は、各画素領域にスイッチング素子としてＴＦＴが形成されたアクティブマトリクス型のＬＣＤの欠陥画素を修復した際に、ゲートオフ電圧の大きさに依存しない最適な電圧を液晶に印加できる液晶表示装置及び画素欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a front loading evaluation device evaluating not only the number of defects in a process but also evaluating a degree of divergence between a defect generation process and a detection process, so that the number of outflow defects and outflow state to a downstream process are obtained, and the progress of improvement activity relating to front loading can be evaluated.例文帳に追加

工程内の欠陥数の評価だけでなく、欠陥の発生工程と発見工程の乖離度をあわせて評価することにより、流出欠陥数と下流工程への流出状況を把握し、フロントローディングに関する改善活動の進捗状況を評価できるフロントローディング評価装置を得ること。 - 特許庁

To provide an automatic inspection instrument which enables use thereof to use to judge whether a package, especially a sealed blister package comprising a blister container and a cover film has a defect or not with no much work and in a non-contact manner particularly pertaining to the blister container, sealed seam and scoring.例文帳に追加

本発明は、パッケージ、特にブリスタ容器及びカバーフィルムからなる封止されたブリスタパッケージが、特にブリスタ容器、封止合わせ目及びミシン目に関して欠陥を有しないかどうかを、多くの労を要せず且つ触れずに判定するために使用することができる自動検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that a transistor varies in element characteristics resulting from unevenness in film thickness, patterning precision, etc., of a semiconductor film and a gate insulating film laminated in a manufacturing stage, and a polysilicon transistor further has variance in crystallinity depending upon a crystal growth direction, a defect at a crystal gain boundary, etc.例文帳に追加

トランジスタは、製造過程における積層された半導体膜やゲート絶縁膜の膜厚の不均一性や膜のパターニング精度等に起因して素子特性がばらつき、ポリシリコントランジスタの場合は加えて、結晶成長方向や結晶粒界における欠陥等により結晶性がばらついてしまう。 - 特許庁

The optional pattern is formed with high precision and high accuracy by patterning the photo paste, prepared by imparting photosensitive function to a functional material such as having conductivity, by printing such as offset, screen and after that, exposing, developing and removing excess parts due to the correction of the shape, the short defect or the like, drying and firing.例文帳に追加

導電等の機能材料に感光性の機能を付加したフォトペーストをオフセットやスクリーン等の印刷によりパターニングした後、露光、現像を行い、形状の補正やショート欠陥等の余分な部分を除去し、乾燥焼成により任意のパターンを高精度高精細に形成することができる。 - 特許庁

When a disk area on a fixed disk device used by a file using an application program is damaged physically, the file brought into an abnormal termination by a file operation to the disk area is renamed to express clearly the abnormal termination, and the area including the defect sector is isolated.例文帳に追加

本発明は、アプリケーションプログラムを使用しているファイルが使用する固定ディスク装置上のディスク領域が物理的に破損した場合、ディスク領域のファイル操作で異常終了したファイルを異常終了したことが明示できるファイル名に変更し、不良セクタを含む領域を隔離することを特徴とする。 - 特許庁

The method for producing the light-transmitting member is a method for producing a light-transmitting member by treating a raw light-transmitting member made of molten quartz glass and comprises subjecting the surface layer of the raw light-transmitting member to an oxygen-defect reduction treatment comprising a surface layer removal treatment or a surface heat treatment.例文帳に追加

光透過部材の製造方法は、溶融石英ガラスよりなる光透過部材用原材を処理することにより光透過部材を製造する方法であって、光透過部材用原材の表面層に対して、表面層除去処理または表面加熱処理からなる酸素欠陥低減化処理を施すことを特徴とする。 - 特許庁

When detecting the impossibility of using a trial recording area for obtaining optimal recording/reproducing conditions in the combination of a recording medium with a recorder, trial recording is carried out in a data recording area, and management information including an address pointer indicating the position of the trial recording is recorded in a defect management area.例文帳に追加

記録媒体と記録装置の組み合わせで最適な記録再生条件を求めるための試し記録領域が使用不能と検出された場合に、データ記録領域内に試し記録を行い、試し記録が行われた位置を示すアドレスポインタを含む管理情報を欠陥管理領域に記録するようにする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an SOI wafer, with which the occurrence of voids or crystal defect, a problem of the conventional SOI wafer manufacturing step, can be suppressed by eliminating the surface roughness and an overhung shape formed by the difference in growth speeds in upper and lower layers in a silicon epitaxial growth layer.例文帳に追加

シリコンエピタキシャル成長層における、表面ラフネスの解消と上下層の成長速度差に基づいて形成されるオーバーハング形状の解消とを図ることにより、ＳＯＩウエハ製造工程において問題となっていたボイドや結晶欠陥の発生を抑えることのできるＳＯＩウエハの製造方法の提供。 - 特許庁

A bit map data generating section 2B provided in a control device 2 of the IC tester sequentially generates bit map data in accordance with progress of a predetermined address sequence, and further generates a bit map data file by inverting a logic value of the bit map data in accordance with the address obtained by the defect analysis memory retrieval section 3B.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の制御装置２に設けられたビットマップデータ作成部２Ｂは、所定のアドレスシーケンスの進行に従ってビットマップデータを順次生成すると共に、不良解析メモリ検索部３Ｂにより取得されたアドレスに基づきビットマップデータの論理値を反転させてビットマップデータファイルを作成する。 - 特許庁

To provide a fiber-reinforced composite body which has a decorative layer with a required excellent decorative properties and a fiber-reinforced resin layer with a sufficiently high strength, and has the interface between the decorative layer and the fiber-reinforced resin layer with no defect such as void and inferiority of adhesion, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

所望の優れた装飾性を持つ装飾層と、強度が十分高い繊維強化樹脂層とを有し、装飾層と繊維強化樹脂層との界面が、ボイドや接着不良という欠陥の無い界面である繊維強化複合体を提供し、その製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a superconductive device which minimizes the number of defects which cause magnetic flux trap in a superconductive thin film considering environmented magnetic field in a simplified magnetic shield for effectively confining flux trap which unstabilizes operation of a superconductive device in a defect, and making a superconductive device operate stably in a simplified magnetic shield.例文帳に追加

超伝導デバイスの動作を不安定にする磁束トラップを効率よく欠陥に閉じこめ、かつ簡易型磁気シールド中で超伝導デバイスを安定に動作させるために、簡易型磁気シールド中の環境磁場を考慮し、超伝導薄膜中に磁束トラップさせる欠陥の数を最小にするような超伝導デバイスを得ること。 - 特許庁

A defective pixel determination unit 330 determines whether or not each of pixels in a picked-up image is a defective pixel on the basis of the position information in the defective pixel address storage unit 320, and determines whether the pixel is included in the defective pixel group or not on the basis of the pixel defect information in the defective pixel address storage unit 320.例文帳に追加

欠陥画素判定部３３０は、撮像された画像における各画素について欠陥画素アドレス記憶部３２０の位置情報に基づいて欠陥画素であるか否かを判定し、その画素が欠陥画素群に含まれるか否かを欠陥画素アドレス記憶部３２０の画素欠陥情報に基づいて判定する。 - 特許庁